专利名称：基于多光谱图像滤波输出统计分布规律的目标检测方法
技术领域：
本发明涉及的是一种信息图像处理领域的目标检测方法。
背景技术：
多光谱图像包含观测场景中的空间信息和光谱信息，除可以利用图像空域和时域信息之外，还可以利用图像的谱域信息。由于光谱特征是不同化学成分的物质所具有的固有特性，结合该信息可大大提高目标和背景进行分类和检测的能力。多光谱图像处理方法可以利用多个波段的光谱信息同时进行处理，因而具有单波段相机无可比拟的优势。多光谱图像不但受到农、林、地质、矿产、环保等部门的重视，而且在军事上揭露伪装、增强目标的识别、发现新目标等方面也有广泛的用途。多光谱检测成像技术对目标进行检测时，可以从图像空间、光谱空间、特征空间来进行，以达到抑制背景和噪声成分、保留或增强目标成分的目的。目前以发展出OSP、CEM、 RX等诸多目标检测的算法，在各自的领域具有较好的检测性能。在采用多光谱目标检测算法对多光谱图像进行滤波处理后，还需要采用一定的准则来判决目标。当目标光谱信息与背景光谱信息差异明显，目标成像面积大于一个像素时， 在滤波处理后，目标的滤波输出可能明显大于背景成分的滤波输出，这时很容易把目标检测出来。然而在实际应用中，由于目标光谱信息与背景光谱信息的差异不大、目标为亚像素目标、目标和背景的先验光谱信息不准确等原因，滤波处理后，目标的滤波输出与背景成分的滤波输出可能相差不大。同时，实际应用中背景成分滤波输出的分布规律较复杂，不能简单地采用高斯分布来描述。这时判断目标的有无存在着一定的难度。
发明内容
本发明的目的在于提供适合于绿化面积检测、水灾检测等目标数目较多的场合的基于多光谱图像滤波输出统计分布规律的目标检测方法。本发明的目的是这样实现的本发明基于多光谱图像滤波输出统计分布规律的目标检测方法，其特征是(1)获取被测区域的多光谱图像，并进行辐射校正、分块预处理；(2)采用CEM算法对获取的多个波段图像进行滤波处理待检测的目标光谱信息d，波段数为L，滤波系数为L维列向量、由下式计算得到
权利要求
1.基于多光谱图像滤波输出统计分布规律的目标检测方法，其特征是(1)获取被测区域的多光谱图像，并进行辐射校正、分块预处理；(2)采用CEM算法对获取的多个波段图像进行滤波处理待检测的目标光谱信息d，波段数为L，滤波系数为L维列向量、由下式计算得到
全文摘要
本发明的目的在于提供基于多光谱图像滤波输出统计分布规律的目标检测方法，包括以下步骤获取被测区域的多光谱图像，并进行辐射校正、分块预处理；采用CEM算法对获取的多个波段图像进行滤波处理；采用EM算法对滤波输出结果的分布参数进行估计；根据参数估计结果，判断目标的有无；确定检测门限，判决目标。本发明不需要目标和背景的空域信息，在目标信号比较微弱时也有较好的检测效果。适合于绿化面积检测、水灾检测等目标数目较多的场合的目标检测。同时，它直接估计出目标成分滤波处理后的统计分布参数，在估计目标的数目、确定检测门限时，具有更高的精度。本发明也可以用于高光谱和超光谱图像的目标检测。
文档编号G06K9/36GK102222221SQ20111018319
公开日2011年10月19日 申请日期2011年7月1日 优先权日2011年7月1日
发明者崔金辉, 张洪伟, 李立 申请人:哈尔滨工程大学