一种微波器件动态老化试验系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于电子元器件可靠性试验设备领域，尤其涉及一种微波器件动态老化试验系统。
【背景技术】
[0002]微波器件设计和生产过程中都需要对其质量与可靠性进行检验，而老化试验是国内外公认最有效的可靠性检测方法。目前微波器件老化设备普遍采用的都是直流偏置的方式，这是一种静态老化方式，与器件实际工作状态相差甚远，达不到剔除早期失效器件的效果Ο
【实用新型内容】
[0003]本实用新型要解决的技术问题:提供一种微波器件动态老化试验系统，以解决现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行，由于这是一种静态老化方式，存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远，达不到剔除早期失效器件等技术问题。
[0004]本实用新型技术方案:
[0005]一种微波器件动态老化试验系统，它包括老化试验板，微波信号源与程控电源通过背板连接器与老化试验板输入端连接，老化试验板输出端通过背板连接器与微波信号分析仪连接。
[0006]所述微波信号源和微波信号分析仪均为八通道。
[0007]工控计算机通过背板连接器上的数据总线分别与连接。
[0008]微波信号源、微波信号分析仪和程控电源安装在控制箱的常温区，老化试验板和背板连接器安装在控制箱的高温区，高温区和常温区均分为二个以上独立的工区。
[0009]老化试验板包括铝合金腔体支架，微波电路板安装在铝合金腔体支架上，铝合金夹具安装在微波电路板上，各个铝合金夹具之间由吸波材料屏蔽隔离，微波电路板与射频连接器连接。
[0010]本实用新型的有益效果:
[0011]本实用新型采用多工区设计，各个工区相互独立，这样可在同一套试验系统上老化多个型号规格的器件，试验系统的多通道微波信号源能够为被试器件提供激励信号，模拟器件实际工作状态，从而提高老化试验效果；试验系统的多通道微波信号分析仪能够检测被试器件的输出信号，通过分析可以实时监测被试器件老化状态；试验系统的工控计算机能够记录整个老化试验过程信息，便于试验效果的分析，因此相比现有技术，本实用新型提高了微波器件老化试验效果；解决了现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行，由于这是一种静态老化方式，存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远，达不到剔除早期失效器件等技术问题。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型结构示意图；
[0013]图2为本实用新型老化试验板结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]一种微波器件动态老化试验系统，它包括老化试验板6，微波信号源2与程控电源4通过背板连接器7与老化试验板6输入端连接，老化试验板6输出端通过背板连接器7与微波信号分析仪3连接。
[0015]所述微波信号源2和微波信号分析仪3均为八通道。
[0016]工控计算机5与背板连接器7连接，背板连接器7采用高温背板连接器，需要承受80 °C以上温度。
[0017]微波信号源2、微波信号分析仪3和程控电源4安装在控制箱1的常温区9，老化试验板6和背板连接器7安装在控制箱1的高温区8，高温区8和常温区9均分为二个以上独立的工区。所述高温区指温度在80°C以上，常温区温度为室温。
[0018]老化试验板6包括铝合金腔体支架42，微波电路板44安装在铝合金腔体支架42上，铝合金夹具45安装在微波电路板44上，各个铝合金夹具45之间由吸波材料43屏蔽隔离，微波电路板44与射频连接器41连接，射频连接器41为高温射频连接器。
【主权项】
1.一种微波器件动态老化试验系统，它包括老化试验板(6)，其特征在于:微波信号源(2)与程控电源(4)通过背板连接器(7)与老化试验板(6)输入端连接，老化试验板(6)输出端通过背板连接器(7)与微波信号分析仪(3)连接。2.根据权利要求1所述的一种微波器件动态老化试验系统，其特征在于:所述微波信号源(2)和微波信号分析仪(3)均为多通道。3.根据权利要求1所述的一种微波器件动态老化试验系统，其特征在于:工控计算机(5)通过背板连接器(7)上的数据总线分别与微波信号源(2)和微波信号分析仪(3)连接。4.根据权利要求1所述的一种微波器件动态老化试验系统，其特征在于:微波信号源(2)、微波信号分析仪(3)和程控电源(4)安装在控制箱(1)的常温区(9)，老化试验板(6)和背板连接器(7)安装在控制箱(1)的高温区(8)，高温区(8)和常温区(9)均分为二个以上独立的工区。5.根据权利要求1所述的一种微波器件动态老化试验系统，其特征在于:老化试验板(6)包括铝合金腔体支架(42)，微波电路板(44)安装在铝合金腔体支架(42)上，铝合金夹具(45)安装在微波电路板(44)上，各个铝合金夹具(45)之间由吸波材料(43)屏蔽隔离，微波电路板(44 )与射频连接器(41)连接。
【专利摘要】本实用新型公开了一种微波器件动态老化试验系统，它包括老化试验板（6），微波信号源（2）与程控电源（4）通过背板连接器（7）与老化试验板（6）输入端连接，老化试验板（6）输出端通过背板连接器（7）与微波信号分析仪（3）连接；解决了现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行，由于这是一种静态老化方式，存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远，达不到剔除早期失效器件等技术问题。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN204989343
【申请号】CN201520643710
【发明人】邱云峰, 袁帅, 袁文
【申请人】贵州航天计量测试技术研究所
【公开日】2016年1月20日
【申请日】2015年8月25日