专利名称：分布式烧录系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种烧录系统，特别是涉及一种分布式烧录系统。
背景技术：
图1A是现有习知集中式烧录系统100的示意图。该集中式烧录系统100包含 一烧录控制单元110、电源装置120以及多数的烧录装置130。
烧录控制单元110可以是一电脑系统，但并不以此为限，烧录控制单元110可提供烧录数据至该些多数的烧录装置130，烧录数据包含控制信号(control signal)、输出输入信号(1/0 signal)等，其中输出输入信号包含地址(address)与数据(data);电源装置120可4C供所需要的电源至该些多数的烧录装置130;前述烧录数据及电源可通过一连接装置140传送至该些多数的烧录装置130。
图1B是图1A中，烧录装置130的功能示意图。烧录装置130具有多数的芯片插座131以及一总线135。每一芯片插座131可容纳一待烧录的芯片50，该芯片50可为非易失性存储器，例如快闪存储器(Flash Memory)、快闪存储卡(Flash Memory Card)或可擦除可编程式只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory: EEPROM)等；连接装置14G可具有一插槽，烧录装置130可将总线135插入连接装置140的该插槽，藉以传送前述烧录数据及电源。
图IC是图IB中，烧录装置130的电路示意图。前述烧录数据藉由烧录装置130的数据地址线136传送至每一芯片插座131内的芯片50;前述电源则藉由烧录装置130的电源线137与接地线138传送至每一芯片插座131内的芯片50。亦即每一芯片50皆共用相同的控制信号、输出输入信号以及电源。藉由前述的集中式烧录系统100，大量的芯片50可藉由相同的控制信号、输出输入信号以及电源，同时进行烧录。
然而，当其中一个芯片50产生烧录问题时，其他的芯片50有可能会受影响而无法烧录，例如单一芯片50因产生烧录问题而导致数据地址线136短路至接地线138,此时其他共用数据地址线136的芯片50将会因此无法得到适当的控制信号或输出输入信号，进而导致所有共用数据地址线136的芯片50烧录失败；另外由于电源线137与接地线138也是共用，当其中一个芯片50产生烧录问题而导致电源线137短路至接地线138时，此时其他共用电源线137与接地线138的芯片50将会因此无法得到适当的电源，进地线138的芯片50烧录失败。
因此，集中式烧录系统100的单一芯片50发生烧录问题，将会影响共用信号或电源，而导致所有共用信号或电源的芯片50烧录失败或损毁。另外，每一个芯片50的反应时间(polling time)不同，集中式烧录系统100无法即时针对个别芯片50进行适当的处置，需要所有芯片50确认烧录/读回步骤完成后，再针对个别未完成烧录/读回步骤确认的芯片50进行检查，来回耗费相当的时间，且烧录过程中发生问题的芯片50无法个别将其关闭。
由此可见，上述现有的集中式烧录系统在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型结构的分布式烧录系统，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。
有鉴于上述现有的集中式烧录系统存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的分布式烧录系统，能够改进一般现有的集中式烧录系统，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，克服现有的集中式烧录系统存在的缺陷，而提供一种新型结构的分布式烧录系统，所要解决的技术问题是使其可分别进行芯片的烧录与控制，单一芯片发生问题不会影响其他芯片的烧录，藉以提升烧录的效率，非常适于实用。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种分布式烧录系统，其包含 一烧录控制单元；以及至少
一烧录装置，该烧录装置具有多数的芯片插座及至少一控制芯片，该控制芯片分别连接该多数的芯片插座，该控制芯片可接收该烧录控制单元的一烧录数据，且该控制芯片可分别控制设置于该芯片插座内的芯片的烧录。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的分布式烧录系统，其中所述的芯片插座分别连接至一电源线及一接地线，该芯片插座与该接地线之间连接一限流装置。
前述的分布式烧录系统，其中所述的芯片插座与该电源线之间连接一开关装置，该控制芯片可控制该开关装置。
前述的分布式烧录系统，其中所述的控制芯片的 一芯片接脚仅连接至该些芯片插座的 一插座接脚。前述的分布式烧录系统，其中所述的烧录装置可以是设置于一预烧系 统内部，该预烧系统可提供一测试环境，藉以对容置于该芯片插座的该芯片 进行预烧测试。
本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本
发明提出的一种烧录装置，应用于预烧测试(burn-in test),该烧录装置 包含 一电路板；多数的芯片插座，该芯片插座可设置于该电路板，该芯 片插座容置一芯片以及至少一控制芯片，该控制芯片设置于该电路板，该 控制芯片分别连接该多数的芯片插座，该控制芯片可接收由一预烧系统所 传送的一烧录数据，且该控制芯片分别可控制该多数的芯片的烧录。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的分布式烧录装置，其中所述的芯片插座分别连接至一电源线及 一接地线，该芯片插座与该接地线之间连接一限流装置。
前述的分布式烧录装置，其中所述的芯片插座与该电源线之间连接一 开关装置，该控制芯片可控制该开关装置。
前述的分布式烧录装置，其中所述的控制芯片的 一 芯片接脚仅连接至 该些芯片插座的 一插座接脚。
前述的分布式烧录装置，其中所述的该烧录装置是设置于该预烧系统 内部，该预烧系统可提供一测试环境，藉以对容置于该芯片插座的该芯片进 行预烧测试。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为达 到上述目的，本发明提供了一种分布式烧录系统，包含: 一烧录控制单元；以 及至少一烧录装置。该烧录装置具有多数的芯片插座及至少一控制芯片，该 控制芯片分别连接该多数的芯片插座，该控制芯片可接收该烧录控制单元 的一烧录数据，且该控制芯片可分别控制设置于该芯片插座内的芯片的烧 录。
借由上述技术方案，本发明分布式烧录系统至少具有下列优点及有益 效果本发明的功效在于提供一种分布式烧录系统，可分别进行芯片的烧 录与控制，单一芯片发生问题不会影响其他芯片的烧录，因此烧录的效率可 大幅提升。
综上所述，本发明是一种分布式烧录系统，包含 一烧录控制单元；以及 至少 一烧录装置。该烧录装置具有多数的芯片插座以及至少 一控制芯片，该 控制芯片分别连接该多数的芯片插座，该控制芯片可接收该烧录控制单元 的一烧录数据，且该控制芯片可分别控制设置于该芯片插座内的芯片的烧 录。本发明具有上述优点及实用价值，其不论在系统结构或功能上皆有较 大改进，在技术上有显著的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的 集中式烧录系统具有增进的突出功效，从而更加适于实用，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的 技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和 其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附
图，详细i^明如下。
图1A是现有习知集中式烧录系统的示意图。
图1B是图1A中，烧录装置的功能示意图。
图1C是图1B中，烧录装置的电路示意图。
图2A是根据本发明一较佳实施例的分布式烧录系统的示意图
图2B是图2A中，烧录装置的示意图。
图2C是图2B中，烧录模块的电路示意图。
图2D是图2C中，控制芯片的控制流程图。50:芯片100:集中式烧录系统
110烧录控制单元120:电源装置
130烧录装置131:芯片插座
135:总线136:数据位址线
137:电源线138: 4妄地线
140连接装置200:分布式烧录系统
210烧录控制单元220:电源装置
230烧录装置231:烧录模块
232芯片插座233:电路板
234总线235:控制芯片
236开关装置237:电源线
238.接地线239:限流装置
240连接装置280:预烧测试装置
500控制流程510:开始
520:提供电源530:确认料号
540::晓录/读回550:确认芯片反应时间
560:芯片逾时3次565:停止芯片插座电源
570:确认最终数据580:停止电源
590:停止2341:把手
2321:第一芯片插座2322:第二芯片插座
2323:第三芯片插座2324:第四芯片插座
2331:第一数据地址线2332:第二数据地址线
62333:第三数据地址线 2334:第四数据地址线
具体实施例方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功 效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的分布式烧录系统其具 体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
本发明的一些实施例将详细描述如下。然而，除了以下描述外，本发明
还可以广泛地在其他实施例施行，并且本发明的保护范围并不受实施例的
限定，其以权利要求的保护范围为准。再者，为提供更清楚的描述及更容易
理解本发明，图式内各部分并没有依照其相对尺寸绘图，某些尺寸与其他
相关尺度相比已经被夸张；不相关的细节部分也未完全绘示出，以求图式的 s '、士
间/a 。
图2A是根据本发明一较佳实施例的分布式烧录系统200的示意图。本 发明较佳实施例的分布式烧录系统200，包含 一烧录控制单元210、电源 装置220以及至少一烧录装置230。
本实施例中，烧录装置230可以是一预烧板(burn-in board)，应用于 芯片的预烧测试(burn-in test),烧录装置230与连接装置240是设置于 一预烧测试装置(burn-in test device) 280的内部，该预烧测试装置280 可提供一测试环境，藉以进行芯片的预烧测试，但并不以此为限，烧录装 置230也可以设置于其他位置，或是设置于预烧测试装置280的内部，但不 进行芯片的预烧测试。
图2B是图2A中，烧录装置230的示意图。该烧录装置230包含一电 路板233、多数的烧录模块231。该些烧录模块231是设置于该电路板233 上，且每一烧录模块231包含多数的芯片插座232以及至少一控制芯片 235。其中，每一芯片插座232可容置一芯片50，且该控制芯片235分别连 接该多数的芯片插座232，该控制芯片235接收由烧录控制单元210所传送 的一烧录数据，分别控制该些芯片50的烧录，烧录数据包含控制信号 (control signal)、输出输入信号(1/0 signal)等，其中输出输入信号包 含地址(address)与数据(data);芯片50可为非易失性易失性存储器，例 如快闪存储器(Flash Memory)、快闪存4诸卡(Flash Memory Card)或可4察除 可编程只读式存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory: EEP画)等。
根据本实施例，电路板233可包含一把手2341，藉以方便抽取，另外，电 路板233可具有至少一总线234,该总线234可以插入连接装置240的一插 槽，烧录控制单元210所传送的烧录数据藉由该总线234传送至该控制芯片 235,但并不以此为限，烧录数据也可以藉由其他电性连接方式传送至该控制芯片235。
图2C是图2B中，烧录模块231的电路示意图。其中，芯片50的数量仅 用以说明本发明的特点，并不以此为限。控制芯片235藉由第一数据地址 线2331、第二数据地址线2332、第三数据地址线2333、第四数据地址线 2334分别连接至第一芯片插座2321、第二芯片插座2322、第三芯片插座 2323以及第四芯片插座2324，该控制芯片235可分别控制每一芯片50的 烧录，其中，控制芯片235的一芯片接脚仅连接至该些芯片插座2321-2324 的一插座接脚。
当单一芯片50发生烧录问题时，由于每一芯片50是藉由独立的数据地 址线2331-2334分别连接至控制芯片235，其他芯片50仍然可以得到适当 的控制信号或输出输入信号，不会因此受到影响。另外，由于每一芯片50 是藉由独立的数据地址线2331-2334分别连接至控制芯片235，每一芯片 50的控制接脚(control pin)可分别连接至控制芯片235，藉此，控制芯片 235可即时侦测每一芯片50的烧录状况，并进行适当的处置。
另外，每一芯片插座2321-2324分别连接电源线237及接地线238,其 中，每一芯片插座2321-2324与接地线238之间具有一限流装置239，根据本 实施例，该限流装置239是一保险丝，但并不以此为限，该限流装置239 也可以是其他用以避免短路的电子元件。当芯片50发生问题而使电源线2 37 与接地线238之间发生短路时，限流装置239可即时切断芯片50与接地线 238之间的电性连接，藉此可避免影响其他芯片50的电源供应。
此外，电源 线237与每一芯片插座2321-2324之间可以分别设置一开 关装置236,控制芯片235可连接至该开关装置236,藉以控制该开关装置 236。当芯片50发生烧录问题时，控制芯片235可控制该开关装置236而 停止供应电源至芯片50,藉此可避免芯片50损毁。根据本实施例，该开关 装置236是一继电器(relay),但并不以此为限，该开关装置236也可以是 其他可由控制芯片235进行断路的电子元件。
图2D是图2C中，控制芯片235的控制流程图。本实施例中，控制芯 片 235是 一 现场可编程门阵列芯片(Field-Programmable Gate Array, FPGA)，藉由特定的程序(code )输入至该控制芯片235，可使该控制 芯片235具有特定的功能，但并不以此为限，控制芯片235也可以是其他控 制装置。
藉由前述分布式烧录系统200,进行芯片50烧录时，控制芯片235的控 制流程50(H兌明如下
(1 )首先，进行步骤510，开始控制流程500。 (2)接着，进行步骤520，提供电源至芯片50。
(3 )接着，进行步骤530，确认芯片50的料号与烧录数据是否相符，当料号确认成功时，则进行下一步骤；当料号确认失败时，进行步骤565，停止芯 片插座电源/停止烧录动作，并且进行步骤590,停止控制流程500。
(4)接着，进行步骤540，将烧录数据烧录至芯片50，并接着将芯片50 上的已烧录的数据读回，进行烧录数据的比对，藉以确认烧录状况是否正常。
(5 )接着，进行步骤550，确认芯片50的烧录反应时间是否正常，当芯片 50的反应时间正常时，则进行下一步骤；当芯片50的反应时间异常时，进 行步骤560，判断芯片50的反应时间是否已逾时3次，若芯片50的反应时 间逾时未达3次，则回到步骤540,再次进行烧录/读回的动作；若芯片50 的反应时间逾时已达3次，显示该芯片50发生问题，则进行步骤565,停止 芯片插座电源/停止烧录动作，并且进行步骤590,停止控制流程500。
(6)接着，进行步骤570,确认芯片50的数据是否为最终数据，当芯片 50的数据已是最终数据时，代表烧录数据已经完全烧录于芯片50，则进行 步骤580，停止芯片插座电源，并且进行步骤590,停止控制流程500;当芯 片50的数据并非最终数据时，则回到步骤540，继续进行烧录/读回的动作。
藉由本发明的分布式烧录系统，可分别进行芯片的烧录与控制，单一芯 片发生问题不会影响其他芯片的烧录，因此烧录的效率可大幅提升。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式 上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发 明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利 用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但 凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例 所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围 内。
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权利要求
1、一种分布式烧录系统，其特征在于其包含一烧录控制单元；以及至少一烧录装置，该烧录装置具有多数的芯片插座以及至少一控制芯片，该控制芯片分别连接该多数的芯片插座，该控制芯片接收该烧录控制单元的一烧录数据，且该控制芯片分别控制设置于该芯片插座内的芯片的烧录。
2、 根据权利要求1所述的分布式烧录系统，其特征在于其中所述的芯片插座分别连接至一电源线及一接地线，该芯片插座与该接地线之间连接一限流装置。
3、 根据权利要求2所述的分布式烧录系统，其特征在于其中所述的芯片插座与该电源线之间连接一开关装置，该控制芯片控制该开关装置。
4、 根据权利要求1所述的分布式烧录系统，其特征在于其中所述的控制芯片的 一 芯片接脚仅连接至该些芯片插座的 一插座接脚。
5、 根据权利要求1所述的分布式烧录系统，其特征在于其中所述的烧录装置是设置于一预烧系统内部，该预烧系统提供一测试环境，藉以对容置于该芯片插座的该芯片进行预烧测试。
6、 一种烧录装置，应用于预烧测试，其特征在于该烧录装置包含一电路板；多数的芯片插座，该芯片插座设置于该电路板，该芯片插座容置一 芯片；以及至少一控制芯片，该控制芯片设置于该电路板，该控制芯片分别连接该多数的芯片插座，该控制芯片接收由一预烧系统所传送的一烧录数据，且该控制芯片分别控制该多数的芯片的烧录。
7、 根据权利要求6所述的分布式烧录装置，其特征在于其中所述的芯片插座分别连接至一电源线及一接地线，该芯片插座与该接地线之间连接一限流装置。
8、 根据权利要求7所述的分布式烧录装置，其特征在于其中所述的芯片插座与该电源线之间连接一开关装置，该控制芯片控制该开关装置。
9、 根据权利要求6所述的分布式烧录装置，其特征在于其中所述的控制芯片的 一芯片接脚仅连接至该些芯片插座的一插座接脚。
10、 根据权利要求6所述的分布式烧录装置，其特征在于其中该烧录装置是设置于该预烧系统内部，该预烧系统提供一测试环境，藉以对容置于该芯片插座的该芯片进行预烧测试。
全文摘要
本发明是有关于一种分布式烧录系统，其包含一烧录控制单元；以及至少一烧录装置，该烧录装置具有多数的芯片插座及至少一控制芯片，该控制芯片分别连接该多数的芯片插座，该控制芯片接收该烧录控制单元的一烧录数据，且该控制芯片分别控制设置于该芯片插座内的芯片的烧录。本发明可分别进行芯片的烧录与控制，单一芯片发生问题不会影响其他芯片的烧录，因此烧录的效率可大幅提升。
文档编号G11C16/10GK101685673SQ20081016774
公开日2010年3月31日 申请日期2008年9月27日 优先权日2008年9月27日
发明者刘大纲, 柯文煌 申请人:京元电子股份有限公司