一种x射线测试用电阻炉的制作方法
【专利摘要】一种X射线测试用电阻炉，它涉及一种电阻炉。本实用新型的目的是要解决现有材料的X射线散射或衍射的测试一般在常温常压下获得信息，不能了解材料随温度场变化的结构信息演化，对于X射线在材料学中晶体生长及工程上的热老化等领域的应用受到限制的问题。装置它包括电阻炉，它还包括样品架、氧化铝陶瓷管和两个陶瓷管托架。所述的电阻炉的前后平面上设有对称孔；氧化铝陶瓷管的两端搭接到电阻炉前后平面的对称孔上，贯穿电阻炉；所述的两个陶瓷管托架设置在电阻炉的内部，且设置在氧化铝陶瓷管的两端下方。样品架的下端穿过电阻炉的上端面的方形孔和氧化铝陶瓷管上的方形孔伸入到氧化铝陶瓷管的内部。本实用新型可获得一种X射线测试用电阻炉。
【专利说明】
一种X射线测试用电阻炉
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种电阻炉。
【背景技术】
[0002]因为不同物质的X射线散射或衍射的图样具有“指纹”效应，可用来判别物质种类及分析物质结构，其已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构，测试宏观应力的测定宏观残留应力的方向和大小的有效方法。尤其是同步辐射装置的出现，高质量的光源的产生，助推了 X射线测试经成为科学研究与工程实际应用中的强有力的工具。但目前其应用中也面临一些问题，主要包括:x射线散射或衍射的测试一般都是在常温常压下获得信息，对于了解新材料随着温度场变化的结构信息演化，一般的X射线装置很难实现，但是这对于X射线在材料学中晶体生长及工程上的热老化等领域的应用产生了限制。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是要解决现有材料的X射线散射或衍射的测试一般在常温常压下获得信息，不能了解材料随温度场变化的结构信息演化，对于X射线在材料学中晶体生长及工程上的热老化等领域的应用受到限制的问题，而提供一种X射线测试用电阻炉。
[0004]—种X射线测试用电阻炉，它包括电阻炉，它还包括样品架、氧化铝陶瓷管和两个陶瓷管托架；
[0005]所述的电阻炉的前后平面上设有对称孔;氧化铝陶瓷管的两端搭接到电阻炉前后平面的对称孔上，贯穿电阻炉；
[0006]所述的两个陶瓷管托架设置在电阻炉的内部，且设置在氧化铝陶瓷管的两端下方，通过螺丝与电阻炉固定连接；
[0007]所述的样品架包括第一条形金属片、第二条形金属片和手柄;手柄设置于第一条形金属片上部端面上，第二条形金属片设置于第一条形金属片下部，第一条形金属片和第二条形金属片上设置有贯通的圆形孔；
[0008]所述的电阻炉的上端面设置有方形孔，氧化铝陶瓷管的上表面设置有方形孔，样品架的下端穿过电阻炉的上端面的方形孔和氧化铝陶瓷管上的方形孔伸入到氧化铝陶瓷管的内部；
[0009]所述的氧化铝陶瓷管的长度方向与样品架长度方向垂直。
[0010]本实用新型的原理及优点:
[0011]—、本实用新型设计了一种X射线测试用电阻炉，可实现在不同的温度下进行X射线测试，可在普通的X射线衍射仪上使用，亦可以在国家大型装置同步辐射X射线装置上使用；
[0012]二、将测试样品放入第一条形金属片和第二条形金属片上设置的贯通圆形孔中，X射线沿氧化铝陶瓷管入射，在电阻炉散发的热场的环境下辐照样品后，散射信号被探测器接收，获得样品结构信息；
[0013]三、本实用新型可以将样品在不同温度下进行X射线衍射或散射测试，解决了现有材料的X射线散射的测试一般在常温常压下获得信息，不能了解材料随温度场变化的结构信息演化，对于X射线在材料学中晶体生长及工程上的热老化等领域的应用受到限制的问题。
[0014]本实用新型可获得一种X射线测试用电阻炉。
【附图说明】
[0015]图1为一种X射线测试用电阻炉的主视图；
[0016]图2为图1沿B-B向的剖面图；
[0017]图3为图1沿A-A向的剖面图；
[0018]图4为样品架的主视图；
[0019]图5为图4的右视图；
【具体实施方式】
[0020]【具体实施方式】一:本实施方式是一种X射线测试用电阻炉，它包括电阻炉8，它还包括样品架1、氧化铝陶瓷管2和两个陶瓷管托架3;
[0021]所述的电阻炉8的前后平面上设有对称孔;氧化铝陶瓷管2的两端搭接到电阻炉8前后平面的对称孔上，贯穿电阻炉8;
[0022]所述的两个陶瓷管托架3设置在电阻炉8的内部，且设置在氧化铝陶瓷管2的两端下方，通过螺丝与电阻炉8固定连接；
[0023]所述的样品架I包括第一条形金属片5、第二条形金属片6和手柄4;手柄4设置于第一条形金属片5上部端面上，第二条形金属片6设置于第一条形金属片5下部，第一条形金属片5和第二条形金属片6上设置有贯通的圆形孔7;
[0024]所述的电阻炉8的上端面设置有方形孔，氧化铝陶瓷管2的上表面设置有方形孔，样品架I的下端穿过电阻炉8的上端面的方形孔和氧化铝陶瓷管2上的方形孔伸入到氧化铝陶瓷管2的内部；
[0025]所述的氧化铝陶瓷管2的长度方向与样品架长度方向垂直。
[0026]图1为一种X射线测试用电阻炉的主视图，图1中I为样品架，2为氧化铝陶瓷管，8为电阻炉；
[0027]图2为图1沿B-B向的剖面图，图2中I为样品架，2为氧化铝陶瓷管，3为陶瓷管托架；
[0028]图3为图1沿A-A向的剖面图，图3中I为样品架，2为氧化铝陶瓷管，3为陶瓷管托架；
[0029]图4为样品架的主视图，图4中4为手柄，5为第一条形金属片，6为第二条形金属片，7为圆形孔；
[0030]图5为图4的右视图，图5中4为手柄，5为第一条形金属片，6为第二条形金属片，7为圆形孔。
[0031 ]本实施方式的原理及优点:
[0032]—、本实施方式设计了一种X射线测试用电阻炉，可实现在不同的温度下进行X射线测试，可在普通的X射线衍射仪上使用，亦可以在国家大型装置同步辐射X射线装置上使用；
[0033]二、将测试样品放入第一条形金属片5和第二条形金属片6上设置的贯通圆形孔7中，X射线沿氧化铝陶瓷管2入射，在电阻炉8散发的热场的环境下辐照样品后，散射信号被探测器接收，获得样品结构信息；
[0034]三、本实施方式可以将样品在不同温度下进行X射线衍射或散射测试，解决了现有材料的X射线散射的测试一般在常温常压下获得信息，不能了解材料随温度场变化的结构信息演化，对于X射线在材料学中晶体生长及工程上的热老化等领域的应用受到限制的问题。
[0035]本实施方式可获得一种X射线测试用电阻炉。
[0036]【具体实施方式】二:本实施方式与【具体实施方式】一不同点是:所述的X射线测试用电阻炉为长方体形。所述的X射线测试用电阻炉为长方体形。其他步骤与【具体实施方式】一相同。
[0037]【具体实施方式】三:本实施方式与【具体实施方式】一或二之一不同点是:所述的氧化铝陶瓷管2的直径为100_。其他步骤与【具体实施方式】一或二相同。
[0038]【具体实施方式】四:本实施方式与【具体实施方式】一至三之一不同点是:所述的第一条形金属片5的尺寸为120_X50_X5mm。其他步骤与【具体实施方式】一至三相同。
[0039]【具体实施方式】五:本实施方式与【具体实施方式】一至四之一不同点是:所述的第二条形金属片6的尺寸为60_ X 50_ X 5_。其他步骤与【具体实施方式】一至四相同。
[0040]【具体实施方式】六:本实施方式与【具体实施方式】一至五之一不同点是:所述的圆形孔7的直径为40_。其他步骤与【具体实施方式】一至五相同。
[0041 ]【具体实施方式】七:本实施方式与【具体实施方式】一至六之一不同点是:所述的电阻炉8的前后平面上的对称孔的直径为110_。其他步骤与【具体实施方式】一至六相同。
【主权项】
1.一种X射线测试用电阻炉，它包括电阻炉(8)，其特征在于它还包括样品架(I)、氧化铝陶瓷管(2)和两个陶瓷管托架(3); 所述的电阻炉(8)的前后平面上设有对称孔;氧化铝陶瓷管(2)的两端搭接到电阻炉(8)前后平面的对称孔上，贯穿电阻炉(8); 所述的两个陶瓷管托架(3)设置在电阻炉(8)的内部，且设置在氧化铝陶瓷管(2)的两端下方，通过螺丝与电阻炉(8)固定连接； 所述的样品架(I)包括第一条形金属片(5)、第二条形金属片(6)和手柄(4);手柄(4)设置于第一条形金属片(5)上部端面上，第二条形金属片(6)设置于第一条形金属片(5)下部，第一条形金属片(5)和第二条形金属片(6)上设置有贯通的圆形孔(7); 所述的电阻炉(8)的上端面设置有方形孔，氧化铝陶瓷管(2)的上表面设置有方形孔，样品架(I)的下端穿过电阻炉(8)的上端面的方形孔和氧化铝陶瓷管(2)上的方形孔伸入到氧化铝陶瓷管(2)的内部； 所述的氧化铝陶瓷管(2)的长度方向与样品架长度方向垂直。2.根据权利要求1所述的一种X射线测试用电阻炉，其特征在于所述的X射线测试用电阻炉为长方体形。3.根据权利要求1所述的一种X射线测试用电阻炉，其特征在于所述的氧化铝陶瓷管(2)的直径为100mm。4.根据权利要求1所述的一种X射线测试用电阻炉，其特征在于所述的第一条形金属片(5)的尺寸为120mm X 50mm X 5mm。5.根据权利要求1所述的一种X射线测试用电阻炉，其特征在于所述的第二条形金属片(6)的尺寸为60mmX 50mm X 5mm。6.根据权利要求1所述的一种X射线测试用电阻炉，其特征在于所述的圆形孔(7)的直径为40mm。7.根据权利要求1所述的一种X射线测试用电阻炉，其特征在于所述的电阻炉(8)的前后平面上的对称孔的直径为110mm。
【文档编号】G01N23/20GK205643202SQ201620533263
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年6月2日
【发明人】刘晓旭, 孙飞, 殷景华
【申请人】黑龙江科技大学