技术编号:10079502
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。微波器件设计和生产过程中都需要对其质量与可靠性进行检验,而老化试验是国内外公认最有效的可靠性检测方法。目前微波器件老化设备普遍采用的都是直流偏置的方式,这是一种静态老化方式,与器件实际工作状态相差甚远,达不到剔除早期失效器件的效果Ο实用新型内容本实用新型要解决的技术问题提供一种微波器件动态老化试验系统,以解决现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行,由于这是一种静态老化方式,存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远,达不到剔除早期失效器件等技术问题...
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