技术总结
本发明公开了一种光检测电路，包括：一基准电压电路，用于产生一基准电压；一感光二极管，根据光照情况不同产生不同的光生电压；该光生电压对于PN结是正向偏置的，即P端电压高于N端电压；一比较器，对输入的基准电压和光生电压进行比较，判断电路受到的光照情况。本发明具有更高的反应速度，且所占用的芯片面积更小；可以使用多个光检测电路分散放在芯片中，安全性更高，具有更好的抗光攻击性能。
技术研发人员：赵英瑞
受保护的技术使用者：上海华虹集成电路有限责任公司
文档号码：201611010251
技术研发日：2016.11.15
技术公布日：2017.02.15