技术总结
本申请公开了一种设备测试方法，所述方法包括向目标设备发送测试指令，以便所述目标设备控制功能模块执行所述测试指令对应的测试操作得到功能测试结果；判断是否接收到所有所述功能模块的功能测试结果；若是，则根据所有所述功能测试结果生成第一设备检测结果；当测试时长大于标准时长时，根据已接收到的功能测试结果生成第二设备检测结果；其中，所述测试时长为当前时刻与发送所述测试指令的时刻之间的时间长度，本申请能够提高设备检测的效率。本申请还公开了一种设备测试系统、一种存储介质及一种电子设备，具有以上有益效果。
技术研发人员：刘均;赵涛;张秋菊
受保护的技术使用者：深圳市元征科技股份有限公司
技术研发日：2019.10.12
技术公布日：2020.01.24