技术总结
本发明公开一种基于GLINK总线的验证及测试通用系统，包括第一芯片和第二芯片，第一芯片和第二芯片双向连接；所述第一芯片用于构建N个测试通道以得到相应测试数据并发送到第二芯片，所述第二芯片用于对测试数据进行处理并实时显示，N为正整数。通过本发明，可同时验证及测试不同传输介质、不同传输距离、有无均衡器对GLINK总线传输的影响；还可验证相同条件下不同收发器对GLINK总线传输的兼容性以及外置SerDes芯片进行降速传输的可行性；可作为GLINK总线通用测试设备使用，用于检测及测试其它GLINK总线设备。其它GLINK总线设备。其它GLINK总线设备。
技术研发人员：肖乐康 王华 蔡奕 郑瑞鑫 廖长清 金鑫 谭左红 张明星 凌勇 樊勇 龚晓黎 瞿志刚 王地伟 何洋 孙涛
受保护的技术使用者：重庆航天工业有限公司
技术研发日：2020.10.27
技术公布日：2021/1/24