专利名称：芯片验证系统和方法
技术领域：
本发明涉及一种芯片验证系统和方法，特别涉及一种能全面验证芯片的芯片验证系统和方法。
背景技术：
随着科技的发展，芯片已经成为了当前技术和生产力发展的重要产品。由于芯片生产的成本较高，如何提高芯片的可靠性，芯片验证已经成为了芯片技术的一个重要组成部分。由于芯片功能越来越多，越来越复杂，如何提高验证的覆盖面，提高芯片的可靠性成为了一个非常重要的课题。
许多芯片都有许多寄存器，不同的寄存器配置，可以使芯片实现不同的功能，因此如何产生不同的寄存器配置，并对芯片的运行结果正确与否进行判断就是芯片验证的主要目的。
下面，参照图1，描述现有技术中验证芯片的方法，其包括如下步骤。
步骤S101，硬件工程师提供芯片验证的配置向量。
步骤S102，硬件工程师将若干套配置向量存储在存储器中。
步骤S103，验证工程师取出存储器中的配置向量。
步骤S104，验证工程师将取出的配置向量送入需验证的芯片。
步骤S105，记录芯片依照输入的配置向量运行的结果。
步骤S106，硬件工程师对运行结果进行分析和判断。
在传统方法中，由硬件工程师提供芯片验证向量，验证工程师无法自行产生验证向量，只能使用硬件工程师提供的芯片配置方案。由于芯片的功能组合非常多，因此这种验证方法总是会存在许多未能验证到的芯片的功能，不能对芯片的功能进行比较全面的测试。例如，对于一种能将输入的图像尺寸进行放缩处理的图像处理芯片，它能将输入的640×480的图像缩小到320×240，160×120，352×288等。但是由于配置向量由硬件工程师提供，硬件工程师可能只会提供缩小到320×240的配置向量，这样就可能造成当图像缩小为160×120时，芯片有可能工作不正常；但由于没有这种配置向量，会造成验证工程师无法验证160×120的情况，所以使得芯片的验证不充分，没有达到验证芯片的根本目的。
发明内容
本发明的目的在于提供一种芯片验证系统和方法，其能够全面地验证芯片。
本发明的一方面在于提供一种芯片验证系统，其包括一存储器；一应用程序模块，用于将芯片应用中使用的应用程序转换为相应的配置向量，并将该配置向量存储在所述的存储器中；以及一配置向量选择装置，用于从存储器中选择配置向量，并将选择的配置向量输入需进行验证的芯片。
如上所述的芯片验证系统，应用程序模块包括一应用程序接口，应用工程师通过该接口输入应用程序；一芯片驱动模块，用于将来自应用程序接口的应用程序转换为相应的配置向量；一基本芯片读写模块，用于将来自芯片驱动模块的配置向量存储在所述的存储器中。
如上所述的芯片验证系统，配置向量选择装置从存储器存储的配置向量中随机选择输入需进行验证的芯片的配置向量。
如上所述的芯片验证系统，配置向量是按照时间顺序存储在存储器中的。
如上所述的芯片验证系统，配置向量是按照类别存储在存储器中的。
本发明的另一方面在于提供一种芯片验证方法，其包括步骤一，利用应用程序模块，将应用中使用的应用程序转换为相应的配置向量，并将该配置向量存储在存储器中；以及步骤二，利用配置向量选择装置，从存储器存储的配置向量中选择配置向量，并将选择的配置向量输入需进行验证的芯片。
如上所述的芯片验证方法，在步骤一中，进一步包括利用应用程序模块的芯片驱动模块，提供保证芯片正常工作的信号的步骤；和利用基本芯片读写模块，将配置向量输入应用中使用的芯片的步骤。
如上所述的芯片验证方法，在步骤二中，从存储器存储的配置向量中选择配置向量是随机选择的。
如上所述的芯片验证方法，配置向量是按照时间顺序存储在存储器中的。
如上所述的芯片验证方法，配置向量是按照类别存储在存储器中的。
依照本发明的芯片验证系统和方法，因为芯片验证中使用的配置向量是由芯片应用程序根据不同的需求产生的，与现有的由硬件工程师提供的配置向量相比，其数量大大地增加了，因此能够更全面地验证芯片。
图1为依照现有技术的芯片验证方法的流程图。
图2为依照本发明的芯片验证系统的结构框图。
图3为依照本发明另一实施方式的芯片验证系统的结构框图。
图4为依照本发明的芯片验证方法的流程图。
具体实施例方式
本发明从芯片验证角度出发，提出了一种对内置有寄存器的芯片进行验证的系统和方法。
如图2所示，依照本发明的芯片验证系统3包括需进行验证的芯片31’，应用程序模块32，存储器34和配置向量选择装置35。芯片31’包括多个寄存器311’。这里提到的应用程序模块32可以是软件和硬件的结合。
芯片应用工程师通过应用程序模块32的应用程序接口321输入芯片应用时所需的应用程序，该应用程序是根据芯片应用的不同需求产生的。应用程序接口321将输入的应用程序输入芯片驱动模块322。芯片驱动模块322将该应用程序转换为相应的配置向量(包括寄存器地址和写入寄存器的数据)，并将其传输给基本芯片读写模块323。基本芯片读写模块323将这些配置向量存储在存储器34中。此外，也可以同时将硬件工程师提供的配置向量存储在存储器34中。
因为芯片31’的功能很多，所以在存储器34中存储了大量在芯片应用中使用过的配置向量。例如，对于一种能将输入的图像尺寸进行放缩处理的图像处理芯片，存储器34将存储有在应用中使用过的所有配置向量，例如将输入的640×480的图像缩小到320×240，160×120，352×288等的配置向量，每一种缩小的配置向量都将被存储在存储器中，大大增加了配置向量的数量。
配置向量可以按照时间的先后顺序存储在存储器34中。从而，当验证工程师对芯片31’进行验证时，其能够按照存储时间的先后顺序选择相应的配置向量。
配置向量也可以按照配置向量的种类存储在存储器34中。例如，对于一种具有图像缩放功能和图像平移功能的芯片，可以将关于图像缩放的配置向量，例如将640×480的图像缩小到320×240，160×120，352×288等，存储在存储器34的一个区域，而将关于图像平移的配置向量，例如将图像向上平移1cm，2cm等等，存储在存储器34的另一区域。通过这样的存储方式，当验证工程师对芯片31’进行验证时，其能够很方便地针对不同的验证目的选择相应类型的配置向量。
当对需进行验证的芯片31’进行验证时，配置向量选择装置35可以从外部(图未示)接收保证芯片正常工作的信号，如电源信号、读写信号等，从存储器34中存储的配置向量中选择其需要的配置，并将选择的配置向量和保证芯片正常工作的信号输入需验证的芯片31’中。芯片31’的寄存器311’依照输入配置向量运行并输出相应的运行结果。然后，硬件工程师对输出的运行结果进行分析和判断。这里，可以通过验证工程师手动选择，也可以通过配置向量选择装置35自动地随机选择来执行配置向量的选择。
如图3所示，描述了依照本发明的另一实施方式的验证系统3。该验证系统3除了包括图2所示的验证系统的结构之外，还具有与应用程序模块32相连的在应用中使用的芯片31。所述的在应用中使用的芯片31和需进行验证的芯片31’为相同类型的芯片，皆包括多个寄存器311。芯片工程师向应用程序模块32输入应用程序后，应用程序模块32的基本芯片读写模块323可以在将转换应用程序得到的配置向量存储在存储器34中的同时，还通过芯片驱动模块322产生部分保证芯片正常工作的信号，如读写信号等，并与其转换得到的配置向量一起传输给基本芯片读写模块323。基本芯片读写模块323将从芯片驱动模块322接收的配置向量写入在应用中使用的芯片31的寄存器311中，并将保证芯片正常工作的信号输入芯片31，从而使芯片31可以执行该应用。
下面，参照图4，描述依照本发明的验证方法，其包括如下步骤。
步骤S301，芯片应用工程师将应用程序输入应用程序模块32。
步骤S302，利用应用程序模块32的基本芯片读写模块323，将输入应用程序转换为相应的配置向量，且将配置向量存储在存储器34中。在该步骤S302中，还可以利用基本芯片读写模块323，将该配置向量输入应用中使用的芯片31中。
当应用工程师反复输入应用程序时，则反复执行步骤S301和S302，从而在存储器34中存储大量的配置向量。
步骤S303，利用配置向量选择装置35，从存储器34存储的配置向量中选择配置向量，并从外部接收保证芯片正常工作的信号。
步骤S304，利用配置向量选择装置35，将选择的配置向量和保证芯片正常工作的信号输入需验证的芯片31’。
步骤S305，记录需验证的芯片31’的运行结果，该运行结果是芯片31’依照输入的配置向量运行而产生的。
步骤S306，硬件工程师对运行结果进行分析判断。
依照本发明的验证系统和方法，因为验证向量是由芯片应用程序模块32根据不同的需求产生，因此其产生的过程是自动化的，很容易产生多套用于芯片验证的配置向量。此外，由于应用程序模块32所包括的应用程序非常容易被用户理解和使用，因此产生配置向量的人可以是硬件工程师和应用工程师等，大大的增加了芯片验证的配置向量的来源，大大的提高芯片验证的覆盖率。此外，硬件工程师，应用工程师，验证工程师能同时工作，合理的分担了工作强度，缓解了硬件工程师的工作压力，更好的提高了芯片的验证质量。
对于本领域的普通技术人员来说，其它的优点和修改都是显而易见的。故，本发明并不仅仅限定于说明书中所记载的实施例。因此，任何不脱离由权利要求和其等同部分而限定的本发明的精神和范围的各种更改皆能实现。
权利要求
1.一种芯片验证系统，其特征在于包括一存储器；一应用程序模块，用于将芯片应用中使用的应用程序转换为相应的配置向量，并将该配置向量存储在所述的存储器中；以及一配置向量选择装置，用于从存储器中选择配置向量，并将选择的配置向量输入需进行验证的芯片。
2.如权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于应用程序模块包括一应用程序接口，应用工程师通过该接口输入应用程序；一芯片驱动模块，用于将来自应用程序接口的应用程序转换为相应的配置向量；一基本芯片读写模块，用于将来自芯片驱动模块的配置向量存储在所述的存储器中。
3.如权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于配置向量选择装置从存储器存储的配置向量中随机选择输入需进行验证的芯片的配置向量。
4.如权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于配置向量是按照时间顺序存储在存储器中的。
5.如权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于配置向量是按照类别存储在存储器中的。
6.一种芯片验证方法，其特征在于包括步骤一，利用应用程序模块，将应用中使用的应用程序转换为相应的配置向量，并将该配置向量存储在存储器中；以及步骤二，利用配置向量选择装置，从存储器存储的配置向量中选择配置向量，并将选择的配置向量输入需进行验证的芯片。
7.如权利要求6所述的芯片验证方法，其特征在于在步骤一中，进一步包括利用应用程序模块的芯片驱动模块，提供保证芯片正常工作的信号的步骤；和利用基本芯片读写模块，将配置向量输入应用中使用的芯片的步骤。
8.如权利要求6所述的芯片验证方法，其特征在于在步骤二中，从存储器存储的配置向量中选择配置向量是随机选择的。
9.如权利要求6所述的芯片验证方法，其特征在于配置向量是按照时间顺序存储在存储器中的。
10.如权利要求6所述的芯片验证方法，其特征在于配置向量是按照类别存储在存储器中的。
全文摘要
本发明提供一种芯片验证系统和方法。该系统包括一存储器；一应用程序模块，用于将芯片应用中使用的应用程序转换为相应的配置向量，并将该配置向量存储在所述的存储器中；以及一配置向量选择装置，用于从存储器中选择配置向量，并将选择的配置向量输入需进行验证的芯片。
文档编号G06F11/00GK1719417SQ20051008308
公开日2006年1月11日 申请日期2005年7月8日 优先权日2005年7月8日
发明者游明琦 申请人:北京中星微电子有限公司