一种电子设备的测试装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种电子设备的测试装置，所述电子设备的测试装置包括测试架、电源箱和数据记录器，所述测试架设有若干测试部，所述测试部设有转接件，所述数据记录器设有存储器、数据处理模块、显示屏和若干连接端口，每一个所述测试部上的所述转接件的一端接口连接一台待测试电子设备，另一端连接所述数据记录器的一个所述连接端口，待测电子设备通过转接件与所述数据记录器电性导通，待测电子设备由所述电源箱供电，所述显示屏显示经数据处理模块处理后的测试结果，所述存储器存储测试数据。
【专利说明】
_种电子设备的测试装置
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种测试装置，特别涉及一种电子设备的测试装置。
【背景技术】
[0002]电子产品的产生过程中，为确保产品质量，需要进行测试检验。现有的测试过程是通过设置测试工位。并且在整个测试过程中会经常出现下述问题:I)多为针对单一产品的测试，更换产品需要更换测试工装，造成不便;2)测试通过探针接触测量，使用时间过长测试探针容易老化出现接触不良，误测率较高;3)测试过程较为复杂，导致测试过程需要消耗较长时间，测试效率低，操作人员容易漏测;4)测试数据无规范记录，对维修和测试数据挖掘造成不便。因而需要一款测试装置以解决上述问题。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题在于，提供一种电子设备的测试装置以增加测试装置的通用性，提高测试效率并降低成本。
[0004]为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案:
[0005]本实用新型提供一种电子设备的测试装置，所述电子设备的测试装置包括测试架、电源箱和数据记录器，所述测试架设有若干测试部，所述测试部设有转接件，所述数据记录器设有存储器、数据处理模块、显示屏和若干连接端口，每一个所述测试部上的所述转接件的一端接口连接一台待测试电子设备，另一端连接所述数据记录器的一个所述连接端口，待测电子设备通过转接件与所述数据记录器电性导通，待测电子设备由所述电源箱供电，所述存储器存储经由数据处理模块处理后的测试数据，所述显示屏显示经数据处理模块处理后的测试结果。
[0006]其中，所述测试架包括平行设置的两侧壁和抵持于所述两侧壁之间η层操作板，η为大于2的整数，η层操作板呈阶梯状排布，所述测试部设于相邻的两层所述操作板之间并与两层所述操作板抵持。
[0007]其中，所述η层操作板的第一层操作板上设有若干贯通的安装孔，所述测试架通过所述安装孔固定于地面或者工作台上。
[0008]其中，所述测试部包括相对的两端，每一端凸设圆柱凸起和与所述圆柱凸起相邻的定位孔，相邻的两层所述操作板上设有平行相对的转动孔，所述圆柱凸起插入所述转动孔中并使所述测试部以所述圆柱凸起所在轴为中心轴转动。
[0009]其中，每一层所述操作板上紧邻所述转动孔设有调节槽，所述定位孔可随着所述测试部的转动在所述调节槽内移动，所述测试部通过螺栓锁紧于所述定位孔并使螺栓头卡持于所述操作板上进行固定。
[0010]其中，所述测试部在所述操作板上沿所述操作板的延伸方向排成一列。
[0011]其中，所述测试部沿所述圆柱凸起的延伸方向设有滑动槽，所述转接件设于所述滑动槽上并可自由滑动并通过螺栓定位。
[0012]其中，每个所述测试部上的所述转接件的个数为一个或者多个，所述测试部上的所述转接件为多个时，所述测试部上不同的所述转接件具有不同的所述接口。
[0013]其中，所述数据记录器与待测电子设备通过转接线的一端连接所述连接端口，另一端连接所述转接件实现电性导通。
[0014]其中，所述测试架的所述两侧壁上设有相对设置的搬运孔。
[0015]本实用新型提供的一种电子设备的测试装置，通过设置多个测试部，并且测试部可调以匹配不同类型的电子设备，测试的数据可通过数据记录器保存。增加了测试装置的通用性，提高了测试效率并降低测试过程的成本。
【附图说明】
[0016]为了更清楚地说明本实用新型的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本实用新型实施例提供的电子设备的测试装置的示意图；
[0018]图2是图1所述的电子设备的测试装置的测试架的示意图；
[0019]图3是图2所述的测试架的II部分的放大示意图；
[0020]图4图2所述的测试架的测试部的示意图。
[0021 ]图5图2所述的测试架的测试部的侧视视图。
【具体实施方式】
[0022]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0023]请一并参阅图1和图2，本实用新型实施方式提供一种电子设备的测试装置100，所述电子设备的测试装置100包括测试架30、电源箱50和数据记录器70。所述测试架30包括平行设置的两侧壁31、抵持于所述两侧壁31之间并呈阶梯状平行设置的η层操作板32和若干测试部33，η为大于2的整数。在本实施例中，η为3。所述操作板32为矩形板并选用具有良好的绝缘性和耐热性的厚电木。所述操作板32依次包括第一层操作板321，第二层操作板322和第三层操作板323。所述第一层操作板321上设有若干贯通的安装孔324。在本实施例中，所述安装孔324为四个。所述安装孔324分布于所述第一层操作板321的四个直角处。所述测试架30通过所述安装孔324固定于地面或者工作台上。相邻的两层所述操作板32上设有若干平行相对的转动孔(图未示)，所述转动孔沿所述操作板32的延伸方向等间隔排成一列。每一层所述操作板32上紧邻所述转动孔设有贯通所述操作板32并且呈圆弧形的调节槽325，所述调节槽的弧口方向朝向与其紧邻的所述转动孔。在本实施例中，每一层操作板32上设有八个所述转动孔和八个所述调节槽325，所述调节槽325所对应的弧度为π/2。所述两侧壁31为阶梯型板并选用厚电木。所述两侧壁31设置于所述第一层操作板321的相对的两边缘并通过螺丝或者胶粘固定。所述两侧壁31上设有移动所述测试架时使用的相对设置的搬运孔311。工作人员在搬运所述测试架30时，通过抓紧所述搬运孔311来移动所述测试架30可避免误碰到所述测试架30上的电性连接组件，避免了移动过程中可能造成的电子设备接触不良。
[0024]进一步的，请一并参阅图3至图5，所述测试部33为柱体。所述测试部33设于相邻的两层所述操作板32之间并与相邻的两层所述操作板32抵持。所述测试部33在所述操作板上32沿所述操作板32的延伸方向排成一列。在本实施例中，所述测试部33的个数为十六个。所述测试部33在所述第一层测试板321与所述第二层测试板322之间等间距排列八个，所述测试部33在所述第二层测试板322和所述第三层测试板323之间等间距排列八个。所述测试部33包括相对的两端，每一端凸设圆柱凸起331和与所述圆柱凸起331相邻的定位孔332。所述圆柱凸起331插入相邻的两层所述操作板32上对应的所述转动孔中，并可使所述测试部33以相背的两个所述圆柱凸起331所在轴为中心轴转动。所述定位孔332为螺纹孔，所述测试部33在转动时，所述定位孔332的移动轨迹为圆弧形，并且所述定位孔332限定在与所述转动孔相邻设置的所述调节槽325内移动。在本实施例中，由于所述调节槽325对应的弧度为V2，因而所述测试部33最大可旋转90度，以匹配不同型号的电子设备。可以理解的是，根据实际需要所述测试部33可旋转的角度可以是更大的角度。增大所述调节槽325对应的弧度的大小，即可增大所述测试部33可旋转的角度。所述测试部33通过螺栓锁紧于所述定位孔332并使螺栓头卡持于所述操作板32位于所述调节槽325外侧的表面上进行固定。
[0025]进一步的，所述测试部33还设有沿所述圆柱凸起331延伸方向设置的滑动槽333和可在所述滑动槽333上通过滑动调节位置的转接件334。所述滑动槽333贯通所述测试部33。所述滑动槽333可由串联设置的多段组成或者连通成一段。在本实施例中，所述滑动槽333由两段组成。所述转接件334包括接口 3341和与所述接口 3341电性导通的连接端3342。所述接口 3341连接待测试电子设备80。所述连接端3342可连接转接线90从而与外部设备电性导通。根据需要所述转接件334可为一个或者多个，所述转接件334为多个时，每个所述测试部33上不同的所述转接件334具有不同的接口，以匹配不同类型的电子设备的连接端口。在本实施例中，每一段所述滑动槽333内设有一个所述转接件334，并且两个所述转接件334的所述接口 3341不同。与所述测试部33的固定方式类似，所述转接件334上设有螺纹孔，将螺栓穿过所述滑动槽333并插入螺纹孔，并紧固螺栓使螺栓头卡持于所述测试部33位于所述滑动槽333外侧的表面上。
[0026]进一步的，请再次参阅图1。所述电源箱50为220V交流电源。所述电源箱50设有多个插孔可为多个待测试电子设备80同时供电。
[0027]进一步的，请再次参阅图1。所述数据记录器70包括存储器(图未示)、数据处理模块(图未示)、显示屏71和若干连接端口 72。所述数据记录器70与待测试电子设备80通过转接线90的一端连接所述连接端口 72，另一端连接所述转接件334实现电性导通。若干所述连接端口72的设置可使所述数据记录器70同时处理多台电子设备的测试。在本实施例中，所述连接端口 72的个数为十六个。所述显示屏71可为一个或多个，所述显示屏71为一个时，每一电子设备的测试结果显示在同一个所述显示屏71上.所述显示屏71为多个时，每一电子设备的测试结果显示在单独对应的所述显示屏71上。在本实施例中，所述显示屏71的个数为十六个，每一电子设备的测试结果显示在单独对应的所述显示屏71上。所述数据处理模块内置测试软件，用于处理待测试电子设备80的测试数据。所述显示屏71显示需要测试的各项指标，并可显示测试指标是否合格。所述存储器储存测试数据，方便工作人员的后续维修和分析整理。
[0028]实际操作过程如下:I)设备位置摆放:工作人员摆放所述测试架30、电源箱50和数据记录器70;2)设备之间电连接:将一台或者多台待测试电子设备80放置于所述操作板32上对应的所述测试部33旁，调节所述测试部33的角度和所述转接334的位置并定位，使待测试电子设备80连接所述接口 3341，所述连接端3342连接转接线90，所述转接线90与所述连接端口 72连接，待测试电子设备80与所述电源箱50电性连通;3)开始测试:接通电源，运行电子设备和所述数据记录器70，工作人员观察所述显示屏71的显示结果，检查各项指标是否合格，如果合格则进行下一台电子设备的测试，如果不合格则反馈给维修人员，维修人员可调用所述存储器中的数据进行维修。
[0029]本实用新型提供的电子设备的测试装置，通过设置多个所述测试部33以及具有多个所述连接端口 72的数据记录器70，可实现多台电子设备同时测试，简化了测试过程，提高了生产效率。
[0030]以上所述是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种电子设备的测试装置，其特征在于，所述电子设备的测试装置包括测试架、电源箱和数据记录器，所述测试架设有若干测试部，所述测试部设有转接件，所述数据记录器设有存储器、数据处理模块、显示屏和若干连接端口，每一个所述测试部上的所述转接件的一端接口连接一台待测试电子设备，另一端连接所述数据记录器的一个所述连接端口，待测电子设备通过转接件与所述数据记录器电性导通，待测电子设备由所述电源箱供电，所述存储器存储经由数据处理模块处理后的测试数据，所述显示屏显示经数据处理模块处理后的测试结果。2.如权利要求1所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述测试架包括平行设置的两侧壁和抵持于所述两侧壁之间η层操作板，η为大于2的整数，η层操作板呈阶梯状排布，所述测试部设于相邻的两层所述操作板之间并与两层所述操作板抵持。3.如权利要求2所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述η层操作板的第一层操作板上设有若干贯通的安装孔，所述测试架通过所述安装孔固定于地面或者工作台上。4.如权利要求2所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述测试部包括相对的两端，每一端凸设圆柱凸起和与所述圆柱凸起相邻的定位孔，相邻的两层所述操作板上设有平行相对的转动孔，所述圆柱凸起插入所述转动孔中并使所述测试部以所述圆柱凸起所在轴为中心轴转动。5.如权利要求4所述的电子设备的测试装置，其特征在于，每一层所述操作板上紧邻所述转动孔设有调节槽，所述定位孔可随着所述测试部的转动在所述调节槽内移动，所述测试部通过螺栓锁紧于所述定位孔并使螺栓头卡持于所述操作板上进行固定。6.如权利要求2所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述测试部在所述操作板上沿所述操作板的延伸方向排成一列。7.如权利要求4至6任一项所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述测试部沿所述圆柱凸起的延伸方向设有滑动槽，所述转接件设于所述滑动槽上并可自由滑动并通过螺栓定位。8.如权利要求1所述的电子设备的测试装置，其特征在于，每个所述测试部上的所述转接件的个数为一个或者多个，所述测试部上的所述转接件为多个时，所述测试部上不同的所述转接件具有不同的所述接口。9.如权利要求1所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述数据记录器与待测电子设备通过转接线的一端连接所述连接端口，另一端连接所述转接件实现电性导通。10.如权利要求1所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述测试架的所述两侧壁上设有相对设置的搬运孔。
【文档编号】G01R31/00GK205450145SQ201620009203
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年1月6日
【发明人】岑忠孝, 陈 胜
【申请人】深圳创维数字技术有限公司