一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法
【专利摘要】本发明公开一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法，将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合，以得到N个通道中N-M+1个通道失效的系统失效组合，其中，假设每个通道的失效率λ相同，针对安全系统的定期试验周期为T，定期试验带来的风险降低为Q，利用上述设定通过对通道的组合方式分析得到的结果，与T进行比较，当两者接近时即可得到待测系统的定期试验周期。本发明根据通用可靠性理论和核电中关于定期试验周期的计算方法，解决了在不同的试验策略下，不同的符合逻辑情况下的通用逻辑符合结构进行初始试验周期的确定方法，本发明思路方法明确，公式统一，能够适用于所有的逻辑结构。
【专利说明】一种基于MooN架构获取定期试验周期的计算方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及核电领域，具体涉及核电站多通道架构的安全系统的定期试验的试验周期预估计算方法。
【背景技术】
[0002]定期试验，是指为探测安全系统的故障和检查其可运行性，而按计划的间隔时间锁进行的试验，IEEE603-1998是针对安全级系统设计的顶层准则，其规定了对该系统进行定期监督测试的规范，具体要求指向了 IEEE338 (1987版，目前最新版本为2006)，在该标准中指出定期试验周期的确定应该结合确定性或基于风险的方法(risk-1nformedapproach, RI),其中基于风险的方法确定定期试验周期的流程如图1所示,其中对STI的具体评估是根据IEEE338的标准附录C中描述的评估STI的方式:
[0003]针对元器件不可用性基本公式，假设失效率λ为常数与时间无关，则元器件的平均不可用性为q，计算如下:
【权利要求】
1.一种基于M00N架构获取定期试验周期的计算方法，设待测试系统的通道数量为N，其特征在于，将N个通道的正常状态与失效状态进行不同组合，以得到N个通道中N-M+1个通道失效的系统失效组合，其中，假设每个通道的失效率相同并以λ来表示，针对待测试系统的定期试验周期为Τ，定期试验带来的风险降低为Q，则:待测试系统的每个通道独立试验时的不可用性为:
【文档编号】G06F19/00GK103559412SQ201310573294
【公开日】2014年2月5日 申请日期:2013年11月13日 优先权日:2013年11月13日
【发明者】李明利, 石桂连, 齐敏, 谢逸钦, 程康, 莫昌瑜, 陈江华, 李熊, 唐庆, 杨婷 申请人:北京广利核系统工程有限公司, 中国广核集团有限公司