一种提高γ射线峰探测灵敏度的能谱处理方法

文档序号:6640301阅读:496来源:国知局
一种提高γ射线峰探测灵敏度的能谱处理方法
【专利摘要】本发明涉及一种提高γ射线峰探测灵敏度的能谱处理方法,基于射线与物质相互作用原理,提出了全能谱扣除γ射线康普顿散射的技术方法,本发明解决了高基线康普顿本底下弱γ峰信号检出的灵敏度。
【专利说明】-种提高Y射线峰探测灵敏度的能谱处理方法

【技术领域】
[0001] 本发明设及一种提高丫射线峰探测灵敏度的能谱处理方法,属低水平放射性丫 能谱分析范畴,尤其是能提高高基线本底下弱丫峰的检出灵敏度。

【背景技术】
[0002] 丫能谱法是一种无损分析方法,可同时测量样品中的多种核素。丫谱仪把能量范 围划分为许多道,不同能量的射线放入不同的道中,横坐标为道数(通过能量刻度也可转 换成射线能量),纵坐标为计数,每道计数即是能谱中该能量射线的个数。丫射线和物质相 互作用有几种效应;光电效应、康普顿效应、电子对效应,光电效应会使r射线全部能量沉 积到探测器,那么会在能谱中产生一个特定峰,称为全能峰,康普顿散射会在能谱中产生一 个连续的区域,称为康普顿本底。
[0003] 测量时,低能丫射线特征峰总是在高能丫射线峰康普顿本底上,尤其是对于含有 多种多能核素的样品,康普顿本底很高,该就造成了样品中核素探测灵敏度下降。目前,通 常采用反康普顿丫谱仪系统降低康普顿本底,但对于有级联符合关系的多能核素,在抑制 康普顿本底的同时,还会降低r射线特征峰的计数。如果能仅降低康普顿本底而不减小r 射线特征峰的计数,无疑会提高样品的探测灵敏度。


【发明内容】

[0004] 本发明目的是提供一种提高丫射线峰探测灵敏度的能谱处理方法,其解决了现 有高基线康普顿本底下弱丫峰检出技术难题,可提高丫射线峰探测灵敏度。
[0005] 本发明的技术解决方案是:
[0006] 一种提高丫射线峰探测灵敏度的能谱处理方法,其特殊之处在于;其包括W下步 骤:
[0007] 1】使用蒙特卡罗程序理论模拟干扰核素的丫能谱;
[000引 2】根据模拟的干扰核素丫能谱,将模拟谱中每道计数相对于干扰核素j的某 丫峰全能峰计数4进行归一,得到归一后的模拟谱每道计数: 。W
[0009] 為二寺
[0010] 式中,i为道址,S代表模拟谱;
[0011] 3】将样品谱中干扰核素j对应的丫峰的全能峰计数< 和归一后的模拟谱每道计 数相乘得到和样品谱相关的干扰核素丫能谱,则干扰核素丫能谱每道计数Af为
[0012]
[001引 4】将样品谱与干扰核素丫能谱按比例相减,得到扣除核素j干扰后的样品谱,扣 除干扰样品谱每道计数Ni为 [0014]

【权利要求】
1. 一种提高Y射线峰探测灵敏度的能谱处理方法,其特征在于:其包括以下步骤: 1】使用蒙特卡罗程序理论模拟干扰核素的y能谱; 2】根据模拟的干扰核素Y能谱,将模拟谱中每道计数<相对于干扰核素j的某y峰 全能峰计数进行归一,得到归一后的模拟谱每道计数:
式中,i为道址,S代表模拟谱; 3】将样品谱中干扰核素j对应的Y峰的全能峰计数4和归一后的模拟谱每道计数相 乘得到和样品谱相关的干扰核素y能谱,则干扰核素y能谱每道计数< 为Nr=R-A'; / 7J 4】将样品谱与干扰核素Y能谱按比例相减,得到扣除核素j干扰后的样品谱,扣除干 扰样品谱每道计数队为
式中,Af为样品谱每道计数;CRF为扣除比例,即扣除因子,CRF彡1 ; 5】依据上述步骤,将对待分析Y射线产生干扰的y射线依次进行其康普顿散射的扣 除。
2. 根据权利要求1所述的提高Y射线峰探测灵敏度的能谱处理方法,其特征在于: 在进行模拟y能谱归一时,选择干扰核素峰计数大的y射线峰为参考扣除峰,尽量减 小统计不确定度的影响; 扣除时适当缩小扣除比例,避免扣除引起能谱形状的畸变。
3. 根据权利要求1或2所述的提高Y射线峰探测灵敏度的能谱处理方法,其特征在 于: 对于带扣除干扰核素,从高能到低能顺序依次进行其康普顿本底扣除。
【文档编号】G06F19/00GK104504273SQ201410832147
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月26日 优先权日:2014年12月26日
【发明者】王世联, 李奇, 王军, 张新军, 樊元庆, 赵允刚, 贾怀茂 申请人:北京放射性核素实验室
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