技术总结
本发明涉及一种用于飞行试验返回的电子产品重复使用评估方法，包括：S1.获取待评估的电子产品的性能参数，并基于所述性能参数制定所述电子产品的可重复使用能力分析与评估方案；S2.基于所述可重复使用能力分析与评估方案对所述电子产品进行可重复使用能力分析和评估，并确定所述电子产品的重复使用次数；S3.若所述电子产品的重复使用次数满足要求，则对所述电子产品经历飞行试验后的状态进行产品状态综合评估，并获取第一结果；S4.基于所述第一结果判断所述电子产品是否重复使用。本方案为产品在再次执行飞行试验的放行评估提供了依据。依据。依据。
技术研发人员：杨庆 黄震 杨雷 吴文瑞 郭斌 苏令 余抗 赵建贺
受保护的技术使用者：北京空间飞行器总体设计部
技术研发日：2020.10.29
技术公布日：2021/1/24