校准电容式触控模组的方法、装置和存储介质与流程

[0001]
本公开涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种校准电容式触控模组的方法、装置和存储介质。


背景技术：

[0002]
随着科技的进步，越来越多的手机采用触控屏，人们可以直接通过点击触控屏操作手机。
[0003]
相关技术中，在使用带有触控屏的手机时，触控屏可能出现灵敏度降低、冻屏或自动误触等异常现象，进而影响手机的正常使用。


技术实现要素：

[0004]
为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种校准电容式触控模组的方法、装置和存储介质。
[0005]
根据本公开实施例的第一方面，提供一种校准电容式触控模组的方法，所述触控模组包括多个触控区域，所述触控区域包括多个触控节点，所述方法包括：
[0006]
针对任一所述触控区域，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数；
[0007]
基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域；
[0008]
如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。
[0009]
可选地，所述基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域，包括：
[0010]
判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的数量是否大于或等于第一阈值，如果所述数量大于或等于所述第一阈值，则所述触控区域为异常触控区域。
[0011]
可选地，所述基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域，包括：
[0012]
判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的第一数量是否大于或等于第一阈值，且满足预设条件的触控节点的第二数量是否大于第二阈值，所述预设条件包括相邻触控节点的触控参数的差值小于或等于第三阈值；
[0013]
如果所述第一数量大于或等于第一阈值，且所述第二数量大于第二阈值，则所述触控区域为异常触控区域。
[0014]
可选地，所述获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数，包括：
[0015]
获取表征所述触控节点电容大小的参数值；
[0016]
将所述参数值减去基准值得到的结果作为所述触控参数。
[0017]
可选地，所述将所述参数值减去基准值得到的结果作为所述触控参数之前，所述方法还包括：
[0018]
获取表征所述触控节点电容大小的且位于所述预设正常范围的多个历史参数值；
[0019]
计算多个所述历史参数值的平均值，并将多个所述历史参数值的平均值设置为所
述基准值。
[0020]
可选地，所述基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数之后，所述方法还包括：
[0021]
判断修正后的所述异常触控区域是否仍然为异常触控区域；
[0022]
如果修正后的所述异常触控区域仍然为异常触控区域，基于所述基准值对所述异常触控区域内的触控节点的修正后的触控参数进行校准，以使得校准后的触控参数位于所述预设正常范围。
[0023]
可选地，所述基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，包括：
[0024]
计算所述异常触控区域内的参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数的平均值；
[0025]
将所述异常触控区域内的参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数减去所述平均值。
[0026]
根据本公开实施例的第二方面，提供一种校准电容式触控模组的装置，所述触控模组包括多个触控区域，所述触控区域包括多个触控节点，所述装置包括：
[0027]
第一获取模块，被配置为针对任一所述触控区域，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数；
[0028]
第一判断模块，被配置为基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域；
[0029]
修正模块，被配置为在所述触控区域为异常触控区域时，基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。
[0030]
可选地，所述第一判断模块包括：
[0031]
第一判断子模块，被配置为判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的数量是否大于或等于第一阈值，并在所述数量大于或等于所述第一阈值时，认定所述触控区域为异常触控区域。
[0032]
可选地，所述第一判断模块包括：
[0033]
第二判断子模块，被配置为判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的第一数量是否大于或等于第一阈值，且满足预设条件的触控节点的第二数量是否大于第二阈值，所述预设条件包括相邻触控节点的触控参数的差值小于或等于第三阈值，
[0034]
并在所述第一数量大于或等于第一阈值，且所述第二数量大于第二阈值时，认定所述触控区域为异常触控区域。
[0035]
可选地，所述第一获取模块包括：
[0036]
获取子模块，被配置为获取表征所述触控节点电容大小的参数值；
[0037]
设置子模块，被配置为将所述参数值减去基准值得到的结果作为所述触控参数。
[0038]
可选地，所述装置还包括：
[0039]
第二获取模块，被配置为获取表征所述触控节点电容大小的且位于所述预设正常范围的多个历史参数值；
[0040]
计算设置模块，被配置为计算多个所述历史参数值的平均值，并将多个所述历史
参数值的平均值设置为所述基准值。
[0041]
可选地，所述装置还包括：
[0042]
第二判断模块，被配置为判断修正后的所述异常触控区域是否仍然为异常触控区域；
[0043]
校准模块，被配置为在修正后的所述异常触控区域仍然为异常触控区域时，基于所述基准值对所述异常触控区域内的触控节点的修正后的触控参数进行校准，以使得校准后的触控参数位于所述预设正常范围。
[0044]
可选地，所述修正模块包括：
[0045]
计算子模块，被配置为计算所述异常触控区域内的参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数的平均值；
[0046]
调整子模块，被配置为将所述异常触控区域内的参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数减去所述平均值。
[0047]
根据本公开实施例的第三方面，提供一种校准电容式触控模组的装置，包括：
[0048]
处理器；
[0049]
用于存储处理器可执行指令的存储器；
[0050]
其中，所述处理器被配置为：
[0051]
针对任一所述触控区域，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数；
[0052]
基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域；
[0053]
如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。
[0054]
根据本公开实施例的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，该程序指令被处理器执行时实现本公开第一方面所提供的校准电容式触控模组的方法的步骤。
[0055]
本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
[0056]
通过上述技术方案，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数；基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域；如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。即在判断出触控模组的异常触控区域后，基于获取的触控参数修正异常触控区域内的触控节点的触控参数，使其位于预设正常范围内，进而减小触控模组异常现象出现的概率。
[0057]
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
[0058]
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。
[0059]
图1是根据一示例性实施例示出的一种触控模组的结构示意图。
[0060]
图2是图1所示的触控模组的等效电路图。
[0061]
图3是根据一示例性实施例示出的一种触控模组的触控参数的示意图。
[0062]
图4是根据一示例性实施例示出的一种触控模组的触控参数的另一示意图。
[0063]
图5是根据一示例性实施例示出的一种触控模组的触控参数的另一示意图。
[0064]
图6是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的方法的流程图。
[0065]
图7是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的方法包括的步骤中基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数的流程图。
[0066]
图8是根据一示例性实施例示出的一种触控模组的触控参数的另一示意图。
[0067]
图9是根据一示例性实施例示出的一种触控模组的触控参数的另一示意图。
[0068]
图10是根据一示例性实施例示出的一种触控模组的触控参数的另一示意图。
[0069]
图11是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的方法的另一流程图。
[0070]
图12是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的方法的另一流程图。
[0071]
图13是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的装置的框图。
[0072]
图14是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的装置的另一框图。
具体实施方式
[0073]
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0074]
图1是根据一示例性实施例示出的一种触控模组的结构示意图。如图1所示，该触控模组从上至下依次包括盖板101(cover glass)、偏光片102(polarizer)、彩色滤光片103(color filter)、薄膜晶体管玻璃104(thin film transistor glass)和背光模组105(back light module)，其中在彩色滤光片103和薄膜晶体管玻璃104之间设置有包括有多个触控节点的触控层106，以手机为例，可以沿手机的宽度方向和长度方向分别设置规格为18列
×
32行的触控节点。分析该模型，可以发现触控节点与触控模组中其它导体之间具有第一耦合电容c
s
，触控节点与用于固定该触控模组而包围在该触控模组周围的金属框107之间具有第二耦合电容c
b
，在一种实施方式中，金属框107通过导电胶接地，且金属框107还通过导电泡棉连接到接地的中框108，由于导电胶与导电泡棉具有较大电阻，如图1所示，可以将金属框107通过导电胶接地的路径中的电阻等效为第一电阻r1，将金属框107通过中框108和导电泡棉接地的路径中的电阻等效为第二电阻r2。
[0075]
进一步可以将图1中的触控模组的所在的模型等效为图2所示的电路图，如图2所示，在通路109中，触控节点111通过第二耦合电容c
b
及相互并联的第一电阻r1和第二电阻r2接地，其中，第二耦合电容c
b
与相互并联的第一电阻r1和第二电阻r2串联。该通路109的阻抗如下：
[0076][0077]
其中，z为该通路109的阻抗值，r1为第一电阻的电阻值，r2为第二电阻的电阻值，j
为虚数单位，w为角频率，c
b
为第二耦合电容的电容值。
[0078]
如图2所示，该通路109可以等效为一仅包含等效电容c
b
的等效通路110，该等效通路110的阻抗如下：
[0079][0080]
其中，z为该等效通路110的阻抗值，j为虚数单位，w为角频率，c
b
为等效电容的电容值。
[0081]
在一种可能的实施方式中，触控节点对应的触控参数如下计算：
[0082]
diff＝rawdata-baseline
[0083]
其中，diff为触控参数，rawdata为对应于触控节点侦测到的电容值的电压参数，baseline为基准值。
[0084]
触控节点感应到的电容值c
total
＝c
b
+c
s
，rawdata与c
total
具有正相关关系。当第一电阻r1或第二电阻r2所在路径接地不良时，对应的第一电阻r1或第二电阻r2增大，导致阻抗z增大，进而等效电容c
b
减小，每个触控节点侦测到的电容值c
total
减小，对应的rawdata减小，可能出现如图3所示的整个触控模组的触控参数diff小于0的情况。此时若手指接触触控模组，手指产生的信号被抵消，举例来讲，假设系统判定触控节点的触控参数diff大于40时有手指接触触控模组，手指接触触控模组可以使得rawdata增加50，但在出现如图3所示的情况下，触控参数diff增加50也不会超过上述阈值40，进而系统不会判定有手指触控触控模组，触控模组灵敏度下降。
[0085]
若baseline基于触控参数diff获得，则diff减小可能导致baseline减小，在baseline减小的下个时间点若接地良好，rawdata增大进而导致获得的触控参数diff增大，出现如图4所示的情况，每个触控节点的触控参数均过大，系统进入冻屏模式，即不对获取的触控参数作出响应。需要说明的是，在图4中，最左侧的一列数字为触控节点的行数，最上方的一行数字为触控节点的列数，其它数字为对应于触控节点的触控参数。
[0086]
此外，如图5所示，接地不稳还可能出现自动误触报鬼点的情况，如图5所示从左至右第10列和第11列的触控参数异常升高，系统可能认为该两列所在区域有手指接触，进而导致误触。
[0087]
为了解决上述问题，本公开实施例提供了一种校准电容式触控模组的方法，该方法可以用于如图1所示的触控模组，所述触控模组包括多个触控区域，所述触控区域包括多个触控节点，如图6所示，该方法包括：
[0088]
s11，针对任一所述触控区域，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数。
[0089]
s12，基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域。
[0090]
s13，如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。
[0091]
本公开中，触控节点可以为检测电容值的传感器，触控参数可以为表征触控节点电容值大小的参数值。触控区域可以为阵列排布的触控节点中的一列或一行，也可以为阵列排布的触控节点中连续分布的多列触控节点或多行触控节点。
[0092]
在步骤s11中，获取触控区域内的所述触控节点的触控参数，可以按照一定的顺序
依次扫描获取每个触控区域内的触控节点的触控参数。例如在基于tddi(touch and display driver integration)架构实现的触控模组中，多个触控节点阵列排布，每一列触控节点为一个触控区域，系统每间隔一定时间按照一定顺序(如从左至右的顺序)获取每一列的触控节点的触控参数。
[0093]
获取上述触控参数后，执行步骤s12，基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域。触控参数反映了对应的触控节点的电容值的大小，而根据实际使用情况，正常情况下，触控节点的触控参数具有相对稳定的分布，例如电容值大小位于一定区域内，故可以基于触控参数判断对应触控区域是否为异常触控区域。
[0094]
为了判断异常触控区域，可选地，所述基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域，包括：
[0095]
判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的数量是否大于或等于第一阈值，如果所述数量大于或等于所述第一阈值，则所述触控区域为异常触控区域。
[0096]
沿用上述例子，阵列排布的触控节点的列数为18列，行数为32行，假设预设异常范围为小于-20或大于20，第一阈值为10，若对于一触控区域即上述例子中的一列触控节点，其中触控参数小于-20或大于20的触控节点的个数为15个，15大于第一阈值10，则判定该触控区域为异常触控区域。通常在进行触控操作时，手指只接触触控区域的一部分而使得部分触控节点的触控参数升高位于表征触控节点受到手指触控的正常范围，通常该正常范围与预设异常范围相同，可以通过位于该正常范围或预设异常范围的触控节点的分布情况来区分该节点处于正常状态或异常状态。在该正常范围与预设异常范围相同的情况下，触控参数位于预设异常范围可能是由于手指正常触控引起，也可能是由于触控模组异常引起。而在出现上述触控模组失灵、冻屏或鬼点情况时，触控参数位于预设异常范围内的触控节点的数量相比于由于手指正常触控引起的触控参数位于预设异常范围的触控节点的数量增多，因此可以通过设置第一阈值，比较触控参数位于预设异常范围内的触控节点的数量与第一阈值的大小来确定异常触控区域，如此可以较为准确的找出异常触控区域。需要说明的是，预设异常范围和第一阈值可以根据实际情况进行设置，本公开对其不作具体限制。
[0097]
可选地，所述基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域，包括：
[0098]
判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的第一数量是否大于或等于第一阈值，且满足预设条件的触控节点的第二数量是否大于第二阈值，所述预设条件包括相邻触控节点的触控参数的差值小于或等于第三阈值；
[0099]
如果所述第一数量大于或等于第一阈值，且所述第二数量大于第二阈值，则所述触控区域为异常触控区域。
[0100]
具体来讲，除了判断触控参数位于预设异常范围的触控节点的第一数量是否大于或等于第一阈值外，还要统计相邻触控节点的触控参数的差值小于或等于第三阈值的触控节点的数量，该数量即为第二数量，并判断第二数量是否大于第二阈值。
[0101]
沿用上述例子，假设第二阈值为20，第三阈值为12，则判定一列触控节点中触控参数小于-20或大于20的触控节点的数量是否大于或等于第一阈值10，并统计该列触控节点中上下相邻的触控节点的触控参数之间的差值小于或等于12的触控节点的数量，判定该数量是否大于第二阈值20，两个判定均满足时，确定该触控区域为异常触控区域。参考图3至图5所示出的情况，触控模组出现上述异常时，相邻的触控节点的触控参数多会一起升高或
降低，如此判定异常触控区域可以增加准确度。需要说明的是，第二阈值和第三阈值可以根据实际情况进行设置，本公开对其不作具体限制。
[0102]
在步骤s13中，如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。异常触控区域内的触控节点的触控参数包含了相对于预设正常范围的差值信息，故可以基于异常触控区域内的触控参数直接或间接获取相关差值信息，然后根据差值信息修正该触控参数。需要说明的是，预设正常范围可以根据实际情况进行设置，本公开对其不作具体限制。
[0103]
通过上述技术方案，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数；基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域；如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。即在判断出触控模组的异常触控区域后，基于获取的触控参数修正异常触控区域内的触控节点的触控参数，使其位于预设正常范围内，进而减小触控模组异常现象出现的概率。
[0104]
可选地，如图7所示，基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，包括：
[0105]
s131，计算所述异常触控区域内的参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数的平均值。
[0106]
s132，将所述异常触控区域内的参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数减去所述平均值。
[0107]
举例来讲，参考图8至图9，假设图8中从左至右的第二列触控节点被判为异常触控区域，且该列的所有触控节点的触控参数均位于预设异常范围，则先获取图8中所示从左至右的第二列的触控节点的触控参数，然后计算该列的触控参数的算术平均值，得到图8中从左至右的第二列的触控参数的平均值为35.5，为方便计算，进行取整得到36，进一步将图8中从左至右第二列触控节点的触控参数减去36，得到图9中处理后的第二列触控节点的触控参数。如此可以使得至少部分异常触控区域中的触控参数位于预设正常范围，减少触控模组异常情况的出现，使得对于触控的判断更加准确。
[0108]
当然，在其它可能的实施方式中，针对某一异常触控区域内的触控节点，若仅存在部分触控节点的触控参数位于预设异常范围，则只计算参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数的平均值，并仅将参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数减去所述平均值，举例来讲，如图10所示，若图10中从左至右的第二列触控节点被判为异常触控区域，且该列从上至下第一个数为0，位于预设正常范围，则在计算该列的触控参数的平均值时，将该列从上至下第一个数排除在外，只计算该列从上至下第二个数至最后一个数的平均值，并将该列从上至下第二个数至最后一个数减去该平均值，得到修正后的触控参数。
[0109]
此外，在一种可能的实施方式中，即使图8中从左至右的第一列和第三列触控节点未被判定为异常触控区域，只要该两列触控节点未被手指触控，则也参照上述方式对图8中从左至右的第一列和第三列触控节点进行计算平均值和减去平均值的操作，使得该两列触控节点的触控参数相近，便于后续计算。
[0110]
图11是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的方法的另一流程
图，如图11所示，该方法包括：
[0111]
s21，获取表征所述触控节点电容大小的且位于所述预设正常范围的多个历史参数值。
[0112]
s22，计算多个所述历史参数值的平均值，并将多个所述历史参数值的平均值设置为所述基准值。
[0113]
s23，获取表征所述触控节点电容大小的参数值。
[0114]
s24，将所述参数值减去基准值得到的结果作为所述触控参数。
[0115]
s25，基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域。
[0116]
s26，如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。
[0117]
在步骤s21中，获取表征所述触控节点电容大小的且位于所述预设正常范围的多个历史参数值，即可以获取一段历史时间内的表征触控节点电容大小的多个参数值，且这些参数值位于预设正常范围，例如对于刷新频率为120hz的触控模组，每间隔8.33ms获取一次表征触控节点电容大小的参数值，可以获取一段历史时间内的10次位于预设正常范围的该参数值作为历史参数值。然后执行步骤s22，计算多个所述历史参数值的平均值，并将多个所述历史参数值的平均值设置为所述基准值。沿用上述例子，可以计算获取的该10次参数值的算术平均值，然后将该算术平均值设置为基准值。如此可以使得设置的基准值更加准确。当然，可以每过一段时间按照s21至s22所示出的方法重新设置基准值以对基准值进行更新。
[0118]
设置好基准值后，执行步骤s23，获取表征所述触控节点电容大小的参数值，在步骤s24中，将所述参数值减去基准值得到的结果作为所述触控参数，即将在步骤s23中获取的参数值减去基准值，将两者相减得到的差值结果作为触控参数。由于参数值会浮动，因此不同触控节点的触控功能参数可能有较大差异，不利于触控事件的判断，将参数值减去基准值作为触控参数，可以使得触控参数之间的差异减小，进而使得触控事件的判断更加简便。当然，在其它的实施方式中，也可以采用其它方式来设置基准值。
[0119]
图12是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的方法的另一流程图，如图12所示，该方法包括：
[0120]
s31，获取表征所述触控节点电容大小的且位于所述预设正常范围的多个历史参数值。
[0121]
s32，计算多个所述历史参数值的平均值，并将多个所述历史参数值的平均值设置为所述基准值。
[0122]
s33，获取表征所述触控节点电容大小的参数值。
[0123]
s34，将所述参数值减去基准值得到的结果作为所述触控参数。
[0124]
s35，基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域。
[0125]
s36，如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。
[0126]
s37，判断修正后的所述异常触控区域是否仍然为异常触控区域。
[0127]
s38，如果修正后的所述异常触控区域仍然为异常触控区域，基于所述基准值对所述异常触控区域内的触控节点的修正后的触控参数进行校准，以使得校准后的触控参数位于所述预设正常范围。
[0128]
对异常触控区域内的触控节点的触控参数进行修正后，可能部分异常触控区域仍然存在异常情况，故通过执行步骤s37，判断修正后的所述异常触控区域是否仍然为异常触控区域，在步骤s38中，如果修正后的所述异常触控区域仍然为异常触控区域，基于所述基准值对所述异常触控区域内的修正后的触控节点的触控参数进行校准，以使得校准后的触控参数位于所述预设正常范围。举例来讲，对修正后的触控节点进行校准可以是通过直接调整基准值的大小进而校正触控参数使得触控参数位于预设正常范围，也可以按照上述步骤s31至步骤s32重新构建基准值。如此可以进一步减小触控模组异常情况的出现。
[0129]
图13是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的装置的框图，所述触控模组包括多个触控区域，所述触控区域包括多个触控节点，如图13所示，该装置200包括：
[0130]
第一获取模块210，被配置为针对任一所述触控区域，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数；
[0131]
第一判断模块220，被配置为基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域；
[0132]
修正模块230，被配置为在所述触控区域为异常触控区域时，基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。
[0133]
可选地，该第一判断模块220包括：
[0134]
第一判断子模块，被配置为判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的数量是否大于或等于第一阈值，并在所述数量大于或等于所述第一阈值时，认定所述触控区域为异常触控区域。
[0135]
可选地，该第一判断模块220包括：
[0136]
第二判断子模块，被配置为判断所述触控参数位于预设异常范围的触控节点的第一数量是否大于或等于第一阈值，且满足预设条件的触控节点的第二数量是否大于第二阈值，所述预设条件包括相邻触控节点的触控参数的差值小于或等于第三阈值，
[0137]
并在所述第一数量大于或等于第一阈值，且所述第二数量大于第二阈值时，认定所述触控区域为异常触控区域。
[0138]
可选地，该第一获取模块210包括：
[0139]
获取子模块，被配置为获取表征所述触控节点电容大小的参数值；
[0140]
设置子模块，被配置为将所述参数值减去基准值得到的结果作为所述触控参数。
[0141]
可选地，该装置200还包括：
[0142]
第二获取模块，被配置为获取表征所述触控节点电容大小的且位于所述预设正常范围的多个历史参数值；
[0143]
计算设置模块，被配置为计算多个所述历史参数值的平均值，并将多个所述历史参数值的平均值设置为所述基准值。
[0144]
可选地，该装置200还包括：
[0145]
第二判断模块，被配置为判断修正后的所述异常触控区域是否仍然为异常触控区域；
[0146]
校准模块，被配置为在修正后的所述异常触控区域仍然为异常触控区域时，基于所述基准值对所述异常触控区域内的触控节点的修正后的触控参数进行校准，以使得校准后的触控参数位于所述预设正常范围。
[0147]
可选地，该修正模块230包括：
[0148]
计算子模块，被配置为计算所述异常触控区域内的参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数的平均值；
[0149]
调整子模块，被配置为将所述异常触控区域内的参数值位于预设异常范围的触控节点的触控参数减去所述平均值。
[0150]
关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
[0151]
本公开还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，该程序指令被处理器执行时实现本公开提供的校准电容式触控模组的方法的步骤。
[0152]
图14是根据一示例性实施例示出的一种校准电容式触控模组的装置的另一框图。例如，装置800可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。
[0153]
参照图14，装置800可以包括以下一个或多个组件：处理组件802，存储器804，电力组件806，多媒体组件808，音频组件810，输入/输出(i/o)的接口812，传感器组件814，以及通信组件816。
[0154]
处理组件802通常控制装置800的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件802可以包括一个或多个处理器820来执行指令，以完成上述的校准电容式触控模组的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件802可以包括一个或多个模块，便于处理组件802和其他组件之间的交互。例如，处理组件802可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件808和处理组件802之间的交互。
[0155]
存储器804被配置为存储各种类型的数据以支持在装置800的操作。这些数据的示例包括用于在装置800上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器804可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(sram)，电可擦除可编程只读存储器(eeprom)，可擦除可编程只读存储器(eprom)，可编程只读存储器(prom)，只读存储器(rom)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。
[0156]
电力组件806为装置800的各种组件提供电力。电力组件806可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为装置800生成、管理和分配电力相关联的组件。
[0157]
多媒体组件808包括在所述装置800和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(lcd)和触摸面板(tp)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件808包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置800处于操作模式，如拍摄模式或
视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。
[0158]
音频组件810被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件810包括一个麦克风(mic)，当装置800处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器804或经由通信组件816发送。在一些实施例中，音频组件810还包括一个扬声器，用于输出音频信号。
[0159]
i/o接口812为处理组件802和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。
[0160]
传感器组件814包括一个或多个传感器，用于为装置800提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件814可以检测到装置800的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置800的显示器和小键盘，传感器组件814还可以检测装置800或装置800一个组件的位置改变，用户与装置800接触的存在或不存在，装置800方位或加速/减速和装置800的温度变化。传感器组件814可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件814还可以包括光传感器，如cmos或ccd图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件814还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。
[0161]
通信组件816被配置为便于装置800和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置800可以接入基于通信标准的无线网络，如wifi，2g或3g，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件816经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件816还包括近场通信(nfc)模块，以促进短程通信。例如，在nfc模块可基于射频识别(rfid)技术，红外数据协会(irda)技术，超宽带(uwb)技术，蓝牙(bt)技术和其他技术来实现。
[0162]
在示例性实施例中，装置800可以被一个或多个应用专用集成电路(asic)、数字信号处理器(dsp)、数字信号处理设备(dspd)、可编程逻辑器件(pld)、现场可编程门阵列(fpga)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述校准电容式触控模组的方法。
[0163]
在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器804，上述指令可由装置800的处理器820执行以完成上述校准电容式触控模组的方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是rom、随机存取存储器(ram)、cd-rom、磁带、软盘和光数据存储设备等。
[0164]
本领域技术人员在考虑说明书及实践本公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
[0165]
应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。