专利名称：一种mcu似真性检查方法及其检查电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检查方法及其检查电路，特别是涉及一种MCU似真性检查方法及 其检查电路。
背景技术：
小家电产品比如电磁炉、豆浆机等随着新国标的颁布，越来越多的需要强制加入 熔断体，但国标规定了也可以通过软件评估的方式来替代熔断体的效果，本发明是为了实 现微处理器MCU (英文Micro Control Unit的缩写)管脚的似真性检查而设计的低成本方 法。似真性检查就是对程序执行、输入或者输出进行检查以确定是否有不能容许的程序顺 序、计时或数据的一种故障/错误控制技术。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种MCU似真性检查方法及其检查 电路，能方便的实现MCU的似真性检查，极大的提高了产品的可靠性，并且提高了效率，降 低了成本。为了达到上述目的，本发明采用的技术方案是，一种MCU似真性检查方法，其步骤 如下步骤1、似真性检查程序开始；步骤2、切换MCU的ADC检测口由ADC检测状态变为普通IO状态； 步骤3、输出高电平并维持一段时间；步骤4、再将普通IO状态切换为ADC检测状态，读取当前的AD值； 步骤5、判断当前的AD值是否在正常范围；步骤6、当前AD值在正常范围，则ADC检测口功能正常，跳至步骤8 ；当前AD值不在正 常范围，则ADC检测口功能受损，执行步骤7 ； 步骤7、进入相应的保护程序； 步骤8、进行下一个循环程序。一种利用所述的MCU似真性检查方法的似真性检查电路，设于PCB电路板上， 该电路依次由分压电路、电容电路及MCU电路组成。分压电路由上拉电阻Rl和下拉电 阻R2组成，电容电路由起稳压作用的电容Cl组成，MCU电路由带有模/数转换器ADC (Analog-to-Digital Converter的缩写)检测口的MCU组成。上拉电阻一端接电源VDD， VDD为恒定电压源，另一端接下拉电阻R2，下拉电阻R2另一端接地，MCU的ADC检测口连接 在上拉电阻Rl和下拉电阻R2之间，电容Cl 一端连接ADC接口，另一端接地。与现有技术相比，本发明的有益效果是此方法能简便快捷的对MCU似真性进行 检查，且在基于似真性检查方法的电路在正常状态下可以作为温度传感器、压力传感器等 检测电路，在启动似真性检查程序时作为似真性检查电路，实现了一种电路两种功能的目 的，减少了元器件的使用，极大的降低了产品设计的成本，同时提高了产品的可靠性。
图1为本发明的软件流程图；图2为本发明的电路原理图。
具体实施例方式本发明的主旨在于克服现有技术的不足，提供一种MCU似真性检查方法及其检测 电路，能简单方便的检查出电磁炉、豆浆机等家用电器的MCU检测口是否损坏，以利于及时 维护。正常情况下要使用MCU的ADC检测口功能，首先要保证ADC检测口本身能够安 全可靠的工作，一般情况下采用的方法是在检查电路外额外增加一个普通的恒定电压源 VDD，由于恒定电压源的电压是已知的，通过ADC检测口读取的数据应该是一定的，比如电 压源为5V，ADC检测口读取的值也应该为5V，就表示此ADC检测口是没有损坏的，但是如果 检测口读到的值为其它值的时候，ADC检测口本身就是损坏的，如果检测口本身已经损坏， 那么通过这个检测口读取到的数据就可能是错误的，这个数据就没有了意义，所以似真性 检查的目的就是要保证ADC检测口本身是没有损坏的。下面结合实施例参照附图进行详细说明，以便对本发明的技术特征及优点进行更 深入的诠释。本发明的电路原理图如图1所示，一种MCU似真性检查方法，其步骤如下 步骤1、似真性检查程序开始；步骤2、切换MCU的ADC检测口由ADC检测状态变为普通IO状态； 步骤3、输出高电平并维持一段时间；步骤4、再将普通IO状态切换为ADC检测状态，读取当前的AD值； 步骤5、判断当前的AD值是否在正常范围；步骤6、当前AD值在正常范围，则ADC检测口功能正常，跳至步骤8 ；当前AD值不在正 常范围，则ADC检测口功能受损，执行步骤7 ； 步骤7、进入相应的保护程序； 步骤8、进行下一个循环程序。一种利用所述的似真性检查方法的似真性检查电路，设于PCB电路板上，该 电路依次由分压电路、电容电路及MCU电路组成。分压电路由上拉电阻Rl和下拉电 阻R2组成，电容电路由起稳压作用的电容Cl组成，MCU电路由带有模/数转换器ADC (Analog-to-Digital Converter的缩写)检测口的MCU组成。上拉电阻Rl —端接电源VDD， VDD为恒定电压源，另一端接下拉电阻R2，下拉电阻R2另一端接地，MCU的ADC检测口连接 在上拉电阻Rl和下拉电阻R2之间，电容Cl 一端连接ADC接口，另一端接地。在正常工作时，由于电阻Rl和R2的分压作用，在MCU的ADC检测口得到的电压是Vam =。但是如果给MCU的电压检测口输出一个固定的电平VtADe—段时间，为高电平或低电平， VtADC的电平就会变为VDD或GND，然后在很短的时间内改变通过ADC检测口检查外围电路电压，由于电容CI两端的电压不能突变，固定电压会马上改变成VADe，通过检查固定电压Vt 在固定时间内的变化程度就可以判断此MCU检测口是否出现损坏，如果检查到的电压是跟刚才输出的电平相同或者变化很小，说明MCU的ADC检测口是正常的， 如果变化很多，说明MCU的ADC检测口就有可能受损，这样从外围电路采集到的数据就是不可靠的。分压电路和电容电路组成的外围电路的也用在其他用途，只是在很短时间来完成 似真性检查，将Rl换成温度传感器或者压力传感器，则为温度或压力检查电路，不需要另 外增加电源模块，且有效的降低了成本。尽管本发明通过具体实例对似真性检查方法及其电路如何进行似真性检查作出 了清晰而完整的描述，但是本发明不仅仅限于所述实施例，通过简单的改变程序或电路结 构来达到相同或相似效果是可能发生的并且都包括在本发明之中。
权利要求
1.一种MCU似真性检查方法，其步骤如下步骤1、似真性检查程序开始；步骤2、切换MCU的ADC检测口由ADC检测状态变为普通IO状态；步骤3、输出高电平并维持一段时间；步骤4、再将普通IO状态切换为ADC检测状态，读取当前的AD值；步骤5、判断当前的AD值是否在正常范围；步骤6、当前AD值在正常范围，则ADC检测口功能正常，跳至步骤8 ；当前AD值不在正 常范围，则ADC检测口功能受损，执行步骤7 ；步骤7、进入相应的保护程序；步骤8、进行下一个循环程序。
2.一种应用权利要求1所述的MCU似真性检查方法的检查电路，设于PCB电路板上，其 特征在于该电路依次由分压电路、电容电路及MCU电路组成。
3.根据权利要求2所述的检查电路，其特征在于所述的似真性检查电路的分压电路 由上拉电阻Rl和下拉电阻R2组成。
4.根据权利要求3所述的检查电路，其特征在于所述的似真性检查电路的电容电路 由起稳压作用的电容Cl组成。
5.根据权利要求4所述的检查电路，其特征在于所述的似真性检查电路的MCU电路 由ADC检测口的MCU组成。
6.根据权利要求1 5中任一项所述的检查电路，其特征在于所述的上拉电阻Rl— 端接电源VDD，另一端接下拉电阻R2，下拉电阻R2另一端接地，MCU的ADC检测口连接在上 拉电阻Rl和下拉电阻R2之间，电容Cl 一端连接ADC接口，另一端接地。
7.根据权利要求6所述的检查电路，其特征在于所述的电源VDD为恒定电压源。
全文摘要
本发明公开了一种MCU似真性检查方法，其步骤如下步骤1、似真性检查程序开始；2、切换MCU的ADC检测口由ADC检测状态变为普通IO状态；3、输出高电平并维持一段时间；4、再将普通IO状态切换为ADC检测状态，读取当前的AD值；5、判断当前的AD值是否在正常范围；6、当前AD值在正常范围，则ADC检测口功能正常，跳至步骤8；当前AD值不在正常范围，则ADC检测口功能受损，执行步骤7；7、进入相应的保护程序；8、进行下一个循环程序。应用MCU似真性检查方法的检查电路依次由分压电路、电容电路及MCU电路组成。此方法能方便的实现MCU的似真性检查，极大的提高了产品的可靠性，提高了效率，降低了成本。
文档编号G05B23/02GK102053618SQ201110026559
公开日2011年5月11日 申请日期2011年1月25日 优先权日2011年1月25日
发明者陆英武 申请人:东莞市步步高家用电器有限公司