PCIe卡测试装置及其方法与流程

本发明是有关于一种pcie卡测试装置及其方法，特别是一种能够提高测试效率、降低测试成本并具有热插拔功能的pcie卡测试装置及其方法。

背景技术：

目前针对pcie卡的测试都是基于对应的主板进行功能测试，每次测试完成后都需要进行开关机动作才能进行下一片的功能测试，测试时间长，并且不同的pcie卡需要使用对应的测试主板和测试程式才能测试，测试站点多，测试标准不统一，造成整体的测试效率较低，测试成本较高，给测试和维护带来了极大的不便，难以适应目前产品量小和产品种类多的状况。

有鉴于此，本发明提供一种能够提高测试效率、降低测试成本并具有热插拔功能的pcie卡测试装置及其方法。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题是在于提供一种能够提高测试效率、降低测试成本并具有热插拔功能的pcie卡测试装置及其方法。

为解决上述技术问题，一种pcie卡测试装置，其用于测试一待测pcie卡，该pcie卡测试装置包括：

一pcie接口模块，其用于给该待测pcie卡提供对应的测试连接界面；

一信号控制模块，其电连接该pcie接口模块，该信号控制模块用于接收该pcie接口模块的一通断信号，当该待测pcie卡正确插入该pcie接口模块时，该信号控制模块接收到该通断信号为接通，反之则为断开；

一软体模块，其电连接该信号控制模块，该软体模块是一测试系统运行的载体并用于提供一测试程式对插入该pcie接口模块的该待测pcie卡进行功能测试并产生一测试结果，在接收到该信号控制模块的该通断信号为接通时，该软体模块的该测试系统能够根据插入该待测pcie卡类型的自动加载相对应的该测试程式进行功能测试，反之则不加载该测试程式对该待测pcie卡进行功能测试，该软体模块包括有一第二存储器模块，该第二存储器模块用于存储若干个测试程式；

一处理器模块，其分别电连接该信号控制模块和该软体模块，该处理器模块还分别电连接一显示模块、一联网模块和一第一存储器模块，该处理器模块通过该显示模块显示该测试结果并将该测试结果存储于该第一存储器模块，再通过该联网模块上传该测试结果，在该测试程式测试完成和该处理器模块处理完成后，该软体模块自动移除该测试程式会反馈一反馈信息给该信号控制模块和该供电模块，该信号控制模块接收信号为断开，同时该pcie接口模块的电被断开，可以拔开测试完成的该待测pcie卡，在拔开之后并且在插入下一张该待测pcie卡之前该测试系统被重置；以及

一供电模块，其电连接该处理器模块，并同时为其他各模块提供电力支持。

为解决上述技术问题，一种pcie卡测试方法，其用于该pcie卡测试装置，包含以下步骤：

步骤s10：接通该供电模块，再将该待测pcie卡正确插入该pcie接口模块；

步骤s20：该信号控制模块接收到该通断信号为接通，则该软体模块的该测试系统能够根据插入该待测pcie卡类型的自动加载相对应的该测试程式进行功能测试并产生该测试结果；

步骤s30：该处理器模块通过该显示模块显示该测试结果并将该测试结果存储于该第一存储器模块，再通过该联网模块上传该测试结果；

步骤s40：在上述动作都完成后，该软体模块会自动移除该测试程式并反馈一反馈信息给该信号控制模块和该供电模块，该pcie接口模块的电被断开，同时该信号控制模块接收该通断信号为断开；以及

步骤s50：拔开测试完成的该待测pcie卡后该测试系统被重置，然后再进行下一张该待测pcie卡的测试。

优选地，该pcie接口模块是x24pcie界面，能够兼容x16，x8，x4，x2，x1界面类型。

优选地，该信号控制模块是由一继电器和一mcu（microcontrollerunit，微控制单元）控制模块组成。

优选地，该pcie接口模块设置多个不同且相互独立控制的兼容不同带宽的测试连接界面，能够进行不同类型的pcie卡同时测试。

优选地，该信号控制模块还设置有一信号灯，当该通断信号为接通时该信号灯为绿色，反之则为红色。

相较于现有技术，本发明pcie卡测试装置及其方法，藉由该信号控制模块和该软体模块的配合使用，使得该pcie卡测试装置在测试时能够安全有效的进行热插拔操作，同时在配合该pcie接口模块能够实现对不同类型的pcie卡进行同时测试，能够提高测试的工作效率和降低测试所需的应用成本。

【附图说明】

图1为本发明pcie卡测试装置的一实施例的模块组成图。

图2为本发明pcie卡测试方法的一实施例的流程步骤图。

【具体实施方式】

请参阅图1所示，本发明提供一种pcie卡测试装置，其用于测试一待测pcie卡（图未示），该pcie卡测试装置包括：

一pcie接口模块1，其用于给该待测pcie卡提供对应的测试连接界面；

一信号控制模块2，其电连接该pcie接口模块1，该信号控制模块2用于接收该pcie接口模块1的一通断信号，当该待测pcie卡正确插入该pcie接口模块1时，该信号控制模块2接收到该通断信号为接通，反之则为断开；

一软体模块4，其电连接该信号控制模块2，该软体模块4是一测试系统41运行的载体并用于提供一测试程式42对插入该pcie接口模块1的该待测pcie卡进行功能测试，在接收到该信号控制模块2的该通断信号为接通时，该软体模块4的该测试系统41能够根据插入该待测pcie卡类型的自动加载相对应的该测试程式42进行功能测试并产生一测试结果，反之则不加载该测试程式42对该待测pcie卡进行功能测试，该软体模块4包括有一第二存储器模块43，该第二存储器模块43用于存储若干个测试程式42；

一处理器模块3，其分别电连接该信号控制模块2和该软体模块4，该处理器模块3还分别电连接一显示模块31、一联网模块32和一第一存储器模块33，该处理器模块3通过该显示模块31显示该测试结果并将该测试结果存储于该第一存储器模块33，再通过该联网模块32上传该测试结果，在该测试程式42测试完成和该处理器模块3处理完成后，该软体模块4自动移除该测试程式42并反馈一反馈信息给该信号控制模块2和该供电模块5，该信号控制模块2接收信号为断开，同时该pcie接口模块1的电被断开，可以拔开测试完成的该待测pcie卡，在拔开之后并且在插入下一张该待测pcie卡之前该测试系统41被重置；以及

一供电模块5，其电连接该处理器模块3，并为其他模块提供电力支持。

请参阅图2所示，一种pcie卡测试方法，其用于该pcie卡测试装置，包含以下步骤：

步骤s10：接通该供电模块5，再将该待测pcie卡正确插入该pcie接口模块1；

步骤s20：该信号控制模块2接收到该通断信号为接通，则该软体模块4的该测试系统41能够根据插入该待测pcie卡类型的自动加载相对应的该测试程式42进行功能测试并产生该测试结果；

步骤s30：该处理器模块3通过该显示模块31显示该测试结果并将该测试结果存储于该第一存储器模块33，再通过该联网模块32上传该测试结果；

步骤s40：在上述动作都完成后，该软体模块4会自动移除该测试程式42并反馈一反馈信息给该信号控制模块2和该供电模块5，该pcie接口模块1的电被断开，同时该信号控制模块2接收该通断信号为断开；以及

步骤s50：拔开测试完成的该待测pcie卡后该测试系统41被重置，然后再进行下一张该待测pcie卡的测试。

于本实施例中，该pcie接口模块1是x24pcie界面，能够兼容x16，x8，x4，x2，x1界面类型。

于本实施例中，该信号控制模块2是由一继电器和一mcu控制模块组成的。

于本实施例中，该pcie接口模块1设置多个不同且相互独立控制的兼容不同带宽的测试连接界面，能够进行不同类型的pcie卡同时测试。

于本实施例中，该信号控制模块2还设置有一信号灯，当该通断信号为接通时该信号灯为绿色，反之则为红色，以作提醒。

综上所述，本发明pcie卡测试装置及其方法，藉由该信号控制模块2和该软体模块4的配合使用，使得该pcie卡测试装置在测试时能够安全有效的进行热插拔操作，同时在配合该pcie接口模块1能够实现对不同类型的pcie卡进行同时测试，能够提高测试的工作效率和降低测试所需的应用成本。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。