SRAM型FPGA不同异常的可靠性评估方法及系统与流程

文档序号:25543542发布日期:2021-06-18 20:40

技术特征:

1.一种sram型fpga不同异常的可靠性评估方法,其特征在于,包括以下步骤;

s100、对fpga进行故障注错测试,统计出错地址和异常比特个数;

s200、根据fpga的不同异常对系统功能造成的影响进行分类,具体为:

第一类异常:系统功能中断可以通过回读刷新进行恢复;

第二类异常:系统功能中断无法通过回读刷新进行恢复,但可以通过软件复位进行恢复;

第三类异常:系统功能中断只能通过加电和复位的方式进行恢复;

s300、对不同异常情况进行分类评估,具体步骤为:

计算fpga在第i类异常情况中内部配置结构j的配置数据异常率pij,i取1、2或3;

查找该型号fpga内部配置结构j在特定场景下的翻转率ej;

根据配置数据异常率pij和翻转率ej计算第i类异常情况的失效率λi;

根据失效率λi计算第i类异常情况的可靠度。

2.根据权利要求1所述的sram型fpga不同异常的可靠性评估方法,其特征在于:所述配置数据异常率pij的计算公式为

其中bij是通过故障注错测试统计得到的fpga第i类异常情况中内部配置结构j的异常比特个数,btotal是该型号fpga总的配置比特个数。

3.根据权利要求1所述的sram型fpga不同异常的可靠性评估方法,其特征在于:所述失效率λi的计算公式为

4.根据权利要求1所述的sram型fpga不同异常的可靠性评估方法,其特征在于:所述可靠度ri的计算公式为

其中λi(t)为失效率函数,

5.一种sram型fpga不同异常的可靠性评估系统,其特征在于,包括:

存储器,用于存储计算机程序;

处理器,用于当执行所述计算机程序时,实现如权利要求1至4任意一项所述的sram型fpga不同异常的可靠性评估方法。


技术总结
本发明公开了一种SRAM型FPGA不同异常的可靠性评估及系统,方法包括S100、选定配置存储器位置,进行故障注错测试,统计出错地址和异常比特个数;S200、根据不同异常对系统功能造成的影响进行分类,S300、对不同情况进行分类评估。系统包括存储器,用于存储计算机程序;处理器,用于当执行所述计算机程序时,实现如上述的SRAM型FPGA不同异常的可靠性评估方法。本发明解决了单粒子翻转对系统功能造成不同影响时的量化评估问题,为准确、全面地对抗辐照加固设计的可靠性评估提供了新的解决办法,具有较好的可行性和推广价值。

技术研发人员:倪少杰;刘旭辉;欧钢;毛二坤;孙鹏跃;黄仰博;唐小妹;孙广富
受保护的技术使用者:中国人民解放军国防科技大学
技术研发日:2021.03.18
技术公布日:2021.06.18
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