技术总结
本发明是一种基于剖面映射的显控软硬件系统可靠性试验激励方法，该方法首先确定软件可靠性测试剖面以及综合环境应力剖面，然后利用剖面映射将软件可靠性测试剖面与综合环境应力剖面结合起来，形成软硬件可靠性综合试验剖面，利用该综合试验剖面生成试验激励；由综合试验剖面生成的试验激励真实反映了软件运行和外部环境条件变化之间的关联，避免了软件可靠性测试和硬件可靠性试验分别进行所带来的试验风险和资源浪费，在减少测试代价的同时实现了一次试验即验证产品的可靠性，试验实施例结果表明了该方法的可行性、合理性和有效性。
技术研发人员：封二强;郑军;蓝新生
受保护的技术使用者：中国航空综合技术研究所
文档号码：201610962845
技术研发日：2016.11.04
技术公布日：2017.05.31