专利名称：一种基于安腾平台的itp通路的测试方法
技术领域：
本发明涉及计算机硬件领域，具体地说是一种基于安腾平台的ITP通路的测试方 法。
背景技术：
计算机领域，ITP是要通过完整的JTAG通路对服务器处理器进行调试及测试的。 随着服务器事业的发展，多路的服务器越来越普遍。在众多处理器的系统下，建立完整的 ITP调测试网络越来越有难度，在串联的众多处理器中的一路有问题，那么整个网络就是瘫 痪的。在JTAG信号传输路径上还有不少比较复杂的bypass线路，更增加了建立通路的难 度。研发工程师们需要一种便捷快速的方法来测试JTAG信号的通路状况。
发明内容
本发明的技术任务是提供一种基于安腾平台的ITP通路的测试方法。本发明的技 术任务是按以下方式实现的，在计算机主板电源回路上串联产生一定频率正弦波的晶振， 晶振之后依次串联有施密特触发器，ITP端单刀双掷开关，设备终端单刀双掷开关和发光二 极管组。 所述的ITP端单刀双掷开关与ITP插槽连接。 所述的设备终端单刀双掷开关与计算机CPU连接。 所述的施密特触发器将晶振产生的正弦波变换为方波。 所述的由施密特触发器变换的方波频率与晶振产生的正弦波频率相同。 断定JTAG网络是否为通路，利用一个连接在计算机主板上的有源晶振产生时钟
信号；然后经过施密特触发器使其变成电准位为3. 3V的方波；通过ITP端单刀双掷开关和
设备终端单刀双掷开关，切换正常的JTAG信号和方波测试信号，当在测试模式下，单刀双
掷开关切向方波，如果线路为通路则所对应的LED发光二极管接收不停高低变换的电平，
闪烁发光。如果电路不通，则所对应的LED不发光，便可以断定某路的电路有问题。 本发明的基于安腾平台的ITP通路的测试方法与现有技术相比，在多路系统中使
用ITP设备调测试时，有效测试每一路系统ITP网络的通断情况，另有可视的LED发光二极
管组指示，很容易判断具体是哪一路出现断路问题，给调测试工程师带来极大地便利，节省
工程师debug时间。适用于当前复杂的多路服务器系统，具有非常广阔的发展前景。
附图为基于安腾平台的ITP通路的测试电路示意图。 图中1、晶振，2、施密特触发器，3、 ITP插槽，4、 ITP端单刀双掷开关，5、设备终端 单刀双掷开关，6、 CPU， 7、发光二极管组。
具体实施方式
实施例1 :
装置连接 在计算机主板电源回路上串联产生一定频率正弦波的晶振1，晶振1之后依次串 联有施密特触发器2， ITP端单刀双掷开关4，设备终端单刀双掷开关5和发光二极管组7 ; ITP端单刀双掷开关4与ITP插槽3连接，设备终端单刀双掷开关5与计算机CPU6连接。
检测方法步骤 信号源的产生及转换主板给晶振1提供电源，晶振1产生一定频率的正弦波，经 过施密特触发器2(741vcl4a)，信号源变成频率一致的电准位为3. 3V方波。
JTAG信号和方波测试信号的切换ITP端单刀双掷开关4放置在ITP插槽3的连 接器端，从这个接口发送和接收JTAG信号。在正常工作情况下，ITP端单刀双掷开关4指 向JTAG信号(TMS ;TRST ;TCK ;TDI ;TD0)输出给设备终端单刀双掷开关5，设备终端单刀双 掷开关5控制方式与ITP端单刀双掷开关4的相同，开关同样指向JTAG信号，故JTAG信号 由ITP源端连接至设备端；如果在测试情况下，设备终端单刀双掷开关5与ITP端单刀双掷 开关4都指向测试信号，由施密特触发器2输出的方波测试信号发送至发光二极管组7。
各路的发光二极管指示每路处理器端分别有5个发光二极管，用来指示连接至 此路的JTAG信号(TMS ;TRST ;TCK ;TDI ;TD0)是否为通路，5个发光二极管全部闪烁，代表连 接线路为通路，线路连接正常。
实施例2:
装置连接 在计算机主板电源回路上串联产生一定频率正弦波的晶振1，晶振1之后依次串 联有施密特触发器2， ITP端单刀双掷开关4，设备终端单刀双掷开关5和发光二极管组7 ; ITP端单刀双掷开关4与ITP插槽3连接，设备终端单刀双掷开关5与计算机CPU6连接。
检测方法步骤 信号源的产生及转换主板给晶振1提供电源，晶振1产生一定频率的正弦波，经 过施密特触发器2(741vcl4a)，信号源变成频率一致的电准位为3. 3V方波。
JTAG信号和方波测试信号的切换ITP端单刀双掷开关4放置在ITP插槽3的连 接器端，从这个接口发送和接收JTAG信号。在正常工作情况下，ITP端单刀双掷开关4指 向JTAG信号(TMS ;TRST ;TCK ;TDI ;TD0)输出给设备终端单刀双掷开关5，设备终端单刀双 掷开关5控制方式与ITP端单刀双掷开关4的相同，开关同样指向JTAG信号，故JTAG信号 由ITP源端连接至设备端；如果在测试情况下，设备终端单刀双掷开关5与ITP端单刀双掷 开关4都指向测试信号，由施密特触发器2输出的方波测试信号发送至发光二极管组7。
各路的发光二极管指示每路处理器端分别有5个发光二极管，用来指示连接至 此路的JTAG信号(TMS ;TRST ;TCK ;TDI ;TD0)是否为通路，发光二极管不发光，代表当前连 接线路为有问题，出现断路情况。
权利要求
一种基于安腾平台的ITP通路的测试方法，其特征在于在计算机主板电源回路上串联产生一定频率正弦波的晶振，晶振之后依次串联有施密特触发器，ITP端单刀双掷开关，设备终端单刀双掷开关和发光二极管组。
2. 根据权利要求1所述的基于安腾平台的ITP通路的测试方法，其特征在于所述的 ITP端单刀双掷开关与ITP插槽连接。
3. 根据权利要求1所述的基于安腾平台的ITP通路的测试方法，其特征在于所述的设 备终端单刀双掷开关与计算机CPU连接。
4. 根据权利要求1所述的基于安腾平台的ITP通路的测试方法，其特征在于所述的施 密特触发器将晶振产生的正弦波变换为方波。
5. 根据权利要求4所述的基于安腾平台的ITP通路的测试方法，其特征在于所述的由 施密特触发器变换的方波频率与晶振产生的正弦波频率相同。
全文摘要
本发明公开了一种基于安腾平台的ITP通路的测试方法，属于计算机硬件领域，该方法步骤如下在计算机主板电源回路上串联产生一定频率正弦波的晶振，晶振之后依次串联有施密特触发器，ITP端单刀双掷开关，设备终端单刀双掷开关和发光二极管组。本发明的基于安腾平台的ITP通路的测试方法与现有技术相比，在多路系统中使用ITP设备调测试时，有效测试每一路系统ITP网络的通断情况，另有可视的LED发光二极管组指示，很容易判断具体是哪一路出现断路问题，给调测试工程师带来极大地便利，节省工程师debug时间。适用于当前复杂的多路服务器系统，具有非常广阔的发展前景。
文档编号G06F11/22GK101697143SQ20091022948
公开日2010年4月21日 申请日期2009年10月27日 优先权日2009年10月27日
发明者李博乐 申请人:浪潮电子信息产业股份有限公司;