一种触摸屏、触摸检测方法及装置制造方法

一种触摸屏、触摸检测方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及一种触摸屏、触摸检测方法及装置。所述方法包括：对扫描区域进行直轴扫描，当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直轴；根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域；对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置。所述装置相应地包括扫描单元、记录单元及区域缩小单元。本发明能够降低触摸屏的功耗。
【专利说明】一种触摸屏、触摸检测方法及装置

【技术领域】
[0001] 本发明涉及计算机触控领域，特别涉及一种触摸屏、触摸检测方法及装置。

【背景技术】
[0002] 红外触摸屏属于计算机触摸屏，作为一种人性化的输入设备，红外触摸屏具有广 阔的发展前景。红外触摸屏因安装简易、易于维护、抗爆性高、可靠性强等优点而被广泛应 用在各个领域。
[0003] 红外触摸屏的基本结构，是在一个适合安装的显示表面四周边缘按照一定的顺序 安装若干对红外发射和红外接收元件。这些发射和接收元件按照一一对应的方式组成发射 接收对，沿着显示表面的边缘构成一个互相垂直的发射接收阵列，在微型计算机系统的控 制下按照一定的顺序分别接通每一对发射和接收元件，检测每对发射和接收元件之间的红 外线是否被隔断，以此来判定是否有触摸事件发生。
[0004] 现有技术中，一种检测触摸屏上触摸点的方法包括：启动红外触摸屏，按照顺序依 次选择接通每对红外发射和接收元件，扫描整个触摸区域；分别记录每一次红外线被隔断 时所接通的发射和接收对元件的内部坐标值；根据所记录的上述内部坐标值，将纵横坐标 值组合以得到触摸点的坐标值并储存；对整个触摸区域进行至少一次的重新扫描以剔除虚 假触摸点；将所得到的真实触摸点的坐标值转换为安装所述触摸屏的计算机系统所能接受 的数据，并通过所述触摸屏的接口传输到所述计算机系统之中。触摸屏的微处理器实际在 一个扫描周期内对整个触摸区域实际是进行至少两次扫描的，包括至少一次直轴扫描和至 少一次离轴扫描；即使触摸区域上没有存在触摸，也是在一个扫描周期内设置多次扫描。
[0005] 现有技术检测触摸的技术方案至少存在如下缺陷：
[0006] 在对触摸的一次检测需要进行整个触摸区域范围内的多次扫描，耗费触摸屏的功 耗较高；
[0007] 在待发生触摸的空闲时间内，触摸屏的微处理器实际也在一个扫描周期进行多次 直轴扫描和离轴扫描，其扫描周期由此是比较长的；扫描周期过长不但会为触摸屏增加不 必要的功耗，还会延长触摸屏响应时间，从而降低设备的使用性能。


【发明内容】

[0008] 本发明技术方案所解决的技术问题是：如何降低触摸屏的功耗。
[0009] 为了解决上述技术问题，本发明技术方案提供了一种触摸检测方法，包括：
[0010] 对扫描区域进行直轴扫描，当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的 直轴；
[0011] 根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域；
[0012] 对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置。
[0013] 可选的，所述被隔断的扫描光线的直轴是通过记录对应触摸的轴向位置获取的。
[0014] 可选的，所述记录被隔断扫描光线的直轴包括记录对应触摸在轴向上的起始位置 和终止位置、或记录对应触摸在轴向上的起始位置和宽度、或记录对应触摸在轴向上的宽 度和终止位置。
[0015] 可选的，所述缩小后的扫描区域包括由所述被隔断的扫描光线的直轴相交而成的 至少一个封闭区域，每个封闭区域包括至少一个所述直轴扫描检测到的触摸。
[0016] 可选的，所述缩小后的扫描区域是由所述被隔断的扫描光线的直轴相交形成的最 大四边形区域。
[0017] 可选的，所述对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置包括：
[0018] 对所述缩小后的扫描区域进行直轴扫描以获取若干待筛选的触摸；
[0019] 对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果剔除所述待筛选 的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸；
[0020] 输出所述真实触摸的位置。
[0021] 可选的，所述对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置包括：
[0022] 根据对扫描区域的直轴扫描的结果获取若干待筛选的触摸；
[0023] 对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果剔除所述待筛选 的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸；
[0024] 输出所述真实触摸的位置。
[0025] 为了解决上述技术问题，本发明技术方案还提供了一种触摸检测装置，其特征在 于，包括：
[0026] 扫描单兀，用于对扫描区域进行直轴扫描以检测至少一个触摸；
[0027] 记录单元，用于当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直轴；
[0028] 区域缩小单元，用于根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域；
[0029] 所述扫描单元还用于对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置，所 述扫描单元包括所述第一子扫描单元。
[0030] 为了解决上述技术问题，本发明技术方案还提供了 一种触摸屏，包括午
[0031] 触摸区域以及微处理器；
[0032] 所述微处理器包括上述触摸检测装置。
[0033] 本发明技术方案至少有如下有益效果：
[0034] 本发明技术方案在待发生触摸的空闲时间仅对触摸区域进行以一次直轴扫描为 扫描周期的"预"扫描，而非如现有技术一般既进行直轴扫描也进行离轴扫描，待触摸发生 后才对触摸区域重新进行扫描以缩短待发生触摸的空闲时间内触摸屏的扫描周期，可有效 缩短触摸屏在待发生触摸的空闲时间内的扫描周期，也有效减少离轴扫描的时间及区域， 缩短触摸屏响应时间，减少硬件损耗，降低触摸屏的功耗。
[0035] 本发明技术方案在检测到触摸的时间内仅对可能发生触摸的区域进行扫描，即缩 小了扫描区域的范围，这从耗能角度上看，缩小扫描区域必定减少所使用的发射元件和接 收元件的数目，相应进行离轴扫描的区域也大大缩小，据此进一步降低触摸屏的功耗；从扫 描时间角度来看，因扫描区域的缩小使扫描光线覆盖的区域变小，扫描所需时间也降低了， 进一步缩短触摸屏响应时间，提高触摸屏的检测效率；从检测精度角度上看，在选定发射元 件和接收元件的数目的前提下，扫描区域缩小使扫描光线密度增加，能够提高触摸检测的 精确度。
[0036] 考虑到扫描区域的缩小需与直轴扫描检测到可能存在的触摸位置相关，利用所记 录的被隔断的扫描光线的直轴的信息则能够提高界定所述缩小区域的准确定位。
[0037] 在可选方案中，缩小后的扫描区域可以是由所述被隔断的扫描光线的直轴相交形 成的最大四边形区域，也可以是由至少一个四边形区域构成(该四边形区域是由所述被隔 断的扫描光线的直轴相交形成的最小四边形区域）：前者算法简单，也能达到很好的低功率 效果；后者则定位更为精确，有利后续的准确性检测。
[0038] 在对缩小后的扫描区域进行轴扫描的过程中，所选取的接收元件和发射元件的数 目在优选方案中也是大大减少的；具体的，只要选择接通能够覆盖所述缩小后扫描区域的 相对应的接收元件和发射元件就可以了，这使触摸屏的整体功耗又得到了节省；当然，更为 优选的是，只要选择有经过缩小后的扫描区域的相对应的接收元件和发射元件，此时所选 择的元件是能够实现对缩小后的扫描区域进行相应扫描的最小数目的元件，是启动元件的 最小功率。
[0039] 本发明技术方案逻辑简单，易于实现硬件加速；未改变现有触摸屏的其他结构，可 完成多个触摸点的检测扫描，具有应用成本极低、适用性广阔的优点。

【专利附图】

【附图说明】
[0040] 图1为实施例1的触摸检测方法的流程示意图；
[0041] 图2为实施例1的一种触摸屏的结构示意图；
[0042] 图3为图2所示触摸屏所处一种使用状态的示意图；
[0043] 图4为图2所示触摸屏所处另一种使用状态的示意图；
[0044] 图5为实施例1的触摸检测方法中实现步骤S102的流程示意图；
[0045] 图6为实施例1的一种选择直轴扫描发射元件及对应接收元件的触摸屏的示意 图；
[0046] 图7为实施例1第一种选择离轴扫描发射元件及对应接收元件的触摸屏的示意 图；
[0047] 图8为实施例1第二种选择离轴扫描发射元件及对应接收元件的触摸屏的示意 图；
[0048] 图9为实施例1第三种选择离轴扫描发射元件及对应接收元件的触摸屏的示意 图；
[0049] 图10为实施例2的触摸检测方法的流程示意图；
[0050] 图11为实施例2的触摸检测方法中实现步骤S202的流程示意图。

【具体实施方式】
[0051] 现有技术中，检测触摸屏上触摸的方法包括在扫描周期内对整个触摸区域的至少 一次直轴扫描和至少一次离轴扫描，且待发生触摸的空闲时间内发生的扫描周期和已发生 触摸的时间内发生的扫描周期是一致的，且二者扫描周期内所进行的直轴扫描和离轴扫描 的对象、所依次选择接通的元件均是相同的。这种检测方式不仅在已发生触摸的时间内需 要多次扫描，在待发生触摸的空闲时间内也对整个触摸区域进行多次重复的扫描，不但增 加了不必要的功耗而且会增加检测扫描的周期，进而延长触摸屏响应时间。
[0052] 实施例1
[0053] 本实施例提供了一种如图1所示的触摸检测方法，包括：
[0054] 步骤S100,对扫描区域进行直轴扫描，当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫 描光线的直轴。
[0055] 本步骤中，所述直轴扫描为一个扫描周期内的直轴扫描。
[0056] 本实施例触摸检测方法所基于的触摸屏，其结构如图2所示：
[0057] 如图2所示的一种触摸屏100,所示触摸屏100由安装在触摸区域101周围的发射 元件阵列（l〇2a、102b)、接收元件阵列（103a、103b)构成的矩形触摸屏组成。其中，触摸区 域101 -般是如计算机显示器、投影机屏幕的显示区域，发射元件和接收元件一一对应而 构成发射和接收对。在具体实施过程中，发射元件阵列（102a、102b)安装于发射板（104a、 104b)上，发射元件具体为一发射红外扫描光线的发射灯，接收元件阵列）103a、103b)安装 于接收板（l〇5a、105b)上，发射元件具体为一接收红外扫描光线的接收灯。
[0058] 在本步骤中，触摸屏100在待发生触摸的空闲时间内对触摸区域101进直轴扫描， 此时，由于未检测到任何接触，进行直轴扫描的扫描区域是整个触摸区域101。所谓直轴扫 描，就是由成对的发射元件和接收元件来发射及接收扫描光线(成对的发射元件和接收元 件也可称为同对的发射元件和接收元件)。本申请中，定义直轴扫描时扫描光线的直轴是与 成对发射元件和接收元件的光轴线方向一致且用以指向扫描光线经历的触摸区域范围的 区域。比如图2中，发射元件121和接收元件131成对，发射元件122和接收元件132成对， 由于扫描光线实际具有一定宽度，对应发射元件121和接收元件131所产生的光线的直轴 为107,对应发射元件122和接收元件132所产生的光线的直轴为106。
[0059] 在本步骤中，所述被隔断的扫描光线的直轴是通过记录对应触摸的轴向位置获 取的，其中，由于被隔断的扫描光线的直轴所在触摸区域的位置均可能存在触摸，因此，仅 取所述可能存在触摸在轴上的位置信息，所述轴向对于二维触摸区域来说包括横向和纵向 (也可以是X向和Y向），当然对于三维触摸区域来说包括Z向、X向和Y向。触摸的轴向位 置信息可以作为直轴的逻辑数据以指导本实施例对于缩小后的扫描区域的定位。触摸的轴 向位置信息实际是通过将直轴数据进行去环境光、归一化等数据处理生成的。
[0060] 所述对应触摸的轴向位置包括对应触摸在该轴上的起始位置和终止位置，也可以 包括对应触摸在该轴上的起始位置和宽度，还可以包括对应触摸在该轴上的宽度和终止位 置。以图2的直轴106为例，直轴106中，对应触摸在X轴上的起始位置为ql，在X轴上的 终止位置为q2,其在X轴上的宽度为s。直轴106的逻辑数据的表达形式可以为（ql，q2)， 也可以为（ql，s)，还可以为（s，q2)，其他直轴的逻辑数据表达形式则类似。
[0061] 本步骤实际包括了两个阶段的扫描过程：即待发生触摸的空闲阶段和在检测到存 在触摸时进入已发生触摸的阶段。
[0062] 与现有技术不同的是，现有技术中，在待发生触摸的空闲阶段是对整个触摸区域 进行直轴扫描和离轴扫描的，在扫描到存在触摸时，再对整个触摸区域重新进行直轴扫描 和离轴扫描以得到触摸位置。而本发明技术方案则在待发生触摸的空闲阶段只进行直轴扫 描，而在已发生触摸的阶段才涉及进行离轴扫描；现有技术的离轴扫描在待发生触摸的空 闲阶段有检测触摸是否存在的功能，而本发明技术方案的离轴扫描在待发生触摸的空闲阶 段则不存在上述功能。
[0063] 步骤S101，根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域。
[0064] 假设图2的触摸屏100在触摸区域101上发生了如图3所示的触摸200和触摸 300 ：
[0065] 此时，在步骤S100的直轴扫描时(假使触摸200及触摸300被有效检测到)，在二 维的扫描区域(整个触摸区域1 〇 1)上在横向和纵向各有两对发射元件和接收元件之间的光 线被隔断，其中，横向纵向实际是相对的概念，横向为图中的X轴方向，纵向为图中的Y轴方 向；在图3中，触摸200将扫描光线1^1、1^2、1^5、1^6隔断，触摸300将扫描光线1^3、1^4、1^7、1^8 隔断(扫描光线L1?L8图中未标出）。
[0066] 需要说明的是，本申请所述被隔断的扫描光线是指被触摸完全或部分隔断的扫描 光线(在触摸边缘被全部或部分遮挡的扫描光线)，这些扫描光线所形成的扫描数据经去环 境光，归一化等数据处理，生成表示扫描光线所对应轴(直轴或离轴）的触摸信息逻辑数据。
[0067] 继续参考图3,被隔断的扫描光线L1?L8对应的元件分别是发射元件al和接收 元件bl、发射元件a2和接收元件b2、发射元件a3和接收元件b3、发射元件a4和接收元件 b4、发射元件a5和接收元件b5、发射元件a6和接收元件b6、发射元件a7和接收元件b7、发 射元件a8和接收元件b8,被隔断的扫描光线L1?L8分别对应直轴108?115。
[0068] 由于发射元件阵列（102a、102b)及接收元件阵列（103a、103b)在触摸屏微控制 器中以其序号或扫描地址与坐标度量单元的内部坐标系Χ0Υ中寻得其位置信息（也即坐标 值)，将发射元件al?a8及接收元件bl?b8的序号或扫描地址与内部坐标系Χ0Υ上坐标 对应，可得到直轴108?115在内部坐标系Χ0Υ上的表达方程。当然，相较于直轴106的逻 辑数据(与步骤S100中所记录被隔断的扫描光线的直轴信息相对应)这一信息，通过发射元 件及接收元的序号或扫描地址与内部坐标系Χ0Υ对应得到的位置信息属于所述扫描数据， 所述扫描数据经去环境光，归一化等数据处理，生成表示扫描光线所对应轴(这里是直轴） 的逻辑数据。
[0069] 本步骤根据所述被隔断的扫描光线的直轴对原始扫描区域(即触摸区域101)进行 缩小得到的缩小后的扫描区域，可以是以所述被隔断的扫描光线的直轴相交所得的至少一 个封闭区域，每个封闭区域包括至少一个所述直轴扫描检测到的触摸。在本实施例中，缩小 后的扫描区域是由所述被隔断的扫描光线的直轴相交形成的最大四边形区域。参考图3,区 域sql显然是直轴108?115相交得到的最大四边形区域，该最大四边形区域能够包围所 有可能触摸，这是一种最为简单地确定缩小后的触摸区域的方式。
[0070] 上述最大四边形区域的获取是通过直轴108?115在内部坐标系Χ0Υ的表达方程 确定的：由于直轴108?115在内部坐标系Χ0Υ的表达方程在坐标系上以直线形式呈现，依 据直轴108?115的在内部坐标系Χ0Υ的表达方程取这些直线在内部坐标系Χ0Υ上形成的 最大封闭区域，基于直轴所覆盖扫描区域的形态，理论上是该最大封闭区域所覆盖扫描区 域的形态是四边形区域。
[0071] 当然，在其他实施例中，本步骤根据所述被隔断的扫描光线的直轴对原始扫描区 域（即触摸区域101)进行缩小得到的缩小后的扫描区域还可以进一步由至少一个四边形区 域构成，所述四边形区域是由所述被隔断的扫描光线的直轴相交形成的最小四边形区域。 这种实施方式实际提高了所确定的缩小后的扫描区域的定位准确度。参考图4,图4是图3 所示触摸屏检测触摸状态的另一所确定的缩小后的扫描区域示意图。区域sq2?sq5显然 是直轴108?115相交得到的最小四边形区域，该最小四边形区域也能够包围所有可能触 摸并实际比区域sql更为准确地定位可能触摸的位置。
[0072] 上述最小四边形区域的获取也是通过直轴108?115的在内部坐标系Χ0Υ的表达 方程确定的，依据直轴108?115的在内部坐标系Χ0Υ的表达方程取内部坐标系Χ0Υ上形 成的最小封闭区域，基于直轴所覆盖扫描区域的形态，理论上是该最小封闭区域所覆盖扫 描区域的形态也是四边形区域。
[0073] 当然，当触摸区域101所发生的触摸非多个，而是仅一个触摸时，上述两种情况重 合。应当可以理解，此时所述最大四边形区域和最小四边形区域均指此时直轴形成的唯 个封闭区域。
[0074] 本步骤所涵盖的技术内容中，与现有技术不同的是：现有技术中，在已发生触摸的 阶段仍是对整个触摸区域进行直轴扫描和离轴扫描的，但发明人认为，此时现有技术仍旧 将整个触摸区域作为扫描区域进行扫描检测是没有必要的；现有技术在待发生触摸的空闲 阶段仅利用交替的直轴扫描和离轴扫描对触摸区域检测是否存在触摸，发明人在本实施例 赋予直轴扫描不同的功用，其还有对触摸的定位功能，利用新赋予空闲阶段直轴扫描的定 位功能，能够在已发生触摸的阶段更为有效且低耗地实现触摸的检测。
[0075] 步骤S102,对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置。
[0076] 所述轴扫描包括直轴扫描和离轴扫描，所谓离轴扫描，就是由一对发射兀件和接 收元件中的发射元件来发射扫描光线，而由另一对发射元件和接收元件中的接收元件来接 收扫描光线。同样，本申请也定义离轴扫描时的离轴是与成对发射元件和接收元件的光轴 线偏离一定角度（以下简称偏角，当然，对于直轴扫描可以认为是偏角为〇°的扫描，本申请 所提及的偏角的取值大于等于〇° )且用以指向扫描光线经历的触摸区域范围的区域。
[0077] 参见图5,所述对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置包括：
[0078] 步骤S120,对所述缩小后的扫描区域进行直轴扫描以获取若干待筛选的触摸；
[0079] 步骤S121，对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果剔除所 述待筛选的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸；
[0080] 步骤S122,输出所述真实触摸的位置。
[0081] 本步骤S120?S122涉及对缩小后的扫描区域进行轴扫描的发射元件和接收元件 的选取问题。
[0082] 步骤S120中，所述对所述缩小后的扫描区域进行直轴扫描包括：依次选择接通若 干同对的接收元件和发射元件以进行覆盖所述缩小后的扫描区域的直轴扫描。
[0083] 参见图6,图6示意了进入直轴扫描的触摸屏100。以X轴方向的发射元件阵列 (102b)为例：依次选择接通发射元件阵列ml及其同对的接收元件，可知其所产生的扫描光 线（图中示意了对应扫描光线的直轴，但未标识）覆盖了所述缩小后的扫描区域sql。
[0084] 但更为节省功耗的是，所述若干同对的接收元件和发射元件能够发生经过所述缩 小后的扫描区域的扫描光线。比如图6中，仅挑取上述发射元件阵列ml中的子集：即接收 元件阵列m2及其同对的接收元件为选择接通的元件。
[0085] 步骤S121中，所述对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描包括：依次选择接通若 干不同对的发射元件与接收元件以进行能够以设定偏角覆盖所述缩小后的扫描区域的离 轴扫描。
[0086] 参见图7,图7示意了进入离轴扫描的触摸屏100。仍旧以X轴方向的发射元件 阵列（102b)为例：依次选择接通发射元件阵列m3及与其光轴线呈设定偏角的不同对的对 应接收元件，可知其所产生的扫描光线（图中示意了对应扫描光线的直轴，但未标识）覆盖 了所述缩小后的扫描区域sql，在一次扫描中，设定偏角是固定值，比如为图7所示的偏角 Θ 1，其中，线Lo为对应发射兀件〇的光轴线。每一次离轴扫描依据设定的偏角不同，其选 择接通的发射元件阵列m3及与其光轴线呈设定偏角的不同对的对应接收元件可以是不同 的。
[0087] 但更为节省功耗的是，所述若干不同对的发射元件与接收元件能够发生以设定偏 角经过所述缩小后的扫描区域的扫描光线。比如，图8中，依次选择接通发射元件阵列m4 及与其光轴线呈设定偏角的不同对的对应接收元件，可知其所产生的扫描光线（图中示意 了对应扫描光线的直轴，但未标识）均以设定偏角θπι覆盖了所述缩小后的扫描区域sql。
[0088] 当然，每一次离轴扫描依据设定的偏角不同，其选择接通的发射元件阵列也可以 是相同的阵列：如图9所示，依次选择接通发射元件阵列m5,在每一次的离轴扫描(每一次 离轴扫描对应不同设定偏角）中，发射元件阵列m5中的发射元件固定不变。
[0089] 对于发射元件阵列m5的具体选取方式可参考如下：
[0090] 设发射元件以最大预设偏角进行离轴扫描；
[0091] 根据缩小后的扫描区域sql的位置信息及离轴的偏角信息，计算经过所述缩小后 的扫描区域sql外边缘区域的离轴信息；
[0092] 使用内部坐标以直线方程表达所述经过缩小后的扫描区域sql外边缘区域的离 轴信息并得到产生该离轴对应扫描光线的发射元件序号或扫描地址信息(根据本实施例的 相关论述可知，发射元件及接收元件在触控屏微控制器中以其序号或扫描地址与坐标度量 单元的内部坐标系Χ0Υ中寻得其位置信息，即内部坐标和元件的序号或扫描地址是对应关 系）；
[0093] 根据所得到的发射元件序号或扫描地址信息，选取得到所述发射元件阵列（m5)。
[0094] 参见图9,可知：假设最大设定偏角为Θ m，可知发射元件〇1?〇4均能以最大设定 偏角发生经过缩小后的扫描区域sql外边缘区域的扫描光线(对应离轴601?605);利用 离轴601?605的离轴信息并得到产生该离轴对应扫描光线的发射元件是发射元件〇1? 〇4,此时可确定若干个发射元件阵列，比如发射元件阵列[ 01，02]&[03,04](即发射元件阵 列[01，02]并上发射元件阵列[03, 04])或发射元件阵列[01，04]等，（〇1?〇4仅是示意 发射元件对应的序号或扫描地址)，但为了避免由于过多的小区间导致扫描的间断，选取发 射元件阵列[01，04]，即发射元件阵列m5为宜。
[0095] 进一步的，步骤S120中所述对所述缩小后的扫描区域进行直轴扫描以获取若干 待筛选的触摸具体包括如下过程：
[0096] 仍以图3所示的触摸屏的触摸区域状态为例，若直轴扫描时(假使触摸200及触摸 300被有效检测到)，分别在横向和纵向各有至少两对发射元件和接收元件之间的光线被隔 断，其中，触摸200将光线L1及光线L3隔断，触摸300将光线L2及光线L4隔断，实际在横 向和纵向各有两对发射元件和接收元件之间的光线被隔断。
[0097] 继续参考图3,触摸屏微控制器在得到被隔断的光线所对应的横向和纵向的发射 元件和接收元件对后将分别得到的是触摸在横向的坐标值或纵向的坐标值：即发射元件 al?a8、接收元件bl?b8对应内部坐标系的坐标值。
[0098] 步骤S120的直轴扫描过程将会出现四个可能的触摸的位置信息，即所述待筛选 的触摸：触摸200、触摸300、触摸400、触摸500,从图3可知：触摸200、触摸300是真实触 摸，触摸400、触摸500是虚假触摸(虚假触摸以白色圆表示，真实触摸用黑色圆表示)。 [0099] 步骤S121用以剔除上述虚假触摸以得到真实触摸：
[0100] 离轴扫描过程中的触摸屏100在以偏角Θ 1的扫描光线对触摸区域进行扫描时， 可以很容易地剔除虚假触摸400、500 ;可参考图7,可知白色圆未隔断以设定偏角θ 1的离 轴扫描光线，可判断白色圆所表示的触摸为虚假触摸，触摸屏微处理器会对该触摸内部坐 标记录进行剔除。
[0101] 在采用离轴扫描对虚假触摸的内部坐标记录进行剔除后，基于真实触摸的内部坐 标输出得到该触摸的位置。
[0102] 对应上述触摸检测的方法，本实施例还对应地提供了一种触摸检测装置，包括：
[0103] 扫描单兀，用于对扫描区域进行直轴扫描以检测至少一个触摸；
[0104] 记录单元，用于当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直轴；
[0105] 区域缩小单元，用于根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域；
[0106] 所述扫描单元还用于对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置，所 述扫描单元包括所述第一子扫描单元。
[0107] 本实施例中，所述扫描单元可以进一步包括；
[0108] 第一子扫描单兀，用于对所述缩小后的扫描区域进行直轴扫描以获取若干待筛选 的触摸；
[0109] 第二子扫描单元，用于对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的 结果剔除所述待筛选的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸；
[0110] 输出单元，用于输出所述真实触摸的位置；
[0111] 所述第一子扫描单元还用于对扫描区域进行直轴扫描以检测至少一个触摸。
[0112] 基于上述触摸识别的装置，本实施例还对应地提供了一种触摸屏，该触摸屏包括 触摸区域及微处理器，所述微处理器包括本实施例的触摸检测装置。实施例2
[0113] 在本实施例中提供了一种如图10所示的触摸检测方法，包括：
[0114] 步骤S200,与实施例1的步骤S100 -致；
[0115] 步骤S201，与实施例1的步骤S101 -致；
[0116] 步骤S202,对缩小后的扫描区域进行离轴扫描以获得所述触摸的位置。
[0117] 其中，在本实施例中，步骤S202所进行的轴扫描仅限于离轴扫描。参见图11，所述 对缩小后的扫描区域进行离轴扫描以获得所述触摸的位置包括：
[0118] 步骤S220,根据对扫描区域的直轴扫描的结果获取若干待筛选的触摸；
[0119] 步骤S221，对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果剔除所 述待筛选的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸；
[0120] 步骤S222,输出所述真实触摸的位置。
[0121] 在本实施例中，与实施例1不同的是，步骤S202不同于步骤S102,所述若干待筛选 的触摸是通过步骤S200的直轴扫描结果得到的。由于步骤S200的直轴扫描结果涉及被隔 断的光线所对应的横向和纵向的发射元件和接收元件在内部坐标系上的坐标值，步骤S220 的具体过程可参考步骤S120,此处不再赘述。
[0122] 本实施例的其他技术内容可参考实施例1的相关记载。
[0123] 对应上述触摸检测的方法，本实施例提供了一种触摸检测装置，包括：
[0124] 扫描单元，用于对扫描区域进行直轴扫描以检测至少一个触摸；
[0125] 记录单元，用于当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直轴；
[0126] 区域缩小单元，用于根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域；
[0127] 所述扫描单元还用于对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置，所 述扫描单元包括所述第一子扫描单元。
[0128] 本实施例中，所述扫描单元可以进一步包括：
[0129] 第一子扫描单兀，用于对扫描区域进行直轴扫描以检测至少一个触摸；
[0130] 获取单元，用于根据对扫描区域的直轴扫描的结果获取若干待筛选的触摸；
[0131] 第二子扫描单元，用于对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的 结果剔除所述待筛选的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸；
[0132] 输出单元，用于输出所述真实触摸的位置。
[0133] 基于上述触摸识别的装置，本实施例也对应地提供了一种触摸屏，该触摸屏包括 触摸区域及微处理器，所述微处理器包括本实施例的触摸检测装置。
[0134] 本发明虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本发明，任何本领域 技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本发 明技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明 的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本发明技术方案 的保护范围。
【权利要求】
1. 一种触摸检测方法，其特征在于，包括： 对扫描区域进行直轴扫描，当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直 轴； 根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域； 对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置。
2. 如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述被隔断的扫描光线的直轴是 通过记录对应触摸的轴向位置获取的。
3. 如权利要求2所述的触摸检测方法，其特征在于，所述记录被隔断扫描光线的直轴 包括记录对应触摸在轴向上的起始位置和终止位置、或记录对应触摸在轴向上的起始位置 和宽度、或记录对应触摸在轴向上的宽度和终止位置。
4. 如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述缩小后的扫描区域包括由所 述被隔断的扫描光线的直轴相交而成的至少一个封闭区域，每个封闭区域包括至少一个所 述直轴扫描检测到的触摸。
5. 如权利要求1或4所述的触摸检测方法，其特征在于，所述缩小后的扫描区域是由所 述被隔断的扫描光线的直轴相交形成的最大四边形区域。
6. 如权利要求1或4所述的触摸检测方法，其特征在于，所述缩小后的扫描区域由至少 一个四边形区域构成，所述四边形区域是由所述被隔断的扫描光线的直轴相交形成的最小 四边形区域。
7. 如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述对缩小后的扫描区域进行轴 扫描以获得所述触摸的位置包括： 对所述缩小后的扫描区域进行直轴扫描以获取若干待筛选的触摸； 对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果剔除所述待筛选的触 摸中的虚假触摸以确定真实触摸； 输出所述真实触摸的位置。
8. 如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述对缩小后的扫描区域进行轴 扫描以获得所述触摸的位置包括： 根据对扫描区域的直轴扫描的结果获取若干待筛选的触摸； 对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果剔除所述待筛选的触 摸中的虚假触摸以确定真实触摸； 输出所述真实触摸的位置。
9. 如权利要求7所述的触摸检测方法，其特征在于，所述对所述缩小后的扫描区域进 行直轴扫描包括：依次选择接通若干同对的接收元件和发射元件以进行覆盖所述缩小后的 扫描区域的直轴扫描。
10. 如权利要求7或8所述的触摸检测方法，其特征在于，所述对所述缩小后的扫描区 域进行离轴扫描包括：依次选择接通若干不同对的发射元件与接收元件以进行能够以设定 偏角覆盖所述缩小的后扫描区域的离轴扫描。
11. 如权利要求9所述的触摸检测方法，其特征在于，所述若干同对的接收元件和发射 元件能够发生经过所述缩小后的扫描区域的扫描光线。
12. 如权利要求10所述的触摸检测方法，其特征在于，所述若干不同对的发射元件与 接收元件能够发生以设定偏角经过所述缩小后的扫描区域的扫描光线。
13. -种触摸检测装置，其特征在于，包括： 扫描单元，用于对扫描区域进行直轴扫描以检测至少一个触摸； 记录单元，用于当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直轴； 区域缩小单元，用于根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域； 所述扫描单元还用于对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置。
14. 如权利要求13所述的触摸检测装置，其特征在于，所述扫描单元包括： 第一子扫描单元，用于对所述缩小后的扫描区域进行直轴扫描以获取若干待筛选的触 摸； 第二子扫描单元，用于对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果 剔除所述待筛选的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸； 输出单元，用于输出所述真实触摸的位置； 所述第一子扫描单元还用于对扫描区域进行直轴扫描以检测至少一个触摸。
15. 如权利要求13所述的触摸检测装置，其特征在于，所述扫描单元包括： 第一子扫描单元，用于对扫描区域进行直轴扫描以检测至少一个触摸； 获取单元，用于根据对扫描区域的直轴扫描的结果获取若干待筛选的触摸； 第二子扫描单元，用于对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果 剔除所述待筛选的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸； 输出单元，用于输出所述真实触摸的位置。
16. -种触摸屏，其特征在于，包括： 触摸区域以及微处理器； 所述微处理器包括如权利要求13?15任一项所述的触摸检测装置。
【文档编号】G06F3/042GK104216572SQ201310217383
【公开日】2014年12月17日 申请日期:2013年5月31日 优先权日:2013年5月31日
【发明者】张宇明, 赵雷, 徐姣 申请人:上海精研电子科技有限公司