专利名称：主板功能测试板的制作方法
技术领域：
本发明是涉及一种主板功能测试装置，特别涉及一种可对被测试主板的多种功能进行全面测试的主板功能测试板。
背景技术：
主板在组配完成之后，需要经过全功能测试以确定其是否为优良品，而主板测试主要是针对所述主板上的各种错误，例如，开路、短路及非正确接触的零件等状况加以检测，令检修员迅速由屏幕上找出被测电路板的不良原因所在，从而节省检修不良品的时间。
先前技术的主板功能测试机是将一被测试主板插接在一测试板上，然后通过多个连接于测试机上的排线以人工插拔的方式连接到被测试主板的插槽及芯片引脚中，将测试信号引导出来，但是，被测试主板上通常会有很多元器件，一一插拔此类元件需耗费大量人工与时间及会缩短元件寿命，且工人在长时间操作过程中，容易出现因疲劳或误操作夹伤手指等状况。
因此，提供一种插接便捷且可以对主板进行较为全面测试的主板测试板实为业界急需。
发明内容本发明的主要目的在于提供一种操作便捷并且可以对被测试的主板进行全面测试的主板功能测试板。
本发明的另一目的在于提供一种主板功能测试板，其可对被测试主板的BIOS进行测试，并对不匹配的BIOS进行不同方式的更新。
本发明的再一目的在于提供一种主板功能测试板，其可对被测试主板的Audio进行全面测试。
本发明的主板功能测试板包括有一转换控制模块、一VGA&ExpressX16切换电路、一Audio测试电路、一Floppy选择切换电路、一电池测试电路、一Serial Port测试回路、一Front Panel测试电路、一BIOS测试升级电路、一转接口及一网卡测试回路。其中所述转换控制模块，接收被测试主板转接过来的多个被测信号，并输出所述被测信号及多个I/O控制信号至各测试回路，其中所述多个被测信号包括BIOS信号、Audio信号及Floppy信号，所述多个I/O控制信号包括一第一、一第二、一第三、一第四、一第五及一第六I/O控制信号。所述BIOS测试升级电路，根据所述第一I/O控制信号对被测主板的BIOS信号进行测试，并通过控制所述第六I/O控制信号对不匹配的BIOS进行不同方式的更新；所述Audio测试电路，通过控制所述第二、第三及第四I/O控制信号，并分别同Audio信号组成测试回路，对被测主板的Audio信号进行全面测试；所述Floppy选择切换电路，通过控制所述第五I/O控制信号对被测主板的Floppy信号的读写功能及写保护功能进行测试。
本发明的优点在于对所测试的主板的功能有一较全面的检测，提升主板的良率，且所述测试功能的达成全部通过电路自动完成，节约人力，提高工作效率。
图1是本发明主板测试系统的结构示意图。
图2是本发明主板功能测试板的结构示意图。
图3是本发明主板功能测试板的转换控制模块。
图4是本发明主板功能测试板的BIOS测试升级电路示意图。
图5是本发明主板功能测试板的Audio测试电路的示意图。
图6是本发明主板功能测试板的Floppy选择切换电路的示意图。
具体实施方式请参阅图1，是本发明主板测试系统的结构示意图，其包括一主板功能测试板10、一探针固定板12、一被测试主板14及多个测试治具16。所述被测试主板14通过探针固定板12上的探针(图未标示)将其待测信号转接到主板功能测试板10上，主板功能测试板10利用多个测试治具16对被测试主板14转接过来的待测信号进行处理，从而实现被测试主板14的功能测试。其中所述测试治具16是多个电脑元器件，如显示介面卡、音效卡、网卡、显示器、硬碟等，其与主板功能测试板10电连接。
请一并参阅图2，是本发明主板功能测试板10的结构示意图，所述主板功能测试板10包括有一转换控制模块20、一VGA&ExpressX16切换电路21、一Audio测试电路22、一Floppy选择切换电路23、一电池测试电路24、一Serial Port测试回路25、一Front Panel测试电路26、一BIOS测试升级电路27、一转接口28及一网卡测试回路29。其中所述转接口28可用于PCI、IDE1、SATA、Securaty conn、USB、Express X1信号的转接。所述转换控制模块20用于接收被测试主板转14接过来的被测试信号，并输出至其各测试回路。同时，所述转换控制模块20输出多个I/O控制信号，控制所述VGA&ExpressX16切换电路21、所述Audio测试电路22、所述Floppy选择切换电路23、所述电池测试电路24、所述Serial Port测试回路25、所述Front Panel测试电路26、所述BIOS测试升级电路27、所述转接口28及所述网卡测试回路29对被测试主板转接过来的被测试信号进行处理，从而实现对被测试主板14的显示介面卡插槽及集成显示介面卡、音效卡插槽、Floppy驱动器、电池、转接口及网卡插槽的功能测试。
请一并参阅图3，是本发明主板功能测试板的转换控制模块，所述转换控制模块20包括一外围设备控制口202及一控制芯片203。所述外围设备控制口202接收主板待测信号201，并输出至所述主板功能测试板10的各测试回路205，其中所述测试回路205包括VGA&ExpressX16切换电路21、Audio测试电路22、Floppy选择切换电路23、电池测试电路24、SerialPort测试回路25、Front Panel测试电路26、BIOS测试升级电路27、转接口28及网卡测试回路29。所述外围设备控制口202还可控制控制芯片203输出多个I/O控制信号204，以实现被测试主板14的各种功能测试。其中所述外围设备控制口202可为打印机接口或IDE接口等外围设备控制口。
请一并参阅图4，是本发明主板功能测试板的BIOS测试升级电路示意图，其中BIOS测试升级电路27包括一BIOS ID电路301、一控制比较电路302及一BIOS测试升级电路305。所述BIOS ID电路301用于接收被测试主板14的BIOS标准版本号，然后输出至所述控制比较电路302，所述控制比较电路302通过一低电平有效的一第一I/O控制信号300来启动，其中所述第一I/O控制信号300来自控制芯片203，其电平的高低变化由外围设备控制口202控制。控制比较电路302可读取储存于待测主板寄存器303的被测试主板14的BIOS实际版本号，并将BIOS标准版本号与实际版本号进行比较，如果BIOS标准版本号与实际版本号相匹配，则其比较值为低电平，如果BIOS标准版本号与实际版本号不相匹配，则其比较值为高电平，控制比较电路302输出一控制信号给BIOS测试升级电路305，BIOS测试升级电路305响应所述控制信号并根据第六I/O控制信号304的电平高低对被测试主板14的BIOS进行升级。当第六I/O控制信号304为高电平时，BIOS测试升级电路305对被测试主板14的BIOS进行完全更新，当第六I/O控制信号304为低电平时，BIOS测试升级电路305对被测试主板14的BIOS进行部分更新。
请一并参阅图5，是本发明主板功能测试板的Audio测试电路22的示意图，其中Audio测试电路22包括一Line Out(输出)-Line In(输入)回路405、一HP(Headphone耳机)-MIC(Microphone麦克风)回路406及一Speaker(喇叭)-CD(Compact Disk光盘)In回路407。其输入端包括一第二I/O控制信号402、一第三I/O控制信号403、一第四I/O控制信号404及被测主板Audio信号401。所述第二I/O控制信号402、第三I/O控制信号403及第四I/O控制信号404均来自于控制芯片203，其电平的高低变化由外围设备控制口202控制。当第二I/O控制信号402为低电平而第四I/O控制信号404为高电平时，其与被测主板Audio信号401构成一Line Out(输出)-Line In(输入)回路405，对被测主板Audio信号401进行音频输出/输入品质测试；当第三I/O控制信号403及第四I/O控制信号404均为低电平时，其与被测主板Audio信号401构成一HP(Headphone耳机)-MIC(Microphone麦克风)回路406，对耳机/麦克风的输出/输入品质进行测试；当第三I/O控制信号403为高电平而第四I/O控制信号404为低电平时，其与被测主板Audio信号401构成一Speaker(喇叭)-CD(CompactDisk光盘)In回路407，对喇叭/光盘的输出/输入品质进行测试。
请一并参阅图6，是本发明主板功能测试板的Floppy选择切换电路23的示意图，其输入端包括一第五I/O控制信号601及一被测主板Floppy信号502，所述第五I/O控制信号601来自控制芯片203，其电平的高低变化由外围设备控制口202控制。当第五I/O控制信号501为低电平时，Floppy选择切换电路503测试被测主板Floppy信号502的读写功能；当第五I/O控制信号501为高电平时，Floppy选择切换电路503测试被测主板Floppy信号502的写保护功能。
权利要求
1.一种主板功能测试板，其特征在于，包括一转换控制模块，接收被测试主板转接过来的多个被测信号，并输出所述被测信号及多个I/O控制信号至其测试回路，其中所述多个被测信号包括BIOS信号、Audio信号及Floppy信号，所述多个I/O控制信号包括一第一、一第二、一第三、一第四、一第五及一第六I/O控制信号；一BIOS测试升级电路，根据所述第一I/O控制信号对被测主板的BIOS信号进行测试，并通过控制所述第六I/O控制信号对不匹配的BIOS进行更新；一Audio测试电路，通过控制所述第二、第三及第四I/O控制信号，并分别同Audio信号组成测试回路，对被测主板的Audio信号进行全面测试；及一Floppy选择切换电路，通过控制所述第五I/O控制信号对被测主板的Floppy信号的读写功能及写保护功能进行测试。
2.如权利要求1所述的主板功能测试板，其特征在于，所述转换控制模块包括一外围设备控制口及一控制芯片。
3.如权利要求2所述的主板功能测试板，其特征在于，所述外围设备控制口接收被测试主板转接过来的多个被测信号，并输出至所述BIOS测试升级电路、Audio测试电路及Floppy选择切换电路。
4.如权利要求2所述的主板功能测试板，其特征在于，所述外围设备控制口还可控制所述控制芯片输出的多个I/O控制信号。
5.如权利要求1所述的主板功能测试板，其特征在于，所述BIOS更新包括全部更新及部分更新。
6.如权利要求1所述的主板功能测试板，其特征在于，所述Audio测试电路包括一Line Out-Line In回路、一HP-MIC回路及一Speaker-CD_In回路。
7.一种主板测试装置，其通过多个探针将被测试主板的测试信号转接到一主板功能测试板，并利用多个与主板功能测试板电连接的测试治具及所述主板功能测试板对被测试主板转接过来的测试信号进行测试，其特征在于，所述主板功能测试板包括一转换控制模块，接收被测试主板转接过来的多个被测信号，并输出所述被测信号及多个I/O控制信号至其测试回路；及至少一测试回路，通过I/O控制信号的控制对被测试主板转接过来的测试信号进行测试。
8.如权利要求7所述的主板测试装置，其特征在于，所述测试治具是用于辅助主板功能测试板进行测试的多个电脑元器件。
9.如权利要求7所述的主板测试装置，其特征在于，所述测试回路可为一BIOS测试升级电路，其可用于测试被测试主板BIOS功能。
10.如权利要求7所述的主板测试装置，其特征在于，所述测试回路可为一Audio测试电路，其可用于测试被测试主板Audio功能。
11.如权利要求7所述的主板测试装置，其特征在于，所述测试回路可为一Floppy选择切换电路，其可用于测试被测试主板Floppy功能。
全文摘要
一种主板功能测试板，包括一转换控制模块、一BIOS测试升级电路一Audio测试电路及一Floppy选择切换电路。所述转换控制模块接收一被测试主板转接过来的多个被测信号，并将所述等被测信号及多个I/O控制信号输出至各测试回路；所述BIOS测试升级电路根据一第一I/O控制信号对被测主板的BIOS信号进行测试，并通过控制一第六I/O控制信号对不匹配的BIOS进行不同方式的更新；所述Audio测试电路，通过控制一第二、第三及第四I/O控制信号，分别同Audio信号组成测试回路对被测主板的Audio信号进行全面测试；所述Floppy选择切换电路通过控制一第五I/O控制信号对被测主板的Floppy信号的读写功能及写保护功能进行测试。本发明不但能够提升主板的良率，且可以节约人力，提高工作效率。
文档编号G06F11/22GK1797357SQ200410091960
公开日2006年7月5日 申请日期2004年12月30日 优先权日2004年12月30日
发明者张溯舜, 潘文俊, 陈涛 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司