触控校正系统及触控校正方法与流程

本发明是有关于一种触控校正系统及触控校正方法，尤指一种计数器设有一固定计数值的触控校正系统及触控校正方法。

背景技术：

随着科技日新月异的进步，网络的发达已使各种电子装置充斥着人们的生活，而电子装置现今都以触控式为主，而在触控式电路均需要经过测试，使得实际上应用于电子装置上可以较为平顺而不容易出问题。

请一并参阅图1与图2，图1显示本发明先前技术的触控校正系统的方块示意图，图2显示本发明先前技术的振荡波形示意图，现有的触控校正系统PA1中，波形产生模块PA12电性连接于触控垫PA11，计数器PA13电性连接于波形产生模块PA12，计时器PA14电性连接于计数器PA13，并且设有一固定计时值，数据演算模块PA15电性连接于计数器PA13。

其中，现有技术在进行校正时，触控垫PA11处于未触控的状态，且波形产生模块PA12产生振荡波形100、200、300，具体来说，上述振荡波形100、200、300的定义为一上升的线型与一下降的线型所组合而成，也就是说，图2中时间t0至t2为振荡波形100、时间t2至t4为振荡波形200且时间t4至t6为振荡波形300，而在校正的过程中，计时器PA14固定计时上述的固定计时值(例如1ms)，举例来说，固定计时值为图2中的时间t0至t4(亦即t4减t0)，计时器PA14在计时至固定计时值时，触发计数器PA13计数此固定计时值内中产生几个振荡波形，以图2中为例，产生两个振荡波形，分别为振荡波形100与振荡波形200，并将此计算出的数据(此数据例如是计算出的个数对时间的波形图)传送至数据演算模块PA15以供计算出较佳的信躁比(Signal to Noise Ratio；SNR)。

然而，一般来说，采用将计时器PA14设定为固定计数一段时间的方式进行校正来说，为了取得较佳的信噪比，数据演算模块PA15会反复触发导通波 形产生模块PA12内的开关(图未标示)以选择定电流(图未标示)的数量(其他作法例如也是开启对地电容的数量)，以供调整出较佳的信躁比，但此种校正方式由于需要反复测试，因此需要花较多时间来进行，因而不符合实际上的校正成本。

此外，在判断是否触控的实务上，数据演算模块PA15所采用的演算方式也受限于上述校正方式，且也由于判断的基础基于计数器所计数的数量，因而需使用较为复杂的判断方式，举例来说，实际上数据演算模块PA15内需要设有一个滤波器(此滤波器具有多种不同的滤波系数，例如八个不同的滤波系数)，以对计数器PA13所计数出的数据来进行运算，因而造成判断耗时的问题，因此，现有技术仍具备改善空间。

技术实现要素：

有鉴于现有技术利用将计时器设定为固定计时一段时间的方式进行校正，因而普遍具有校正时间长且判断是否触控时间较长的问题。缘此，本发明提供一种触控校正系统及触控校正方法，主要是将计数器设定为固定计数值，以解决上述的问题。

基于上述目的，本发明所采用的主要技术手段是提供一种触控校正系统，包含一触控垫、一波形产生模块、一计数器、一第一计时器以及一储存器，波形产生模块电性连接于触控垫，并供产生至少一振荡波形，计数器电性连接于波形产生模块，并设有一固定计数值，用以在一校正模式下计数波形产生模块产生振荡波形的一振荡次数，藉以在振荡次数达固定计数值时传送出一代表振荡次数的计数信号，第一计时器电性连接于计数器，并供计时一校正振荡时间，用以接收计数信号，藉以传送出一代表第一计时器所计时出的校正振荡时间的计时信号，储存器电性连接于第一计时器，用以接收计时信号以储存校正振荡时间，藉以完成校正模式，其中，校正模式定义为触控垫未受一使用者所触控。

本发明所采用的主要技术手段提供一种触控校正方法，供应用于一触控校正系统，以在触控校正系统处于一校正模式时对触控校正系统进行校正，触控校正系统包含一触控垫、一波形产生模块、一计数器、一第一计时器以及一储存器，波形产生模块电性连接于触控垫，计数器电性连接于波形产生模块，第一计时器电性连接于计数器，储存器电性连接于第一计时器，触控校正方法中， 先将一固定计数值设定至计数器，接着利用波形产生模块产生至少一振荡波形，然后利用计数器计数波形产生模块产生振荡波形的一振荡次数，并利用第一计时器计时一校正振荡时间，接着判断振荡次数是否达固定计数值，最后在判断结果为是时，将第一计时器所计时出的校正振荡时间储存至储存器，其中，校正模式定义为触控垫未受一使用者所触控。

其中，上述触控校正系统及触控校正方法的附属技术手段的较佳实施例中，储存器为一第二计时器，第一计时器由多个T型正反器所组成，第二计时器由多个D型正反器所组成，且波形产生模块为一弛张振荡(Relaxation Oscillator)电路。

藉由本发明所采用的触控校正系统及触控校正方法的主要技术手段后，由于是固定计数一固定计数值而非固定计时一固定计时值，因此在固定计数值为固定的情况下，仅需进行一次校正即可校正完成而不需反复导通定电流或对地电容，因此可大幅降低校正时间。

此外，由于现有判断是否触控的方式都是利用计数器所计数出的数量进行判断，因此在数量为上述的固定计数值情况下，实际进行判断不需使用如先前技术的一个具有多个滤波系数而较为复杂的滤波器来进行演算，因而可大幅降低判断的时间而增加实务上的方便性。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1显示本发明先前技术的触控校正系统的方块示意图；

图2显示本发明先前技术的振荡波形示意图；

图3显示本发明较佳实施例的触控校正系统的方块示意图；

图4显示本发明较佳实施例的波形产生模块的电路示意图；

图5显示本发明较佳实施例的第一计时器与第二计时器的电路示意图；

图6显示本发明较佳实施例的触控校正方法的流程示意图；

图7显示本发明较佳实施例的触控判断方法的流程示意图；

图8显示本发明较佳实施例的计数数据波形的示意图。

其中，附图标记

PA1 触控校正系统

PA11 触控垫

PA12 波形产生模块

PA13 计数器

PA14 计时器

PA15 数据演算模块

1 触控校正系统

11 触控垫

12 波形产生模块

13 计数器

14 第一计时器

15 储存器

16 数据演算模块

100、200、300 振荡波形

400 计数数据波形

S1 计数信号

S2 计时信号

S101-S105 步骤流程

S201-S206 步骤流程

t0-t6 时间

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明技术方案进行详细的描述，以更进一步了解本发明的目的、方案及功效，但并非作为本发明所附权利要求保护范围的限制。

请一并参阅图3至图5，图3显示本发明较佳实施例的触控校正系统的方块示意图，图4显示本发明较佳实施例的波形产生模块的电路示意图，图5显示本发明较佳实施例的第一计时器与第二计时器的电路示意图。

如图所示，本发明较佳实施例的触控校正系统1包含一触控垫11、一波形产生模块12、一计数器13、一第一计时器14、一储存器15以及一数据运 算模块16。触控垫11供一使用者进行触控，且一般来说，触控垫11内含有电容。波形产生模块12电性连接于触控垫11，其例如是弛张振荡(Relaxation Oscillator)电路，而弛张振荡电路如图4所示，其由SR正反器、比较器、电阻及电容所组成，其连接方式并不限于图4中所示，其他实施例中可采用其他种连接方式，并也可采用其他种振荡电路，其视实务的设计而定。

计数器13电性连接于波形产生模块12，并可由至少一T型正反器所组成，此外，计数器13设有一固定计数值，也就是说，初始即预设好上述的固定计数值，此固定计数值例如为一万次，但本发明较佳实施例为方便简单说明，因而仅以两次为例，特此叙明。

第一计时器14电性连接于计数器13，并可由多个T型正反器所组成，此外，本发明较佳实施例中，第一计时器14未设有先前技术所述的固定计时值。储存器15电性连接于第一计时器14，并可为一第二计时器，且此第二计时器由多个D型正反器所组成，但其他实施例中不限于此。数据运算模块16电性连接于计数器13，并可由至少一滤波器(图未示)所组成。

其中，在实务上触控校正系统1处于一校正模式时(本发明较佳实施例中所定义的校正模式是指触控垫未受使用者所触控)，而波形产生模块12会产生如图2所示的振荡波形100、200、300，在开始产生振荡波形100、200、300时，计数器13会计数波形产生模块12产生振荡波形的一振荡次数，也就是说，由于固定计数值为两次，因此计数器13计数到波形产生模块12产生振荡波形200时，得知已产生两次振荡波形(分别为振荡波形100、振荡波形200)并达到固定计数值，藉以传送出一代表振荡次数的计数信号S1；同时地，在开始产生振荡波形100、200、300时，第一计时器14会计时一校正振荡时间，并在接收到计数信号S1时，藉以传送出一代表第一计时器14所计时出的该校正振荡时间的计时信号S2，举例来说，由于固定计数值为两次，因此第一计时器14计时至时间t4(如图2所示)，因此校正振荡时间为t4减t0，而第一计时器14会将计时信号S2传送至储存器15，使储存器15储存校正振荡时间，藉以完成校正模式，以作为实际判断是否触控的参数。

另外，请参阅图6，图6显示本发明较佳实施例的触控校正方法的流程示意图，如图6所示，本发明所提供的触控校正方法应用于如图3所示的触控校正系统1，并在一校正模式(校正模式的定义同样为触控垫11未受使用者所 触控)下执行以下步骤：

步骤S101：将一固定计数值设定至计数器13；

步骤S102：利用波形产生模块12产生至少一振荡波形；

步骤S103：利用计数器13计数波形产生模块12产生振荡波形的一振荡次数，并利用第一计时器14计时一校正振荡时间；

步骤S104：判断振荡次数是否达固定计数值；以及

步骤S105：将第一计时器14所计时出的校正振荡时间储存至储存器15。

上述步骤S101至步骤S105的内容均与触控校正系统1所执行的内容相同，因此不再赘述。

其中，请一并参阅图7与图8，图7显示本发明较佳实施例的触控判断方法的流程示意图，图8显示本发明较佳实施例的计数数据波形的示意图，如图所示，在将校正振荡时间储存至储存器15而完成校正后，可用于实际上的电路以判断使用者是否触控于触控垫11，其判断是否触控的方法包含以下步骤：

步骤S201：第一计时器14自储存器15获取校正振荡时间；

步骤S202：第一计时器14计时一触控判断时间，且计数器13计数至少一振荡波形；

步骤S203：判断触控判断时间是否达校正振荡时间；

步骤S204：计数器13传送出一计数数据；

步骤S205：利用至少一滤波器滤除计数数据的无用信息，藉以产生一滤除后计数数据；以及

步骤S206：依据滤除后计数数据与固定计数值判断触控垫11是否被触控。

其中，步骤S201中，第一计时器14由于是由多个T型正反器所组成，因此其可藉由其RS(reset/set)端读取为第二计时器的储存器15内所储存的校正振荡时间，而在步骤S202中，在波形产生模块12产生振荡波形(图未示)时，第一计时器14开始计时触控判断时间，且计数器13同步计数至少一振荡波形，且在步骤S203判断出触控判断时间达校正振荡时间时，接着执行步骤S204，计数器13传送出如图8所示的计数数据波形400，也就是说，上述的计数数据即是个数对时间的波形图，而由于实际上此波形会有不少无用信息，因此接着执行步骤S205以数据演算模块16内的至少一滤波器来滤除计数数据的无用信息，藉以产生一滤除后计数数据(图未示)，且较佳者可采用两个滤 波器，但其视实务的设计而定。

最后执行步骤S206，其判断方法举例如下，假设校正振荡时间设定为t4，其可看出t4所对应的数量(假设为1)，而在固定计数值为2的情况下，可看出固定计数值大于t4所对应的数量，因此可初步判断为触控垫11已受触控，其中，在此需要一提的是，上述仅述明简单的判断方式，由于实际上固定计数值可能为一万次(定义为f1)，而在计数出的数量(定义为f2)较庞大的情况下，其判断方式可透过f2若小于f1减百分的六的f1的方式来判断是否触控，亦即若f2<f1*94％即可判定有被触控，但其他实施例中不限于此。

综合以上所述，藉由本发明所采用的触控校正系统及触控校正方法的主要技术手段后，在固定计数值为固定的情况下，仅需进行一次校正即可校正完成而不需反复导通定电流或对地电容，因此可大幅降低校正时间，且实际进行判断是否触控不需使用如先前技术的较为复杂的滤波器来进行演算，因而可大幅降低判断的时间而增加实务上的方便性。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。