一种模块化aoi定位方法、系统及烧录ic设备的制作方法
【专利摘要】本发明所提供的一种模块化AOI定位方法、系统及烧录IC设备，采用模块化的方式对烧录IC设备进行IC定位，模块化指的是将控制IC定位系统的各个模块通过一定的软件开发平台打包成动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。此系统运用了多方向式计算功能，提高了检测速度，并采用标准影像校正手法提高了检测精度；同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间，加快了产品开发速度。
【专利说明】一种模块化八01定位方法、系统及烧录10设备
【技术领域】
[0001]本发明涉及X烧录【技术领域】，尤其涉及的是一种模块化八01定位方法、系统及烧录设备。
【背景技术】
[0002]国内的X烧录行业中，虽然自动化烧录产业已开发多年，但八01定位检测系统还没跟上国际脚步、特别是在X检测领域，相关开发技术人员的不足、市场对八01检测不了解、定位精度低等诸多问题一直导致此系统无法持续开发生产。传统人工检测方式，容易造成企业质量难以把关，同时也大大降低X产出效率，更严重的导致企业无法拿到更多订单，也因质量问题无法与更高端商品合作，对于企业来说，这样的损失是长久的。
[0003]因此，现有技术有待改进和提尚。
【发明内容】
[0004]鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种模块化八01定位方法、系统及烧录X设备，旨在解决现有的X烧录行业中X定位精度低的问题。
[0005]本发明的技术方案如下:
一种模块化八01定位方法，用于对烧录X设备进行X定位，其中，所述方法包括步骤: 八、加载烧录冗图片，并对所述烧录冗图片进行图像功能调整；
8、获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；
匕若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行冗0比对；
0、若所述比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录X设备进行X定位。
[0006]所述模块化八01定位方法，其中，所述步骤八中获加载所述烧录X图片包括步骤: 开启四个线程，设置所述烧录冗图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。
[0007]所述模块化八01定位方法，其中，所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
[0008]所述模块化八01定位方法，其中，所述步骤中冗0比对包括步骤:
01、取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；
02、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；
03、取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X八偏移量。
[0009]所述模块化八01定位方法，其中，所述步骤0中图像校正具体包括步骤:
01、预先设置一校正块，将所述校正块置于下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线； 02、根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；
03、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
[0010]所述模块化八01定位系统，其中，所述定位系统包括:
加载调整图片模块，用于加载烧录X图片，并对所述烧录X图片进行图像功能调整；可用区域判断模块，用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；
000比对模块，用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行比对；
图像校正模块，用于若所述冗0比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录X设备进行X定位；
所述加载所述烧录冗图片包括:开启四个线程，设置所述冗图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据；
所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
[0011]所述模块化八01定位系统，其中，所述冗0比对模块还包括:
可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；
中心位置计算单元，用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；
偏移值计算单元，用于取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X八偏移量。
[0012]所述模块化八01定位系统，其中，所述图像校正模块还包括:
长度值获取单元，用于预先设置一校正块，将所述校正块置于下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；
像素长度值对应单元，用于根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；
校正标准设定单元，用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
[0013]所述模块化八01定位系统，其中，还包括:
动态库建立模块，用于将所述加载调整图片模块、可用区域判断模块、000比对模块和图像校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录X的定位操作。
[0014]一种烧录X设备，其中，包括以上任一项所述的模块化八01定位系统。
[0015]本发明所提供的一种模块化八01定位方法、系统及烧录X设备，采用模块化的方式对烧录X设备进行X定位，模块化指的是将控制X定位系统的各个模块通过一定的软件开发平台打包成动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录X的定位操作。此系统运用了多方向式计算功能，提高了检测速度，并采用标准影像校正手法提高了检测精度；同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间，加快了产品开发速度。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]图1为本发明的模块化八01定位方法的较佳实施例流程图。
[0017]图为本发明的模块化八01定位方法的应用实施例示意图。
[0018]图3为本发明的模块化八01定位系统的功能模块图。
【具体实施方式】
[0019]本发明提供一种模块化八01定位方法、系统及烧录X设备，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0020]请参阅图1，其为本发明的模块化八01定位方法的较佳实施例流程图。如图所示，所述模块化八01定位方法包括以下步骤:
3101、加载烧录X图片，并对所述烧录X图片进行图像功能调整。
[0021]本发明实施例中，在加载所述烧录X图片时，通过开启四个线程，设置所述烧录X图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据，这样做可以加快图片数据读取的速度。加载后，进一步对所述烧录X图片进行图像功能调整，所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
[0022]本发明采用模块化的架构方式，模块化方式就是将这些已完成验证的程序打包程动态库并开放基本图片处理功能如:图片亮度调整、二值化、锐利化…等功能。这些功能可以照不同光源不同图片调整、只需要输入参数、所以减少了程序员测试时间。
[0023]如图％所示为本发明实施例中的原始图像示意图，经过二值化、调整亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值后，如图26所示为功能调整后的图像示意图。
[0024]3102、获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域。
[0025]3103、若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行比对。
[0026]所述比对具体包括步骤:
01、取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；
02、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；
03、取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X八偏移量。
[0027]如图2^所示为(:0)比对示意图，根据以上步骤得出该图像的偏移角度和X八偏移量。
[0028]3104、若所述比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录X设备进行X定位。
[0029]所述图像校正具体包括步骤:
01、预先设置一校正块，将所述校正块置于下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线； 02、根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；
03、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
[0030]例如，购买一块专业校正块(此校正块必须定期回厂检验),将此校正块置于下方、利用绘图手法、划出相等于校正块长度的直线，如测定所述直线的长度为5臟；进一步计算出即5111111所对应的图像像素值为多少，然后再计算出11)1X61 = ？臟，即计算出像素值为1时所对应的长度值为多少。例如，若5111111 = 200^)1x61、则可知11)1x61 =
0.025111111。将11)1X61 = 0.025111111作为一个校正的标准，将可用区域的所有像素点进行图像校正。
[0031]基于上述实施例，本发明还提供一种模块化八01定位系统，如图3所示，包括: 加载调整图片模块100，用于加载烧录X图片，并对所述烧录X图片进行图像功能调整；具体如上所述。
[0032]可用区域判断模块200，用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；具体如上所述。
[0033]比对模块300，用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行比对；具体如上所述。
[0034]图像校正模块400，用于若所述比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录X设备进行X定位；具体如上所述。
[0035]进一步地，所述加载所述烧录X图片包括:开启四个线程，设置所述X图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。
[0036]进一步地，所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
[0037]进一步地，所述比对模块还包括:
可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；具体如上所述。
[0038]中心位置计算单元，用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；具体如上所述。
[0039]偏移值计算单元，用于取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X八偏移量。
[0040]进一步地，所述图像校正模块还包括:
长度值获取单元，用于预先设置一校正块，将所述校正块置于下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；具体如上所述。
[0041]像素长度值对应单元，用于根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；具体如上所述。
[0042]校正标准设定单元，用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正；具体如上所述。
[0043]进一步地，所述模块化八01定位系统还包括: 动态库建立模块，用于将所述加载调整图片模块、可用区域判断模块、000比对模块和图像校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录X的定位操作。
[0044]基于上述实施例，本发明还提供一种烧录X设备，本实施例所述的烧录X设备包括上述所述的模块化八01定位系统。
[0045]综上所述，本发明所提供的一种模块化八01定位方法、系统及烧录X设备，采用模块化的方式对烧录X设备进行X定位，模块化指的是将控制X定位系统的各个模块通过一定的软件开发平台打包成动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录X的定位操作。此系统运用了多方向式计算功能，提高了检测速度，并采用标准影像校正手法提高了检测精度；同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间，加快了产品开发速度。
[0046]应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
【权利要求】
1.一种模块化AOI定位方法，用于对烧录IC设备进行IC定位，其特征在于，所述方法包括步骤: A、加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整； B、获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域； C、若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对； D、若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位。
2.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述步骤A中获加载所述烧录IC图片包括步骤: 开启四个线程，设置所述烧录IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。
3.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
4.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述步骤C中CCD比对包括步骤: Cl、取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位； C2、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置； C3、取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
5.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述步骤D中图像校正具体包括步骤: D1、预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线； D2、根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为I时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系； D3、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
6.—种如权利要求1所述的模块化AOI定位系统，其特征在于，所述定位系统包括: 加载调整图片模块，用于加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整； 可用区域判断模块，用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域； CCD比对模块，用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对； 图像校正模块，用于若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位； 所述加载所述烧录IC图片包括:开启四个线程，设置所述IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据； 所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
7.根据权利要求6所述的模块化AOI定位系统，其特征在于，所述CCD比对模块还包括: 可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位； 中心位置计算单元，用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置； 偏移值计算单元，用于取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
8.根据权利要求6所述的模块化AOI定位系统，其特征在于，所述图像校正模块还包括: 长度值获取单元，用于预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线； 像素长度值对应单元，用于根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为I时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系； 校正标准设定单元，用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
9.根据权利要求6所述的模块化AOI定位系统，其特征在于，还包括: 动态库建立模块，用于将所述加载调整图片模块、可用区域判断模块、CCD比对模块和图像校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。
10.烧录IC设备，其特征在于，包括权利要求6至9任一项所述的模块化AOI定位系统。
【文档编号】G06K9/32GK104504386SQ201410740537
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月8日 优先权日:2014年12月8日
【发明者】周秋香 申请人:深圳市浦洛电子科技有限公司