用于热电参数测试的样品台的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于热电参数测试的样品台，该样品台包括样品台主体，在样品台主体的正面安装一绝缘板，在绝缘板上方安装有导热块；导热块上设有插孔和插槽，该插孔中插设热电偶，该插槽中插设加热片；该样品台还包括压片，可拆卸地固定在导热块上，测试时，样品固定在导热块和压片之间；该样品台还包括探针PCB板，固定在样品台主体背面，探针PCB板、样品台主体及绝缘板上均设有用于安装弹簧探针的探针通孔。本实用新型的结构简单，且可有效提高样品测量数据的准确性和稳定性。
【专利说明】
用于热电参数测试的样品台
技术领域
[0001]本实用新型涉及测试样品台，尤其涉及一种用于热电参数测试的样品台。
【背景技术】
[0002]热电材料在温差发电和电制冷领域有广泛的用途，热电参数测试仪用于对热电材料的塞贝克系数和电阻率进行测量，但是现有技术中没有好的样品台用于热电参数测试。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的发明目的，在于提供一种结构简单，操作方便，稳定性好的用于热电参数测试的样品台。
[0004]本实用新型为达到发明目的所采用的技术方案是:
[0005]提供一种用于热电参数测试的样品台，该样品台包括样品台主体，在样品台主体的正面安装一绝缘板，在绝缘板上方安装有导热块；
[0006]导热块上设有插孔和插槽，该插孔中插设热电偶，该插槽中插设加热片；
[0007]该样品台还包括压片，可拆卸地固定在导热块上，测试时，样品固定在导热块和压片之间；
[0008]该样品台还包括探针PCB板，固定在样品台主体背面，探针PCB板、样品台主体及绝缘板上均设有用于安装弹簧探针的探针通孔。
[0009]本实用新型所述的用于热电参数测试的样品台中，所述绝缘板为氮化硼绝缘板。
[0010]本实用新型所述的用于热电参数测试的样品台中，所述加热片为陶瓷加热片。
[0011]本实用新型所述的用于热电参数测试的样品台中，探针PCB板通过四个圆垫片和安装螺钉固定在样品台主体上。
[0012]本实用新型所述的用于热电参数测试的样品台中，所述导热块的两个侧面均设有插孔和插槽。
[0013]本实用新型所述的用于热电参数测试的样品台中，所述导热块为铜块。
[0014]本实用新型所述的用于热电参数测试的样品台中，所述压片为金属压片。
[0015]本实用新型所述的用于热电参数测试的样品台中，探针PCB板、样品台主体及绝缘板上均相应设有多排探针通孔。
[0016]本实用新型所述的用于热电参数测试的样品台中，所述绝缘板上方安装有两个并列的导热块。
[0017]本实用新型产生的有益效果是:本实用新型的用于热电参数测试的样品台在导热块上插设热电偶和加热片，可在样品两端产生温差，以便于热点参数测试仪有效采集测试过程中样品两端的温度。且弹簧探针可穿过探针PCB板、样品台主体和绝缘板顶在样品上，便于测量样品上的电压，从而便于热点参数测试仪对样品的有效测试。本实用新型的结构简单，且可有效提高样品测量数据的准确性和稳定性。
【附图说明】
[0018]下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中:
[0019]图1是本实用新型实施例的用于热电参数测试的样品台爆破图；
[0020]图2是本实用新型实施例的用于热电参数测试组装后的立体示意图。
[0021]图中:1、压片；2、样品；3、导热块;4、热电偶;5、加热片;6、绝缘板;7、样品台主体；
8、圆垫片;9、探针PCB板;10、弹簧探针;11、插孔;12、插槽;13、探针通孔。
【具体实施方式】
[0022]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0023]如图1和图2所示，本实用新型实施例的用于热电参数测试的样品台包括样品台主体7，在样品台主体7的正面安装一绝缘板6，在绝缘板6上方安装两块并列的导热块3;
[0024]导热块3上设有插孔11和插槽12，该插孔11中插设热电偶4，该插槽12中插设加热片5;
[0025]该样品台还包括压片，可拆卸地固定在导热块3上，测试时，样品2固定在导热块3和压片I之间；
[0026]该样品台还包括探针PCB板9，固定在样品台主体7背面，探针PCB板9、样品台主体7及绝缘板6上均设有用于安装弹簧探针10的探针通孔13。探针通孔10主要在电阻率测量时使用。
[0027]本实用新型的一个实施例中，探针PCB板9、样品台主体7及绝缘板6上均相应设有多排探针通孔13。设置为多排探针通孔，主要用于在样品太大的情况下，使用多对探针测量更准确。
[0028]测试时环境温度通过样品台主体7、绝缘板6和导热块3传递到样品2上。弹簧探针10通过探针通孔13依次可穿过探针PCB板9、样品台主体7和绝缘板6顶在样品2上用于测量电压。
[0029]其中绝缘板6可选用氮化硼绝缘板。加热片5可选用陶瓷加热片。
[0030]如图2所示，探针PCB板9可通过四个圆垫片8和安装螺钉固定在样品台主体7和导热块3上。
[0031]本实用新型的一个实施例中，绝缘板6上方可安装有两个并列的导热块3，分别置于样品的两端。导热块3为金属导热块，如铜块。压片I可选用金属压片。
[0032]本实用新型的一个实施例中，如图1所示，导热块3的两个侧面均设有插孔11和插槽12。热电偶4分别插在热块3两侧面对称的插孔11中，用于采集测试过程中的样品两端温度。
[0033]测试时，样品2平放在导热块3上，可使用压片I将样品2压紧在导热块上。
[0034]测量赛贝克系数时:加热片5对称插入导热块3两侧面的插槽中，可给样品2的任一端加热，以在样品2两端产生温差。
[0035]样品台主体7和导热块中间使用绝缘板6进行绝缘并支撑整个架构，绝缘板6用于将热量从样品台主体7传递到导热块3上，并实现两者间的绝缘隔离。
[0036]样品台主体7背面使用PCB板9固定弹簧探针10并作为接线板使用。
[0037]在导热块加热时，通过插入两个导热块3中的热电偶可以测量出样品两端的温度，并计算出温差；同时测量两个导热块3之间的电压，即热电势；利用热电势和温差就可以求出样品的塞贝克系数值。
[0038]测量电阻率时:电流通过导热块3再通过样品2，弹簧探针10穿过探针PCB板9、样品台主体7和绝缘板6顶在样品2上用来测量样品2上的电压。
[0039]综上，本实用新型的用于热电参数测试的样品台在导热块3上插设热电偶4和加热片5，在样品两端产生温差，以便于热点参数测试仪有效采集测试过程中样品两端的温度。且弹簧探针10可穿过探针PCB板9、样品台主体7和绝缘板6顶在样品2上，便于测量样品2上的电压，从而便于热点参数测试仪对样品的有效测试。试验表明，本实用新型的结构简单，且可有效提高样品测量数据的准确性和稳定性。
[0040]应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。
【主权项】
1.一种用于热电参数测试的样品台，其特征在于，该样品台包括样品台主体(7)，在样品台主体(7)的正面安装一绝缘板(6)，在绝缘板(6)上方安装有导热块(3); 导热块(3)上设有插孔(11)和插槽(12)，该插孔(11)中插设热电偶(4)，该插槽中插设加热片(5); 该样品台还包括压片，可拆卸地固定在导热块(3)上，测试时，样品(2)固定在导热块(3)和压片(I)之间； 该样品台还包括探针PCB板(9)，固定在样品台主体(7)背面，探针PCB板(9)、样品台主体(7)及绝缘板(6)上均设有用于安装弹簧探针(10)的探针通孔(13)。2.根据权利要求1所述的用于热电参数测试的样品台，其特征在于，所述绝缘板(6)为氮化硼绝缘板。3.根据权利要求1所述的用于热电参数测试的样品台，其特征在于，所述加热片(5)为陶瓷加热片。4.根据权利要求1所述的用于热电参数测试的样品台，其特征在于，探针PCB板(9)通过四个圆垫片(8)和安装螺钉固定在样品台主体(7)上。5.根据权利要求1所述的用于热电参数测试的样品台，其特征在于，导热块(3)的两个侧面均设有插孔(11)和插槽(12)。6.根据权利要求1所述的用于热电参数测试的样品台，其特征在于，所述导热块(3)为铜块。7.根据权利要求1所述的用于热电参数测试的样品台，其特征在于，所述压片(I)为金属压片。8.根据权利要求1所述的用于热电参数测试的样品台，其特征在于，探针PCB板(9)、样品台主体(7)及绝缘板(6)上均相应设有多排探针通孔(13)。9.根据权利要求1所述的用于热电参数测试的样品台，其特征在于，所述绝缘板(6)上方安装有两个并列的导热块(3)。
【文档编号】G01N25/00GK205643206SQ201620268296
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年3月31日
【发明人】王愿兵, 吴燕雄, 蔡颖锐, 张雨, 徐伟, 张鑫
【申请人】武汉嘉仪通科技有限公司