一种ocp接口测试用板卡、测试系统及测试方法
技术领域
1.本发明涉及ocp接口测试领域，具体涉及一种ocp接口测试用板卡、测试系统及测试方法。
背景技术：
2.服务器/pc（personal computer，个人计算机）主板具有ocp（open computing project，开放计算项目）接口，在测试时，一般使用ocp网卡进行诊断测试，而ocp网卡价值较高，且测试时需要使用附加的光纤线缆等连接进行测试，光纤线缆作为高值易耗品，测试时容易因金手指多次插拔后损坏，这样在测试时就需要消耗大量的光纤线缆，且ocp卡损耗也需要频繁插拔，一定次数以后，ocp卡也将因金手指磨损而损坏，导致ocp接口测试成本较高。
技术实现要素：
3.为解决上述问题，本发明提供一种ocp接口测试用板卡、测试系统及测试方法，将ocp金手指接口链路组成中的pcie链路部分设计引出，将其转换为标准的pcie接口和sas接口，利用其它的低价的pcie设备或sas硬盘实现对ocp接口的测试，同时无需使用光纤线缆，避免光纤线缆损耗，极大降低测试成本。
4.第一方面，本发明的技术方案提供一种ocp接口测试用板卡，该板卡上设置有用于插接测试终端上ocp接口的ocp金手指接口和用于接入pcie设备的pcie接口，pcie接口上有与ocp金手指接口的各个链路相对应的若干链路，ocp金手指接口的各个链路分别与pcie接口上的对应链路连接。
5.进一步地，ocp金手指接口的各个链路分别与pcie接口上的对应链路连接，具体为：ocp金手指接口的电源链路、数据链路、时钟链路、唤醒信号/在位检测信号链路和i2c信号链路分别与pcie接口的电源链路、差分数据链路、时钟链路、唤醒信号/在位检测信号链路和i2c信号链路连接。
6.进一步地，ocp金手指接口的数据链路为pcie x16信号，共有16对差分信号链路，ocp金手指接口的数据链路与pcie接口的差分数据链路对应接法为ocp_rx[n]接pcie_rx[n], ocp_tx[n]接pcie_tx[n]，其中n的取值为0~15。
[0007]
进一步地，该板卡还设置有用于接入sas硬盘的sas硬盘接口，sas硬盘接口上有与pcie接口的各个链路相对应的若干链路，pcie接口的各个链路分别与sas硬盘接口上的对应链路连接。
[0008]
进一步地，pcie接口的各个链路分别与sas硬盘接口上的对应链路连接，具体为：pcie接口的电源链路、差分数据链路、时钟链路、唤醒信号/在位检测信号链路和i2c信号链路分别与sas硬盘接口的电源链路、差分数据链路、时钟链路、唤醒信号链路和i2c信号链路连接。
[0009]
进一步地，pcie接口的差分数据链路有4对差分信号接入sas硬盘接口的差分数据链路，对应接法为pcie_rx[m]接sas_rx[m],pcie_tx[m]接sas_tx[m]，其中m的取值为0~3。
[0010]
进一步地，该板卡上还设置电源模块；ocp金手指接口和pcie接口的电源链路为12v电源链路，sas硬盘接口的电源链路包括12v电源链路和3.3v/5v电源链路，pcie接口的12v电源链路与sas硬盘接口的12v电源链路连接；电源模块与pcie接口的12电源链路连接，由ocp金手指接口为电源模块、pcie接口和sas硬盘接口提供12v电源，同时电源模块还与sas硬盘接口的3.3v/5v电源链路连接，由电源模块将12v电源转换为3.3v和5v电源为sas硬盘接口提供3.3v和5v电源。
[0011]
进一步地，sas硬盘接口上还设置有读写信号链路，该读写信号链路连接有led指示灯。
[0012]
第二方面，本发明的技术方案提供一种ocp接口测试系统，包括具有ocp接口的测试终端、测试设备和上述任一项所述的测试用板卡；其中测试设备为pcie设备或sas硬盘；所述测试用板卡上的ocp金手指接口与测试终端上的ocp接口插接；当所述测试用板卡上仅设置pcie接口时，将pcie设备与pcie接口插接；当所述测试用板卡上同时设置pcie接口和sas硬盘接口时，将pcie设备和sas硬盘择一插接对应接口；测试终端操作测试设备，若测试设备正常，则判断测试终端上的ocp接口正常。
[0013]
第三方面，本发明的技术方案提供一种ocp接口测试方法，包括以下步骤：将上述任一项所述的测试用板卡的ocp金手指接口测试终端上的ocp接口插接；当所述测试用板卡上仅设置pcie接口时，将pcie设备与pcie接口插接；当所述测试用板卡上同时设置pcie接口和sas硬盘接口时，将pcie设备和sas硬盘择一插接对应接口；测试终端操作测试设备，若测试设备正常，则判断测试终端上的ocp接口正常；其中测试设备指pcie设备或sas硬盘。
[0014]
本发明提供的一种ocp接口测试用板卡、测试系统及测试方法，相对于现有技术，具有以下有益效果：将ocp金手指接口链路组成中的pcie链路部分设计引出，将其转换为标准的pcie接口或sas接口，利用其它的低价的pcie设备或sas硬盘实现对ocp接口的测试，可以有效的减少实际生产中，高价值ocp网卡和光纤线缆使用，从而减少测试损耗，大大降低测试成本。
附图说明
[0015]
为了更清楚的说明本技术实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]
图1是本发明一实施例提供的一种ocp接口测试用板卡结构示意图。
[0017]
图2是本发明一实施例提供的一种ocp接口测试用板卡结构示意图。
[0018]
图3是本发明一实施例提供的一种ocp接口测试系统结构示意框图。
具体实施方式
[0019]
为了使本技术领域的人员更好地理解本技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]
ocp接口中主要包含有ocp网卡数据交互部分，其链路组成为pcie协议，另外支持ncsi功能，在扩展测试中，往往对pcie部分进行测试，因此，本发明方案将ocp接口转换为pcie接口或sas硬盘接口，通过接入其他低价值的pcie设备，或使用sas硬盘进行测试，以替代传统使用ocp网卡进行实际测试，以节省测试成本。
[0021]
如图1所示，本发明一实施例提供一种ocp接口测试用板卡，该板卡设置ocp金手指接口和pcie接口，其中ocp金手指接口用于插接测试终端上的ocp接口，实现与测试终端的连接通信，pcie接口用于接入pcie设备，pcie接口上有与ocp金手指接口的各个链路相对应的若干链路，ocp金手指接口的各个链路分别与pcie接口上的对应链路连接。测试时，测试终端对pcie设备进行操作，若pcie设备正常，则说明测试终端上的ocp接口正常。
[0022]
ocp金手指接口的链路主要有电源链路、数据链路、时钟链路、唤醒信号/在位检测信号链路和i2c信号链路。相应pcie接口的链路包括电源链路、差分数据链路、时钟链路、唤醒信号/在位检测信号链路和i2c信号链路。ocp金手指接口的电源链路、数据链路、时钟链路、唤醒信号/在位检测信号链路和i2c信号链路分别与pcie接口的电源链路、差分数据链路、时钟链路、唤醒信号/在位检测信号链路和i2c信号链路连接。
[0023]
ocp金手指接口的数据链路为pcie x16信号，共有16对差分信号链路，ocp金手指接口的数据链路与pcie接口的差分数据链路对应接法为ocp_rx[n]接pcie_rx[n], ocp_tx[n]接pcie_tx[n]，其中n的取值为0~15。
[0024]
如图2所示，本发明一实施例提供一种ocp接口测试用板卡，除了在板卡上设置pcie接口外，同时还设置用于接入sas硬盘的sas硬盘接口，测试人员可根据需要选择pcie设备或sas硬盘作为测试设备。
[0025]
相应地，sas硬盘接口上有与pcie接口的各个链路相对应的若干链路，pcie接口的各个链路分别与sas硬盘接口上的对应链路连接。
[0026]
sas硬盘接口的链路同样包括电源链路、差分数据链路、时钟链路、唤醒信号链路和i2c信号链路。pcie接口的电源链路、差分数据链路、时钟链路、唤醒信号/在位检测信号链路和i2c信号链路分别与sas硬盘接口的电源链路、差分数据链路、时钟链路、唤醒信号链路和i2c信号链路连接。
[0027]
需要说明的是，pcie接口的差分数据链路有4对差分信号接入sas硬盘接口的差分数据链路，对应接法为pcie_rx[m]接sas_rx[m],pcie_tx[m]接sas_tx[m]，其中m的取值为0~3。
[0028]
需要说明的是，该板卡上还设置电源模块，ocp金手指接口和pcie接口的电源链路为12v电源链路，sas接口的电源链路包括12v电源链路和3.3v/5v电源链路，pcie接口的12v电源链路与sas硬盘接口的12v电源链路连接。电源模块与pcie接口的12电源链路连接，由ocp金手指接口为电源模块、pcie接口和sas硬盘接口提供12v电源。同时电源模块还与sas硬盘接口的3.3v/5v电源链路连接，由电源模块将12v电源转换为3.3v和5v电源为sas硬盘
接口提供3.3v和5v电源。
[0029]
sas硬盘接口上还设置有读写信号链路，该读写信号链路连接有led指示灯。
[0030]
以下进一步对本发明各接口链路进行说明。
[0031]
1）ocp金手指接口12v电源链路：其与pcie接口、sas接口共用该供电链路，且为电源模块供电，经电源模块转换为5v、3.3v电源后，为sas接口供电，以为sas设备提供需要的电源；2）ocp金手指接口数据链路：其为pcie协议的差分链路，其直接对应接入pcie接口的差分数据链路中，整个链路为pcie x16信号，共有16对差分信号，对应接法为ocp_rx[n]接pcie_rx[n], ocp_tx[n]接pcie_tx[n](n范围为0~15)。链路中，其中pcie x4链路即4对差分信号接入sas接口，对应接法为ocp_rx[m]接sas_rx[m], ocp_tx[m]接sas_tx[m](m范围为0~4)。测试时，pcie设备与sas设备仅能接其中一个。
[0032]
3）ocp金手指接口100m时钟信号：ocp金手指接口一共有4组100m时钟信号，选择第一种100m时钟信号为整个治具的时钟来源，其直接为pcie接口和sas接口提供100m时钟；4）ocp金手指接口wake（唤醒）、在位检测信号：其信号与pcie接口对应接入，提供wake及相应的在位检测，sas接口不需要ocp金手指接口的在位信号，只需共享wake信号即可。
[0033]
5）ocp金手指接口i2c信号：主板通过i2c接口访问所挂设备的信息，该链路与pcie接口、sas接口共享。
[0034]
6）sas接口读写信号：该信号在接入硬盘时，硬盘读写会不断给该信号发送脉冲，本设计接入led指示灯，通过led显示接入硬盘的读写状态。
[0035]
如图3所示，本发明一实施例提供一种ocp接口测试系统，该系统包括具有ocp接口的测试终端、测试设备和上述任一实施例的测试用板卡，其中测试设备为pcie设备或sas硬盘。
[0036]
测试用板卡上的ocp金手指接口与测试终端上的ocp接口插接。当测试用板卡上仅设置pcie接口时，将pcie设备与pcie接口插接。当测试用板卡上同时设置pcie接口和sas硬盘接口时，将pcie设备和sas硬盘择一插接对应接口，即在一次测试中，pcie设备和sas设备仅能接其中一个。当选择pcie设备时，将pcie设备与pcie接口插接，当选择sas硬盘，将sas硬盘与sas接口插接。
[0037]
测试终端操作测试设备，若测试设备正常，则判断测试终端上的ocp接口正常。
[0038]
本实施例的ocp接口测试系统基于前述的ocp接口测试用板卡实现，因此该系统中的具体实施方式可见前文中的ocp接口测试用板卡的实施例部分，所以，其具体实施方式可以参照相应的各个部分实施例的描述，在此不再展开介绍。
[0039]
另外，由于本实施例的ocp接口测试系统基于前述的ocp接口测试用板卡实现，因此其作用与上述板卡的作用相对应，这里不再赘述。
[0040]
本发明一实施例提供一种ocp接口测试方法，包括以下步骤。
[0041]
s101，将上述任一实施例的测试用板卡的ocp金手指接口测试终端上的ocp接口插接；s102，当测试用板卡上仅设置pcie接口时，将pcie设备与pcie接口插接；当测试用板卡上同时设置pcie接口和sas硬盘接口时，将pcie设备和sas硬盘择一插接对应接口。
[0042]
s103，测试终端操作测试设备，若测试设备正常，则判断测试终端上的ocp接口正常；其中测试设备指pcie设备或sas硬盘。
[0043]
例如，选择pcie显卡作为测试设备，将pcie显卡插接pcie接口，测试终端（服务器或pc）开机时，正常操作显卡，若显卡测试正常，则认为测试终端上的ocp接口正常。若将pcie设备更换为sas设备，具有类似操作。
[0044]
本实施例的ocp接口测试方法基于前述的ocp接口测试用板卡实现，因此该方法中的具体实施方式可见前文中的ocp接口测试用板卡的实施例部分，所以，其具体实施方式可以参照相应的各个部分实施例的描述，在此不再展开介绍。
[0045]
另外，由于本实施例的ocp接口测试方法基于前述的ocp接口测试用板卡实现，因此其作用与上述板卡的作用相对应，这里不再赘述。
[0046]
以上公开的仅为本发明的优选实施方式，但本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的没有创造性的变化，以及在不脱离本发明原理前提下所作的若干改进和润饰，都应落在本发明的保护范围内。