端口测试装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了用于检测电子设备外围接口处传输信号是否正常的端口测试装置，其包括一电路板，该电路板上设有一与待测端口匹配的连接器、一测试插座、一第一动态臂及若干线缆，所述第一动态臂的一端枢转固定于电路板上并与所述测试插座电连接，所述线缆的一端连接至所述连接器的对应端子上，所述线缆的另一端固定在电路板上，所述第一动态臂旋转时另一端能够与所述线缆的另一端接触。本发明能避免频繁插拔检测探头及开关机所带来的繁琐工作，还会保护检测探头不受损，从而提高工作效率、保护产品性能。
【专利说明】端口测试装置【技术领域】
[0001]本发明涉及一种端口测试装置，尤其涉及一种电脑主机外围接口设备的测试装置。
【背景技术】
[0002]近年来，随着电子通讯技术的快速发展，电脑连接总线和接口标准已逐渐更新提升。电脑主机外围接口包括:传统的AGP (Accelerate Graphical Port,快速图形接口)接口、PCI (Peripheral Component Interconnect,外围兀件连接)接口及新标准 PCIE(Peripheral Component Interconnect Express,外围设备快速连接)接口，而具备较高传输率、较大兼容性的新标准PCIE接口已经逐渐取代传统的PCI接口和AGP接口。
[0003]通常，人们对PCIE接口进行测试时，使用的测试治具包括若干SMP (SymmetricalMult1-Processing，对称多功能处理)接口插座及与SMP接口插座数量相等的SMP测试探头，其中，每个SMP接口插座对应一个SMP测试探头。当进行PCIE接口测试时，通常先将某个SMP测试探头插入与其相对应的SMP接口插座中，当该SMP测试探头检测完毕后，需关闭主机，再将上述SMP测试探头拔出；而后再将另一个SMP测试探头插入与其相对应的SMP接口插座，然后开机，重新测试PCIE接口的另一引脚的输出信号。如此反复地操作，不但会导致测试繁琐，增加测试量，阻碍测试效率的提升，还会因反复插拔测试探头而导致探头受损。
【发明内容】
[0004]本发明提供一种能保证测试探头不受损且能提高测试效率的端口测试装置。
[0005]本发明的技术方案如下:` 一种端口测试装置，包括一电路板，该电路板上设有一与待测端口匹配的连接器、一测试插座、一第一动态臂及若干线缆，所述第一动态臂的一端枢转固定于电路板上并与所述测试插座电连接，所述线缆的一端连接至所述连接器的对应端子上，所述线缆的另一端固定在电路板上，所述第一动态臂旋转时另一端能够与所述线缆的另一端接触。
[0006]本发明的有益效果在于:本发明的端口测试装置上只设置一个测试插座，通过旋转动态臂使动态臂依次与传输待测信号的线缆电连接将待测信号引出至测试插座进行测试，避免了现有技术中频繁插拔探头及开关机的繁琐操作，还可以避免检测探头受损，从而实现简便、快速的检测功能，提高工作效率，保护产品性能，延长使用寿命。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]图1是本发明端口测试装置的较佳实施例的示意图。
[0008]主要元件符号说明
【权利要求】
1.一种端口测试装置，其特征在于:包括一电路板，该电路板上设有一与待测端口匹配的连接器、一测试插座、一第一动态臂及若干线缆，所述第一动态臂的一端枢转固定于电路板上并与所述测试插座电连接，所述线缆的一端连接至所述连接器的对应端子上，所述线缆的另一端固定在电路板上，所述第一动态臂旋转时另一端能够与所述线缆的另一端接触。
2.如权利要求1所述的端口测试装置，其特征在于:所述第一动态臂为金属杆，由导电金属材料制成。
3.如权利要求2所述的端口测试装置，其特征在于:所述端口测试装置还包括一第二动态臂，所述第二动态臂的一端枢转固定于电路板上并与所述测试插座电连接，所述第二动态臂旋转时另一端能够与所述线缆的另一端接触；所述第二动态臂为金属杆，由导电金属材料制成。
4.如权利要求3所述的端口测试装置，其特征在于:所述第一及第二动态臂的阻抗为50 Ω。
5.如权利要求4所述的端口测试装置，其特征在于:所述线缆的数量为32条，每两条线缆用于传输一路待测信号。
6.如权利要求5所述的端口测试装置，其特征在于:所述线缆的另一端分布在以第一动态臂的枢转固定在电路板上的一端为圆心、以第一动态臂的长度为半径的圆周上。
7.如权利要求1至6任意一项所述的端口测试装置，其特征在于:所述测试插座为由两个对称设置的接线器共同形成的一对多功能处理插座。
【文档编号】G06F11/267GK103870375SQ201210529736
【公开日】2014年6月18日 申请日期:2012年12月11日 优先权日:2012年12月11日
【发明者】余松 申请人:鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司