Emi测试天线装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种EMI测试天线装置，其包括上锥体天线、下锥体天线以及支撑架，所述上锥体天线为倒锥体，所述下锥体天线为正锥体，且所述上锥体天线与下锥体天线顶对顶设置在所述支撑架的上部，所述上锥体天线设置在上导电板，所述下锥体天线设置在下导电板，且所述上导电板与所述下导电板之间电性连接，其中，所述上锥体天线和所述下锥体天线的表面设置有磁性吸波层；从而通过结构设计与材料设计相结合，极大的增强了天线装置的吸波效果。
【专利说明】
EMI测试天线装置
技术领域
[0001 ]本实用新型涉及一种EMI测试天线装置。
【背景技术】
[0002]电磁干扰(Electromagnetic Interference简称EMI)，是指电磁波与电子元件作用后而产生的干扰现象，有传导干扰和辐射干扰两种。传导干扰是指通过导电介质把一个电网络上的信号耦合到另一个电网络。辐射干扰是指干扰源通过空间把其信号耦合到另一个电网络，在高速PCB及系统设计中，高频信号线、集成电路的引脚、各类接插件等都可能成为具有天线特性的辐射干扰源，能发射电磁波并影响其他系统或本系统内其他子系统的正常工作。
[0003]现有的辐射干扰测试天线主要是从结构形状的布局设计来改善电磁波的接收效果，局限性较大。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型为解决上述问题，提供了一种EMI测试天线装置，其通过在结构设计与材料设计相结合，极大的增强了天线装置的吸波效果。
[0005]为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为:
[0006]—种EMI测试天线装置，其包括上锥体天线(10)、下锥体天线(40)以及支撑架，所述上锥体天线(10)为倒锥体，所述下锥体天线(40)为正锥体，且所述上锥体天线(10)与下锥体天线(40)顶对顶设置在所述支撑架的上部，所述上锥体天线(10)设置在上导电板
(20)，所述下锥体天线(40)设置在下导电板(30)，且所述上导电板(20)与所述下导电板
(30)之间电性连接，其中，所述上锥体天线(10)和所述下锥体天线(40)的表面设置有磁性吸波层。
[0007]优选的，所述支撑架包括支撑底座(60)以及从该支撑底座(60)向上延伸的支撑杆
(50),所述上锥体天线(10)与下锥体天线(40)设置在所述支撑杆(50)的上部。
[0008]优选的，所述上锥体天线(10)和所述下锥体天线(40)的表面的磁性吸波层采用磁性吸波膜或者采用磁性吸波涂层。
[0009]本实用新型的有益效果是:
[0010]本实用新型通过设置上锥体天线与下锥体天线，且上锥体天线与下锥体天线之间通过导电板相互电性连接，并在上锥体天线与下锥体天线的表面设置有磁性吸波层，从而通过结构设计与材料设计相结合，极大的增强了天线装置的吸波效果。
【附图说明】
[0011]此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
[0012]图1为本实用新型一种EMI测试天线装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0013]为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0014]如图1所示，本实用新型的一种EMI测试天线装置，其包括上锥体天线10、下锥体天线40以及支撑架，所述上锥体天线1为倒锥体，所述下锥体天线40为正锥体，且所述上锥体天线10与下锥体天线40顶对顶设置在所述支撑架的上部，所述上锥体天线10设置在上导电板20，所述下锥体天线40设置在下导电板30，且所述上导电板20与所述下导电板30之间电性连接，其中，所述上锥体天线10和所述下锥体天线40的表面设置有磁性吸波层。
[0015]本实施例中，所述支撑架包括支撑底座60以及从该支撑底座60向上延伸的支撑杆50，所述上锥体天线10与下锥体天线40设置在所述支撑杆50的上部。优选的，所述上锥体天线10和所述下锥体天线40的表面的磁性吸波层采用磁性吸波膜或者采用磁性吸波涂层，还可以采用其他贴附方式将磁性吸波材料设置在天线的表面，不以此为限。
[0016]上述说明示出并描述了本实用新型的优选实施例，如前所述，应当理解本实用新型并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述实用新型构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本实用新型的精神和范围，则都应在本实用新型所附权利要求的保护范围内。
【主权项】
1.一种EMI测试天线装置，其特征在于，包括上锥体天线(10)、下锥体天线(40)以及支撑架，所述上锥体天线(10)为倒锥体，所述下锥体天线(40)为正锥体，且所述上锥体天线(10)与下锥体天线(40)顶对顶设置在所述支撑架的上部，所述上锥体天线(10)设置在上导电板(20)，所述下锥体天线(40)设置在下导电板(30)，且所述上导电板(20)与所述下导电板(30)之间电性连接，其中，所述上锥体天线(10)和所述下锥体天线(40)的表面设置有磁性吸波层。2.根据权利要求1所述的一种EMI测试天线装置，其特征在于:所述支撑架包括支撑底座(60)以及从该支撑底座(60)向上延伸的支撑杆(50)，所述上锥体天线(10)与下锥体天线(40)设置在所述支撑杆(50)的上部。3.根据权利要求1所述的一种EMI测试天线装置，其特征在于:所述上锥体天线(10)和所述下锥体天线(40)的表面的磁性吸波层采用磁性吸波膜或者采用磁性吸波涂层。
【文档编号】G01R31/00GK205506973SQ201620284295
【公开日】2016年8月24日
【申请日】2016年4月7日
【发明人】梁吉明
【申请人】厦门海诺达科学仪器有限公司