本发明涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种ATE硬件配置与测试程序的匹配检查方法和装置。
背景技术：
自动测试设备(ATE)的硬件是可配置的，当利用ATE测试被测器件(DUT)时，不同DUT或同种DUT的不同参数所需要的硬件配置和测试程序的配置都可能不同。如果当前ATE配置的硬件与当前DUT测试所需的硬件不匹配，会导致测试结果错误，所以在测试前需要仔细核对检查当前ATE硬件配置，这样会耗费很多时间，而且对于不太熟悉测试原理的操作工人来说，很容易出错。同样，测试前必须检查测试程序的配置信息，包含测试程序版本、DUT测试类型或某些加密内容等，保证和当前ATE匹配。
现有的比较简单的硬件配置匹配检查是利用测试程序设置的信息进行的，通过测试程序绑定的信息获取当前DUT测试需要的硬件，然后和当前ATE的硬件比较。但这种方法只能按照测试程序中列出的检查项目，对硬件类型的种类和数目进行简单检查，且这种方法只适用两者配置完全匹配，并不能够检查这些硬件在特定测试条件下的具体配置。
若DUT仅在测试程序设定的某些条件下进行测试时，那么当前ATE的硬件配置只需要满足设定的该条件下所需要的硬件配置即可。所以这种情况下，上述简单的硬件配置匹配检查方法不够灵活，不能有选择性的按照测试条件进行检查，限制了ATE的适用范围和测试条件。
技术实现要素：
有鉴于此，为了能够灵活检查ATE的硬件配置和当前测试条件下需要的硬件配置的匹配问题，本发明提供了一种ATE硬件配置与测试程序的匹配检查方法，既能检查当前ATE的整体硬件配置和测试程序配置，还能选择一种测试条件，检查该测试条件下，ATE的硬件配置是否满足测试要求。
本发明提供的一种ATE硬件配置与测试程序的匹配检查方法，将DUT装配到ATE的DUT测试板上，该DUT测试板具有一EEPROM芯片，该EEPROM芯片中存储有对应当前的DUT在各个条件下测试所需的配置信息；
还包括以下步骤：
A、在PC端加载测试程序，该测试程序通过PC端与DUT测试板上的EEPROM芯片通信，获取EEPROM芯片中存储的信息；
B、所述测试程序通过PC端与所述ATE进行通信，检查ATE的硬件类型与EEPROM芯片中存储的硬件类型信息是否匹配；
C、若所述ATE的硬件类型与EEPROM芯片中存储的硬件类型信息匹配，所述测试程序检查ATE的硬件配置与EEPROM芯片中存储的硬件配置信息是否匹配；
D、若所述ATE的硬件配置至少有一项与EEPROM芯片中存储的硬件配置信息相匹配，所述测试程序检查当前设定的测试条件下需要的硬件配置与EEPROM芯片中存储的该硬件的配置信息是否匹配，若匹配，则检查完成。
由上，通过在DUT测试板上焊接一EEPROM芯片，该EEPROM芯片内存储有DUT在各个条件下测试时所需要的软硬件配置信息，每次在PC端加载测试程序时，可通过调用EEPROM芯片内的信息，对ATE的硬件配置进行基本的匹配检查。并且，还可人工设定测试条件，再根据设定的测试条件详细检查ATE的硬件配置，如该测试条件下需要什么类型的板卡以及该类型板卡在ATE中的位置及编号对应关系等。这种检查方式更灵活，对当前ATE的硬件配置要求不再那么严格，不必完全和EEPROM芯片内存储的所有信息相同，只要满足当前测试条件即可。而且，这种自动化的检查方式使得检查内容更全面，耗时更少且不易出错，提高工作效率。
进一步改进，所述步骤A后还包括步骤E：
所述测试程序与DUT板上的EEPROM芯片进行通信，检查所述测试程序的配置信息与EEPROM芯片中存储的测试程序的配置信息是否匹配；
若匹配，则测试程序的配置检查通过；
若不匹配，则测试程序发出提示信息。
由上，当步骤A中测试程序与EEPROM芯片通信成功，在执行步骤B对硬件的配置进行检查的同时，还同步执行步骤E，对测试程序的配置进行检查，其中主要检查每个测试程序中固有的配置信息，当配置信息与EEPROM芯片中存储的测试程序的配置信息完全匹配时，测试程序的配置检查通过，否则会提示测试程序的配置检查失败，并提示更换正确的测试程序。
优选的，所述步骤A包括：
当所述测试程序与DUT板上的EEPROM芯片通信失败或者获取所述信息失败，则所述测试程序发出提示信息。
由上，当加载测试程序完成后，会首先检测当前DUT测试板上是否焊接EEPROM芯片，并检查是否存储相关信息，实现第一步检测，若DUT测试板上没有EEPROM芯片或者EEPROM芯片中未存储信息，则会发生“DUT测试板上没有焊接EEPROM芯片或EEPROM芯片没有存储信息”的报警命令，提示硬件配置检查失败，检测过程停止。
优选的，所述步骤B包括：
当所述ATE中缺少EEPROM芯片中存储的某硬件类型，则所述测试程序发出提示信息。
由上，步骤B中在进行硬件检查时，需要首先检查当前系统的硬件类型，判断是否缺少所需的硬件类型，当ATE硬件类型包含EEPROM芯片中存储的所有硬件类型时，则会进行下一步检查，若上述ATE中缺少EEPROM存储的某硬件类型，则测试程序跳出“当前测试系统中硬件类型缺少”的报警命令，提示硬件配置检查失败，检测过程停止。
优选的，所述步骤C包括：
当所述ATE同一类型硬件的配置与EEPROM芯片中存储的该类型硬件的配置信息完全不匹配，则所述测试程序发出提示信息；
若所述步骤A、B、C检查失败，可继续加载程序，但不能量产。
由上，当ATE的硬件类型检查成功后，步骤C对ATE中的这些硬件的配置进行检查，与EEPROM芯片中存储的硬件配置信息进行对比，若ATE每种类型的硬件都至少有一项配置相匹配，则进行下一步检查，若存在某类型的硬件的配置与EEPROM芯片中该类型硬件的配置信息完全不匹配，则测试程序跳出“当前系统和EEPROM的配置完全不匹配”的报警命令，提示硬件配置检查失败，检测过程停止。
优选的，所述步骤D包括：
D1、所述测试程序检查当前设定的测试条件下需要的硬件配置信息在EEPROM中是否被存储，若未被存储，则测试程序发出提示信息，若存储，则测试程序获取存储的信息；
D2、所述测试程序检查当前设定的测试条件下需要的硬件类型在ATE中是否存在，若不存在，则测试程序发出提示信息，若存在，则进行步骤D3检查；
D3、检查在当前测试条件下需要的硬件类型在ATE中的配置与EEPROM芯片中存储的硬件配置信息是否相同，若不同，则测试程序发出提示信息，若相同，则检查完成。
由上，当硬件配置信息没有在EEPROM芯片中存储时，可认为是人为原因操作失误，该硬件配置信息被遗漏，当该硬件类型在当前ATE中不存在时，则认为硬件类型检查失败，测试程序弹框提示“XX条件下需要的XX类型在系统中不存在”的警告，当该硬件配置与EEPROM芯片中存储的硬件配置信息不一致时，测试程序弹框提示“XX条件下需要的XX配置不匹配”的警告。
进一步改进，所述各检查步骤的具体检查结果记录在一报警文件中。
由上，将各个步骤检查的结果记录在一报警文件中，并且每一步报错信息都会详细记录在文件里，便于相关操作人员进行后续查看。
进一步改进，若当前设定的测试条件下需要的硬件配置和测试程序配置的检查通过时，所述ATE可进行对DUT的量产测试。
由上，当前测试条件下要求的硬件配置和测试程序配置都达到配置要求时，则该ATE达到对当前DUT进行量产测试的要求，可进行产品的正常测试。
进一步改进，若当前设定的测试条件下需要的硬件配置检查失败时，在所述测试程序中屏蔽检查失败的测试条件，进行DUT测试。
由上，测试条件可人工进行设定，并且只在首次测试时进行该测试条件下的硬件配置检查，原因是，每次测试产生的报警信息相同，并且每次弹框会阻碍量产的进行，因此，当硬件配置检查失败时，可根据测试的需求决定是停止测试，或者单次测试，或者屏蔽测试条件进行量产。
综上所述，本发明提供的一种ATE硬件配置与测试程序的匹配检查方法，通过在DUT测试板上焊接一EEPROM芯片，该EEPROM芯片内存储有DUT在各个条件下测试时所需要的软硬件配置信息，并且在每次测试时，自动获取当前系统的硬件配置和测试程序配置与EEPROM芯片中存储的信息进行对比，并且测试条件可单独进行设定，当前硬件类型和配置只需满足当前测试条件的要求即可，不需要与EEPROM芯片中存储的所有完全匹配，因此，在实际使用中，会更加灵活且功能多样，不需要在每次改变测试条件时，还要相对应的改变整体硬件配置。
本发明还提供一种ATE硬件配置与测试程序匹配检查的装置，包括：
测试机，与PC端通过通讯线缆连接，接收PC端的指令；
DUT测试板，与所述测试机连接，该DUT测试板具有一EEPROM芯片，该EEPROM芯片中存储有对应当前的DUT在各个条件下测试所需的配置信息；
所述PC通过回读EEPROM芯片中存储的配置信息，并根据配置信息检查测试机的配置是否符合当前DUT测试的配置要求。
其中，所述测试机与DUT测试板之间采用通讯线缆或接插件连接。
由上，本ATE装置实现了PC端与DUT测试板上的EEPROM芯片通讯的功能，既可以通过PC机向测试机发送指令，将配置信息写入DUT测试板的EEPROM芯片中，还可以通过回读EEPROM芯片中存储的配置信息，根据配置信息检查测试机的配置是否符合当前DUT测试的配置要求。
附图说明
图1为本发明ATE硬件配置与测试程序的匹配检查方法的流程图。
图2为本发明ATE硬件配置与测试程序匹配检查的装置的示意图。
具体实施方式
为了能够灵活检查ATE的硬件配置及测试程序配置和当前测试条件下需要的软硬件配置的匹配问题，本发明提供了一种ATE硬件配置与测试程序的匹配检查方法，既能检查当前ATE的整体硬件配置和测试程序配置，还能检查在特定测试条件下，ATE的硬件配置是否满足测试要求。这种检查方式更灵活，适用范围也更广。
本发明提供了一种ATE硬件配置与测试程序的匹配检查方法，由于ATE针对不同的DUT测试都配置了一块自己的DUT测试板，在DUT测试板上焊接一个EEPROM芯片，该芯片通过I2C协议与PC端的测试程序进行通信。在测试前，将DUT在各个条件下测试时所需的配置信息存储到该EEPROM芯片中，每次测试时，自动获取当前ATE的硬件配置和测试程序配置与EEPROM芯片存储的信息进行对比。
如图1所示，包括以下步骤：
S01：在PC端加载用于进行ATE软硬件配置检查的测试程序；
S02：上述测试程序通过I2C协议与DUT板上的EEPROM芯片进行通信，检查EEPROM芯片中是否存储信息；
需要说明的是，步骤S02只检查DUT板上是否焊接EEPROM芯片以及该芯片内是否存储信息，并不对存储的信息内容进行检查；
若DUT板上没有EEPROM芯片或EEPROM芯片中未存储有相关信息，则测试程序界面提示硬件配置检查失败，检查程序终止；
若DUT板上有EEPROM芯片且该芯片内存储了信息，则分别执行步骤S03和S09，分别进行硬件配置和测试程序配置检查。
硬件配置检查：
S03：上述测试程序与ATE进行通信，获取当前ATE的硬件类型，如测试所需的板卡类型或型号，并调用EEPROM芯片中存储的硬件类型信息进行对比；
该步骤S03为硬件类型检查，即当前ATE测试DUT时所需要的必要硬件，该硬件类型必须包含EEPROM芯片中存储的所有硬件类型，以保证在之后的测试中调用某一项硬件时，该硬件在当前ATE中存在；
若当前ATE中缺少EEPROM芯片中存储的硬件类型，则硬件类型检查失败，测试程序界面弹框提示“当前测试系统中硬件类型缺少”的报警，同时缺少的硬件类型信息将详细记录在报警文件中；
若当前ATE中的硬件类型包含EEPROM芯片中存储的所有硬件类型，则硬件类型检查通过，进行S04；
S04：上述测试程序与ATE通信，获取当前ATE硬件配置信息，如测试所需的板卡在ATE中的位置或对应编号的连接关系，并调用EEPROM芯片中存储的硬件配置信息进行对比；
若当前ATE的某类型硬件的配置与EEPROM芯片存储的该类型的硬件配置信息完全不匹配，则硬件配置检查失败，测试程序弹框提示“当前系统和EEPROM芯片的配置完全不匹配”的警告，同时不匹配的详细信息将详细记录在报警文件中；
若所有类型硬件的配置与EEPROM芯片存储的对应类型硬件的配置信息都至少有一项相匹配，则硬件配置检查通过，可针对具体测试需求进行下一步检查，进行S05；
在步骤S02、S03和S04中，若硬件配置检查失败，可以加载测试程序，但不能进行量产。
S05：若ATE所有类型硬件的配置都至少有一项和EEPROM芯片对应类型硬件的配置信息相同，测试程序开始获取当前设定的测试条件下所需要的具体的硬件类型和配置，同时执行步骤S06和S07；
S06：上述测试程序与EEPROM芯片进行通信，检查S05中获取的硬件类型信息是否被存储在EEPROM芯片中；
若当前设定的测试条件下所需要的硬件配置信息在EEPROM中没有存储，测试程序发出提示信息，即认为是由于人为原因操作失误，该硬件类型信息被遗漏，没有被存储到EEPROM中，所以该硬件不再进行后续硬件配置检查；
S07：检查S05中获取的硬件类型在当前ATE中是否存在；
若该硬件类型在当前ATE中不存在，则硬件类型检查失败，测试程序弹框提示“XX条件下需要的XX类型在系统中不存在”的警告，同时记录在报警文件中；
在步骤S06和S07都检查通过的情况下进行步骤S08；
S08：检查S05中获取的硬件类型在当前ATE的配置与EEPROM芯片中该硬件的配置信息是否相同；
若不同，则硬件配置检查失败，测试程序弹框提示“XX条件下需要的XX硬件配置不匹配”的警告，同时不匹配的信息将详细记录在报警文件中；
若相同，则硬件配置检查通过；
本实施例中，在步骤S05～S08，测试条件可人工进行设定，且只在首次测试时进行该测试条件下的硬件配置检查，原因是，若硬件配置检查失败，则每次测试产生的报警信息相同，并且每次弹框会阻碍量产的进行，因此，当硬件配置检查失败时，可立即停止测试，排除报错信息，或进行单次测试，忽略报警产生的影响。若该报错不影响实际量产，可屏蔽导致配置检查失败的测试条件，继续进行量产测试。
测试程序配置检查：
S09：获取当前测试程序的配置信息；
S10：检查测试程序的配置信息是否和EEPROM存储的测试程序配置信息完全相同；
若不同，测试程序配置检查失败，测试程序弹框提示程序信息不匹配的警告，此时必须更换正确的测试程序；
若相同，测试程序配置检查通过。
上述步骤S03和S09同步执行，S03为硬件检查，S09为程序检查。当上述硬件配置和程序配置检查都通过后，可进行正常测试。
本发明还提供一种ATE硬件配置与测试程序匹配检查的装置，如图2所示，本装置包括：
测试机200，与PC 100通过通讯线缆连接，接收PC 100的指令；
DUT测试板300，与所述测试机100连接，该DUT测试板具有一EEPROM芯片310，该EEPROM芯片310中存储有对应当前的DUT在各个条件下测试所需的配置信息；
其中，所述测试机200与DUT测试板300之间采用通讯线缆或接插件连接。
本实施例提供的装置，可以实现PC 100与DUT测试板300上的EEPROM芯片310通讯的功能，既可以通过PC 100向测试机发送指令，将配置信息写入DUT测试板的EEPROM芯片310中，还可以通过回读EEPROM芯片310中存储的配置信息，根据配置信息检查测试机200的配置是否符合当前DUT测试的配置要求。
本实施例提供的装置在工作时分为配置信息写入和配置信息读取两部分；
其中，配置信息写入部分的工作原理如下：
S01：当需要将配置信息写入DUT测试板300的EEPROM芯片310中时，通过PC 100向测试机200发送指令，请求将配置信息写入DUT测试板300的EEPROM芯片310中；
S02：测试机200接收到PC端100的指令后，与DUT测试板的EEPROM芯片进行通讯，将对应当前的DUT在各个条件下测试所需的配置信息写入到EEPROM芯片310中。
配置信息读取部分的工作原理如下：
S03：通过PC100向测试机200发送指令，请求回读DUT测试板300的EEPROM芯片310中的配置信息；
S04：测试机200接收到指令后，与DUT测试板300的EEPROM芯片310进行通讯，将回读的配置信息传送给PC100；
S05：所述PC100向测试机200发送指令，根据配置信息，检查测试机200的配置是否符合当前DUT测试的配置要求。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。