技术编号:10953935
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。因为不同物质的X射线散射或衍射的图样具有“指纹”效应,可用来判别物质种类及分析物质结构,其已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构,测试宏观应力的测定宏观残留应力的方向和大小的有效方法。尤其是同步辐射装置的出现,高质量的光源的产生,助推了 X射线测试经成为科学研究与工程实际应用中的强有力的工具。但目前其应用中也面临一些问题,主要包括x射线散射或衍射的测试一般都是在常温常压下获得信息,对于了解新材料随着温度场变化的结构信息演化,一般的X射线装置很难实现,...
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