本发明属于硬盘性能测试技术领域，具体涉及一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质。
背景技术：
硬盘是服务器的重要部件，在硬盘的测试中，热拔插测试是业界公认的必测项目，所有的系统厂商和硬盘的部件厂商都要测试硬盘的热拔插功能，但是当前用手拔插的方法比较原始，耗费大量的人工时间，而且容易产生一些意外拔插操作导致损坏硬盘，对结果产生不必要的影响。
技术实现要素：
针对现有技术的不足，本发明提供一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质，以解决上述技术问题。
第一方面，本申请如果一种硬盘模拟热插拔测试方法，所述方法包括：
设置包括通电状态和断电状态的测试周期；
设置所述测试周期的循环次数；
根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电；
通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。
结合第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，所述设置包括通电状态和断电状态的测试周期包括：
设置所述通电状态的通电持续时间；
设置所述断电状态的断电持续时间。
结合第一方面，在第一方面的第二种实施方式中，所述按照测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电包括：
对应测试周期内的通电状态为硬盘驱动供电并在测试周期内的断电状态停止为硬盘驱动供电；
根据所述循环次数循环对硬盘驱动执行所述测试周期的供电状态。
结合第一方面，在第一方面的第三种实施方式中，所述通过采集所述硬盘驱动通电状态下的硬盘电压获取硬盘状态信息包括：
在通电状态下采集硬盘电压信息并保存所述电压信息；
判断所述硬盘在不同测试周期的电压信息是否一致：
是，则判定所述硬盘正常；
否，则判定所述硬盘异常。
第二方面，本申请实施例提供一种硬盘模拟热插拔测试装置，所述装置包括：
周期设置单元，配置用于设置包括通电状态和断电状态的测试周期；
次数设置单元，配置用于设置所述测试周期的循环次数；
供电执行单元，配置用于根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电；
电压采集单元，配置用于通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。
结合第二方面，在第二方面的第一种实施方式中，所述周期设置单元包括：
通电设置模块，配置用于设置所述通电状态的通电持续时间；
断电设置模块，配置用于设置所述断电状态的断电持续时间。
结合第二方面，在第二方面的第二种实施方式中，所述供电执行模块包括：
周期执行模块，配置用于对应测试周期内的通电状态为硬盘驱动供电并在测试周期内的断电状态停止为硬盘驱动供电；
循环执行模块，配置用于根据所述循环次数循环对硬盘驱动执行所述测试周期的供电状态。
结合第二方面，在第二方面的第三种实施方式中，所述电压采集单元包括：
电压采集模块，配置用于在通电状态下采集硬盘电压信息并保存所述电压信息；
电压比对模块，配置用于判断所述硬盘在不同测试周期的电压信息是否一致；
正常判定模块，配置用于根据比对结果判定所述硬盘正常；
异常判定模块，配置用于根据比对结果判定所述硬盘异常。
第三方面，提供一种终端，包括：
处理器、存储器，其中，
该存储器用于存储计算机程序，
该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序，使得终端终端执行上述的终端终端的方法。
第四方面，提供了一种计算机存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面所述的方法。
第五方面，提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面所述的方法。
本发明的有益效果在于，
本发明提供的硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质，通过设置包括通电状态和断电状态的测试周期和测试周期循环次数，根据测试周期和循环次数对硬盘驱动供电，实现了自动模拟硬盘热插拔测试，并通过采集硬盘在通电状态下的电压信息获取硬盘的状态信息。本发明操作简单，能够准确模拟硬盘的热插拔测试，无需用手拔插硬盘，不会对硬盘造成不可逆的损坏。
此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请一个实施例的方法的示意性流程图。
图2是本申请一个实施例的装置的示意性框图。
图3为本发明实施例提供的一种终端的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
下面对本申请中出现的关键术语进行解释。
图1是本申请一个实施例的方法的示意性流程图。其中，图1执行主体可以为一种硬盘模拟热插拔测试装置。
如图1所示，该方法100包括：
步骤110，设置包括通电状态和断电状态的测试周期；
步骤120，设置所述测试周期的循环次数；
步骤130，根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电；
步骤140，通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。
为了便于对本发明的理解，下面以本发明模拟硬盘热插拔测试的原理，结合实施例中对硬盘进行模拟热插拔测试的过程，对本发明提供的硬盘模拟热插拔测试方法做进一步的描述。
可选地，作为本申请一个实施例，所述设置包括通电状态和断电状态的测试周期包括：
设置所述通电状态的通电持续时间；
设置所述断电状态的断电持续时间。
可选地，作为本申请一个实施例，所述按照测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电包括：
对应测试周期内的通电状态为硬盘驱动供电并在测试周期内的断电状态停止为硬盘驱动供电；
根据所述循环次数循环对硬盘驱动执行所述测试周期的供电状态。
可选地，作为本申请一个实施例，所述通过采集所述硬盘驱动通电状态下的硬盘电压获取硬盘状态信息包括：
在通电状态下采集硬盘电压信息并保存所述电压信息；
判断所述硬盘在不同测试周期的电压信息是否一致：
是，则判定所述硬盘正常；
否，则判定所述硬盘异常。
具体的，所述基于fio的ssd稳态检测方法包括：
s1、设置包括通电状态和断电状态的测试周期。
设置通电状态持续时间和断电状态持续时间，本实施例中，通电状态持续时间设为10秒，断电状态持续时间设为8秒，一次通电状态和一次断电状态组成一个测试周期，即一个测试周期通电10秒断电8秒。
s2、设置所述测试周期的循环次数。
本实施例设置循环次数为20次。
s3、根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电。
在一个测试周期内，按照通电状态持续时间和断电状态持续时间为硬盘驱动供电，即在一个测试周期内为硬盘驱动持续供电10秒后，停止供电持续8秒，进入下一个测试周期持续供电10秒，按照循环次数循环执行测试周期的供电状态。
对硬盘驱动及硬盘的供电为外部供电，将服务器正常放置在机架上，供电线缆连接硬盘背板的供电pin脚(引脚)。将供电线缆从前置连接到服务器后端的drivecontrolmodule。设置的测试周期和循环次数及执行方法均写入测试脚本，测试脚本案子与控制pc端。drivecontrolmodule通过串口线或者网线与控制pc端连接。
s4、通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。
在通电状态下利用电压传感器获取硬盘的电压值，并将电压值存储至控制pc端，每个硬盘都自动创建对应的电压测试表，用于存储每个测试周期产生的电压值。对比同一硬盘在不同测试周期的电压值是否一致：若电压值保持一致则判定该硬盘状态正常；若电压值不一致则判定该硬盘状态异常。
如图2示，该装置200包括：
周期设置单元210，所述周期设置单元210用于设置包括通电状态和断电状态的测试周期；
次数设置单元220，所述次数设置单元220用于设置所述测试周期的循环次数；
供电执行单元230，所述供电执行单元230用于根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电；
电压采集单元240，所述电压采集单元240用于通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。
可选地，作为本申请一个实施例，所述所述周期设置单元包括：
通电设置模块，配置用于设置所述通电状态的通电持续时间；
断电设置模块，配置用于设置所述断电状态的断电持续时间。
可选地，作为本申请一个实施例，所述供电执行模块包括：
周期执行模块，配置用于对应测试周期内的通电状态为硬盘驱动供电并在测试周期内的断电状态停止为硬盘驱动供电；
循环执行模块，配置用于根据所述循环次数循环对硬盘驱动执行所述测试周期的供电状态。
可选地，作为本申请一个实施例，所述电压采集单元包括：
电压采集模块，配置用于在通电状态下采集硬盘电压信息并保存所述电压信息；
电压比对模块，配置用于判断所述硬盘在不同测试周期的电压信息是否一致；
正常判定模块，配置用于根据比对结果判定所述硬盘正常；
异常判定模块，配置用于根据比对结果判定所述硬盘异常。
图3为本发明实施例提供的一种终端装置300的结构示意图，该终端装置300可以用于执行本申请实施例提供的更新散热策略参数的方法。
其中，该终端装置300可以包括：处理器310、存储器320及通信单元330。这些组件通过一条或多条总线进行通信，本领域技术人员可以理解，图中示出的服务器的结构并不构成对本申请的限定，它既可以是总线形结构，也可以是星型结构，还可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
其中，该存储器320可以用于存储处理器310的执行指令，存储器320可以由任何类型的易失性或非易失性存储终端或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(sram)，电可擦除可编程只读存储器(eeprom)，可擦除可编程只读存储器(eprom)，可编程只读存储器(prom)，只读存储器(rom)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。当存储器320中的执行指令由处理器310执行时，使得终端300能够执行以下上述方法实施例中的部分或全部步骤。
处理器310为存储终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分，通过运行或执行存储在存储器320内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(integratedcircuit，简称ic)组成，例如可以由单颗封装的ic所组成，也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装ic而组成。举例来说，处理器310可以仅包括中央处理器(centralprocessingunit，简称cpu)。在本申请实施方式中，cpu可以是单运算核心，也可以包括多运算核心。
通信单元330，用于建立通信信道，从而使所述存储终端可以与其它终端进行通信。接收其他终端发送的用户数据或者向其他终端发送用户数据。
本申请还提供一种计算机存储介质，其中，该计算机存储介质可存储有程序，该程序执行时可包括本申请提供的各实施例中的部分或全部步骤。所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(英文：read-onlymemory，简称：rom)或随机存储记忆体(英文：randomaccessmemory，简称：ram)等。
因此，本申请通过设置包括通电状态和断电状态的测试周期和测试周期循环次数，根据测试周期和循环次数对硬盘驱动供电，实现了自动模拟硬盘热插拔测试，并通过采集硬盘在通电状态下的电压信息获取硬盘的状态信息。本发明操作简单，能够准确模拟硬盘的热插拔测试，无需用手拔插硬盘，不会对硬盘造成不可逆的损坏，本实施例所能达到的技术效果可以参见上文中的描述，此处不再赘述。
本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请实施例中的技术可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请实施例中的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中如u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质，包括若干指令用以使得一台计算机终端(可以是个人计算机，服务器，或者第二终端、网络终端等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其，对于终端实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例中的说明即可。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。