1.一种自动生成ddr芯片测试标准报告的方法，其特征在于，包括，
获取测试ddr芯片实际应用的时钟频率；
计算所述时钟频率对应的ddr数据时钟；
根据所述ddr数据时钟查询ddr数据表，获得与所述ddr时钟匹配的测试标准指标；其中，所述ddr数据表用于存储多个常规ddr数据时钟，以及与每个常规ddr数据时钟对应的测试标准指标；
生成包含所述测试标准指标的ddr芯片测试标准报告。
2.根据权利要求1所述的自动生成ddr芯片测试标准报告的方法，其特征在于，在生成包含所述测试标准指标的ddr芯片测试标准报告之前，还包括：
如果在所述ddr数据表中查找不到与所述ddr数据时钟一致的常规ddr数据时钟，则在所述ddr数据表中查找临近ddr数据时钟，获得与所述临近ddr数据时钟匹配的测试标准指标。
3.根据权利要求2所述的自动生成ddr芯片测试标准报告的方法，其特征在于，所述临近ddr数据时钟，具体为存储于所述ddr数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。
4.根据权利要求1或2所述的自动生成ddr芯片测试标准报告的方法，其特征在于，所述ddr数据时钟为所述时钟频率的两倍。
5.根据权利要求2所述的自动生成ddr芯片测试标准报告的方法，其特征在于，在所述获取测试ddr芯片实际应用的时钟频率之前，还包括：
获取用户输入的所述测试ddr芯片的ddr等级；
在预先配置的ddr数据库中查找与所述ddr等级对应的ddr数据表；其中，所述ddr数据库包括多个ddr等级对应的ddr数据表。
6.一种自动生成ddr芯片测试标准报告的系统，其特征在于，包括：
时钟频率获取模块，用于获取测试ddr芯片实际应用的时钟频率；
数据时钟计算模块，用于计算所述时钟频率对应的ddr数据时钟；
测试标准指标获取模块，用于根据所述ddr数据时钟查询ddr数据表，获得与所述ddr时钟匹配的测试标准指标；其中，所述ddr数据表用于存储多个常规ddr数据时钟，以及与每个常规ddr数据时钟对应的测试标准指标；
报告获取模块，用于生成包含所述测试标准指标的ddr芯片测试标准报告。
7.根据权利要求6所述的自动生成ddr芯片测试标准报告的系统，其特征在于，在所述报告获取模块之前，还包括：
测试标准指标再次获取模块，用于如果在所述ddr数据表中查找不到与所述ddr数据时钟一致的常规ddr数据时钟，则在所述ddr数据表中查找临近ddr数据时钟，获得与所述临近ddr数据时钟匹配的测试标准指标。
8.根据权利要求7所述的自动生成ddr芯片测试标准报告的系统，其特征在于，所述临近ddr数据时钟，具体为存储于所述ddr数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。
9.根据权利要求6或7所述的自动生成ddr芯片测试标准报告的系统，其特征在于，所述ddr数据时钟为所述时钟频率的两倍。
10.根据权利要求7所述的自动生成ddr芯片测试标准报告的系统，其特征在于，在所述时钟频率获取模块之前，还包括：
芯片等级获取模块，用于获取用户输入的所述测试ddr芯片的ddr等级；
数据表获取模块，用于在预先配置的ddr数据库中查找与所述ddr等级对应的ddr数据表；其中，所述ddr数据库包括多个ddr等级对应的ddr数据表。