一种数据存储系统及管理方法与流程

本申请涉及嵌入式软件技术领域，尤其涉及一种数据存储系统及管理方法。

背景技术：

在嵌入式系统中，很多产品都使用电可擦可编程只读存储器(electricallyerasableprogrammableread-onlymemory，简称：eeprom)和闪存(flashmemory，简称：flash)等非易失存储器进行数据的存储。其中，系统运行的同时数据也在不断进行更新，并周期性地保存至非易失存储器中，为下次系统上电运行提供数据依据。

然而，若数据中的关键数据发生异常，则会导致系统运行异常或者系统功能失效。在现有技术中，通过为每个数据单元维护校验值，并根据校验值判断待读取数据是否为有效数据，从而排除异常数据。

但是，目前的现有技术仍然会发生关键数据异常等现象，无法保证嵌入式系统中关键数据的安全存储。

技术实现要素：

本申请提供一种数据存储系统及管理方法，以解决现有技术中的嵌入式系统中的关键数据无法安全存储的技术问题。

本申请第一个方面提供一种数据存储系统，包括：检测模块、标记模块、存储模块和显示模块；

所述检测模块，用于检测存储介质的坏块情况和所述存储介质的剩余寿命；

所述标记模块，用于根据所述存储介质的坏块情况，标记所述存储模块中的坏块；

所述存储模块，用于在所述存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储；其中，所述存储介质包括多个存储扇区，所述循环存储为：在当前写入数据的存储扇区写满时，擦除另一个存储扇区的数据，并在所述另一个存储扇区中写入数据，所述另一个存储扇区为：所述多个存储扇区中不同于所述当前写入数据的存储扇区的另一个存储扇区；

所述显示模块，用于显示所述存储介质的剩余寿命。

可选地，所述检测模块具体用于：

对于所述存储介质的任一个存储空间，在所述任一个存储空间经过预设次数连续的数据写入和读出中，若全部检测为校验错误，确定所述任一个存储空间为坏块。

可选地，所述剩余寿命包括剩余擦写次数百分比；所述检测模块具体还用于：

根据所述存储介质的擦写寿命和所述存储介质的存储空间的已擦写次数，计算所述剩余擦写次数百分比。

可选地，所述剩余寿命包括剩余使用时间；所述检测模块具体还用于：

根据所述存储介质的擦写寿命、所述存储介质的存储空间的已擦写次数和所述存储介质每天存储数据次数，计算所述剩余使用时间。

可选地，所述检测模块具体用于检测所述存储介质的使用寿命是否满足质保要求；在所述存储介质的使用寿命满足所述质保要求的情况下，检测所述存储介质的坏块情况和所述存储介质的剩余寿命。

可选地，所述检测模块具体用于根据所述存储介质的质保寿命、所述存储介质每天存储数据次数、所述存储介质擦写寿命和所述待存储数据块的大小，确定所述数据存储系统所需最小存储空间；

在所述数据存储系统所需最小存储空间大于或等于所述存储介质的存储空间的情况下，确定所述存储介质的使用寿命满足所述质保要求；

在所述数据存储系统所需最小存储空间小于所述存储介质的存储空间的情况下，确定所述存储介质的使用寿命不满足所述质保要求。

可选地，所述存储介质的质保寿命、所述存储介质每天存储数据次数、所述存储介质擦写寿命、所述待存储数据块的大小和所述数据存储系统所需最小存储空间，满足下述公式：

所述存储介质的质保寿命×所述存储介质每天存储数据次数＝质保寿命内存储介质存储总次数；

所述质保寿命内存储介质存储总次数/所述存储介质擦写寿命＝存储备份数；

所述待存储数据块的大小×所述存储备份数＝所述数据存储系统所需最小存储空间。

可选地，所述显示模块还用于，在所述存储介质的使用寿命不满足所述质保要求的情况下，显示质保不达标提醒。

可选地，所述存储模块还用于：根据读取参数配置，读取所述多个存储扇区中的数据，并对读取的数据进行循环冗余校验crc，以及利用所述crc查找最近保存的有效数据块。

本申请第二个方面提供一种数据管理方法，包括：

检测存储介质的坏块情况和所述存储介质的剩余寿命；

根据所述存储介质的坏块情况，标记所述存储模块中的坏块；

在所述存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储；其中，所述存储介质包括多个存储扇区，所述循环存储为：在当前写入数据的存储扇区写满时，擦除另一个存储扇区的数据，并在所述另一个存储扇区中写入数据，所述另一个存储扇区为：所述多个存储扇区中不同于所述当前写入数据的存储扇区的另一个存储扇区；

显示所述存储介质的剩余寿命。

可选地，对于所述存储介质的任一个存储空间，在所述任一个存储空间经过预设次数连续的数据写入和读出中，若全部检测为校验错误，确定所述任一个存储空间为坏块。

可选地，所述剩余寿命包括剩余擦写次数百分比；

根据所述存储介质的擦写寿命和所述存储介质的存储空间的已擦写次数，计算所述剩余擦写次数百分比。

可选地，所述剩余寿命包括剩余使用时间；

根据所述存储介质的擦写寿命、所述存储介质的存储空间的已擦写次数和所述存储介质每天存储数据次数，计算所述剩余使用时间。

可选地，检测所述存储介质的使用寿命是否满足质保要求；在所述存储介质的使用寿命满足所述质保要求的情况下，检测所述存储介质的坏块情况和所述存储介质的剩余寿命。

可选地，根据所述存储介质的质保寿命、所述存储介质每天存储数据次数、所述存储介质擦写寿命和所述待存储数据块的大小，确定所述数据存储系统所需最小存储空间；

在所述数据存储系统所需最小存储空间大于或等于所述存储介质的存储空间的情况下，确定所述存储介质的使用寿命满足所述质保要求；

在所述数据存储系统所需最小存储空间小于所述存储介质的存储空间的情况下，确定所述存储介质的使用寿命不满足所述质保要求。

可选地，所述存储介质的质保寿命、所述存储介质每天存储数据次数、所述存储介质擦写寿命、所述待存储数据块的大小和所述数据存储系统所需最小存储空间，满足下述公式：

所述存储介质的质保寿命×所述存储介质每天存储数据次数＝质保寿命内存储介质存储总次数；

所述质保寿命内存储介质存储总次数/所述存储介质擦写寿命＝存储备份数；

所述待存储数据块的大小×所述存储备份数＝所述数据存储系统所需最小存储空间。

可选地，在所述存储介质的使用寿命不满足所述质保要求的情况下，显示质保不达标提醒。

可选地，根据读取参数配置，读取所述多个存储扇区中的数据，并对读取的数据进行循环冗余校验crc，以及利用所述crc查找最近保存的有效数据块。

本申请提供的一种数据存储系统及管理方法，其中存储系统包括：检测模块、标记模块、存储模块和显示模块，检测模块，用于检测存储介质的坏块情况和存储介质的剩余寿命，标记模块，用于根据存储介质的坏块情况，标记存储模块中的坏块，存储模块，用于在存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储，其中，存储介质包括多个存储扇区，循环存储为在当前写入数据的存储扇区写满时，擦除另一个存储扇区的数据，并在另一个存储扇区中写入数据，另一个存储扇区为多个存储扇区中不同于当前写入数据的存储扇区的另一个存储扇区；显示模块，用于显示存储介质的剩余寿命。具体的，基于检测模块检测该数据存储系统中的存储介质的坏块情况和剩余寿命，并基于标记模块进行坏块标记，基于显示模块显示该存储介质的剩余寿命，存储模块在数据存储的过程中避开已标记为坏块的存储区。解决了现有技术中的嵌入式系统中的关键数据无法安全存储的技术问题，提高了数据存储系统的安全性，同时提高了所读取的数据的可信度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的数据存储系统的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的存储模块循环存储的示例性的示意图；

图3为本申请实施例提供的示例性的显示界面的示意图；

图4为本申请实施例提供的数据管理方法的流程示意图；

图5为本申请实施例提供的数据管理方法的整体流程示意图。

通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本公开构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

首先对本申请所涉及的名词进行解释：

crc：循环冗余校验(cyclicredundancycheck，简称：crc)，crc是一种根据网络数据包或计算机文件等数据产生简短固定位数校验码的一种散列函数，主要用来检测或校验数据传输或者保存后可能出现的错误。

此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。在以下各实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。

现有的数据存储系统通过为存储介质中所存储的每个数据单元维护校验值，并根据校验值判断待读取数据是否为有效数据，以排除异常数据。

但是，因为现有的排除异常数据中仅仅诊断了数据是否为有效数据，而没有判断该系统的存储介质的使用寿命是否满足质保要求，也无法确定存储介质中是否包括坏块，所以无法保障该数据存储系统的安全性。

因此，本申请实施例提供一种数据存储系统及管理方法，适用于检测存储介质的坏块情况和剩余寿命，以提高数据存储系统的安全性，以解决现有技术中的嵌入式系统中的关键数据无法安全存储的技术问题。

具体的，本申请实施例中的数据存储系统设有检测模块、标记模块和显示模块，基于检测模块检测该数据存储系统中的存储介质的坏块情况和剩余寿命，并基于标记模块进行坏块标记，基于显示模块显示该存储介质的剩余寿命，存储模块在数据存储的过程中避开已标记为坏块的存储区，从而保证了存储介质的可靠性，进而提高了数据存储系统的安全性，同时提高了所读取的数据的可信度。

下面将结合附图，对本发明的实施例进行描述。

本实施例提供一种数据存储系统，用于解决现有技术中的嵌入式系统中的关键数据无法安全存储的技术问题。

如图1所示，为本实施例提供的数据存储系统的结构示意图，该数据存储系统10包括：检测模块101、标记模块102、存储模块103和显示模块104。

其中，检测模块，用于检测存储介质的坏块情况和存储介质的剩余寿命；标记模块，用于根据存储介质的坏块情况，标记存储模块中的坏块；存储模块，用于在存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储；其中，存储介质包括多个存储扇区，循环存储为：在当前写入数据的存储扇区写满时，擦除另一个存储扇区的数据，并在另一个存储扇区中写入数据，另一个存储扇区为：多个存储扇区中不同于当前写入数据的存储扇区的另一个存储扇区；显示模块，用于显示存储介质的剩余寿命。

可选地，检测模块具体用于检测存储介质的使用寿命是否满足质保要求；在存储介质的使用寿命满足质保要求的情况下，检测存储介质的坏块情况和存储介质的剩余寿命。

可选地，在存储介质的使用寿命不满足质保要求的情况下，检测模块也可以检测该存储介质的坏块情况和存储介质的剩余寿命。但是，若该存储介质的使用寿命不满足质保要求，则该存储介质的可靠性相对较低，该数据存储系统的安全性也会降低。

可选地，检测模块具体用于根据存储介质的质保寿命、存储介质每天存储数据次数、存储介质擦写寿命和待存储数据块的大小，确定数据存储系统所需最小存储空间；在数据存储系统所需最小存储空间大于或等于存储介质的存储空间的情况下，确定存储介质的使用寿命满足质保要求；在数据存储系统所需最小存储空间小于存储介质的存储空间的情况下，确定存储介质的使用寿命不满足质保要求。

其中，存储介质的质保寿命、存储介质擦写寿命以及待存储数据块的大小是可以根据存储介质的参数配置所确定的；存储介质每天存储数据次数可以根据经验值进行估算，也可以基于数据存储次数计数器对该存储介质7天内的存储数据次数进行统计，并进行均值计算，以确定存储介质每天存储数据次数，也可以基于其他方法确定存储介质每天存储数据次数，本实施例不做限定。

可选地，存储介质的质保寿命、存储介质每天存储数据次数、存储介质擦写寿命、待存储数据块的大小和数据存储系统所需最小存储空间，满足下述公式：

存储介质的质保寿命×存储介质每天存储数据次数＝质保寿命内存储介质存储总次数；

质保寿命内存储介质存储总次数/存储介质擦写寿命＝存储备份数；

待存储数据块的大小×存储备份数＝数据存储系统所需最小存储空间。

其中，存储备份数是指该存储介质在其质保寿命内所能存储数据块的数量的上限值。

可选地，显示模块还用于，在存储介质的使用寿命不满足质保要求的情况下，显示质保不达标提醒。

示例性的，当该存储介质应用于计算机系统时，若确定该存储介质的使用寿命不足，则显示模块可以基于该计算机系统的显示界面进行故障报出，以提醒操作人员该存储介质的质保不达标。

可选地，在检测模块检测存储介质的使用寿命是否满足质保要求后，检测模块具体用于，对于存储介质的任一个存储空间，在任一个存储空间经过预设次数连续的数据写入和读出中，若全部检测为校验错误，确定上述任一个存储空间为坏块。

具体的，检测模块基于crc校验方法对存储介质中的任一个存储空间所存储数据的写入和读出进行异常检测，若确定所检测的存储空间中数据的写入和读出连续发生检验错误的次数达到预设次数，则确定该存储空间为坏块，并基于标记模块对所确定的坏块进行标记。

可选地，显示模块可以将所标记的坏块进行显示，以提醒基于该存储介质进行数据存储的电子设备的操作人员当前有哪些存储空间为坏块。

示例性的，若预设次数为5次，该数据存储系统中的检测模块基于crc校验方法对存储介质中的第一存储空间中数据的写入和读出和第二存储空间中数据的写入和读出进行异常检测。若第一存储空间中数据的写入和读出最近七次的检测结果依次为：错误、错误、错误、正确、错误、错误和错误，第二存储空间中数据的写入和读出最近七次的检测结果依次为：错误、正确、错误、错误、错误、错误和错误，则确定第一存储空间正常，第二存储空间为坏块，标记模块将第二存储空间标记为坏块。其中，若第一存储空间的第八次和第九次异常检测的检测结果均为错误，则在第九次异常检测后，将确定第一存储空间为坏块，此时标记模块将第一存储空间标记为坏块。其中，预设次数可以根据实际需求进行设定，本实施例不做限定。

具体的，存储模块在存储介质中未被标记为坏块的存储区对待存储数据块进行循环存储。

如图2所示，为本实施例提供的存储模块循环存储的示例性的流程示意图，其中，存储扇区是存储介质物理上的区域划分，存储空间是存储介质逻辑上的区域划分，所以一个存储扇区可以包括多个存储空间，一个存储空间也可以包括多个存储扇区。

示例性的，若该存储介质包括两个存储扇区，分别为第一存储扇区(sector1)和第二存储扇区(sector2)，sector是存储介质中的最小可擦写单位。其中，第一存储扇区中包括第一存储空间、第二存储空间和第三存储空间，第二存储扇区中包括第四存储空间、第五存储空间和第六存储空间。若第一存储扇区中的第二存储空间已被标记为坏块，则存储模块将待存储数据块依次写入第一存储空间、第三存储空间、第四存储空间、第五存储空间、第六存储空间，当第一存储扇区和第二存储扇区均写满时，擦除第一存储扇区，并将下一个待存储数据块写入第一存储扇区的起始位置，即写入第一存储空间，若第一存储扇区被再次写满，则擦除第二存储扇区，将下一个待存储数据块写入第二存储扇区的起始位置，并将待存储的数据块依次写入第二存储扇区，以此类推，以实现待存储数据块在未被标记为坏块的存储区进行循环存储。

可选地，剩余寿命包括剩余擦写次数百分比；检测模块具体还用于：根据存储介质的擦写寿命和存储介质的存储空间的已擦写次数，计算剩余擦写次数百分比。

具体的，存储介质的剩余擦写次数百分比可以基于如下公式进行计算：

剩余擦写次数百分比＝(存储介质擦写寿命-存储介质已擦写次数)/存储介质擦写寿命×100％。

其中，存储介质已擦写次数可以基于存储介质擦写计数器，统计该存储介质已擦写次数，也可以基于其他方法统计该存储介质已擦写次数，本实施例不做限定。

可选地，剩余寿命包括剩余使用时间；检测模块具体还用于：根据存储介质的擦写寿命、存储介质的存储空间的已擦写次数和存储介质每天存储数据次数，计算剩余使用时间。

具体的，剩余使用时间可以基于如下公式进行计算：

剩余使用时间＝(存储介质擦写寿命-存储介质已擦写次数)/存储介质每天存储数据次数。

可选地，显示模块可以根据检测模块所确定的存储介质的剩余擦写次数百分比和存储介质的剩余使用时间，实时在该存储介质所应用的设备的显示界面进行显示，以将该存储介质的实时情况汇报给该设备的操作人员，进一步提高了该数据存储系统的安全性。

如图3所示，为本实施例提供的示例性的显示界面的示意图。其中，以该数据存储系统应用于计算机系统为例，即基于计算机系统的显示界面实时显示该存储介质的当前情况。

可选地，存储模块还用于：根据读取参数配置，读取多个存储扇区中的数据，并对读取的数据进行循环冗余校验crc，以及利用crc查找最近保存的有效数据块。

具体的，存储模块可以根据读取该存储介质的参数配置中的各存储扇区的起始地址和各存储扇区的结束地址，读取该存储介质中的多个存储扇区中的数据，并基于crc校验方法对所读取的数据进行校验，以确定最近保存的有效数据块，进一步提高了所读取的数据的可信度。

其中，存储介质的参数配置可以包括：存储介质的类型、各存储扇区起始地址、各存储扇区的结束地址、最小写单位、最小擦单位和存储介质的擦写寿命。数据块的参数配置可以包括：待写入数据块的大小和存储介质每天存储数据次数。该数据存储系统的参数配置可以包括质保年限，单位是年。

示例性的，在目前的嵌入式系统中，有很多产品使用eeprom，flash等非易失存储器进行数据保存。其中很多数据在系统运行过程中，需要不断的更新，并保存在存储介质中，用于记录当前的运行状态，并为下一次系统上电提供历史数据。这些数据中的一些关键数据在发生错误时，会导致系统运行异常或者系统功能失效，从而给用户带来很大的经济损失，也会给运营商带来繁重的售后服务工作。

本实施例提供的数据存储系统，包括：检测模块、标记模块、存储模块和显示模块，检测模块，用于检测存储介质的坏块情况和存储介质的剩余寿命，标记模块，用于根据存储介质的坏块情况，标记存储模块中的坏块，存储模块，用于在存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储，其中，存储介质包括多个存储扇区，循环存储为在当前写入数据的存储扇区写满时，擦除另一个存储扇区的数据，并在另一个存储扇区中写入数据，另一个存储扇区为多个存储扇区中不同于当前写入数据的存储扇区的另一个存储扇区；显示模块，用于显示存储介质的剩余寿命。解决了现有技术中的嵌入式系统中的关键数据无法安全存储的技术问题，提高了数据存储系统的安全性，同时提高了所读取的数据的可信度。

本实施例提供一种数据管理方法，该数据管理方法应用于上述数据存储系统，以解决现有技术中的嵌入式系统中的关键数据无法安全存储的技术问题。本实施例的执行主体为电子设备，比如服务器、台式电脑、笔记本电脑、平板电脑及其他可用于数据管理的电子设备。

如图4所示，为本实施例提供的数据管理方法的流程示意图，该方法包括：

步骤101，检测存储介质的坏块情况和存储介质的剩余寿命；

步骤102，根据存储介质的坏块情况，标记存储模块中的坏块；

步骤103，在存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储；其中，存储介质包括多个存储扇区，循环存储为：在当前写入数据的存储扇区写满时，擦除另一个存储扇区的数据，并在另一个存储扇区中写入数据，另一个存储扇区为：多个存储扇区中不同于当前写入数据的存储扇区的另一个存储扇区；

步骤104，显示存储介质的剩余寿命。

可选地，对于存储介质的任一个存储空间，在任一个存储空间经过预设次数连续的数据写入和读出中，若全部检测为校验错误，确定任一个存储空间为坏块。

可选地，剩余寿命包括剩余擦写次数百分比；

根据存储介质的擦写寿命和存储介质的存储空间的已擦写次数，计算剩余擦写次数百分比。

可选地，剩余寿命包括剩余使用时间；

根据存储介质的擦写寿命、存储介质的存储空间的已擦写次数和存储介质每天存储数据次数，计算剩余使用时间。

可选地，检测存储介质的使用寿命是否满足质保要求；在存储介质的使用寿命满足质保要求的情况下，检测存储介质的坏块情况和存储介质的剩余寿命。

可选地，根据存储介质的质保寿命、存储介质每天存储数据次数、存储介质擦写寿命和待存储数据块的大小，确定数据存储系统所需最小存储空间；

在数据存储系统所需最小存储空间大于或等于存储介质的存储空间的情况下，确定存储介质的使用寿命满足质保要求；

在数据存储系统所需最小存储空间小于存储介质的存储空间的情况下，确定存储介质的使用寿命不满足质保要求。

可选地，存储介质的质保寿命、存储介质每天存储数据次数、存储介质擦写寿命、待存储数据块的大小和数据存储系统所需最小存储空间，满足下述公式：

存储介质的质保寿命×存储介质每天存储数据次数＝质保寿命内存储介质存储总次数；

质保寿命内存储介质存储总次数/存储介质擦写寿命＝存储备份数；

待存储数据块的大小×存储备份数＝数据存储系统所需最小存储空间。

可选地，在存储介质的使用寿命不满足质保要求的情况下，显示质保不达标提醒。

可选地，根据读取参数配置，读取多个存储扇区中的数据，并对读取的数据进行循环冗余校验crc，以及利用crc查找最近保存的有效数据块。

如图5所示，为本实施例提供的数据管理方法的整体流程示意图，如图5的流程可以是如图4所示流程的一种具体实现方式。

示例性的，根据参数配置中的存储介质的质保寿命、存储介质每天存储数据次数、存储介质擦写寿命和待存储数据块的大小，确定数据存储系统所需最小存储空间，若所确定的数据存储系统所需的最小存储空间大于或等于存储介质的存储空间，则确定该存储介质的使用寿命满足质保要求。反之，则确定该存储介质的使用寿命不满足质保要求，此时将进行质保故障报出，即进行数据存储系统风险提醒。在检测存储介质的使用寿命是否满足质保要求后，对该存储介质中所存储的数据进行读取，并基于crc校验方法对存储介质中的任一个存储空间所存储数据的写入和读出进行异常检测，若确定所检测的存储空间中数据的写入和读出连续发生检验错误的次数达到预设次数，则确定该存储空间为坏块，并基于标记模块对所确定的坏块进行标记，同时进行坏块故障报出，以报出该存储空间出现坏块。在完成该存储介质的坏块检测后，根据存储介质擦写寿命和已擦写次数，确定剩余擦写次数百分比；根据存储介质的擦写寿命、存储介质的存储空间的已擦写次数和存储介质每天存储数据次数，计算剩余使用时间。并将所确定的剩余擦写次数百分比和剩余使用时间进行实时显示，以将该存储介质的实时情况汇报给该设备的操作人员。最后，在存储介质未被标记为坏块的存储区中实现待存储数据块的循环存储。从而提高了数据存储系统的安全性和可靠性，同时提高了所读取的数据的可信度。

本实施例提供的数据管理方法，为上述实施例提供的数据存储系统的具体管理过程，其实现方式与原理相同，不再赘述。

本发明实施例还提供一种电子设备，包括：处理器，存储器以及计算机程序；其中，所述计算机程序被存储在所述存储器中，并且被配置为由所述处理器执行，所述计算机程序包括用于执行如前述实施例中任一项所述的方法的指令。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时，实现如前述实施例中任一项所述的方法。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：rom、ram、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。