指纹识别芯片的带状测试插座的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种指纹识别芯片的测试装置，尤其涉及一种指纹识别芯片的带状测试插座。
【背景技术】
[0002]随着指纹芯片在手机、电脑等产品的应用，市场对指纹识别芯片的需求越来越大，芯片厂家需要大幅度提高生产效率，以满足市场需要。指纹芯片质量检测作为芯片生产过程中极为重要的一环，由于受到测试方法的制约，成为提高生产效率的瓶颈。现有技术中，对于指纹识别芯片的测试，以手动测试最为广泛，少数采用以单颗芯片为单位的自动化测试;然而，这些指纹识别芯片的测试方法，均存在效率太低、人工成本太高的问题，难以满足市场需求。
【实用新型内容】
[0003]为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种实现多颗芯片一次性共同测试、有效提高生产效率的指纹识别芯片的带状测试插座。
[0004]本实用新型的指纹识别芯片的带状测试插座，包括插座框、插座体、插座挡板以及测试探针，所述插座体固定安装在所述插座框内，所述插座体上设置有至少一个芯片检测位，所述插座体上位于所述芯片检测位内设置有探针安装孔，所述插座体的底部固定安装所述插座挡板，所述插座挡板上设置有与所述探针安装孔相对应的探针限位孔，所述探针安装孔和探针限位孔内设置有所述测试探针。
[0005]进一步的，所述插座体的两侧设置有安装板，所述安装板通过固定件固定安装在所述插座框上。
[0006]具体的，所述固定件为定位销钉。
[0007]进一步的，所述插座挡板通过螺丝安装在所述插座体上。
[0008]进一步的，所述插座体上设置有两排芯片检测位组，每一排芯片检测位组包括4个芯片检测位。
[0009]进一步的，所述测试探针包括上探针头和下探针头，所述下探针头在所述上探针头内相对滑动，所述下探针头与所述探针限位孔的孔径相匹配，所述上探针头与所述探针安装孔的孔径相匹配。
[0010]进一步的，所述上探针头的底部边缘设置有环形的突出部，所述探针安装孔的底部设置有限位槽，所述限位槽的内径与所述突出部的外径相匹配，所述限位槽用于限制上探针孔朝向探针安装孔顶部方向的相对运动。
[0011]借由上述方案，本实用新型至少具有以下优点:I)该设计节约了人力成本;2)相对单片自动测试插座测试效率效率提高十几倍。
[0012]上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
【附图说明】
[0013]图1是本实用新型的仰视图；
[0014]图2是本实用新型的俯视图；
[0015]图3是本实用新型的结构不意图；
[0016]图4是带状未切割指纹识别芯片的结构示意图；
[0017]图5是本实用新型指纹识别芯片的带状测试插座在测试探针测试状态的结构示意图；
[0018]图6是本实用新型指纹识别芯片的带状测试插座在测试探针自由状态的结构示意图；
[0019]图7是采用本实用新型指纹识别芯片的带状测试插座的自动化检测设备的结构示意图；
[0020]图8是本实用新型指纹识别芯片的带状测试插座在工作状态下与带状未切割指纹识别芯片的位置关系的剖视图。
【具体实施方式】
[0021]下面结合附图和实施例，对本实用新型的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
[0022]实施例一
[0023]参见图1至图3，本实用新型一较佳实施例的一种指纹识别芯片的带状测试插座，包括插座框1、插座体2、插座挡板3以及测试探针4，插座体2固定安装在插座框I内，插座体2上设置有至少一个芯片检测位5，插座体2上位于芯片检测位5内设置有探针安装孔6，插座体2的底部固定安装插座挡板3，插座挡板3上设置有与探针安装孔6相对应的探针限位孔7，探针安装孔6和探针限位孔7内设置有测试探针4。插座体2的两侧设置有安装板9，安装板9通过固定件固定安装在插座框上;较为简单的，固定件为定位销钉。插座挡板3通过螺丝安装在插座体上。
[0024]如图4所示，图中为带状未切割指纹识别芯片30的结构示意图，该芯片带上每一排有4个指纹识别芯片，为了同时检测带状未切割指纹识别芯片，插座体2上设置有两排芯片检测位组，每一排芯片检测位组包括4个芯片检测位5，这样可同时测试8片芯片。测试探针排布和未切割芯片带条保持一致，保证每个芯片都有相应的测试位置。测试插座上下表面保持非常好的平面度和平行度，保证各位置芯片测试状态相同。
[0025]如图5和图6所示，测试探针4包括上探针头10和下探针头11，下探针头11在上探针头10内相对滑动，下探针头11与探针限位孔7的孔径相匹配，上探针头10与探针安装孔6的孔径相匹配。
[0026]上探针头10的底部边缘设置有环形的突出部12，探针安装孔的底部设置有限位槽8，限位槽8的内径与突出部的外径相匹配，限位槽8用于限制上探针孔朝向探针安装孔顶部方向的相对运动。
[0027]实施例二
[0028]如图7和图8，本实用新型还提供一种采用指纹识别芯片的带状测试插座的自动检测设备，包括带状测试插座20、带状未切割指纹识别芯片30、以及运送带状未切割指纹识别芯片30的自动传送设备40，实现了将芯片测试阶段由成品测试阶段变更至芯片基板测试(未剪切)阶段，测试插座根据芯片基板排列情况设计为多颗芯片同时测试。由自动化传送设备负责给料，芯片基板(带状未切割指纹识别芯片30)每次推进两组，对应测试插座上的两排测试点位。每完成一次测试，继续推进两组。
[0029]以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，并不用于限制本实用新型，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种指纹识别芯片的带状测试插座，其特征在于:包括插座框、插座体、插座挡板以及测试探针，所述插座体固定安装在所述插座框内，所述插座体上设置有至少一个芯片检测位，所述插座体上位于所述芯片检测位内设置有探针安装孔，所述插座体的底部固定安装所述插座挡板，所述插座挡板上设置有与所述探针安装孔相对应的探针限位孔，所述探针安装孔和探针限位孔内设置有所述测试探针。2.根据权利要求1所述的指纹识别芯片的带状测试插座，其特征在于:所述插座体的两侧设置有安装板，所述安装板通过固定件固定安装在所述插座框上。3.根据权利要求2所述的指纹识别芯片的带状测试插座，其特征在于:所述固定件为定位销钉。4.根据权利要求1所述的指纹识别芯片的带状测试插座，其特征在于:所述插座体上设置有两排芯片检测位组，每一排芯片检测位组包括4个芯片检测位。5.根据权利要求1所述的指纹识别芯片的带状测试插座，其特征在于:所述测试探针包括上探针头和下探针头，所述下探针头在所述上探针头内相对滑动，所述下探针头与所述探针限位孔的孔径相匹配，所述上探针头与所述探针安装孔的孔径相匹配。6.根据权利要求5所述的指纹识别芯片的带状测试插座，其特征在于:所述上探针头的底部边缘设置有环形的突出部，所述探针安装孔的底部设置有限位槽，所述限位槽的内径与所述突出部的外径相匹配，所述限位槽用于限制上探针孔朝向探针安装孔顶部方向的相对运动。7.根据权利要求1所述的指纹识别芯片的带状测试插座，其特征在于:所述插座挡板通过螺丝安装在所述插座体上。
【专利摘要】本实用新型涉及一种指纹识别芯片的测试装置，尤其涉及一种指纹识别芯片的带状测试插座。本实用新型的指纹识别芯片的带状测试插座，包括插座框、插座体、插座挡板以及测试探针，插座体固定安装在插座框内，插座体上设置有至少一个芯片检测位，插座体上位于芯片检测位内设置有探针安装孔，插座体的底部固定安装插座挡板，插座挡板上设置有与探针安装孔相对应的探针限位孔，探针安装孔和探针限位孔内设置有测试探针。本实用新型的指纹识别芯片的带状测试插座，实现多颗芯片一次性共同测试、有效提高生产效率。
【IPC分类】G01R31/28, G01R1/04
【公开号】CN205263139
【申请号】CN201521127685
【发明人】史赛
【申请人】苏州韬盛电子科技有限公司
【公开日】2016年5月25日
【申请日】2015年12月30日