1.一种存储阵列管理方法，其特征在于，包括：
获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据；所述存储阵列中至少包括一个存储模块；
根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据，确定各存储模块所属的分区类别，其中，不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据；
所述存储阵列为全闪存阵列，所述存储模块的介质类型包括单层单元SLC介质以及多层单元MLC介质，则所述不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据包括：
判断属于各分区类别的存储模块的介质类型；
若由性能测试数据较优的存储模块构成的分区中包括MLC介质的存储模块，则将所述MLC介质的存储模块用于存储活跃度较高的数据；
若由性能测试数据较差的存储模块构成的分区中包括SLC介质的存储模块，则将所述SLC介质的存储模块用于存储活跃度较低的数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据，确定各存储模块所属的分区类别，包括：
根据各存储模块的性能测试数据确定各存储模块的性能得分；
根据所述得分对各存储模块进行排序；
根据排序结果确定各存储模块所属的分区类别。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定出各存储模块所属的分区类别后还包括：
将存储模块的标识信息添加到对应分区类别的模块标识列表中。
4.根据权利要求1所述的存储阵列管理方法，其特征在于，所述方法还包括：
预先对所述存储模块进行性能测试得到性能测试数据，将所述性能测试数据存储在存储模块特定位置处；
所述获取存储阵列中的存储模块的性能测试数据包括：
获取存储在所述存储模块特定位置处的性能测试数据。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：
判断所述特定位置处存储的性能测试数据信息的准确性；
如果不准确，则根据预置场景分别对各个所述存储模块进行性能测试，分别得到各个所述存储模块的性能测试数据。
6.根据权利要求5所述的存储阵列管理方法，其特征在于，还包括：
根据所述测试得到的性能测试数据，更新所述存储模块上的特定位置处存储的性能测试数据。
7.根据权利要求1所述的存储阵列管理方法，其特征在于，所述获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据包括：
在设定的时间间隔和/或系统空闲时，根据预制场景，对个所述存储模块进行读写测试；所述预制场景包括，顺序读、写，随机读、写，或者读写混合；
根据测试结果分别确定各个所述存储模块的性能测试数据；所述性能测试数据包括，每秒进行读、写(I/O)操作的次数，读、写带宽，读、写延时中的至少一项。
8.一种存储阵列管理装置，其特征在于，包括：
获取单元，用于获取存储阵列中的各存储模块的性能测试数据；所述存储阵列中至少包括一个存储模块；
分区单元，用于根据所述存储阵列中的各个存储模块的性能测试数据，确定各存储模块所属的分区类别，其中，不同类别的分区用于存储不同活跃度的数据；
所述存储阵列为全闪存阵列，所述存储模块的介质类型包括单层单元SLC介质以及多层单元MLC介质；
所述分区单元，还具体用于判断属于各分区类别的存储模块的介质类型；若由性能测试数据较优的存储模块构成的分区中包括MLC介质的存储模块，则将所述MLC介质的存储模块用于存储活跃度较高的数据；若由性能测试数据较差的存储模块构成的分区中包括SLC介质的存储模块，则将所述SLC介质的存储模块用于存储活跃度较低的数据。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述分区单元包括：
得分确定子单元，用于根据各存储模块的性能测试数据确定各存储模块的性能得分；
排序子单元，用于根据所述得分对各存储模块进行排序；
分区子单元，用于根据排序结果确定各存储模块所属的分区类别。
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，还包括：
标识单元，用于将存储模块的标识信息添加到对应分区类别的模块标识列表中。
11.根据权利要求8所述的存储阵列管理装置，其特征在于，所述装置还包括：
测试单元，用于预先对所述存储模块进行性能测试得到性能测试数据，将所述性能测试数据存储在存储模块特定位置处；
所述获取单元，具体用于获取存储在所述存储模块特定位置处的性能测试数据。
12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，还包括：
判断单元，用于判断所述特定位置处存储的性能测试数据信息的准确性；
所述测试单元还用于，如果不准确，则根据预置场景分别对各个所述存储模块进行性能测试，分别得到各个所述存储模块的性能测试数据。
13.根据权利要求12所述的存储阵列管理装置，其特征在于，还包括：
更新单元，用于根据所述测试得到的性能测试数据，更新所述存储模块上的特定位置处存储的性能测试数据。
14.根据权利要求8所述的存储阵列管理装置，其特征在于，所述获取单元包括：
读写测试子单元，用于在设定的时间间隔和/或系统空闲时，根据预制场景，对个所述存储模块进行读写测试；所述预制场景包括，顺序读、写，随机读、写，或者读写混合；
数据确定子单元，用于根据测试结果分别确定各个所述存储模块的性能测试数据；所述性能测试数据包括，每秒进行读、写(I/O)操作的次数，读、写带宽，读、写延时中的至少一项。