专利名称：信息处理设备和方法以及程序的制作方法
技术领域：
本发明涉及信息处理设备和方法以及程序，具体而言涉及可以用来以更精确的方式执行激光束(laser beam)的发射输出水平(emission output level)的控制的校准(calibration)的信息处理设备和方法以及程序。
背景技术：
对于可记录光盘的驱动设备等等，信息的写入或读取是通过将激光束 照射在光盘上来执行的，但是对发射功率(光输出水平)的控制是利用 APC (自动功率控制)电路来执行的，以使得当时激光束的发射功率(光 输出水平)变为适当的值。对于激光束来说，就以下功率而言适当的值是相互不同的作为在读 出光盘中记录的信息时的发射功率的读取功率(读取光输出水平)、作为 在冷却光盘表面时的发射功率的冷却功率(冷却光输出水平)、作为在擦 除光盘中记录的信息时的发射功率的擦除功率(擦除光输出水平)以及作 为在光盘中写入信息时的发射功率的峰值功率(峰值光输出水平)。APC 电路控制每种状态中的发射功率，以便在相互不同的通道处获得适当的 值。这种APC电路通过基于经由对从激光二极管输出的激光束进行检测 (光电转换)而反馈的电压水平来控制要提供给激光二极管的电流值的指 示值，从而来执行对发射功率的控制。近年来，光盘密度的增大以及写入处理和读取处理的速度的增大己经 有所发展，并且随之而来地，发射功率的容许范围(裕量)的降低已经有 所发展。因此，需要改善APC电路对发射功率的控制的精确度。迄今为止，即使在写入时，对发射功率的控制也是在冷却功率、擦除 功率和峰值功率的所有通道处执行的，但是利用这种方法，关于速度增大的处理是困难的，因此近年来这种方法没有被频繁地使用。近年来， 一种 在一部分通道处控制发射功率并且基于通道之间的关系间接地控制其他通 道的方法成为了主流。但是，在这种情况下，发射功率控制的精确度可能 降低。因此，为了提高发射功率控制的精确度，已经有了这样一种方法，该 方法通过多次执行对激光束的检测并且使用其平均值，来执行对发射功率的控制(例如，参见日本未实审专利申请公布No. 03-295036以及日本未 实审专利申请公布No. 07-181605)。另外，已经有了一种方法，用于基于检测到的激光束的幅度来生成指 示操作质量的参数，并且基于该参数来执行对发射功率的控制(例如，参 见日本未实审专利申请公布No. 2006-527453)。另外，例如，已经有了一种方法，用于针对擦除功率控制执行校准， 并且基于其校准结果和通道之间的关系来执行对其他通道的控制的校准， 从而提高精确度。发明内容但是，利用这些方法获得的功率设定的精确度取决于电路的精确度和 精确度的匹配。近年来，为了应对就介质类型和双速设定而言的多样性， 希望满刻度地增大电流，因此，对于电路精确度和精确度匹配，有可能难 以得出绝对精确度。具体地，近年来， 一种布置已经成为主流，其中只有最终一级被安装 在作为LDD (激光二极管驱动器)的OP (光学拾取器)上，而APC被安 装在驱动基板上。从而，如果进行一种布置，其中用于控制光输出的系统 由相互分离的多个电路配置而成，则有可能对于整个系统来说，对于电路 精确度和精确度匹配，难以得出绝对精确度。已经发现，希望能够以更高的精确度来执行对激光束的发射输出水平 的控制的校准。根据本发明的一个实施例， 一种信息处理设备用于执行光输出水平控 制单元的校准，该光输出水平控制单元用于通过在多个通道中控制提供给发射单元的电流的电流值来控制发射单元发射并输出的激光束的光输出水 平，该发射单元用于发射并输出具有根据所提供的电流的电流值的光输出 水平的激光束，该信息处理设备包括校准单元，该校准单元被配置为就光 输出水平控制单元的多个通道中的一部分或全部而言针对每个通道执行校 准处理，其中发射单元被控制为发射并输出具有多个不同的光输出水平的 激光束，光输出水平控制单元被控制为检测与每个光输出水平相对应的电 流值的指示值，指示值和光输出水平之间的关系被获得，并且与目标光输 出水平相对应的指示值根据该关系被调节。作为校准处理，针对每个通道，校准单元可以控制发射单元发射并输 出具有多个不同光输出水平的激光束，控制光输出水平控制单元检测与每 个光输出水平相对应的电流值的指示值，基于多个检测结果获得指示值和 光输出水平之间的关系，并且根据该关系获得与目标光输出水平相对应的 指示值。校准单元在执行校准处理时，可以控制光输出水平控制单元中不是校 准处理的目标的另一通道，以利用与正常操作时的情况中相同的指示值来 控制电流。发射单元可以是激光二极管，用于将激光束照射在安装于光盘驱动设备的预定位置的光盘上；其中，光输出水平控制单元利用相互不同的通道 来控制读取光输出水平、冷却光输出水平、擦除光输出水平、以及峰值光 输出水平，其中读取光输出水平是在读出光盘中记录的信息时激光束的光 输出水平，冷却光输出水平是在冷却光盘时激光束的光输出水平，擦除光 输出水平是在擦除光盘中记录的信息时激光束的光输出水平，峰值光输出 水平是在将信息写入在光盘中时激光束的光输出水平；并且，其中，校准 单元通过校准处理来校准光输出水平控制单元的与冷却光输出水平相对应 的指示值、与擦除光输出水平相对应的指示值、以及与峰值光输出水平相 对应的指示值。校准单元可以在发射单元开始对光盘进行信息的读取处理或写入处理 之前执行校准处理。校准单元可以控制光输出水平控制单元检测与读取光输出水平相对应的指示值。光输出水平控制单元可以在用于控制冷却光输出水平的通道处，通过从与读取光输出水平相对应的指示值中减去预定D/A转换器的输出，来计 算与冷却光输出水平相对应的指示值；其中，校准单元获得与冷却光输出 水平相对应的指示值，并且还从由光输出水平控制单元检测到的与读取光 输出水平相对应的指示值中减去与该冷却光输出水平相对应的指示值，从 而计算D/A转换器的指示值。光输出水平控制单元可以控制使用D/A转换器的相互不同的放大器单 元放大共同的D/A转换器的输出，从而计算与擦除光输出水平相对应的指 示值，以及与峰值光输出水平相对应的指示值；其中，校准单元在用于控 制擦除光输出水平的通道和用于控制峰值光输出水平的通道中的每一个 处，在将放大器单元的增益设定成预定值时控制光输出水平控制单元检测 每个指示值，并且控制发射单元发射并输出具有多个相互不同的光输出水 平的激光束。校准单元可以在将放大器单元的增益设定成与每个检测到的指示值相 当的值的同时，控制发射单元发射并输出具有与上次相同的多个光输出水 平的激光束，从而再次执行校准处理。校准单元可以在用于控制擦除光输出水平的通道处，在放大器单元的 增益被设定成最大的状态中检测与擦除光输出水平相对应的指示值，并且 将与检测到的与擦除光输出水平相对应的指示值相当的值作为预定值设定 成放大器单元的增益。校准单元可以在发射单元对光盘执行信息的读取处理或写入处理的同 时执行校准处理，以校准光输出水平控制单元的与擦除光输出水平相对应 的指示值和与峰值光输出水平相对应的指示值。光输出水平控制单元可以控制使用D/A转换器的相互不同的放大器单 元放大D/A转换器的共同输出，从而计算与擦除光输出水平相对应的指示 值，以及与峰值光输出水平相对应的指示值；其中，校准单元在用于控制 擦除光输出水平的通道和用于控制峰值光输出水平的通道中的每一个处， 在控制光输出水平控制单元将放大器单元的增益设定成与在先前的校准处理处检测到的每个指示值相当的值的同时，控制发射单元发射并输出具有 与先前校准处理中相同的多个光输出水平的激光束，从而控制校准处理。作为校准处理，校准单元可以在控制发射单元以第一光输出水平将激 光束照射在光盘的预定区域上时检测指示值，等待光盘旋转一次，在控制 发射单元以第二光输出水平照射激光束时检测指示值，并且根据每个检测 到的指示值和光输出水平之间的关系来调节与峰值光输出水平和擦除光输 出水平相对应的每个指示值。校准单元可以控制光输出水平控制单元多次检测指示值，从而将除了 最大值和最小值之外的多个检测值的平均值设定为检测到的指示值。根据本发明的一个实施例， 一种用于信息处理设备的信息处理方法， 用于执行光输出水平控制单元的校准，该光输出水平控制单元用于通过在 多个通道中控制提供给发射单元的电流的电流值来控制发射单元发射并输 出的激光束的光输出水平，该发射单元用于发射并输出具有根据所提供的 电流的电流值的光输出水平的激光束，该信息处理方法包括，就光输出水 平控制单元的多个通道中的一部分或全部而言，针对每个通道执行以下步 骤控制发射单元发射并输出具有多个相互不同的光输出水平的激光束； 控制光输出水平控制单元检测与每个光输出水平相对应的电流值的指示 值；获得指示值和光输出水平之间的关系；以及根据该关系调节与目标光 输出水平相对应的指示值。根据本发明的一个实施例， 一种程序使得执行光输出水平控制单元的 校准的计算机执行信息处理，该光输出水平控制单元用于通过在多个通道 中控制提供给发射单元的电流的电流值来控制发射单元发射并输出的激光 束的光输出水平，该发射单元用于发射并输出具有根据所提供的电流的电 流值的光输出水平的激光束，该信息处理包括，就光输出水平控制单元的 多个通道中的一部分或全部而言，针对每个通道执行以下步骤控制发射 单元发射并输出具有多个相互不同的光输出水平的激光束；控制光输出水 平控制单元检测与每个光输出水平相对应的电流值的指示值；获得指示值 和光输出水平之间的关系；以及根据该关系调节与目标光输出水平相对应 的指示值。根据本发明的一个实施例，对于光输出水平控制单元的多个通道中的 一部分或全部，针对每个通道，发射单元发射并输出具有多个相互不同的 光输出水平的激光束，光输出水平控制单元检测与每个光输出水平相对应 的电流值的指示值，以获得指示值和光输出水平之间的关系，并且根据该 关系来调节与目标光输出水平相对应的指示值。根据本发明，可以对激光束的发射输出水平的控制进行校准，并且尤 其可以对其进行校准以便以更精确的方式执行激光束的发射输出水平的控 制。
图1是图示出本发明的实施例被应用到的光盘驱动器的主要配置示例 的框图；图2是用于描述图1中的光学头单元的详细配置示例的图；图3是用于描述逐次比较A/D转换器的详细配置示例的框图；图4是图示出CPU具有的与校准处理有关的功能的功能框图；图5是用于描述电流累积的情形的图；图6是用于描述图2所示的配置示例的操作的图；图7是用于描述图2所示的配置示例的操作的图；图8是用于描述初始校准处理的流程示例的流程图；图9是用于描述初始校准处理的流程示例的示意图；图10是用于描述读取操作时的控制电压输入处理的流程示例的流程图；图11是图示出读取操作时的控制电压输入处理执行时光学头单元的操作的情形示例的图；图12是用于描述冷却通道(cool channel)两点校准处理的流程示例 的流程图；图13是图示出冷却通道两点校准处理执行时光学头单元的操作的情 形示例的图；图14是图示出初始校准处理的读取操作时控制电压输入处理和冷却通道两点校准处理的情形的示意图；图15是图示出目标值和P1INTM0N之间的关系的图线；图16是用于描述满刻度评估(fbll-scale evaluation)处理的流程示例的流程图；图17是图示出在针对擦除通道(erase channel)的满刻度评估处理执 行时光学头单元的各个单元的操作的情形示例的图；图18是图示出在针对峰值通道(peak channel)的满刻度评估处理执 行时光学头单元的各个单元的操作的情形示例的图；图19是用于描述擦除通道两点校准阶段1处理的流程示例的流程图；图20A和20B是图示出替换示例的示意图；图21是用于描述峰值通道两点校准阶段1处理的流程示例的流程图；图22是用于描述擦除通道两点校准阶段2处理的流程示例的流程图；图23是用于描述峰值通道两点校准阶段2处理的流程示例的流程图；图24是用于描述ERATIO@WR的计算方法的图；图25是图示出目标值和EINTMON之间的关系的图线；图26是用于描述PRATIO@WR的计算方法的图；图27是用于描述操作时的校准处理的流程示例的流程图；图28是用于描述操作时的校准处理的流程示例的示意图；图29是用于描述读取操作时的控制电压输入处理的流程示例的流程图；图30是图示出读取操作时的控制电压输入处理的情形示例的示意图；图31是用于描述读取操作时的控制电压输入处理的内容的细节的图；图32是用于描述PL校准处理的流程示例的流程图；图33是图示出PL校准处理的情形示例的示意图；图34是用于描述PL校准处理的内容的细节的图； 图35是用于描述PL校准处理的流程示例的流程图； 图36是图示出PH校准处理的情形示例的示意图； 图37是用于描述PH校准处理的内容的细节的图；以及 图38是图示出本发明的实施例被应用到的个人计算机的配置示例的 框图。
具体实施方式
在描述本发明的实施例之前，下面讨论权利要求的特征与在本发明的 实施例中参考附图或不参考附图公开的具体要素之间的对应关系。这里的 描述旨在确保本说明书中描述了支持所要求保护的发明的实施例。因而， 即使下面的实施例中的某一要素并未被描述为与本发明的某个特征相关， 也不一定意味着该要素不与权利要求的该特征相关。相反，即使某个要素 在这里被描述为与权利要求的某个特征相关，也不一定意味着该要素不与 权利要求的其他特征相关。根据本发明的一个实施例， 一种信息处理设备(例如图1中的系统控 制器11)用于执行光输出水平控制单元(例如图2中的APC 113)的校 准，该光输出水平控制单元用于通过在多个通道中控制提供给发射单元的 电流的电流值来控制发射单元(例如图2中的LD 111)发射并输出的激光 束的光输出水平，该发射单元用于发射并输出具有根据所提供的电流的电 流值的光输出水平的激光束，该信息处理设备包括校准单元(例如图4中 的初始校准处理单元221或操作校准处理单元222)，该校准单元被配置 为就光输出水平控制单元的多个通道中的一部分或全部而言针对每个通道 执行校准处理(例如图8中的步骤S4至S7)，其中发射单元被控制为发 射并输出具有多个不同的光输出水平的激光束，光输出水平控制单元被控 制为检测与每个光输出水平相对应的电流值的指示值，指示值和光输出水 平之间的关系被获得，并且与目标光输出水平相对应的指示值根据该关系另外，根据本发明的一个实施例， 一种用于信息处理设备(例如图1 中的系统控制器11)的信息处理方法用于执行光输出水平控制单元(例如图2中的APC 113)的校准，该光输出水平控制单元用于通过在多个通道 中控制提供给发射单元的电流的电流值来控制发射单元(例如图2中的 LD 111)发射并输出的激光束的光输出水平，该发射单元用于发射并输出 具有根据所提供的电流的电流值的光输出水平的激光束，该信息处理方法 包括，就光输出水平控制单元的多个通道中的一部分或全部而言，针对每 个通道执行以下步骤控制发射单元发射并输出具有多个相互不同的光输 出水平的激光束(例如图19中的步骤S93和S97);控制光输出水平控制 单元检测与每个光输出水平相对应的电流值的指示值(例如图19中的步 骤S95和S99);获得指示值和光输出水平之间的关系(例如图19中的步 骤S96和S100);以及根据该关系调节与目标光输出水平相对应的指示值 (例如图8中的步骤S8)。另外，根据本发明的一个实施例， 一种程序使得执行光输出水平控制 单元(例如图2中的APC 113)的校准的计算机(例如图1中的系统控制 器11)执行信息处理，该光输出水平控制单元用于通过在多个通道中控制 提供给发射单元的电流的电流值来控制发射单元(例如图2中的LD 111) 发射并输出的激光束的光输出水平，该发射单元用于发射并输出具有根据 所提供的电流的电流值的光输出水平的激光束，该信息处理包括，就光输 出水平控制单元的多个通道中的一部分或全部而言，针对每个通道执行以 下步骤控制发射单元发射并输出具有多个相互不同的光输出水平的激光 束(例如图19中的步骤S93和S97);控制光输出水平控制单元检测与每 个光输出水平相对应的电流值的指示值(例如图19中的步骤S95和 S99);获得指示值和光输出水平之间的关系(例如图19中的步骤S96和 S100);以及根据该关系调节与目标光输出水平相对应的指示值(例如图 8中的步骤S8)。现在将描述本发明的实施例。图1是图示出本发明的实施例被应用到 的光盘驱动器的主要配置示例的框图。图1所示的光盘驱动器10是用于对安装在预定位置上的光盘21执行信息的读取或写入的设备。光盘驱动器10包括系统控制器11、主轴电机驱动电路12、主轴电机13、伺服控制单元14、数据处理器15和光学头单 元16。系统控制器11是用于对光盘驱动器10内的每个单元的操作进行控制 的控制单元。系统控制器11的CPU (中央处理单元)31根据存储在ROM(只读存储器)32中的程序或者加载在RAM (随机访问存储器)33中的 程序来执行各种类型的处理。用于CPU 31执行的各种类型的处理的数据 等等根据需要也被存储在RAM 33中。由系统控制器11控制的主轴电机驱动电路12对用于旋转光盘21的主 轴电机13的旋转驱动进行控制。由系统控制器11控制的伺服控制单元14 执行光学拾取器(光学头单元16)的位置控制。由系统控制器11控制的 数据处理器15以从光盘21读出的信息和要被写入在光盘21中的信息作为 处理目标来执行信息处理。由系统控制器11控制的光学头单元16将激光 束照射在光盘21上，并且读出或写入信息。例如，光学头单元16将从数据处理器15获得的数字数据从电信号转 换成光信号(激光束)，在将该激光束的光输出水平切换到以下功率之一 的同时将其照射在光盘21上，从而将该数字数据写入在光盘21中作为 冷却光盘表面时的发射功率的冷却功率(冷却光输出水平)、作为擦除光 盘中记录的信息时的发射功率的擦除功率(擦除光输出水平)、以及作为 在光盘中写入信息时的发射功率的峰值功率(峰值光输出水平)。另外， 光学头单元16利用作为读出光盘中记录的信息时的发射功率的读取功率(读取光输出水平)将激光束照射在光盘21上，从而提取光盘21中记录 的数字数据作为光信号，并且将其转换成电信号以将其提供给数据处理器 15。对于这种光盘驱动器10，如下所述，激光发射功率的控制是由光学头 单元16来执行的。该激光发射功率的控制的校准是由系统控制器11来执 行的。图2是用于描述图1中的光学头单元16的详细配置示例的图。注意， 在图2中，为了帮助描述，系统控制器11和数据处理器15也与光学头单元16的配置一起被示出。在图2中，光学头单元16包括LD (激光二极 管)111、 FPD (前光电检测器)112、 APC (自动功率控制)113、 LDD (激光二极管驱动器)114和写入策略123。LD 111是用于将用来读出或写入信息的激光束照射在图1中的光盘 21上的激光二极管。LD 111发射并输出具有与从LDD 114提供的电流的 电流值相对应的功率的激光束。FPD 112是设置在LD lll附近的光电检测器，用于检测从LD lll输 出的激光束。FPD 112使检测到的激光束经历光电转换，并且将指示该激 光束的功率(光输出水平)的电信号作为电压提供给APC113。APC 113基于从FPD 112提供的电信号来执行对LD 111发射并输出 的激光束的功率(光输出水平)的控制。APC 113向LDD 114提供指示出 提供给LD 111的电流的电流值的指示值(控制电压)，从而控制由LD 111发射并输出的激光束的功率。也就是说，APC 113根据从FPD 112提 供的电信号的电压来识别由LD 111发射并输出的激光束的功率，并且根 据该功率来校正要输出的指示值。例如，APC 113在激光束的功率(从 FPD 112提供的电信号的电压)小于所需功率(目标值)的情况下增大要 输出的指示值以增大激光束的功率，并且在激光束的功率大于所需功率 (目标值)的情况下减小要输出的指示值以减小激光束的功率。注意，APC 113包括用于控制激光束的功率的多个通道。LDlll不仅 输出具有恒定功率的激光束，而且还发射具有与诸如读取、写入等等之类 的情形相对应的功率的激光束。APC 113基于系统控制器11和写入策略 123的控制来执行在每个通道处具有不同功率水平的功率控制，从而实现 具有这多个功率水平的控制。对于图2所示的示例，APC 113包括用于输出用来控制作为从光盘读 出信息时的发射功率的读取功率(读取光输出水平)的指示值的通道、用 于输出用来控制冷却功率的指示值的通道、用于输出用来控制擦除功率的 指示值的通道、以及用于输出用来控制峰值功率的指示值的通道。LDD 114将从APC 113的每个通道提供的指示值转换成与该指示值相 对应的电流值的电流，并且将写入策略123选择的电流与其相加，并将其提供给LDlll。写入策略123基于系统控制器11的控制或者从数据处理器15提供来 的写入数据来控制APC 113和LDD 114，从而使得LD 111能够发射并输 出具有所需功率的激光束。例如，写入策略123向APC113和LDD114提 供用于在读取处理和写入处理之间切换的控制信号WGATE。另外，例 如，写入策略123向LDD 114提供用于控制每个单元以便由LD 111发射 并输出具有峰值功率的激光束的控制信号PEAK以及用于控制每个单元以 便由LD 111发射并输出具有擦除功率的激光束的控制信号ERASE。另 外，写入策略123向APC 113提供用于指令对从FPD 112提供的电信号的 电压水平进行采样/保持的控制信号SGATE。接下来，将描述APC 113的细节。APC 113的采样/保持单元(S/H) 131根据从写入策略123提供的控制信号SGATE对从FPD 112提供的电信 号进行采样，然后保持其值恒定。所保持的值在具有预定增益的放大器 132处被放大，并且被提供给比较器134和152。A1DAC 133是10比特D/A (数/模)转换器，并且向比较器134提供 与所设定的输入(数字数据)相对应的电压。用于控制读取功率的读取通 道的控制电压VRDC (即，读取功率的指示值)的目标值(与目标值相当 的数字值)被系统控制器11设定到A1DAC 133的输入。比较器134将所 输入的放大器132的输出和A1DAC 133的输出相比较，并且将该比较结 果(差值)提供给控制电压调节单元135。控制电压调节单元135选择B1DAC 142的输出和比较器134的输出之 一，并且基于所选择的输入来调节读取通道的控制电压VRDC (即，读取 功率的指示值)，其中B1DAC 142是逐次比较A/D (模/数)转换器136 的D/A转换器功能。选择的输入由写入策略123控制。例如，在比较器 134的输出被选择为输入时，控制电压调节单元135将该差值反映在输出 (控制电压VRDC)上。例如，在差值为正的情况下(即，在激光束的功 率大于目标值的情况下)，控制电压调节单元135减小控制电压VRDC (读取功率的指示值)。相反，在差值为负的情况下(即，在激光束的功 率小于目标值的情况下)，控制电压调节单元135增大控制电压VRDC(读取功率的指示值)。另外，在B1DAC 142的输出被选择为输入的情 况下，控制电压调节单元135将该B1DAC 142的输出按原样输出来作为 控制电压VRDC (读取功率的指示值)。逐次比较A/D转换器136是使用这样一种电压比较方法的A/D转换 器，在该方法中，在改变数字值的同时，逐次执行输入模拟信号的电压和 从该数字值转换的电压之间的比较，从而获得和输出与输入模拟信号的电 压相对应的数字值。逐次比较A/D转换器136的细节将在下文中描述，但 简短地说，逐次比较A/D转换器136具有作为A/D转换器的功能和作为 D/A转换器的功能。图2所示的AD 141表现出A/D转换器的功能，并且 B1DAC 142表现出D/A转换器的功能。逐次比较A/D转换器136的分辨 率是10比特，并且AD 141和B1DAC 142的分辨率也是10比特。AD 141将控制电压调节单元135的输出，即控制电压VRDC的电压 值，转换成数字数据。所转换和获得的数字数据被系统控制器11读出。 B1DAC 142输出与由系统控制器11在寄存器中设定的数字数据相当的电 压值的模拟信号。B1DAC 142提供充当控制电压VRDC的初始值(基准 值)的恒定电压，用于在对用于控制擦除功率的擦除通道或者用于控制峰 值功率的峰值通道进行校准时，以与正常写入处理时相同的方式来操作读 取通道或擦除通道，这将在下文中描述。其值已经被控制电压调节单元135调节的控制电压VRDC被提供到 LDD114，作为读取通道的输出。另外，控制电压VRDC还被提供到用于 控制冷却功率的冷却通道的减法器138和电子开关(SW) 139。B2DAC 137向减法器138输出与已被系统控制器11设定到寄存器 的、被设定为读取功率和冷却功率之间的差值的值(数字数据)相当的电 压值的模拟信号。B2DAC B7提供恒定电压，用于从下文描述的正常写入 处理时的控制电压VRDC生成冷却通道的控制电压WDC5。另外， B2DAC 137还提供恒定电压，用于即使在下文描述的擦除通道或峰值通道 的校准处理之时，也以与下文描述的正常写入处理时相同的方式操作冷却 通道。另外，B2DAC 137还提供恒定电压，用于即使在下文描述的正常读 取处理之时，也以与下文描述的正常写入处理时相同的方式操作冷却通道，来作为对写入处理的准备。减法器138从控制电压调节单元135的输出(控制电压VRDC)中减 去B2DAC 137的输出，并且将该值提供给电子开关(SW) 139。电子开 关(SW) 139选择控制电压VRDC和减法器138的输出之一，并且将其作 为控制电压WDC5从冷却通道输出到LDD 114。A2DAC 151是10比特D/A转换器，并且向比较器152提供与所设定 的输入(数字数据)相对应的电压。用于设定峰值通道的控制电压WDC2 (即，峰值功率的指示值)和擦除通道的控制电压WDC3 (即，擦除功率 的指示值)的控制电压VWDC的目标值(与目标值相当的数字值)被设 定到A2DAC 151的输入。比较器152比较已输入的A2DAC 151的输出和 放大器132的输出，并且将比较结果(差值)提供给控制电压调节单元 153。控制电压调节单元153选择作为逐次比较A/D转换器154的D/A转换 器功能的B3DAC 162的输出和比较器152的输出之一，并且基于其所选 择的输入来调节控制电压VWDC。输入的选择由写入策略123控制。例 如，在选择比较器152的输出作为输入时，控制电压调节单元153将该差 值反映在输出(控制电压VWDC)上。例如，在差值为正的情况下(即， 在激光束的功率较大的情况下)，控制电压调节单元153通过降低控制电 压VWDC来降低峰值功率和擦除功率。相反，在差值为负的情况下 (即，在激光束的功率较小的情况下)，控制电压调节单元153通过增大 控制电压VRDC来增大峰值功率和擦除功率。另外，在选择B3DAC 162 的输出作为输入的情况下，控制电压调节单元153将该B3DAC 162的输 出按原样输出来作为控制电压VWDC。逐次比较A/D转换器154是与逐次比较A/D转换器136相同的A/D 转换器。图2中的AD 161指示出逐次比较A/D转换器154作为A/D转换 器的功能，而B3DAC 162指示出作为D/A转换器的功能。逐次比较A/D 转换器154的分辨率是10比特，并且AD 161和B3DAC 162的分辨率也 是10比特。AD 161将控制电压调节单元153的输出，即控制电压VWDC的电压值，转换成数字数据。所转换和获得的数字数据被系统控制器ll读出。B1DAC 162是具有10比特分辨率的D/A转换器，并且在下文描述的 正常写入处理时提供充当擦除通道和峰值通道的控制电压VWDC的初始 值(基准值)的恒定电压。另外，B3DAC 162提供恒定电压，用于即使在 下文描述的正常读取处理之时，也以与下文描述的正常写入处理相同的方 式操作擦除通道和峰值通道，来作为对写入处理的准备。B3DAC 162输出 与被系统控制器11设定到寄存器的数字数据相当的电压值的模拟信号。其值被控制电压调节单元153调节的控制电压VWDC还被提供给 C1DAC 155和C2DAC 156， C1DAC 155和C2DAC 156是用于将输入电压 乘以预定系数(RATIO)的RATIO D/A转换器。C1DAC 155和C2DAC 156是8比特D/A转换器，并且各自根据输入数字值相对于满刻度的比率 来衰减控制电压VWDC。C1DAC 155是擦除通道的D/A转换器，并且其值被C1DAC 155调节 的控制电压WDC3作为擦除通道的输出被提供到LDD 114。另外， C2DAC 156是峰值通道的D/A转换器，并且其值被C2DAC 156调节的控 制电压WDC2作为峰值通道的输出被提供到LDD 114。接下来，将描述LDD 114的细节。利用LDD 114，从APC 113提供 来的控制电压VRDC在放大器(Ar) 171处被转换成与其电压值相对应的 电流值的电流，并且被提供到电子开关(SW) 172。另外，从APC 113提 供来的控制电压WDC5在放大器(Ac) 173处被转换成与其电压值相对应 的电流值的电流，并且被提供到电子开关(SW) 174。另外，从APC 113 提供来的控制电压WDC2在放大器(Ap) 175处被转换成与其电压值相对 应的电流值的电流，并且被提供到电子开关(SW) 176。另外，从APC 113提供来的控制电压WDC3在放大器(Ae) 177处被转换成与其电压值 相对应的电流值的电流，并且被提供到电子开关(SW) 178。控制信号WGATE通过NOT电路(逻辑非电路)被从写入策略123 提供到电子开关(SW) 172,作为其切换控制信号。当控制信号WGATE 为OFF (断)时，电子开关(SW) 172将放大器(Ar) 171的输出提供给 加法器191。另外，控制信号WGATE被从写入策略123提供到电子开关(SW) 174，作为其切换控制信号。当控制信号WGATE为ON (通) 时，电子开关(SW) 174将放大器(Ac) 173的输出提供给加法器191。 也就是说，当选择从光盘21的读出(read)信息时，电子开关(SW) 172 进入ON状态，电子开关(SW) 174进入OFF状态，并且放大器(Ar) 171的输出被提供给加法器191。相反，当选择向光盘21写入(write)信 息时，电子开关(SW) 174进入ON状态，电子开关(SW) 172进入OFF 状态，并且放大器(Ac) 173的输出被提供给加法器191。控制信号PEAK被从写入策略123提供到电子开关(SW) 176，作为 其切换控制信号。当控制信号PEAK为ON时，电子开关(SW) 176将放 大器(Ap) 175的输出提供给加法器191。控制信号ERASE被从写入策略 123提供到电子开关(SW) 178，作为其切换控制信号。当控制信号 ERASE为ON时，电子开关(SW) 178将放大器(Ae) 177的输出提供给 加法器191。加法器191对从电子开关(SW) 172、 174、 176和178中每一个提供 来的电流进行加法和积分，并将该加法结果提供给LD 111。 LD 111输出 具有与所提供的电流的电流值相对应的功率的激光束。图3是用于描述逐次比较A/D转换器136的详细配置示例的框图。如 图3所示，逐次比较A/D转换器136包括比较器211、控制单元212、逐 次比较寄存器213和DAC (数模转换器)214。另外，逐次比较A/D转换 器136不仅充当A/D转换器(AD 141)，而且充当D/A转换器(B1DAC 142)，如上所述。首先，将描述逐次比较A/D转换器136充当A/D转换器的情况。控制 单元212将要与输入电压相比较的数字值设定到逐次比较寄存器213。 DAC 214输出与在逐次比较寄存器213中设定的数字值相当的电压的模拟 信号。比较器211比较输入电压以及该DAC 214的输出电压，并且将其差 值作为比较结果通知给控制单元212。控制单元212根据该差值来更新在 逐次比较寄存器213中设定的值。这样，DAC 214的输出电压被改变。如 上所述，在顺序重复这种比较的同时，控制单元212使得要在逐次比较寄 存器213中设定的数字值近似于输入电压。例如，控制单元212按照从MSB (最高有效位)到LSB (最低有效 位)的顺序，每次一比特地根据比较器211的比较结果来确定要设定在逐 次比较寄存器213中的数字值。也就是说，首先，控制单元212将MSB 的值设定成"1"，并且将其他的值设定成"0"，并且控制比较器211将 输入电压与其相比较。然后，如果比较器211的比较结果是输入电压较 大，则控制单元212将下一比特设定成"1"，并且如果DAC 214的输出 电压较大，则控制单元212使当前比特返回到"0"，并且将下一比特设 定成"1"，并且控制比较器211再次执行比较。在重复这种比较的同 时，逐次比较寄存器213的每个比特被确定来近似输入电压。最后，在与输入电压相当的数字值被设定后，控制单元212控制逐次 比较寄存器213将在逐次比较寄存器213中设定的值输出(数字输出)到 逐次比较A/D转换器136的外部。接下来，将描述逐次比较A/D转换器136充当D/A转换器的情况。控 制单元212将输入的数字值(数字输入)设定在逐次比较寄存器213中。 DAC 214将与在逐次比较寄存器213中设定的数字值相当的电压的模拟信 号输出到逐次比较A/D转换器136的外部。如上所述，逐次比较A/D转换器136实现充当AD 141和B1DAC 142 的功能。注意，逐次比较A/D转换器154基本上具有与逐次比较A/D转换 器136相同的配置。因此，参考图3对逐次比较A/D转换器136的描述也 可以被应用到逐次比较A/D转换器154。系统控制器11执行对被APC 113视为控制基准的初始值、增益等等 的校准处理，以使得APC 113能够利用这种APC系统更精确地执行功率 控制。图4是图示出该系统控制器11的CPU 31具有的与校准处理有关的功 能的功能框图。如图4所示，CPU31包括用于执行初始校准处理的初始校 准处理单元221和用于执行操作校准处理的操作校准处理单元222，其中 初始校准处理是在光盘21被设定在光盘驱动器10的预定位置中之后、LD 111对光盘21执行信息的读取或写入之前执行的校准处理，操作校准处理 是在读取处理和写入处理之间执行的校准处理。初始校准处理是这样一种校准处理，其主要目的是吸收操作时的增益 误差、偏移等等、光盘驱动器10的电路的每小时长期变化、外部环境的 变化，等等，而操作校准处理是这样一种校准处理，其主要目的是吸收LD111的温度输出属性(由于温度增大而引起的输出变化)、以及每小时 的短期变化。注意，操作校准处理是在所谓的跟踪状态中在聚焦在光盘21上的同 时执行的，以便确保读取处理和写入处理的瞬时性(实时性)(以便不妨 碍读取处理和写入处理)。通过在跟踪状态中执行校准处理，可以省略用 于在校准处理之前中断跟踪以将光盘21改变到失焦状态的操作以及用于 在校准处理之后聚焦在光盘21上的操作，从而可以高速地执行校准处 理，因此，可以确保读取处理和写入处理的实时性。初始校准处理单元221包括VRDC提取处理单元231、冷却通道两点 校准处理单元232、满刻度评估处理单元233、擦除通道两点校准阶段1 处理单元234、峰值通道两点校准阶段1处理单元235、擦除通道两点校 准阶段2处理单元236、峰值通道两点校准阶段2处理单元237和RATIO 设定处理单元238，它们执行校准处理的相应的每个过程。VRDC提取处理单元231在读取功率输出时(在读出操作时)提取控 制电压VRDC。该提取的值被用于其他过程。冷却通道两点校准处理单元 232是用于执行与作为用于控制冷却功率的通道的冷却通道的控制电压 WDC5有关的校准处理的处理单元。更具体而言，冷却通道两点校准处理 单元232获得与两个相互不同的目标值相对应的控制电压WDC5，并且基 于该两点之间的关系来对与写入处理时的目标值相对应的B2DAC 137的 指示值进行校准。满刻度评估处理单元233确定B3DAC 162的值，以便尽可能有效地 利用作为用于RATIO的DAC的C1DAC 155或C2DAC 156的满刻度。该 值被用于峰值通道和擦除通道的校准处理。擦除通道两点校准阶段1处理单元234和擦除通道两点校准阶段2处 理单元236是用于执行与作为用于控制擦除功率的通道的擦除通道的控制 电压WDC3有关的校准处理的处理单元。另外，峰值通道两点校准阶段1处理单元235和峰值通道两点校准阶段2处理单元237是用于执行与作为 用于控制峰值功率的通道的峰值通道的控制电压WDC2有关的校准处理的 处理单元。更具体而言，擦除通道两点校准阶段1处理单元234和峰值通 道两点校准阶段1处理单元235通过使用由满刻度评估处理单元233获得 的B3DAC 162的值，来获得与两个相互不同的目标值相对应的C1DAC 155和C2DAC 156的指示值(两点校准处理阶段1)。擦除通道两点校准 阶段2处理单元236和峰值通道两点校准阶段2处理单元237通过使用由 擦除通道两点校准阶段1处理单元234和峰值通道两点校准阶段1处理单 元235获得的C1DAC 155和C2DAC 156的指示值，再次获得C1DAC 155 和C2DAC 156的指示值(两点校准处理阶段2)。RATIO设定处理单元238根据由擦除通道两点校准阶段2处理单元 236和峰值通道两点校准阶段2处理单元237获得的两个目标值和与之相 对应的C1DAC 155和C2DAC 156的指示值之间的关系，来获得并设定 (校准)写入处理时的C1DAC 155和C2DAC 156的指示值。操作校准处理单元222包括VRDC提取处理单元241 、 PL校准处理单 元242、待用处理单元243、 PH校准处理单元244、 RATIO校正处理单元 245和RATIO设定处理单元246，它们执行操作校准处理的相应的每个过 程。操作校准处理基本上是与初始校准处理的针对擦除通道和峰值通道的 两点校准处理阶段2相当的处理。省略了针对冷却功率的校准处理，因为 即使与峰值功率和擦除功率相比冷却功率在精确度上有所降低，也不会有 问题。另外，通过使用先前的校准处理的结果，省略了针对峰值功率和擦 除功率的校准处理的阶段1的处理。与VRDC提取处理单元231类似，VRDC提取处理单元241在读取处 理时提取读取通道的控制电压VRDC (读取功率的指示值)。PL校准处理 单元242获得关于PL的C1DAC 155和C2DAC 156的指示值，该指示值 是上述两个目标值中较小的目标值。PH校准处理单元244获得关于PH的 C1DAC 155和C2DAC 156的指示值，该指示值是上述两个目标值中较大 的目标值。PH校准处理单元244使得与PL校准处理单元242的相同的RUB (记 录单元块)经历处理，因此在PL校准处理单元242的处理完成之后，在 光盘旋转一次期间，待用处理单元243控制PH校准处理单元244待用以 等待处理开始，以防止PL校准处理单元242的处理结果对PH校准处理单 元244的处理的影响(历史效应)。RATIO校正处理单元245基于PL校准处理单元242和PH校准处理 单元244的处理结果来对CIDAC 155和C2DAC 156的指示值(ERATIO 和PRATIO)进行校正，并且RATIO设定处理单元246根据与PL和PH 相对应的CIDAC 155和C2DAC 156的指示值的关系，来获得并设定写入 处理时CIDAC 155和C2DAC 156的指示值(ERATIO和PRATIO)。接下来，将描述上述光盘驱动器10的每个单元的操作。首先，将描 述在执行正常读取和写入时的操作。在对光盘21执行信息的读取或写入 的情况下，图2中的LD 111发射并输出激光束。如上所述，LD 111输出 具有与从LDD 114提供来的电流的电流值相对应的功率的激光束。换言 之，LDD 114利用提供给LD 111的电流的电流值来控制系统控制器11的 发射输出功率。LD lll的输出功率根据诸如信息的读取、信息的擦除、信息的写入、 光盘21表面的冷却等等之类的处理内容来发射并输出具有相互不同的功 率的激光束。如上所述，LDD 114累积多个电流(对多个电流进行相 加)，并且通过选择其组合来实现具有LD 111的每个功率的激光束的发 射输出。LDD 114为每个通道生成与针对该每个通道从APC U3提供来的指示 值(控制电压)相对应的电流值的电流。写入策略123利用诸如 WGATE、 PEAK、 ERASE等等之类的控制信号来选择要累积的电流。图5是图示出激光束的波形示例的图，用于描述其电流累积的情形。 在图5中，以箭头251指示的部分是执行读取处理(Read)的部分，以箭 头252指示的部分是执行写入处理(Write)的部分。如图5中的示例所示，对于读取处理(Read)，只有其中读取通道的 控制电压VRDC被转换的电流被选择并被提供到LD 111。因此，LD 111发射并输出具有读取功率的激光束。此时，如箭头261中所示，APC被 APC 113施加以读取功率(Read)，即与读取功率相对应的控制电压 VRDC。另外，在利用写入处理(Write)来冷却光盘21的表面时，只有其中 冷却通道的控制电压WDC5被转换的电流被选择并被提供到LD 111。基 于此电流发射并输出的激光束的功率，即冷却功率(与控制电压WDC5相 当的功率)，是通过从与控制电压VRDC相当的读取功率(箭头262)中 减去与B2DAC 137的输出相当的功率(箭头263)来生成的。以箭头263 指示的B2DAC 137的值在写入处理期间是固定的，因此APC被施加以由 箭头262指示的控制电压VRDC。对于写入处理的光盘21中记录的信息的消除(erase)，其中冷却通 道的控制电压WDC5被转换的电流和其中擦除通道的控制电压WDC3被 转换的电流被选择，并且被相互相加并提供到LD 111。基于此电流发射并 输出的激光束的功率，即擦除功率，是通过将与控制电压WDC3相当的功 率(箭头264)与冷却功率(箭头262和263)相加来生成的，如图5的 示例中的箭头262至264所示。也就是说，控制电压WDC3控制擦除功率 和冷却功率之间的差异。对于写入处理的光盘21中的信息的写入(peak)，其中冷却通道的控 制电压WDC5被转换的电流以及其中峰值通道的控制电压WDC2被转换 的电流被选择，并且被相互相加并提供到LD 111。基于此电流发射并输出 的激光束的功率，即峰值功率，是通过将与控制电压WDC2相当的功率 (箭头265)与冷却功率(箭头262和263)相加来生成的，如图5的示 例中的箭头262、 263和265所示。也就是说，控制电压WDC2控制峰值功率和冷却功率之间的差异。因而，对于LDD114，可以利用其中从APC 113的多个通道提供的控 制电压被转换的电流的组合来控制LD 111对具有每个功率的激光束的发 射和输出。接下来，将描述在正常读取处理时(在读取操作时)光学头单元16 内的每个单元的操作。图6是用于描述图2所示的配置示例的操作的图，其中活动的电导线由实线箭头指示，不活动的电导线由虚线箭头指示。对于读取处理，写入策略123将控制信号WGATE、 PEAK和ERASE 的值都设定成OFF。另外，写入策略123设定控制信号SGATE，以便在 读取时对电压进行采样/保持。通过使LD 111的光输出经历经FPD 112进行的光电转换而获得的电 压值被采样/保持单元(S/H) 131根据从写入策略123提供来的控制信号 SGATE的定时进行采样/保持，并且该电压值在放大器132处被放大，并 被提供到比较器134和152。预定的指示值RPWR被设定到A1DAC 133的寄存器，作为读取功率 目标值。比较器134从放大器132的输出中减去A1DAC 133输出的与设 定到寄存器的指示值RPWR相当的电压。注意，没有指示值被设定到逐次 比较A/D转换器136的B1DAC 142的寄存器，因此B1DAC 142不输出模 拟电压。因此，控制电压调节单元135选择比较器134的输出，并且基于 由比较器134输出的差值来对控制电压VRDC的电压值进行控制。该控制 电压VRDC在LDD 114的放大器(Ar) 171处被转换成电流，作为读取通 道的输出。转换后的电流被提供到电子开关(SW) 172。控制信号 WGATE为OFF，因此电子开关(SW) 172将来自放大器(Ar) 171的电 流提供给加法器191。注意，此时，逐次比较A/D转换器136的AD 141不执行控制电压 VRDC的提取(数字化)。另外，控制电压VRDC也被提供到减法器138。预定的指示值 P1INISET被设定到B2DAC 137的寄存器。减法器138从控制电压VRDC 中减去B2DAC 137输出的与设定到寄存器的指示值P1INISET相当的电 压。电子开关(SW) 139选择减法器138的输出，并且将其提供给LDD 114的放大器(Ac) 173，作为冷却通道的输出(控制电压WDC5)。控 制电压WDC5在LDD 114的放大器(Ac) 173处被转换成电流。转换后 的电流被提供到电子开关(SW) 174。但是，控制信号WGATE为OFF， 因此电子开关(SW) 174不将来自放大器(Ac) 173的电流提供给加法器 191。对于读取处理，没有指示值被设定到A2DAC 151的寄存器。因此， 比较器134不输出比较结果。但是，用于控制擦除功率和峰值功率的指示 值P2INISET被设定到逐次比较A/D转换器154的B3DAC 162的寄存器。 B3DAC 162将与该P2INISET相当的电压施加到控制电压调节单元153的 输入。控制电压调节单元153选择该B3DAC 162的输出，以将其提供到 C1DAC 155和C2DAC 156，作为控制电压VWDC。注意，此时，逐次比较A/D转换器154的AD 161不执行控制电压 VWDC的提取(数字化)。C1DAC 155以与设定到寄存器的指示值ERATIO相当的比率来衰减控 制电压VRDC，以将其提供到LDD 114的放大器(Ae) 177，作为擦除通 道的输出(控制电压WDC3)。控制电压WDC3在LDD 114的放大器 (Ae) 177处被转换成电流。转换后的电流被提供到电子开关(SW) 178。但是，控制信号ERASE为OFF,因此电子开关(SW) 178不将来 自放大器(Ae) 177的电流提供给加法器191。C2DAC 156以与设定到寄存器的指示值PRATIO相当的比率来衰减控 制电压VRDC，以将其提供到LDD 114的放大器(Ap) 175，作为峰值通 道的输出(控制电压WDC2)。控制电压WDC2在LDD 114的放大器 (Ap) 175处被转换成电流。转换后的电流被提供到电子开关(SW) 176。但是，控制信号PEAK为OFF，因此电子开关(SW) 176不将来自 放大器(Ap) 175的电流提供给加法器191。如上所述，对于正常读取处理，只有读取通道的电流被提供到加法器 191。因此，加法器191将该电流按原样提供给LD 111。因而，LD111发 射并输出具有与控制电压VRDC相当的读取功率的激光束。注意，迄今为止已经进行了这样的描述，其中冷却通道的控制电压 WDC5、峰值通道的控制电压WDC2和擦除通道的控制电压WDC3在读 取处理时也被输出到LDD 114，但是这种控制电压在读取处理时不被使 用，因此APC 113可以不输出这种控制电压。但是，如上所述，每个控制 电压都允许被输出，从而在进行从读取处理到写入处理的转变时，LDD 114可以立即将与每个控制电压相当的电流提供给LD 111，而不会提供诸如前沿之类的时滞。接下来，将参考图7描述在正常写入处理时光学头单元16内的每个 单元的操作。图7与图6 —样是用于描述图2所示的配置示例的操作的 图，其中活动的电导线由实线箭头指示，不活动的电导线由虚线箭头指不o对于正常写入处理，写入策略123将控制信号WGATE、 PEAK和 ERASE的值都设定成ON。严格来说，控制信号PEAK仅在对光盘21执 行写入时被设定成ON，而控制信号ERASE仅在执行对光盘21中记录的 信息的消除时才被设定成ON。也就是说，这些控制信号在写入处理期间 被切换到ON/OFF。另外，写入策略123设定控制信号SGATE，以便在擦 除处理时对电压进行采样/保持。通过使LD 111的光输出经历经FPD 112进行的光电转换而获得的电 压值被采样/保持单元(S/H) 131根据从写入策略123提供来的控制信号 SGATE的定时进行采样/保持，并且该电压值在放大器132处被放大，并 被提供到比较器134和152。预定的指示值EPWR被设定到A1DAC 133的寄存器，作为擦除功率 目标值。比较器134从放大器132的输出中减去A1DAC 133输出的与设 定到寄存器的指示值EPWR相当的电压。注意，没有指示值被设定到逐次 比较A/D转换器136的B1DAC 142的寄存器，因此B1DAC 142不输出模 拟电压。因此，控制电压调节单元135选择比较器134的输出，并且基于 由比较器134输出的差值来对控制电压VRDC的电压值进行控制。该控制 电压VRDC在LDD 114的放大器(Ar) 171处被转换成电流，作为读取通 道的输出。转换后的电流被提供到电子开关(SW) 172。控制信号 WGATE为ON，因此电子开关(SW) 172不将来自放大器(Ar) 171的 电流提供给加法器191。注意，此时，逐次比较A/D转换器136的AD 141不执行控制电压 VRDC的提取(数字化)。另外，控制电压VRDC也被提供到减法器138。预定的指示值 P1INISET被设定到B2DAC 137的寄存器。减法器138从控制电压VRDC中减去B2DAC 137输出的与设定到寄存器的指示值P1INISET相当的电 压。电子开关(SW) 139选择减法器138的输出，并且将其提供给LDD 114的放大器(Ac) 173，作为冷却通道的输出(控制电压WDC5)。控 制电压WDC5在LDD 114的放大器(Ac) 173处被转换成电流。转换后 的电流被提供到电子开关(SW) 174。控制信号WGATE为ON，因此电 子开关(SW) 174将来自放大器(Ac) 173的电流提供给加法器191。对于正常写入处理，没有指示值被设定到A2DAC 151的寄存器。因 此，比较器134不输出比较结果。但是，用于控制擦除功率和峰值功率的 指示值P2INISET被设定到逐次比较A/D转换器154的B3DAC 162的寄存 器。B3DAC 162将与该P2INISET相当的电压施加到控制电压调节单元 153的输入。控制电压调节单元153选择该B3DAC 162的输出，以将其提 供到C1DAC 155和C2DAC 156，作为控制电压VWDC。注意，此时，逐次比较A/D转换器154的AD 161不执行控制电压 VWDC的提取(数字化)。C1DAC 155以与设定到寄存器的指示值ERATIO相当的比率来衰减控 制电压VRDC，以将其提供到LDD 114的放大器(Ae) 177，作为擦除通 道的输出(控制电压WDC3)。控制电压WDC3在LDD 114的放大器(Ae) 177处被转换成电流。转换后的电流被提供到电子开关(SW) 178。当控制信号ERASE为ON时，电子开关(SW) 178将来自放大器(Ae) 177的电流提供给加法器191。C2DAC 156以与设定到寄存器的指示值PRATIO相当的比率来衰减控 制电压VRDC，以将其提供到LDD 114的放大器(Ap) 175，作为峰值通 道的输出(控制电压WDC2)。控制电压WDC2在LDD 114的放大器(Ap) 175处被转换成电流。转换后的电流被提供到电子开关(SW) 176。当控制信号PEAK为ON时，电子开关(SW) 176将来自放大器(Ap) 175的电流提供给加法器191。如上所述，对于正常写入处理，冷却通道的电流被提供到加法器 191，并且擦除通道或峰值通道的电流也根据需要被提供到加法器191。因 此，加法器191将同时提供的电流相加，以将此结果提供给LD 111。因而，LD111根据需要发射并输出具有每个功率的激光束。注意，迄今为止已经进行了这样的描述，其中读取通道的控制电压 VRDC在正常写入处理时也被输出到LDD 114，但是控制电压VRDC在正 常写入处理时不被使用，因此APC 113可以不输出该控制电压VRDC。但 是，如上所述，控制电压VRDC被允许输出，从而在进行从读取处理到写 入处理的转变时，LDD 114可以立即将与控制电压VRDC相当的电流提供 给LDlll，而不会提供诸如前沿之类的时滞。系统控制器11的CPU 31使得这样的APC系统经历校准处理。下面 将描述该校准处理。首先，将参考图8的流程图描述初始校准处理的流 程。根据需要将参考图9进行描述。在初始校准处理被启动后，在步骤Sl中，如图9中的范围271中所 示，初始校准处理单元221的VRDC提取处理单元231执行用于通过AD 141输入与读取功率相对应的控制电压VRDC作为读取操作时的数字值的 读取操作时的控制电压输入处理，并且输入读取操作时的控制电压 VRDCo在步骤S2中，如图9中的范围272中所示，冷却通道两点校准处理 单元232执行冷却通道两点校准处理，用于通过使用两个目标值来获得写 入处理时B2DAC 137的指示值。在步骤S3中，如图9中的范围273中所示，满刻度评估处理单元233 执行满刻度评估处理，用于设定B3DAC 162的指示值，以便以更有效的 方式利用C1DAC 155和C2DAC 156的满刻度来确定RATIO。在步骤S4中，如图9中的范围274中所示，擦除通道两点校准阶段l 处理单元234执行擦除通道两点校准阶段1处理(第一校准处理)，用于 通过使用两个目标值来获得写入处理时C1DAC 155的指示值。在步骤S5 中，如图9中的范围275中所示，峰值通道两点校准阶段1处理单元235 执行峰值通道两点校准阶段1处理(第一校准处理)，用于通过使用两个 目标值来获得写入处理时C2DAC 156的指示值。在步骤S6中，为了提高校准处理的精确度，如图9中的范围276中 所示，擦除通道两点校准阶段2处理单元236执行第二擦除通道两点校准处理(擦除通道两点校准阶段2处理)。在步骤S7中，为了提高校准处 理的精确度，如图9中的范围277中所示，峰值通道两点校准阶段2处理 单元237执行第二峰值通道两点校准处理(峰值通道两点校准阶段2处 理)。在步骤S8中，RATIO设定处理单元238根据在写入处理时要设定到 B3DAC 162的寄存器的值P2INISET②WR，来设定在写入处理时要设定到 C1DAC 155的寄存器的值ERATIO@WR以及在写入处理时要设定到 C2DAC 156的寄存器的值PRATIO@WR，这些已经通过上述处理而被设 定。在步骤S8中的处理完成之后，初始校准处理结束。接下来，将描述步骤Sl至S7中的处理的细节。首先，将参考图10 描述在步骤Sl中执行的读取操作时的控制电压输入处理的流程示例。根 据需要将参考图11进行描述。图11是图示出参考图2描述的光学头单元 16的每个单元在读取操作时的控制电压输入处理执行时的操作的情形示例 的图。在读取操作时的控制电压输入处理开始后，在步骤S21中，VRDC提 取处理单元231控制写入策略123以仅将读取通道设定成ON。如图11所 示，写入策略123基于来自VRDC提取处理单元231的请求，将控制电压 WGATE、 PEAK和ERASE都设定成OFF (虚线)。在WGATE被设定成 OFF后，NOT电路181将处于ON状态的控制信号提供给电子开关 (SW) 172。也就是说，只有读取通道被设定成ON状态。因而，光学头 单元16的每个单元基本上执行读取处理时的操作。在步骤S22中，VRDC提取处理单元231将AIDAC 133的指示值设 定成读取功率RPWR，以作为APC的目标，并且在步骤S23中控制每个 单元以执行APC控制。比较器134比较放大器132的输出电压和从 AIDAC 133输出的与RPWR相当的电压，并且将其差值提供给控制电压 调节单元135。控制电压调节单元135选择比较器134的差值作为输入， 并且根据该值来调节控制电压VRDC。在步骤S24中，VRDC提取处理单元231控制AD 141以将控制电压 VRDC转换成数字值RINTMON，并且提取它。在获得RINTMON后，在步骤S25中，VRDC提取处理单元231获得与所提取的数字值RINTMON 相对应的B1DAC 142的指示值。在获得B1DAC 142的指示值后，VRDC 提取处理单元231结束读取操作时的控制电压输入处理，使处理返回到图 8中的步骤S1，并且执行步骤S2及其后的处理。接下来，将参考图12中的流程图描述在图8中的步骤S2中的冷却通 道两点校准处理。根据需要将参考图13进行描述。图13是图示出参考图 2描述的光学头单元16的每个单元在冷却通道两点校准处理执行时的操作 的情形示例的图。冷却通道两点校准处理单元232对写入处理时的冷却功率的控制进行 校准。也就是说，冷却通道两点校准处理单元232执行用于控制读取功率 和冷却功率的差值的B2DAC 137的指示值的校准，如以上参考图5和7所 述。以与写入处理时相同的方式，冷却通道两点校准处理单元232在控制 LD 111执行具有冷却功率的激光发射的同时通过使用相互不同的预定目标 值PL和PH来执行APC控制，并且从与每个目标值相对应的控制电压 VRDC获得写入处理时B2DAC137的指示值(两点校准)。PL和PH是具有预定的值的、用于两点校准的目标值。较小的目标值 是PL，较大的目标值是PH。任意的值都可以被设定为PL和PH的值，只 要这些值在光盘驱动器IO正常操作的范围(不会发生LD 111的故障、光 盘21的毁坏等等的范围)中即可。在冷却通道两点校准处理开始后，在步骤S41中，冷却通道两点校准 处理单元232控制写入策略123以仅将冷却通道设定成ON。如图13所 示，写入策略123基于来自冷却通道两点校准处理单元232的请求，将控 制信号WGATE设定成ON (实线)，并且将PEAK和ERASE设定成 OFF (虚线)。在WGATE被设定成ON后，读取通道进入OFF状态，并 且冷却通道进入ON状态。控制信号PEAK和ERASE为OFF,因此峰值 通道和擦除通道变为OFF。也就是说，只有冷却通道进入ON状态。因 而，光学头单元16的每个单元执行与写入处理中发射具有冷却功率的激 光束时相同的操作。在步骤S42中，冷却通道两点校准处理单元232将A1DAC 133的指示值设定成PL，作为用于冷却通道的校准处理的预定功率P1PWR。也就 是说，此时APC的目标值被设定成PL。在设定目标值后，在步骤S43 中，冷却通道两点校准处理单元232控制每个单元以执行APC控制。比较器134比较放大器132的输出电压和从A1DAC 133输出的与 P1PWR相当的电压，并且将其差值提供给控制电压调节单元135。控制电 压调节单元135选择比较器134的差值作为输入，并且根据该值来调节控 制电压VRDC。调节后的控制电压VRDC被电子开关(SW) 139从冷却 通道输出到LDD114，作为控制电压WDC5。也就是说，执行与冷却功率 有关的APC控制。在步骤S44中，冷却通道两点校准处理单元232控制AD 141以将控 制电压VRDC转换成数字值P1INTM0N (图13)，并且提取它。在获得 P1INTM0N后，冷却通道两点校准处理单元232使处理前进到步骤S45， 并且这一次将A1DAC 133的指示值设定成PH，作为用于冷却通道校准处 理的预定功率P1PWR。也就是说，此时APC的目标值被设定成PH。在 设定目标值后，在步骤S46中，冷却通道两点校准处理单元232以与步骤 S43的情况中相同的方式控制每个单元以执行APC控制，并且在步骤S47 中，以与S44的情况相同的方式控制AD 141以将控制电压VRDC转换成 数字值P1INTM0N (图13)，并且提取它。在利用目标值PL和PH获得控制电压VRDC (PIINTMON)后，在 步骤S48中，冷却通道两点校准处理单元232计算在目标值被设定成冷却 功率输出时的目标值PC时冷却通道的控制电压WDC5 (WDC5@PC)， 并且在步骤S49中使用计算出的WDC5@PC来计算写入处理时B2DAC 137的指示值P1INISET@WR。在计算P1INISET@WR后，冷却通道两点校准处理单元232结束冷却 通道两点校准处理，使处理返回到图8中的步骤S2，并且执行步骤S3及 其后的处理。将参考图14和15描述B1DAC 142的指示值和B2DAC 137的指示值 的具体计算示例。图14是图示出以上已经描述的初始校准处理的读取操 作时控制电压输入处理和冷却通道两点校准处理的情形的示意图。首先，将描述B1DAC 142的指示值的计算方法。AD 141和B1DAC 142都是包括在同一个逐次比较A/D转换器136中的功能，因此两者之间 的输入/输出关系己经可以得到。也就是说，VRDC提取处理单元231可以 获得一输入数字值，使得B1DAC 142能够基于从AD 141输出的数字值来 输出与AD 141的输入电压相同的电压。对于读取操作时的控制电压输入处理，假定以箭头281指示的、作为 与读取功率相对应的控制电压VRDC提取的AD 141的输出数字值 RINTMON的值为R@RD。另外，如果假定AD 141的输出数字值为 B1DAC 142的输入数字值，那么假定B1DAC 142的输出电压与AD 141的 输入电压相同。然后，如果假定B1DAC 142的指示值在读取处理和写入处理时未被 改变，那么写入处理时B1DAC 142的指示值RINISET②WR例如可以如以 下表达式(1)所示、通过使用利用读取操作时的控制电压输入处理获得 的AD 141的输出电压RINTMON的值R@RD来计算。RINISET@WR = R@RD ... (1)接下来，将描述B2DAC 137的指示值的计算方法。如果假定与目标 值PL (箭头282)相对应的AD 141的输出数字值PIINTMON的值为 P1@PL，并且与目标值PH (箭头283)相对应的AD 141的输出数字值 PIINTMON的值为P1@PH (它们是通过上述冷却通道两点校正处理获得 的)，并且根据这些值，目标值和PIINTMON之间的关系可以用图15所 示的图线的直线291来表示。对此直线291的使用使得能够计算与任意目标值相对应的 P1INTM0N。也就是说，可以计算在假定目标值是冷却功率输出时的目标 值PC时冷却通道的控制电压WDC5 (WDC5@PC)。(如图13所示，控 制电压WDC5等于控制电压VRDC，控制电压VRDC等于B1DAC 142的 输入数字值RINISET@WR，并且B1DAC 142的输入数字值RINISET等于 AD 141的输出数字值RINTMON (PIINTMON)。也就是说，WDC5@PC 等P1INTM0N@PC)。此时，冷却通道两点校准处理单元232可以创建 与图15所示的图线相同的表信息，来基于该表信息获得控制电压VWDC@PC，或者可以通过使用以下表达式(2)来计算控制电压 VWDC@PC。VWDG5@PG = P1@PL+(P1@PH—P1@PL) x ^-5卜 ...(2)写入处理时B2DAC 137的指示值P1INISET@WR可以例如如以下表 达式(3)所示、根据读取操作时的控制电压输入处理的结果来计算。P1INISET@WR = RINISET@WR - VWDC5@PC…(3)如上所述，初始校准处理单元221以与实际写入处理时的操作相同的 方式进行操作，以执行两点校准处理，从而写入处理时冷却通道的控制电 压WDC5的控制可以更容易地以更精确的方式被校准。接下来，将参考图16中的流程图描述在图8中的步骤S3中执行的满 刻度评估处理的流程示例。根据需要将参考图17和18进行描述。图17是 图示出参考图2描述的光学头单元16的各个单元在针对擦除通道的满刻 度评估处理执行时的操作的情形示例的图。图18是图示出参考图2描述 的光学头单元16的各个单元在针对峰值通道的满刻度评估处理执行时的 操作的情形示例的图。满刻度评估处理单元233执行用于设定CIDAC 155和C2DAC 156的 指示值的满刻度评估处理，以便有效地利用CIDAC 155和C2DAC 156的 满刻度来分别确定擦除通道和峰值通道的比率(RATIO)。虽然APC 113 的其他D/A转换器是10比特D/A转换器，但C1DAC 155和C2DAC 156 使用具有8比特分辨率的D/A转换器，并且尤其希望更有效地利用其满刻 度。C1DAC 155和C2DAC 156以控制电压VWDC (即B3DAC 162的输 出电压)作为基准来确定RATIO。因此，例如，如果B3DAC 162的值太 小，则C1DAC 155和C2DAC 156很难将RATIO设定成小值。相反，如 果B3DAC 162的值太大，则C1DAC 155和C2DAC 156很难将RATIO设 定成大值。也就是说，可能存在这样的情况，即8比特分辨率中只有一部 分(这是一个狭窄的范围)可以被设定为C1DAC 155和C2DAC 156的指 示值。换言之，C1DAC 155和C2DAC 156的分辨率的较宽的范围被指派 给可设定的RATIO范围，从而可以执行更精细的RATIO设定。因此，首先，满刻度评估处理单元233将C1DAC 155和C2DAC 156 的指示值，即擦除通道和峰值通道的RATIO，视为最大(满刻度)，并且 获得当时的控制电压VWDC (B3DAC162的指示值)(评估满刻度)。在满刻度评估处理开始后，在步骤S61中，满刻度评估处理单元233 将C1DAC 155的指示值ERATIO和C2DAC 156的指示值PRATIO设定成 最大。在步骤S62中，满刻度评估处理单元233控制写入策略123以将冷却 通道和擦除通道设定成ON。如图17所示，写入策略123基于来自满刻度 评估处理单元233的请求将控制信号WGATE和ERASE设定成ON (实 线)，并且将控制信号PEAK设定成OFF (虚线)。在WGATE被设定成 ON后，读取通道进入OFF状态，并且冷却通道进入ON状态。因而，光 学头单元16的每个单元执行与写入处理中发射具有擦除功率的激光束时 相同的操作。也就是说，满刻度评估处理单元233预先执行C1DAC 155 的满刻度评估。在步骤S63中，满刻度评估处理单元233设定A2DAC 151的指示值 P2PWR，以使得作为上述两点校准处理的较大目标值的目标值PH被设定 为目标值。也就是说，此时，APC的擦除通道的目标值被设定成PH。此 时的目标值可被设定成任意的值，但是希望将目标值设定成较大的值，以 便将控制电压VWDC设定成较大的值。在设定目标值后，在步骤S64 中，满刻度评估处理单元233控制每个单元以执行APC控制。如图17所示，比较器152比较放大器132的输出电压和从A2DAC 151输出的与P2PWR (PH)相当的电压，并且将其差值提供给控制电压 调节单元153。控制电压调节单元153选择比较器152的差值作为输入， 并且根据该值来调节控制电压VWDC。调节后的控制电压VWDC被 C1DAC 155衰减，并且被从擦除通道输出到LDD 114，作为控制电压 WDC3。注意，此时，如图17所示，冷却通道的控制电压WDC5被设定为固 定的值。也就是说，A1DAC 133的指示值未被设定，并且B1DAC 142的 指示值PINISET被设定成通过读取操作时的控制电压输入处理获得的RINISET@WR。另外，B2DAC 137的指示值P1INISET被设定成通过冷却 通道两点校准处理获得的P1INISET@WR。电子开关(SW) 139选择减法 器138的输出。也就是说，控制电压WDC5变为RINISET@WR -P1INISET@WR。也就是说，利用LDD 114的加法器191，基于冷却通道的控制电压 WDC5的电流和基于擦除通道的控制电压WDC3的电流被相加，并且被提 供到LDlll。也就是说，与擦除功率有关的APC控制被执行。在步骤S65中，满刻度评估处理单元233控制AD 161以将控制电压 VWDC转换成数字值EINTMON (图17)，并且提取它。在获得 EINTMON后，满刻度评估处理单元233执行对此时C2DAC 156的满刻度 的评估。在步骤S66中，满刻度评估处理单元233控制写入策略123以将冷却 通道和峰值通道设定成ON。如图18所示，写入策略123基于来自满刻度 评估处理单元233的请求，将控制信号WGATE和PEAK设定成ON (实 线)，并且将控制信号ERASE设定成OFF (虚线)。在WGATE被设定 成ON后，读取通道进入OFF状态，并且冷却通道进入ON状态。因而， 光学头单元16的每个单元执行与写入处理中发射具有峰值功率的激光束 时相同的操作。在步骤S67中，满刻度评估处理单元233以与步骤S63的情况相同的 方式将A2DAC 151的指示值P2PWR设定成PH。也就是说，此时，APC 的峰值通道的目标值也被设定成PH。此时的目标值可以被设定成任意的 值，但是希望将目标值设定成较大的值，以便将控制电压VWDC设定成 较大的值。在设定目标值后，在步骤S68中，满刻度评估处理单元233控 制每个单元以执行APC控制。如图18所示，此时APC 113的每个单元的操作与图17的情况相同。 利用LDD 114的加法器191，基于冷却通道的控制电压WDC5的电流和基 于峰值通道的控制电压WDC2的电流被相加，并且被提供到LD 111。也 就是说，与峰值功率有关的APC控制被执行。在步骤S69中，满刻度评估处理单元233控制AD 161以将控制电压VWDC转换成数字值PINTMON (图18)，并且提取它。在获得 PINTMON后，在步骤S70中，满刻度评估处理单元233基于EINTMON 和PINTMON来计算B3DAC 162的指示值P2INISET (表达式(4))。<formula>formula see original document page 40</formula> 4)在表达式(4)中，P2INISET@WR表示写入处理时B3DAC 162的指 示值，E@PH表示在目标值被设定成PH并且ERATIO被设定成最大时的 EINTMON, P@PH表示在目标值被设定成PH并且PRATIO被设定成最大 时的PINTMON,并且f(A, B)表示一函数，其中A和B是变量。注意，任 何种类的函数都可以被用作此函数。作为此函数的示例，可以举这样一个 函数作为例子其中在执行要对擦除和峰值通道中的每一个设定的最大功 率设定的情况下，在EINTMON和PINTMON的估计值中，例如通过向较 大的估计值加上IO左右的裕量而获得的值被输出作为结果。注意，以与逐次比较A/D转换器136的情况相同的方式，如果AD 161的输出数字值是B3DAC 162的输入数字值，则可以假定B3DAC 162 的输出电压与AD 161的输入电压相同。在计算P2INISET⑥WR后，满刻度评估处理单元233结束满刻度评估 处理，使处理返回到图8中的步骤S3，并且执行步骤S4及其后的处理。分别基于这种满刻度的评估结果，擦除通道两点校准阶段1处理单元 234执行擦除通道控制校准处理，并且峰值通道两点校准阶段1处理单元 235执行峰值通道控制校准处理。接下来，将参考图19的流程图描述在图8中的步骤S4中执行的擦除 通道两点校准阶段1处理的流程示例。根据需要将参考图17和20进行描 述。也就是说，在执行擦除通道两点校准阶段1处理时光学头单元16基 本上以与对擦除通道执行满刻度评估处理时相同的方式进行操作。也就是 说，在这种情况下，APCU3也以与写入处理时相同的方式进行操作。擦除通道两点校准阶段1处理单元234以与冷却通道两点校准处理相 同的方式，通过使用目标值PL和PH的两点校准来对擦除通道进行校准。 但是，在擦除通道的情况下，与冷却通道的情况不同，使用与峰值通道共 同的B3DAC 162作为用于设定初始值的D/A转换器，并且利用C1DAC155 (这是用于RATIO的DAC)的指示值ERATIO来执行仅对擦除通道 进行的控制。因此，擦除通道的控制的校准是利用C1DAC 155的指示值 ERATIO的校准来执行的。顺便说一下，图20A是提取并图示出图2中的APC 113的与擦除通道 有关的组件的图，但是，例如，如果值"200"被设定为P2INISET，并且 值"100"被设定为ERATIO，则擦除通道的控制电压WDC3例如表示为 以下表达式(5)所示。VWDC3 = K(200 x 100) …(5)其中P2INISET = 200 ，并且ERATIO = 100 。在表达式(5)中，K(X)表示与X成比例的值。也就是说，控制电压 WDC3与P2INISET和ERATIO之间的乘积成比例。因此，例如，如表达 式(6)中所示，即使P2INISET和ERATIO的值被替换，控制电压WDC3 的值也不被改变。VWDC3 = K (100 x 200) ... (6)其中P2INISET =100，并且ERATIO = 200 。也就是说，P2INISET和ERATIO是可替换的。另外，如上所述，如 果假定AD 161的输出数字值是B3DAC 162的输入数字值，那么B3DAC 162的输出电压与AD 161的输入电压相同。也就是说，可以通过使用已经 实际经历APC控制的控制电压VWDC (AD 161的输出数字值)来对 ERATIO的值进行校准。图20B是提取并图示出图2中的APC 113的与擦除通道和峰值通道有 关的组件的图。如上所述，P2INISET@WR是被满刻度评估处理利用 ERATIO和PRATIO的满刻度进行了优化的固定值。因此，通过获得与 P2INISET@WR相对应的EIK，可以适当地对ERATIO进行校准。因此，擦除通道两点校准阶段1处理单元234通过利用这种替换并且 使用AD 161的输出数字值，来执行ERATIO的两点校准处理。在擦除通道两点校准阶段1处理开始后，在步骤S91中，以与图16中的步骤S62相同的方式，擦除通道两点校准阶段1处理单元234控制写 入策略123以将冷却通道和擦除通道设定成ON。也就是说，光学头单元 16的每个单元基本上执行写入处理中发射具有冷却功率的激光束时的操 作。在步骤S92中，擦除通道两点校准阶段1处理单元234基于通过满刻 度评估处理获得的写入处理时B3DAC 162的指示值P2INISET@WR来设 定ERATIO。具体而言，B3DAC 162的分辨率是10比特，而C1DAC 155 的分辨率是8比特，因此擦除通道两点校准阶段1处理单元234将 P2INISET@WR/4设定为ERATIO 。在设定ERATIO后，在步骤S93中，擦除通道两点校准阶段1处理单 元234将PL设定为A2DAC 151的指示值P2PWR。也就是说，此时APC 的目标值被设定成PL。在设定目标值后，在步骤S94中，擦除通道两点 校准阶段1处理单元234控制每个单元以执行APC控制。如参考图17所 述，光学头单元16的每个单元以与写入处理时相同的方式进行操作。也 就是说，与擦除功率有关的APC控制被执行。在步骤S95中，擦除通道两点校准阶段1处理单元234控制AD 161 以将控制电压VWDC转换成数字值EINTMON (图17),并且提取它。 在获得EINTMON (E@PL)后，在步骤S96中，如表达式(7)中所示， 擦除通道两点校准阶段1处理单元234利用该E@PL来替换ERATIO，并 且计算ERATIO@PL，该ERATIO@PL是在使用PL作为目标值时的 ERATIO 。<formula>formula see original document page 42</formula>
在获得使用PL作为目标值时的ERATIO后，接下来，擦除通道两点 校准阶段1处理单元234计算在使用PH作为目标值时的ERATIO。在步骤S97中，擦除通道两点校准阶段1处理单元234将PH设定为 A2DAC 151的指示值P2PWR。也就是说，此时APC的目标值被设定成 PH。在设定目标值后，在步骤S98中，擦除通道两点校准阶段1处理单元 234控制每个单元以执行APC控制。在这种情况下，光学头单元16的每 个单元也以与写入处理时相同的方式进行操作，如参考图17所述，并且与擦除功率有关的APC控制被执行。在步骤S99中，擦除通道两点校准阶段1处理单元234控制AD 161 以将控制电压VWDC转换成数字值EINTMON (图17)，并且提取它。 在获得EINTMON (E@PH)后，在步骤S100中，如表达式(8)中所 示，擦除通道两点校准阶段1处理单元234利用该E@PH来替换 ERATIO，并且计算ERATIO@PH,该ERATIO@PH是在使用PH作为目 标值时的ERATIO 。ERATIO@PH = E@PH / 4 ... (8)在获得使用PH作为目标值时的ERATIO后，擦除通道两点校准阶段 1处理单元234结束擦除通道两点校准阶段1处理，使处理返回到图8中 的步骤S4，并且执行步骤S5及其后的处理。接下来，将参考图21的流程图描述在图8中的步骤S5中执行的峰值 通道两点校准阶段1处理的流程示例。根据需要将参考图18进行描述。 也就是说，在执行峰值通道两点校准阶段1处理时光学头单元16基本上 以与对峰值通道执行满刻度评估处理时相同的方式进行操作。也就是说， 在这种情况下，APC 113也以与写入处理时相同的方式进行操作。峰值通道两点校准阶段1处理单元235以与冷却通道两点校准处理相 同的方式，通过使用目标值PL和PH的两点校准来对峰值通道进行校准。 以与擦除通道的情况相同的方式，峰值通道的控制的校准是利用C2DAC 156 (这是用于RATIO的D/A转换器)的指示值PRATIO来执行的。用于 该校准的方法与参考图20A和20B描述的ERATIO的情况基本相同。在峰值通道两点校准阶段1处理开始后，在步骤S121中，以与图16 中的步骤S66中相同的方式，峰值通道两点校准阶段1处理单元235控制 写入策略123以将冷却通道和擦除通道设定成ON。也就是说，光学头单 元16的每个单元基本上执行写入处理中发射具有峰值功率的激光束时的 操作。在步骤S122中，峰值通道两点校准阶段1处理单元235基于通过满 刻度评估处理获得的写入处理时B3DAC 162的指示值P2INISET⑥WR来 设定PRATIO (P2INISET@WR/4)。在设定ERATIO后，在步骤S123中，峰值通道两点校准阶段1处理 单元235将PL设定为A2DAC 151的指示值P2PWR。也就是说，此时 APC的目标值被设定成PL。在设定目标值后，在步骤S124中，峰值通道 两点校准阶段1处理单元235控制每个单元以执行APC控制。如参考图 18所述，光学头单元16的每个单元以与写入处理时相同的方式进行操 作。也就是说，与峰值功率有关的APC控制被执行。在步骤S125中，峰值通道两点校准阶段1处理单元235控制AD 161 以将控制电压VWDC转换成数字值PINTMON (图18)，并且提取它。 在获得PINTMON (P@PL)后，在步骤S126中，如表达式(9)中所 示，峰值通道两点校准阶段1处理单元235利用该P@PL来替换 PRATIO，并且计算PRATIO@PL，该PRATIO@PL是在使用PL作为目标 值时的PRATIO。PRATIO@PL = P@PL / 4... (9)在获得使用PL作为目标值时的PRATIO后，接下来，峰值通道两点 校准阶段1处理单元235计算在使用PH作为目标值时的PRATIO。在步骤S127中，峰值通道两点校准阶段1处理单元235将PH设定为 A2DAC 151的指示值P2PWR。在将APC的目标值设定成PH后，在步骤 S128中，峰值通道两点校准阶段1处理单元235控制每个单元以执行APC 控制。在这种情况下，光学头单元16的每个单元也以与写入处理时相同 的方式进行操作，如参考图18所述，并且与峰值功率有关的APC控制被 执行。在步骤S129中，峰值通道两点校准阶段1处理单元235控制AD 161 以将控制电压VWDC转换成数字值PINTMON (图18)，并且提取它。 在获得PINTMON (P@PH)后，在步骤S130中，如表达式(10)中所 示，峰值通道两点校准阶段1处理单元235利用该P@PH来替换 PRATIO，并且计算PRATIO@PH，该PRATIO@PH是在使用PH作为目 标值时的PRATIO。PRATIO@PH = P@PH / 4 ... (10)在获得使用PH作为目标值时的ERATIO后，峰值通道两点校准阶段1处理单元235结束峰值通道两点校准阶段1处理，使处理返回到图8中 的步骤S5，并且执行步骤S6及其后的处理。在对擦除通道和峰值通道中的每一个执行第一两点校准处理(阶段 1)后，ERATIO和PRATIO被替换为利用该校准处理计算出的EINTMON 和PINTMON，并且第二两点校准处理(阶段2)被执行。第一两点校准处理是通过使用共同的值P2INISET@WR作为在目标值 为PH的情况和目标值为PL的情况中的任一种情况下的ERATIO和 PRATIO来执行的。因此，存在这样的可能，即计算出的ERATIO和 PRATIO的值包括具有不可接受的水平的大误差。因此，为了以更精确的 方式来执行校准处理，擦除通道两点校准阶段2处理单元236和峰值通道 两点校准阶段2处理单元237各自通过使用在阶段1计算出的ERATIO和 PRATIO，再次对ERATIO和PRATIO执行与阶段1相同的两点校准处理 (阶段2)。将参考图22中的流程图来描述在图8中的步骤S6中执行的擦除通道 两点校准阶段2处理的流程示例。擦除通道两点校准阶段2处理基本上是与擦除通道两点校准阶段1处 理相同的处理。因此，擦除通道两点校准阶段2处理单元236基本上以与 图19中的步骤S91至S100中相同的方式执行步骤S151至S161中的每个 处理。但是，在阶段2的情况下，取决于是PL还是PH被用作目标值， ERATIO的值被改变。也就是说，在以与图19中的S91中相同的方式执行步骤S151中的处 理之后，在步骤S152中，擦除通道两点校准阶段2处理单元236将 C1DAC 155的指示值ERATIO设定成利用阶段1获得的在使用PL作为目 标值时的ERATIO (ERATIO@PL)。擦除通道两点校准阶段2处理单元 236使用该ERATIO，来以与图19中的步骤S93至S96的情况相同的方式 执行步骤S153至S156中的处理，并且计算在使用PL作为目标值时的新 ERATIO (新ERATI0②PIJ 。然后，在步骤S157中，擦除通道两点校准阶段2处理单元236将 C1DAC 155的指示值ERATIO设定成利用阶段1获得的在使用PH作为目标值时的ERATIO (ERATIO@PH)。擦除通道两点校准阶段2处理单元 236使用该ERATIO，来以与图19中的步骤S97至S100的情况相同的方 式执行步骤S158至S161中的处理，并且计算在使用PH作为目标值时的 新ERATIO G§ ERATIO@PH)。在获得使用PH作为目标值时的ERATIO后，擦除通道两点校准阶段 2处理单元236结束擦除通道两点校准阶段2处理，使处理返回到图8中 的步骤S6，并且执行步骤S7及其后的处理。将参考图23中的流程图来描述在图8中的步骤S7中执行的峰值通道 两点校准阶段2处理的流程示例。峰值通道两点校准阶段2处理基本上是与峰值通道两点校准阶段1处 理相同的处理。因此，峰值通道两点校准阶段2处理单元237基本上以与 图21中的步骤S121至S130中相同的方式执行步骤S181至S191中的每 个处理。但是，在阶段2的情况下，取决于是PL还是PH被用作目标值， PRATIO的值被改变。也就是说，在以与图21中的S121中相同的方式执行步骤S181中的 处理之后，在步骤S182中，峰值通道两点校准阶段2处理单元237将 C2DAC 156的指示值PRATIO设定成利用阶段1获得的在使用PL作为目 标值时的PRATIO (PRATIO@PL)。峰值通道两点校准阶段2处理单元 237使用该PRATIO，来以与图21中的步骤S123至S126的情况相同的方 式执行步骤S183至S186中的处理，并且计算在使用PL作为目标值时的 新PRATIO (新PRATIO⑥PL)。然后，在步骤S187中，峰值通道两点校准阶段2处理单元237将 C2DAC 156的指示值PRATIO设定成利用阶段1获得的在使用PH作为目 标值时的PRATIO (PRATIO@PH)。峰值通道两点校准阶段2处理单元 237使用该PRATIO，来以与图21中的步骤S127至S130的情况相同的方 式执行步骤S188至S191中的处理，并且计算在使用PH作为目标值时的 新PRATIO (新PRATIO⑥PH)。在获得使用PH作为目标值时的PRATIO后，峰值通道两点校准阶段 2处理单元237结束峰值通道两点校准阶段2处理，使处理返回到图8中的步骤S7，并且执行步骤S8及其后的处理。在图8的步骤S8中，RATIO设定处理单元238使用这样计算出的与 目标值PL和PH相对应的EINTMON和PINTMON来获得与目标值PL和 PH相对应的ERATIO (ERATIO@PL和ERATIO@PH)以及PRATIO (PRATIO@PL禾B PRATIO@PH)，并且还使用这些值来计算与利用满刻 度评估处理计算出的P2INISET⑥WR相对应的ERATIO (ERATIO@WR) 和PRATIO (PRATIO@WR)，并且设定它们。将具体地描述该计算方法。首先，将参考图24对ERATIO②WR进行 描述。如图24所示，利用满刻度评估处理，将8比特分辨率的C1DAC 155 的指示值ERATIO的值设定成255，并且获得与目标值PH (箭头301 )相 对应的AD 161的输出EINTMON (E@PH)。然后，利用两点校准阶段1 处理，根据替换，将ERATIO的值设定成P2INISET@WR/4，即设定成利 用满刻度评估处理获得的E@PH的1/4,并且获得分别与目标值PL和PH 相对应的AD 161的输出EINTMON (E@PL禾H E@PH)。另外，利用两 点校准阶段2处理，根据替换，利用表达式(7)来设定使用PL作为目标 值时的ERATIO，并且利用表达式(8)来设定使用PH作为目标值时的 ERATIO (ERATIO@PH)。然后，通过使用每个ERATIO来获得分别与 目标值PL和PH相对应的AD 161的输出EINTMON (E@PL和 E@PH)。利用阶段1和2， ERATIO和EINTMON之间的比率是恒定的，因此 RATIO设定处理单元238可以基于阶段2的处理结果来更新与目标值PL相对应的ERATIO，例如以下表达式(11)中所示。PDAT咖Pi _ ERATI0@PLxE@PL m、 ERATI0@PL —P2INISET@WR …(")类似地，RATIO设定处理单元238可以基于阶段2的处理结果来更新 与目标值PH相对应的ERATIO，例如以下表达式(12)中所示。「nrrTn向pn- ERATI0@PHxE@PH M9、 ERATI0@PH —P2INISET@WR …(12)通过使用ERATIO⑥PL禾t1 ERATIO@PH，可以用图25中所示的图线 的直线311来表示目标值和ERATIO之间的关系。RATIO设定处理单元238可以通过使用该直线311来计算与任意目标 值相对应的ERATIO (两点校准)。也就是说，例如，可以计算在使用擦 除功率Pe作为目标值时的ERATIO (ERATIO@WR)。此时，RATIO设 定处理单元238可以创建与图25所示的图线相当的表信息来基于该表信 息获得ERATIO@WR，或者可以通过使用以下表达式(13)来计算 ERATIO@WR。ERATIO - ERATI0@PL+ (ERATI0@PH—ERATI0@PL) x * (13)注意，表达式(13)中的Pe表示擦除功率。另外，如图26所示，RATIO设定处理单元238可以通过与 ERATIO@WR的情况中相同的方式来获得PRATIO@WR。也就是说，如 图26所示，利用满刻度评估处理，将8比特分辨率的C2DAC 156的指示 值PRATIO的值设定成255，并且获得与目标值PH (箭头321)相对应的 AD 161的输出PINTMON (P@PH)。然后，利用两点校准阶段1处理， 根据替换，将PRATIO的值设定成P2INISET@WR/4，即设定成利用满刻 度评估处理获得的P@PH的1/4，并且获得分别与目标值PL和PH相对应 的AD 161的输出PINTMON (P@PI^QP@PH)。另外，利用两点校准阶 段2处理，根据替换，利用表达式(9)来设定使用PL作为目标值时的 PRATIO，并且利用表达式(10)来设定使用PH作为目标值时的 PRATIO。然后，通过使用每个PRATIO来获得分别与目标值PL和PH相 对应的AD 161的输出PINTMON (P②PL禾n P@PH)。利用阶段1和2， PRATIO和PINTMON之间的比率是恒定的，因此 RATIO设定处理单元238可以基于阶段2的处理结果来更新与目标值PL 相对应的PRATIO，例如以下表达式(14)中所示。PRAT酵L = PRATK)@PLxP@PL , (14)面肌rL P2INISET@WR U4;类似地，RATIO设定处理单元238可以基于阶段2的处理结果来更新 与目标值PH相对应的PRATIO，例如以下表达式(15)中所示。ppATTn向pn— PRATI0@PHxP@PH MI;、 PRAT脂PH -P2INISET@WR …(15)通过使用PRATIC^PL和PRATIO@PH，可以用图25中所示的图线 的直线311来表示目标值和PRATIO之间的关系。RATIO设定处理单元238可以通过使用该直线311来计算与任意目标 值相对应的PRATIO (两点校准)。也就是说，例如，可以计算在使用峰 值功率Pp作为目标值时的PRATIO。此时，RATIO设定处理单元238可 以创建与图25所示的图线相当的表信息来基于该表信息获得 PRATIO@WR ，或者可以通过使用以下表达式(16)来计算 PRATIO@WR。<formula>formula see original document page 49</formula>注意，表达式(16)中的Pp表示峰值功率。如上所述，初始校准处理单元221以与实际写入处理时的操作相同的 方式进行操作来执行两点校准处理，从而在写入处理时擦除通道的控制电 压WDC3和峰值通道的控制电压WDC2的控制可以很容易地以更精确的 方式被校准。另外，将两点校准处理执行了两次，从而可以在考虑了实际 写入处理时的偏移和噪声等等的状态中执行校准处理，并且因此可以以更 精确的方式执行校准。接下来，将参考图27中的流程图描述操作校准处理。根据需要将参 考图28进行描述。如上所述，对于操作校准处理，以与初始校准处理相 同的方式执行读取操作时控制电压VRDC的输入以及仅仅针对擦除通道和 峰值通道的两点校准处理的阶段2处理。另外，在两点校准处理的第一次 旋转，在考虑ERATIO和PRATIO两者的情况下预先校正性地对光盘的预 定RUB执行使用PL作为目标时的处理，并且在第二次旋转，执行使用 PH作为目标时的处理。在操作校准处理开始后，在步骤S301中，如图28中的文字气球401 中所示，初始校准处理单元221的VRDC提取处理单元241执行用于通过 AD 141输入与读取功率相对应的控制电压VRDC作为读取操作时的数字 值的读取操作时的控制电压输入处理，并且输入读取操作时的控制电压 VRDC。在步骤S302中，如图28中的文字气球402和403中所示，PL校准处 理单元242执行使用PL作为目标值时的PL校准处理，用于对擦除通道和 峰值通道两者校正性地执行。该处理是在对光盘21的特定RUB开始操作 校准处理之后的第一次旋转时执行的。注意，在步骤S301中要执行的读取操作时的控制电压输入处理是对 位于执行两点校准处理的预定RUB之前预定距离处的RUB执行的。执行 读取操作时的控制电压输入处理的位置是任意的，但是如果读取操作时的 控制电压输入处理之间的时间差过长，则有可能操作温度等等已改变，因 此希望在执行PL校准处理的RUB之前与该RUB接近的位置处执行读取 操作时的控制电压输入处理。另外，如图28所示，对于要被处理的RUB中的一部分，针对擦除通 道的校准处理首先被执行，而对于剩余部分的一部分，针对峰值通道的校 准处理被执行。在PL校准处理结束后，在步骤S303中，待用处理单元243待用一段 预定的时间，以防止在光盘21上发生历史效应。该待用时段的长度是任 意的，光盘21可以旋转任何多次，直到要经历PL校准处理的RUB开始 PH校准处理为止，但是如果待用时段被设定得过长，则有可能操作温度 等等已改变，因此希望将待用时间设定成一次旋转左右。下面，假定待用 时段是要经历PL校准处理的RUB转一圈并返回的时段。在光盘21旋转一次并且LD 111位于要处理的RUB中后，如图28中 的文字气球404和405中所示，在步骤S304中，PH校准处理单元244执 行PH校准处理，用于针对擦除通道和峰值通道两者校正性地执行使用PH 作为目标值时的校准处理。另外，如图28所示，对于要被处理的RUB中的一部分，针对擦除通 道的校准处理首先被执行，而对于剩余部分的一部分，针对峰值通道的校 准处理被执行。在PH校准处理结束后，在步骤S305中，RATIO校正处理单元245 对C1DAC 155的指示值ERATIO (ERATIO@PL和ERATIO@PH)以及 C2DAC 156的指示值PRATIO (PRATIO@PL禾tl PRATIO@PH)进行校正。在步骤S306中，RATIO设定处理单元246使用该校正后的ERATIO 和PRATIO来设定与P2INISET@WR相对应的ERATIO@WR和 PRATIO@WR。在步骤S306中的处理结束后，操作校准处理单元222结 束操作时的校准处理。接下来，将描述步骤S301至S306中的每个处理的细节。首先，将参 考图29中的流程图来描述在步骤S301中执行的读取操作时的控制电压输 入处理的流程示例。根据需要将参考图30和31进行描述。图30是图示出 读取操作时的控制电压输入处理的情形示例的示意图。图31是用于描述 读取操作时的控制电压输入处理的内容的细节的图。操作时的校准处理的读取操作时的控制电压输入处理基本上是以与初 始校准处理的读取操作时的控制电压输入处理相同的方式来执行的。但 是，在操作时的校准处理的情况下，读取操作时的控制电压输入处理是在 跟踪光盘21的同时执行的，因此控制电压VRDC的输入被执行多次以提 高精确度。也就是说，VRDC提取处理单元241以与图10中的步骤S21至S23相 同的方式执行步骤S321至S323中的每个处理。如图31中的框421内所 示，可以省略在执行控制电压VRDC的输入之前的预处理。在与读取操作有关的APC控制被执行后，如图30中的文字气球411 中所示，在步骤S324中，VRDC提取处理单元241控制AD 141以将控制 电压VRDC转换成数字值，以按预定的次数提取它。实际上，如图30中 的文字气球412中所示，VRDC提取处理单元241只在类似软件定时处激 活用于反复获得AD 141的输出数字值RINTMON的脚本。此时，如图31 中的框422内所示，VRDC提取处理单元241设定每个值。也就是说， RINTMON的输入基本上与普通的读取操作相同。RINTMON的输入被该脚本执行。该脚本例如将读取操作时的 RINTMON的输入重复十次。在输入结束后，如图30中的文字气球413中所示，在步骤S325中， VRDC提取处理单元241使用所提取的数字值的群组来获得B1DAC 142 的指示值RINISET (将最新的RINTMON的值反映在RINISET上)。更具体而言，如图30中的文字气球414中以及图31中的框423内所示，在 所提取的十个RINTMON中，通过对除最小值和最大值之外的八个值的平 均值进行舍入来获得一值，并且将该值设定成RINISET。在计算B1DAC 142的指示值RINISET后，VRDC提取处理单元241 使处理返回到图27中的步骤S301，并且执行步骤S302及其后的处理。接下来，将参考图32的流程图来描述在图27中的步骤S302中执行 的PL校准处理的细节。根据需要将参考图33和34来进行描述。图33是 图示出PL校准处理的情形示例的示意图。图34是用于描述PL校准处理 的内容的细节的图。在AD 161输入控制电压VRDC之前的预处理被执行时，在步骤S341 中，PL校准处理单元242将C1DAC 155的指示值ERATIO设定成利用先 前的PL校准处理计算出的ERATIO@PL，并且在步骤S342中，将 C2DAC 156的指示值PRATIO设定成利用先前的PL校准处理计算出的 PRATIO@PL。更具体而言，如图34中的框441内所示，利用先前的PL校准处理计 算出的ERATIO@PL和PRATIO@PL被舍入并转换成整数。注意，对于 ERATIO@PL和PRATIO@PL，类似地利用先前的校准处理获得的值可以 被保存为ERATIO@PL和PRATIO@PL，或者可以进行这样一种布置，其 中利用先前的校准处理获得的值被保存，并且ERATIO@PL和 PRATIO@PL是利用当前的校准处理从保存的值计算出的。描述将回到图32，其中在步骤S343中，PL校准处理单元242在AD 161输入控制电压VWDC之前的先前处理被执行时，将A1DAC 133的指 示值设定成EPWR以便使用PL作为目标值，并且在步骤S344中将 A2DAC 151的指示值设定成P2PWR以便使用PL作为目标值。更具体而言，如图34中的框441内所示，PL校准处理单元242根据 P2L/P2H-OP附加数据来计算与目标值EPWR的PL相当的值以便设定它， 并且根据P2L/P2H-OP附加数据来计算与目标值P2PWR的PL相当的值以 便设定它。在预处理结束后，接下来在步骤S345中，PL校准处理单元242将冷却通道和擦除通道设定成ON，并且在步骤S346中执行写入处理时对擦除 通道的APC控制。然后，在步骤S347中，如图33中的文字气球431中所 示，PL校准处理单元242将控制电压VWDC转换成数字值，以预定次数 地提取它作为EINTMON，以便提高精确度。实际上，如图33中的文字气球432中所示，PL校准处理单元242只 在要被处理的RUB的头部的BLKINT的定时激活用于反复获得AD 161的 输出值EINTMON的脚本。也就是说，AD 161的输出值EINTMON的输 入是由该脚本来执行的。该脚本例如将写入处理时EINTMON的输入重复在AD 161的输出数字值EINTMON被输入后，在步骤S348中，PL 校准处理单元242此时将冷却通道和峰值通道设定成ON。也就是说，PL 校准处理单元242将要设定成ON的通道从擦除通道切换到峰值通道。注 意，APC控制处理在步骤S348及其后的步骤中继续。也就是说，根据步 骤S348中的通道切换，执行从与擦除通道有关的APC控制到与峰值通道 有关的APC控制的切换。在步骤S349中，如图33中的文字气球433中所示，PL校准处理单元 242将控制电压VWDC转换成数字值，以预定次数地提取它作为 PINTMON，以便提高精确度。实际上，如图33中的文字气球434中所示，PL校准处理单元242只 在要被处理的RUB的中部的BLKINT的定时激活用于反复获得AD 161的 输出值PINTMON的脚本。也就是说，AD 161的输出值PINTMON的输 入是由该脚本来执行的。该脚本例如将写入处理时PINTMON的输入重复 十次。在提取EINTMON和PINTMON后，在步骤S350中，PL校准处理单 元242使用所提取的数字值的群组来获得使用PL作为目标值时的 EINTMON (EINTMON@PL)，并且在步骤S351中使用所提取的数字值 的群组来获得使用PL作为目标值时的PINTMON (PINTMON@PL)。更具体而言，如图34中的框442内所示，在所提取的十个EINTMON 中，PL校准处理单元242通过对除最小值和最大值之外的八个值的平均值进行舍入来获得一值，并且将该值设定成EINTMON@PL。类似地，在所 提取的十个PINTMON中，PL校准处理单元242通过对除最小值和最大值 之外的八个值的平均值进行舍入来获得一值，并且将该值设定成 PINTMON@PL。如上所述，在计算EINTMON⑥PL和PINTMON⑥PL后，PL校准处 理单元242结束PL校准处理，使处理返回到图27中的步骤S302，并且执 行步骤S303及其后的处理。也就是说，在等待预定的一段时间之后，PL 校准处理开始。接下来，将参考图35的流程图来描述在图27中的步骤S304中执行 的PH校准处理的细节。根据需要将参考图36和37来进行描述。图36是 图示出PH校准处理的情形示例的示意图。图37是用于描述PH校准处理 的内容的细节的图。在AD 161输入控制电压VRDC之前的预处理被执行时，在步骤S371 中，PH校准处理单元242将C1DAC 155的指示值ERATIO设定成利用先 前的PH校准处理计算出的ERATIO@PH，并且在步骤S372中，将 C2DAC 156的指示值PRATIO设定成利用先前的PH校准处理计算出的 PRATIO@PH。更具体而言，如图37中的框461内所示，利用先前的PH校准处理计 算出的ERATIO⑥PH和PRATIO@PH被舍入并转换成整数。注意，对于 ERATIO⑥PH和PRATIO@PH，类似地利用先前的校准处理获得的值可以 被保存为ERATIO⑥PH和PRATIO⑥PH,或者可以进行这样一种布置，其 中利用先前的校准处理获得的值被保存，并且ERATIO@PH和 PRATIO@PH是利用当前的校准处理从保存的值计算出的。描述将回到图35，其中在步骤S373中，PH校准处理单元244在AD 161输入控制电压VWDC之前的先前处理被执行时，将A1DAC 133的指 示值设定成EPWR以便使用PH作为目标值，并且在步骤S374中将 A2DAC 151的指示值设定成P2PWR以便使用PH作为目标值。更具体而言，如图37中的框441内所示，PH校准处理单元244根据 P2L/P2H-OP附加数据来计算与目标值EPWR的PH相当的值以便设定它，并且根据P2L/P2H-OP附加数据来计算与目标值P2PWR的PH相当的值以便设定它。在预处理结束后，接下来在步骤S375中，PH校准处理单元244将冷 却通道和擦除通道设定成ON，并且在步骤S376中执行写入处理时对擦除 通道的APC控制。然后，在步骤S377中，如图36中的文字气球451中所 示，PH校准处理单元244将控制电压VWDC转换成数字值，以预定次数 地提取它作为EINTMON，以便提高精确度。实际上，如图36中的文字气球452中所示，PH校准处理单元244只 在要被处理的RUB的头部的BLKINT的定时激活用于反复获得AD 161的 输出值EINTMON的脚本。也就是说，AD 161的输出值EINTMON的输 入是由该脚本来执行的。该脚本例如将写入处理时EINTMON的输入重复 十次。在AD 161的输出数字值EINTMON被输入后，在步骤S378中，PH 校准处理单元244此时将冷却通道和峰值通道设定成ON。也就是说，PH 校准处理单元244将要设定成ON的通道从擦除通道切换到峰值通道。注 意，APC控制处理在步骤S378及其后的步骤中继续。也就是说，根据步 骤S378中的通道切换，执行从与擦除通道有关的APC控制到与峰值通道 有关的APC控制的切换。在步骤S379中，如图36中的文字气球453中所示，PH校准处理单元 244将控制电压VWDC转换成数字值，以预定次数地提取它作为 PINTMON，以便提高精确度。实际上，如图36中的文字气球454中所示，PH校准处理单元244只 在要被处理的RUB的中部的BLKINT的定时激活用于反复获得AD 161的 输出值PINTMON的脚本。也就是说，AD 161的输出值PINTMON的输 入是由该脚本来执行的。该脚本例如将写入处理时PINTMON的输入重复 十次。在提取EINTMON和PINTMON后，在步骤S380中，PH校准处理单 元244使用所提取的数字值的群组来获得使用PH作为目标值时的 EINTMON (EINTMON@PH)，并且在步骤S381中使用所提取的数字值的群组来获得使用PH作为目标值时的PINTMON (PINTMON@PH)。更具体而言，如图37中的框462内所示，在所提取的十个EINTMON 中，PH校准处理单元244通过对除最小值和最大值之外的八个值的平均 值进行舍入来获得一值，并且将该值设定成EINTMON@PH。类似地，在 所提取的十个PINTMON中，PH校准处理单元244通过对除最小值和最 大值之外的八个值的平均值进行舍入来获得一值，并且将该值设定成 PINTMON@PH。如上所述，在计算EINTMON⑨PH和PINTMON⑥PH后，PH校准处 理单元244结束PH校准处理，使处理返回到图27中的步骤S304，并且 执行步骤S305及其后的处理。在步骤S305中，以与初始校准处理的步骤S6 (擦除通道两点校准阶 段2处理)和S7 (峰值通道两点校准阶段2处理)相同的方式，RATIO 校正处理单元245通过使用表达式(11)来校正ERATIO@PL以将其更新 到最新值，通过使用表达式(12)来校正ERATIO@PH以将其更新到最新 值，通过使用表达式(14)来校正PRATIO@PL以将其更新到最新值，并 且通过使用表达式(15)来校正PRATIO⑨PH以将其更新到最新值。然后，在步骤S306中，以与初始校准处理的步骤S8的情况相同的方 式，RATIO设定处理单元246通过使用表达式(13)来计算并设定 ERATIO@WR ，并且通过使用表达式(16)来计算并设定 PRATIO@WR。如上所述，操作校准处理单元222可以在跟踪光盘21的同时执行校 准处理。注意，迄今为止已经进行了这样的描述，其中，对于冷却通道、擦除 通道和峰值通道的控制的校准，执行两点校准处理，其中通过使用预定的 两点(PL和PH)作为目标值来执行APC，从该两点的结果获得目标值和 控制电压之间的关系，并且基于该关系来计算与所需目标值相对应的控制 电压，但是只要在校准处理时用于获得控制电压的目标值的数目为两个或 更多个即可，例如，可以针对三个或更多个目标值获得控制电压。另外，迄今为止己经进行了这样的描述，其中，在目标值为PL的情况下和目标值为PH的情况下的控制电压被作为数字值提取出来，并且利 用其中水平轴为目标值并且垂直轴为提取结果(D/A转换器的指示值)的 图线，将所提取的两个点用直线连接起来，并且在该直线上获得与所需的 目标值相对应的D/A转换器的指示值，但是可以利用任何种类的方法(例 如可以利用最小二乘方法)来获得表示目标值和D/A转换器的指示值之间 的关系的直线。另外，目标值和D/A转换器的指示值之间的关系并不限于 直线，而是可以用曲线来表示。注意，迄今为止己经针对光盘驱动器10进行了描述，但是本发明可 以被应用到任何种类的设备或系统，只要它包括用于控制激光束的发射功 率的APC系统即可。如上所述，CPU 31控制LD 111发射并输出具有相互不同的多个功率 的激光束，控制APC 113的AD 141或AD 161检测与每个功率相对应的 控制电压，获得该控制电压和该功率的目标值之间的关系，并且执行用于 根据该关系来调节与目标功率相对应的控制电压(用于设定控制电压的指 示值)的校准处理(多点校准)，从而校准处理可以以精确的方式被执 行。另外，CPU 31使APC 113中包括的多个通道中的一部分或全部每次 一个地经历这种针对每个通道的校准处理，从而每个通道的控制电压(用 于设定控制电压的指示值)的校准处理可以以精确的方式被执行。LDD 114将APC 113的每个通道的控制电压转换成电流，累积并提供 它，从而控制LD 111发射并输出具有根据该电流值的功率的激光束。另 外，LDD 114可以通过改变其累积电流的方法来控制LD 111发射具有多 个功率的激光束。利用这种系统，如上所述，CPU31以精确的方式执行每 个通道的控制电压的校准处理，从而不管在LD 111发射具有哪个功率的 激光束的情况下，CPU31都可以以精确的方式来控制APC 113。为了获得控制电压和该功率的目标值之间的关系，CPU 31控制AD 141或AD 161通过发射具有两个相互不同的目标值的激光束以执行APC 控制来检测目标值和控制电压(电流值的指示值)，基于两个检测结果获 得由指示值和目标值(功率)的组合构成的连接两点的直线，并且在该直线上获得与目标值相对应的指示值，从而很容易执行高精确度的校准处 理。另外，CPU31在对每个通道执行校准处理时以与正常操作(读取处理 和写入处理)的情况中相同的方式控制不是APC 113的校准处理对象的另 一通道。因而，CPU31可以在就电路的增益误差、偏移等等而言接近实际 操作的状态中执行校准处理，从而高精确度的校准处理可得以实现。注 意，根据这种方法，例如，即使在由于整个系统由被配置为相互分离的组 件的多个电路构成因而难以提高电路精确度的情况下，也可以很容易地执 行校准处理以便提高控制处理的精确度，从而可以促进系统设计。光盘驱动设备的光学头单元中包括的APC系统经历这种校准处理，从 而照射在光盘上的用于对光盘进行信息的读取或写入的激光束的功率可以 以精确的方式被控制。对于这种光盘驱动设备，LD发射并输出具有读取 功率、冷却功率、擦除功率、峰值功率等等的激光束，但是CPU 31可以 执行APC的校准，以便以精确的方式控制每个功率。初始校准处理单元221在光学头单元跟踪光盘之前(在开始读取处理 或写入处理之前)执行上述校准处理。因而，光学头单元的APC能够从读 取处理或写入处理开始就执行高精确度的APC控制。VRDC提取处理单元231在允许APC 113执行读取处理的读取功率发 射时的控制操作的同时执行控制电压的提取，从而高精确度的校准处理可 以在更接近实际操作的状态中被执行。冷却通道两点校准处理单元232在允许APC 113执行写入处理的冷却 功率发射时的控制操作的同时执行与冷却通道的控制有关的多点校准。因 而，冷却通道两点校准处理单元232不仅能够以更精确的方式执行冷却通 道的控制的校准，并且可以提高使用冷却功率的擦除功率或峰值功率的精 确度。擦除通道和峰值通道共享用于提供控制电压的初始值的D/A转换器， 并且每个通道包括用于RATIO的D/A转换器(C1DAC 155和C2DAC 156)。峰值通道两点校准阶段1处理单元235和峰值通道两点校准阶段2 处理单元237分别使擦除通道和峰值通道经历多点校准，从而擦除功率的控制和峰值功率的控制都能够以精确的方式被校准。擦除通道两点校准阶段1处理单元234和擦除通道两点校准阶段2处 理单元236使擦除通道多次经历校准处理，并且峰值通道两点校准阶段1 处理单元235和峰值通道两点校准阶段2处理单元237使峰值通道多次经 历校准处理。因而，擦除通道两点校准阶段1处理单元234至峰值通道两 点校准阶段2处理单元237能够以精确的方式执行校准处理。满刻度评估处理单元233设定作为用于提供擦除通道和峰值通道的控 制电压的初始值的D/A转换器的B3DAC 162的值，以尽可能高效地利用 用于RATIO的D/A转换器(C1DAC 155和C2DAC 156)的分辨率。因 而，擦除通道和峰值通道的RATIO的设定的分辨率被提高了，并且因 此，擦除通道两点校准阶段1处理单元234至峰值通道两点校准阶段2处 理单元237能够以更精确的方式执行校准处理。当光学头单元在跟踪光盘时，操作校准处理单元222在跟踪光盘的状态中执行上述校准处理，而不将焦点从光盘移去。因而，光学头单元16 的APC 113可以利用APC控制来吸收诸如LD 111的ry之类的由于温度或 者记时引起的变化，并且因此，高精确度的APC控制可以被执行。另外， 校准处理可以被高速地执行。PL校准处理单元242和PH校准处理单元244通过操作时的校准处理 来执行ERATIO和PRATIO的校准。此时，PL校准处理单元242和PH校 准处理单元244使用通过先前的操作时校准而校准的ERATIO和 PRATIO，以便只执行初始校准处理的阶段2处理。因而，PL校准处理单 元242和PH校准处理单元244能够增大操作时的校准处理的处理速度。PL校准处理单元242和PH校准处理单元244都使同一 RUB经历校 准处理，但是为了减小历史效应，在PL校准处理单元242进行的校准处 理结束后，待用处理单元243使光盘21旋转一次，然后控制PH校准处理 单元244执行校准处理。利用每次校准处理，PL校准处理单元242和PH校准处理单元244分 别多次执行EINTMON和PINTMON的提取，并且将多个提取结果的一部 分的平均值设定成EINTMON和PINTMON。因而，多个样本被提取，从而由光盘21旋转等等引起的变化可以被吸收，并且因此PL校准处理单元 242和PH校准处理单元244可以以更精确的方式来执行校准处理。注意，为了在跟踪状态中执行校准，希望在诸如脱轨状态之类的异常 的情况下执行与正常写入处理时相同的处理。当前的方法基本上是与DC 擦除处理类似的处理，因此在异常的情况下，与正常写入/擦除期间相同的 处理可以被执行。如果LDD进行的通道控制是利用串行接口来强制执行 的，那么在异常发生时，就难以以硬件方式中断写入/擦除操作以返回到读 取操作。对于本提议，利用来自WS块的通道控制信号来控制通道的 ON/OFF，从而可以利用与正常写入/擦除时相同的硬件信号来中断校准操 作。上述一系列处理不仅可以用硬件来执行，而且可以用软件来执行。这 种情况例如可以被配置为个人计算机，例如如图38所示。在图38中，个人计算机500的CPU 501根据存储在ROM 502中的程 序或者从存储单元513加载到RAM 503的程序来执行各种类型的处理。 供CPU 501执行各种类型的处理的数据等等根据需要被存储在RAM 503 中。CPU 501、 RAM 503和RAM 503通过总线504相互连接。输入/输出 接口 510也连接到该总线504。由键盘、鼠标等等构成的输入单元511、由CRT (阴极射线管)、 LCD (液晶显示器)等等构成的显示器、由扬声器等等构成的输出单元 512、由硬盘等等构成的存储单元513以及由调制解调器等等构成的通信 单元514连接到输入/输出接口 510。通信单元514通过包括因特网在内的 网络执行通信处理。根据需要，驱动器515也连接到输入/输出接口 510，其上根据需要安 装了诸如硬盘、光盘、磁光盘、半导体存储器之类的可移除介质，从中读 出的程序根据需要被安装在存储单元513中。在用软件执行上述一系列处理的情况下，构成该软件的程序是从网络 或记录介质安装的。此记录介质例如如图38所示，并不限于由其中记录 有程序的、由磁盘(包括柔性盘)、光盘(包括CD-ROM (致密盘-只读 存储器)、DVD (数字多功能盘))、磁光盘(包括MD (袖珍盘))、半导体存储器等等构成的可移除介质521配置而成，而也可以是在内置到 设备主单元中的状态中分发给用户的、其中记录有程序的ROM 502，或者 存储单元513中包括的硬盘等等。注意，对于本说明书，描述记录介质中记录的程序的步骤不仅包括根 据所描述的顺序按时间顺序执行的处理，而且包括不一定按时间顺序执行 而是并行地或者单独地执行的处理。另外，对于本说明书，术语"系统"表示由多个设备配置而成的整个 设备。注意，这样描述为一个设备的配置可以通过被划分成多个设备而被配 置为多个设备。相反，这样描述为多个设备的配置可以通过被集中成一个 设备而被配置为一个设备。另外，不言而喻地，除了上述配置之外的配置 可以被添加到每个设备的配置。另外，某个设备的配置的一部分可以被包 括在另一设备的配置中，只要作为整个系统的配置和操作基本相同即可。 也就是说，本发明的实施例并不限于上述实施例，在不脱离本发明的实质 的情况下可以进行各种修改。本领域的技术人员应当理解，取决于设计要求和其他因素，可以进行 各种修改、组合、子组合和变更，只要它们处于所附权利要求或其等同物 的范围之内。本发明包含与2007年10月3日向日本专利局提交的日本专利申请JP 2007-259925相关的主题，这里通过引用将该申请的全部内容并入。
权利要求
1.一种信息处理设备，用于执行光输出水平控制单元的校准，该光输出水平控制单元用于通过在多个通道中控制提供给发射单元的电流的电流值来控制所述发射单元发射并输出的激光束的光输出水平，所述发射单元用于发射并输出具有根据所提供的电流的电流值的光输出水平的激光束，该信息处理设备包括校准装置，该校准装置被配置为就所述光输出水平控制单元的所述多个通道中的一部分或全部而言针对每个通道执行校准处理，其中所述发射单元被控制为发射并输出具有多个不同的光输出水平的所述激光束，所述光输出水平控制单元被控制为检测与每个光输出水平相对应的所述电流值的指示值，所述指示值和所述光输出水平之间的关系被获得，并且与目标光输出水平相对应的指示值根据所述关系被调节。
2. 根据权利要求1所述的信息处理设备，其中，作为所述校准处理， 针对每个通道，所述校准装置控制所述发射单元发射并输出具有多个不同 光输出水平的所述激光束，控制所述光输出水平控制单元检测与每个光输 出水平相对应的所述电流值的指示值，基于多个检测结果获得所述指示值 和所述光输出水平之间的关系，并且根据所述关系获得与目标光输出水平 相对应的指示值。
3. 根据权利要求1所述的信息处理设备，其中，所述校准装置在执行 所述校准处理时，控制所述光输出水平控制单元中不是所述校准处理的目 标的另一通道，以利用与正常操作时的情况中相同的指示值来控制所述电 流。
4. 根据权利要求1所述的信息处理设备，其中，所述发射单元是激光 二极管，用于将激光束照射在安装于光盘驱动设备的预定位置的光盘上；并且，其中，所述光输出水平控制单元利用相互不同的通道来控制读 取光输出水平、冷却光输出水平、擦除光输出水平、以及峰值光输出水 平，其中读取光输出水平是在读出所述光盘中记录的信息时所述激光束的 光输出水平，冷却光输出水平是在冷却所述光盘时所述激光束的光输出水平，擦除光输出水平是在擦除所述光盘中记录的信息时所述激光束的光输 出水平，峰值光输出水平是在将信息写入在所述光盘中时所述激光束的光输出水平；并且，其中，所述校准装置通过所述校准处理来校准所述光输出水平 控制单元的与所述冷却光输出水平相对应的指示值、与所述擦除光输出水平相对应的指示值、以及与所述峰值光输出水平相对应的指示值。
5. 根据权利要求4所述的信息处理设备，其中，所述校准装置在所述 发射单元开始对所述光盘进行所述信息的读取处理或写入处理之前执行所 述校准处理。
6. 根据权利要求5所述的信息处理设备，其中，所述校准装置控制所 述光输出水平控制单元检测与所述读取光输出水平相对应的指示值。
7. 根据权利要求6所述的信息处理设备，其中，所述光输出水平控 制单元在用于控制所述冷却光输出水平的通道处，通过从与所述读取光输 出水平相对应的指示值中减去预定D/A转换器的输出，来计算与所述冷却 光输出水平相对应的指示值；并且，其中，所述校准装置获得与所述冷却光输出水平相对应的指示 值，并且还从由所述光输出水平控制单元检测到的与所述读取光输出水平 相对应的指示值中减去与该冷却光输出水平相对应的指示值，从而计算所 述D/A转换器的指示值。
8. 根据权利要求7所述的信息处理设备，其中，所述光输出水平控制 单元控制使用D/A转换器的相互不同的放大器单元放大所述D/A转换器的 共同输出，从而计算与所述擦除光输出水平相对应的指示值，以及与所述 峰值光输出水平相对应的指示值；并且，其中，所述校准装置在用于控制所述擦除光输出水平的通道和 用于控制所述峰值光输出水平的通道中的每一个处，在将所述放大器单元 的增益设定成预定值时控制所述光输出水平控制单元检测每个指示值，并 且控制所述发射单元发射并输出具有多个相互不同的光输出水平的所述激 光束。
9. 根据权利要求8所述的信息处理设备，其中，所述校准装置在将所述放大器单元的增益设定成与每个检测到的指示值相当的值的同时，控制 所述发射单元发射并输出具有与上次相同的多个光输出水平的所述激光 束，从而再次执行校准处理。
10. 根据权利要求8所述的信息处理设备，其中，所述校准装置在用 于控制所述擦除光输出水平的通道处，在所述放大器单元的增益被设定成 最大的状态中检测与所述擦除光输出水平相对应的指示值，并且将与检测 到的与所述擦除光输出水平相对应的指示值相当的值作为所述预定值设定 成所述放大器单元的增益。
11. 根据权利要求4所述的信息处理设备，其中，所述校准装置在所 述发射单元对所述光盘执行所述信息的读取处理或写入处理之间执行所述 校准处理，以校准所述光输出水平控制单元的与所述擦除光输出水平相对 应的指示值和与所述峰值光输出水平相对应的指示值。
12. 根据权利要求11所述的信息处理设备，其中，所述光输出水平控 制单元控制使用D/A转换器的相互不同的放大器单元放大所述D/A转换器 的共同输出，从而计算与所述擦除光输出水平相对应的指示值，以及与所 述峰值光输出水平相对应的指示值；并且，其中，所述校准装置在用于控制所述擦除光输出水平的通道和 用于控制所述峰值光输出水平的通道中的每一个处，在控制所述光输出水 平控制单元将所述放大器单元的增益设定成与在先前的校准处理处检测到 的每个指示值相当的值的同时，控制所述发射单元发射并输出具有与先前 校准处理中相同的多个光输出水平的所述激光束，从而执行校准处理。
13. 根据权利要求12所述的信息处理设备，其中，作为所述校准处 理，所述校准装置在控制所述发射单元以第一光输出水平将所述激光束照 射在所述光盘的预定区域上时检测所述指示值，等待所述光盘旋转一次， 在控制所述发射单元以第二光输出水平照射所述激光束时再次针对同一个 所述预定区域检测所述指示值，并且根据每个检测到的指示值和所述光输 出水平之间的关系来调节与所述峰值光输出水平和所述擦除光输出水平相 对应的每个指示值。
14. 根据权利要求13所述的信息处理设备，其中，所述校准装置控制所述光输出水平控制单元多次检测所述指示值，从而将除了最大值和最小 值之外的多个检测值的平均值设定为检测到的指示值。
15. —种用于信息处理设备的信息处理方法，用于执行光输出水平控 制单元的校准，该光输出水平控制单元用于通过在多个通道中控制提供给 发射单元的电流的电流值来控制所述发射单元发射并输出的激光束的光输 出水平，所述发射单元用于发射并输出具有根据所提供的电流的电流值的 光输出水平的激光束，该信息处理方法包括，就所述光输出水平控制单元的所述多个通道中的一部分或全部而言，针对每个通道执行以下步骤控制所述发射单元发射并输出具有多个相互不同的光输出水平的所述 激光束；控制所述光输出水平控制单元检测与每个光输出水平相对应的所述电流值的指示值；获得所述指示值和所述光输出水平之间的关系；以及 根据所述关系调节与目标光输出水平相对应的指示值。
16. —种程序，使得执行光输出水平控制单元的校准的计算机执行信 息处理，该光输出水平控制单元用于通过在多个通道中控制提供给发射单 元的电流的电流值来控制所述发射单元发射并输出的激光束的光输出水 平，所述发射单元用于发射并输出具有根据所提供的电流的电流值的光输 出水平的激光束，该信息处理包括，就所述光输出水平控制单元的所述多 个通道中的一部分或全部而言，针对每个通道执行以下步骤控制所述发射单元发射并输出具有多个相互不同的光输出水平的所述 激光束；控制所述光输出水平控制单元检测与每个光输出水平相对应的所述电 流值的指示值；获得所述指示值和所述光输出水平之间的关系；以及 根据所述关系调节与目标光输出水平相对应的指示值。
17. —种信息处理设备，用于执行光输出水平控制单元的校准，该光 输出水平控制单元用于通过在多个通道中控制提供给发射单元的电流的电 流值来控制所述发射单元发射并输出的激光束的光输出水平，所述发射单元用于发射并输出具有根据所提供的电流的电流值的光输出水平的激光 束，该信息处理设备包括校准单元，该校准单元被配置为就所述光输出水平控制单元的所述多 个通道中的一部分或全部而言针对每个通道执行校准处理，其中所述发射 单元被控制为发射并输出具有多个不同的光输出水平的所述激光束，所述 光输出水平控制单元被控制为检测与每个光输出水平相对应的所述电流值 的指示值，所述指示值和所述光输出水平之间的关系被获得，并且与目标 光输出水平相对应的指示值根据所述关系被调节。
全文摘要
本发明提供了信息处理设备和方法以及程序。一种信息处理设备用于执行光输出水平控制单元的校准，该光输出水平控制单元用于通过在多个通道中控制提供给发射单元的电流的电流值来控制发射单元发射的激光束的光输出水平，发射单元用于发射具有根据电流值的光输出水平的激光束，该信息处理设备包括校准单元，用于针对光输出水平控制单元的多个通道中的每个执行校准处理，其中发射单元被控制为发射具有相互不同的光输出水平的激光束，光输出水平控制单元被控制为检测与每个光输出水平相对应的电流值的指示值，指示值和光输出水平之间的关系被获得，并且与目标光输出水平相对应的指示值根据该关系被调节。
文档编号G11B7/125GK101404164SQ200810167118
公开日2009年4月8日 申请日期2008年9月27日 优先权日2007年10月3日
发明者寺田明生 申请人:索尼株式会社