板级测试数据分析方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种板级测试数据分析方法与装置，先在待测板进行测试后，对得到的测试数据进行区间划分，然后分析各个区间数据，逐级对不同偏差率范围内的数据进行时间定位，建立待测板的生命周期模型，计算待测板的实际测量值和理论目标值的偏差，获得待测板的耗损情况及返修率。使用本发明的技术后，对产品生命周期进行评估预测，快速、准确地获知产品耗损情况及返修率；可以按照测试需求对数据进行分区处理，在纷繁的数据中获取直接有效的信息，降低了数据处理的难度，提高了工作效率；减少了模拟工程现场测试的人力及成本。
【专利说明】板级测试数据分析方法及装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试测量【技术领域】，特别是涉及一种板级测试数据分析方法及装置。【背景技术】
[0002]测试测量技术的发展与电子行业的发展密不可分，电子行业的主要发展动力持续来源于对体积更小、功能更强、更多互联通信产品的需求。为满足这些需求，制造商不断推出新产品，将新的无线协议、新的封装技术、新元件及半导体等集成在这些新产品当中，技术的进步带来应用的提升，而应用的提升又进一步加剧新技术和新方法的不断涌现。随着测试内容的日益复杂，测试工作量激增，这些都促使测试行业必须采用新方法来测试和验证这些新产品与前沿技术。
[0003]目前板级测试具有一定的局限性:
[0004]现有板级测试在数据分析方面无法获知产品的耗损情况，了解产品的返修率，影响产品使用，降低工作效率，提升人力及成本。
【发明内容】
[0005]基于上述情况，本发明提出了一种板级测试数据分析方法，具备完整的数据分析体系，对产品生命周期进行评估预测，快速、准确地获知产品耗损情况及返修率。
[0006]为了实现上述目的，本发明的技术方案为:
[0007]—种板级测试数据分析方法，在待测板进行测试后，对得到的测试数据进行区间划分，分析各个区间数据，逐级对不同偏差率范围内的数据进行时间定位，建立所述待测板的生命周期模型，计算所述待测板的实际测量值和理论目标值的偏差，获得所述待测板的耗损情况及返修率。
[0008]针对现有技术问题，本发明还提出了一种板级测试数据分析装置，便捷有效获取产品生命周期，提高工作效率，适合应用。
[0009]具体实现方式为:一种板级测试数据分析装置，包括数据分析模块，用于在待测板进行测试后，对得到的测试数据进行区间划分，分析各个区间数据，逐级对不同偏差率范围内的数据进行时间定位，建立所述待测板的生命周期模型，计算所述待测板的实际测量值和理论目标值的偏差，获得所述待测板的耗损情况及返修率。
[0010]与现有技术相比，本发明的有益效果为:本发明板级测试数据分析方法与装置，先在待测板进行测试后，对得到的测试数据进行区间划分，然后分析各个区间数据，逐级对不同偏差率范围内的数据进行时间定位，建立待测板的生命周期模型，计算待测板的实际测量值和理论目标值的偏差，获得待测板的耗损情况及返修率。使用本发明的技术后，对产品生命周期进行评估预测，快速、准确地获知产品耗损情况及返修率；可以按照测试需求对数据进行分区处理，在纷繁的数据中获取直接有效的信息，降低了数据处理的难度，提高了工作效率；减少了模拟工程现场测试的人力及成本。【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1为一个实施例中板级测试数据分析方法的流程示意图；
[0012]图2为一个实施例中板级测试方法的流程示意图。
【具体实施方式】
[0013]为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的【具体实施方式】仅仅用以解释本发明，并不限定本发明的保护范围。
[0014]一个实施例中板级测试数据分析方法，在待测板进行测试后，对得到的测试数据进行区间划分，分析各个区间数据，逐级对不同偏差率范围内的数据进行时间定位，建立所述待测板的生命周期模型，计算所述待测板的实际测量值和理论目标值的偏差，获得所述待测板的耗损情况及返修率。
[0015]从以上描述可知，本方法具备完整的数据分析体系，评估预测产品的生命周期，了解产品的耗损情况，进一步对产品进行维修。
[0016]作为一个实施例，所述测试根据待测板信息和测试类型生成测试方案，无需人工预设测试案例，自动生成一套合理的测试方案进行测试，节省了人力及成本。
[0017]作为一个实施例，在所述待测板进行测试后获取测试时间并记录。
[0018]作为一个实施例，在所述待测板进行测试后进行停止判别，判别结果由用户指令和测试目标门限值共同决定，当用户给出结束指令或者测试结果超出目标门限值时，测试停止并保存数据切断待测板供电。
[0019]作为一个实施例，在所述待测板进行测试后每记录η条数据就自动清除缓存，并将数据存至指定位置，η为预设条数，保持计算机良好的运行速度，提升测试效率。
[0020]为了更好地理解本发明，以下详细阐述一个本方法的应用实例:
[0021]如图1所示，板级测试数据分析方法的流程示意图，在待测板进行测试后，将测试数据导入，根据测试类型及数据形态对测试结果进行分类，用户只需选择自己关心的内容进行显示，同时，支持对特定区间进行分析，用户可以按照时间选择需要查看的数据，避免了因数据量庞大而增加的工作量。当区间选定完毕，对所选数据进行绘图，形成直观的数据走向，用户可以从中获得最大值、最小值、平均值、测试坏点时间，及输入输出对比等，对于偏离测试指标及异常状态下获得的数据会加以突出显示，以提高用户的关注度。在进行了初步数据分析后，会对测试得到的数据进行区间划分，分析各个区间数据，逐级对不同偏差率范围内的数据进行时间定位，然后建立起待测板生命周期模型，计算待测板实际测量值和理论目标值的偏差，估算和推测产品生命周期的未来走势，并进一步计算产品的耗损情况、一年返修率、两年返修率以及报废年限等，当所有数据分析操作结束后，提供分析结论，并结合测试条件及待测板运行状态假设可能产生的原因，最后可生成一份数据分析报告，作为用户二次分析的依据。
[0022]如图2所示,板级测试方法的流程示意图，首先通过串口、网口、USB、zigbee等通信方式连接计算机与待测板，并将测试软件按照所属通信方式进行正确配置；由建立连接发起方尝试首次握手，通过一问一答的通信处理机制与待测板进行数据交互，在指定的响应时间内，如果接收到预期数据，说明通信建立完毕，测试软件可进行正常信息索取；当正常通信建立成功后，测试软件向待测板的MCU发起信息查询命令，主要包括待测板型号、告警门限、测试指标、测试条件等，当信息正确获取后，选择需要测试的类型，主要有可靠性模拟、应用场景变化模拟及用户操作模拟3个待选项，根据选择，自行制定一套测试方案:1)当选择可靠性模拟后，分别从正常、异常通信及EEPROM/FLASH等寄存器的读写方向进行验证工作稳定性；2)当选择应用场景变化模拟时，测试环境及异常状态就变成了测试的重点，通过控制高低温箱来营造高温/低温环境，同时伴随周而复始的上掉电测试及定期设备复位，使待测板充分体验了实际应用环境的复杂度，对待测板的设计质量提出了考验；3)在用户操作模拟中，主要是针对模拟告警，及人为误操作而进行的组合逻辑测试，旨在验证待测板在异常情况下的自愈及自我保护功能。需要强调的是，可根据各自需要选择是否进行该项测试或者放弃。当所有测试项最终确立后，结合获取的待测板信息，生成测试案例，并开始执行测试流程。
[0023]一个实施例中板级测试数据分析装置，包括数据分析模块，用于在待测板进行测试后，对得到的测试数据进行区间划分，分析各个区间数据，逐级对不同偏差率范围内的数据进行时间定位，建立所述待测板的生命周期模型，计算所述待测板的实际测量值和理论目标值的偏差，获得所述待测板的耗损情况及返修率。
[0024]本装置为复杂的工程模拟测试提供便捷有效的测试数据分析方法，降低数据解析难度，适合应用。
[0025]作为一个实施例，所述测试根据待测板信息和测试类型生成测试方案，无需人工预设测试案例，自动生成一套合理的测试方案进行测试，节省了人力及成本。
[0026]作为一个实施例，还包括计时模块，用于在所述待测板进行测试后获取测试时间并记录。
[0027]作为一个实施例，还包括停止判别模块，用于在所述待测板进行测试后进行停止判别，判别结果由用户指令和测试目标门限值共同决定，当用户给出结束指令或者测试结果超出目标门限值时，测试停止并保存数据切断待测板供电。
[0028]作为一个实施例，还包括定期处理模块，用于在所述待测板进行测试后每记录η条数据就自动清除缓存，并将数据存至指定位置，η为预设条数，保持计算机良好的运行速度，提升测试效率。
[0029]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【权利要求】
1.一种板级测试数据分析方法，其特征在于，在待测板进行测试后，对得到的测试数据进行区间划分，分析各个区间数据，逐级对不同偏差率范围内的数据进行时间定位，建立所述待测板的生命周期模型，计算所述待测板的实际测量值和理论目标值的偏差，获得所述待测板的耗损情况及返修率。
2.根据权利要求1所述的板级测试数据分析方法，其特征在于，所述测试根据待测板信息和测试类型生成测试方案。
3.根据权利要求1所述的板级测试数据分析方法，其特征在于，在所述待测板进行测试后获取测试时间并记录。
4.根据权利要求1所述的板级测试数据分析方法，其特征在于，在所述待测板进行测试后进行停止判别，判别结果由用户指令和测试目标门限值共同决定。
5.根据权利要求1所述的板级测试数据分析方法，其特征在于，在所述待测板进行测试后每记录η条数据就自动清除缓存，并将数据存至指定位置，η为预设条数。
6.一种板级测试数据分析装置，其特征在于，包括数据分析模块，用于在待测板进行测试后，对得到的测试数据进行区间划分，分析各个区间数据，逐级对不同偏差率范围内的数据进行时间定位，建立所述待测板的生命周期模型，计算所述待测板的实际测量值和理论目标值的偏差，获得所述待测板的耗损情况及返修率。
7.根据权利要求6所述的板级测试数据分析装置，其特征在于，所述测试根据待测板信息和测试类型生成测试方案。
8.根据权利要求6所述的板级测试数据分析装置，其特征在于，还包括计时模块，用于在所述待测板进行测试后获取测试时间并记录。
9.根据权利要求6所述的板级测试数据分析装置，其特征在于，还包括停止判别模块，用于在所述待测板进行测试后进行停止判别，判别结果由用户指令和测试目标门限值共同决定。
10.根据权利要求6所述的板级测试数据分析装置，其特征在于，还包括定期处理模块，用于在所述待测板进行测试后每记录η条数据就自动清除缓存，并将数据存至指定位置，η为预设条数。
【文档编号】G06F19/00GK103761432SQ201410015337
【公开日】2014年4月30日 申请日期:2014年1月13日 优先权日:2014年1月13日
【发明者】王雪, 骆云 申请人:京信通信系统（中国）有限公司