技术特征：
技术总结
本发明提出了一种S参数的圆形插值方法，利用被测件S参数在Smith圆图上连续且呈现圆形的特点，将被测件S参数转化到Smith圆图的UV坐标系下；利用UV坐标下的数据进行圆形参数的求解；然后利用插值点频率对应的相位数据，作为圆形插值的依据；将插值点临近2点的数据，作为求解范围的限定；进而在Smith圆图上进行插值求解。本发明利用S参数在Smith圆图上的特性进行插值，能够得到更加精确的插值结果。
技术研发人员：庄志远;梁胜利;袁国平;杨明飞;蔡洪坤;安洋;庄学利;王振凤
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第四十一研究所
技术研发日：2017.06.09
技术公布日：2017.09.26