仿真方法、检测方法、装置、设备及存储介质与流程

1.本公开涉及但不限于半导体技术领域，尤其涉及一种仿真方法、检测方法、装置、设备及存储介质。


背景技术：

2.目前，在对存储器进行仿真时，只能针对特定的行地址和特定的列地址对应的阵列进行仿真，仿真的覆盖率很低，无法充分仿真存储器的行为。
3.另外，由于目前的仿真只能针对存储器的部分阵列，因此无法准确定位故障地址，影响对存储器的检测。


技术实现要素：

4.以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
5.本公开提供一种仿真方法、检测方法、装置、设备及存储介质。
6.根据一些实施例，本技术第一方面提供一种仿真方法，所述方法包括：
7.获取设定模型文件，所述设定模型文件用于表征待仿真存储器的阵列结构，以及所述待仿真存储器的行为；
8.将所述设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
9.将所述中间文件添加至所述设定仿真器的运行环境下；
10.获取随机化文件；
11.根据所述随机化文件，产生随机化激励信号；
12.根据所述随机化激励信号和所述中间文件，对所述待仿真存储器的行为进行仿真。
13.根据本公开的一些实施例，所述随机化文件包括随机函数，所述根据所述随机化文件，产生随机化激励信号，包括：
14.根据所述随机化文件，获取在所述设定仿真器中预设的随机化种子；
15.将所述随机化种子输入所述随机函数，以产生随机化激励信号，所述随机化激励信号包含所述待仿真存储器中待仿真阵列的地址信息。
16.根据本公开的一些实施例，所述对所述待仿真存储器的行为进行仿真，包括：
17.获取信息传输文件，所述信息传输文件用于表征所述待仿真存储器的外围电路结构；
18.将所述随机化激励信号输入所述信息传输文件，以产生所述设定模型文件的输入信号；
19.将所述输入信号输入所述设定模型文件，以仿真所述待仿真存储器的行为。
20.根据本公开的一些实施例，所述输入信号包括行地址信息和列地址信息，所述设定模型文件包括：
21.行地址产生器，所述行地址产生器用于对所述设定模型文件的输入信号中的行地址信息进行解码；
22.列地址产生器，所述列地址产生器用于对所述设定模型文件的输入信号中的列地址信息进行解码。
23.根据本公开的一些实施例，所述设定模型文件包括：
24.端口声明，所述端口声明用于表征所述待仿真存储器的阵列结构的接口，且所述接口用于接收所述设定模型文件的输入信号；
25.控制信号，所述控制信号用于控制所述行地址产生器和所述列地址产生器的行为。
26.根据本公开的一些实施例，所述待仿真存储器的行为包括以下中的至少一种行为：数据读取，数据写入。
27.根据本公开的一些实施例，所述设定仿真器包括finesim仿真器。
28.根据一些实施例，本技术第二方面提供一种检测方法，所述方法包括：
29.获取待测存储器的故障地址信息和测试结果；
30.根据所述故障地址信息，确定目标激励信号，所述目标激励信号包含所述故障地址信息；
31.获取设定模型文件，所述设定模型文件用于表征所述待测存储器的阵列结构，以及所述待测存储器的行为；
32.将所述设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
33.将所述中间文件添加至所述设定仿真器的运行环境下；
34.根据所述目标激励信号和所述中间文件，对所述待测存储器的行为进行仿真，以得到所述故障地址信息对应的仿真结果；
35.根据所述测试结果和所述仿真结果，确定所述待测存储器的故障类型。
36.根据本公开的一些实施例，所述测试结果包括测试波形文件，所述仿真结果包括仿真波形文件，所述根据所述测试结果和所述仿真结果，确定所述待测存储器的故障类型，包括：
37.对比所述测试波形文件和所述仿真波形文件，输出对比结果文件；
38.基于所述对比结果文件，确定所述待测存储器的故障类型。
39.根据一些实施例，本技术第三方面提供一种仿真装置，所述装置包括：
40.第一获取模块，被配置为获取设定模型文件，所述设定模型文件用于表征待仿真存储器的阵列结构，以及所述待仿真存储器的行为；
41.所述第一获取模块还被配置为获取随机化文件；
42.第一转换模块，被配置为将所述设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
43.第一添加模块，被配置为将所述中间文件添加至所述设定仿真器的运行环境下；
44.产生模块，被配置为根据所述随机化文件，产生随机化激励信号；
45.第一仿真模块，被配置为根据所述随机化激励信号和所述中间文件，对所述待仿真存储器的行为进行仿真。
46.根据一些实施例，本技术第四方面提供一种检测装置，所述装置包括：
47.第二获取模块，被配置为获取待测存储器的故障地址信息和测试结果；
48.所述第二获取模块还被配置为获取设定模型文件，所述设定模型文件用于表征所述待测存储器的阵列结构，以及所述待测存储器的行为；
49.确定模块，被配置为根据所述故障地址信息，确定目标激励信号，所述目标激励信号包含所述故障地址信息；
50.第二转换模块，被配置为将所述设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
51.第二添加模块，被配置为将所述中间文件添加至所述设定仿真器的运行环境下；
52.第二仿真模块，被配置为根据所述目标激励信号和所述中间文件，对所述待测存储器的行为进行仿真，以得到所述故障地址信息对应的仿真结果；
53.所述确定模块，还被配置为根据所述测试结果和所述仿真结果，确定所述待测存储器的故障类型。
54.根据一些实施例，本技术第五方面提供一种仿真设备，所述仿真设备包括：
55.第一处理器；
56.用于存储所述第一处理器可执行指令的第一存储器；
57.其中，所述第一处理器被配置为执行如第一方面所述的仿真方法。
58.根据一些实施例，本技术第六方面提供一种检测设备，所述检测设备包括：
59.第二处理器；
60.用于存储所述第二处理器可执行指令的第二存储器；
61.其中，所述第二处理器被配置为执行如第二方面所述的检测方法。
62.根据一些实施例，本技术第五方面提供一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由仿真设备的第一处理器执行时，使得仿真设备能够执行如第一方面所述的仿真方法。
63.根据一些实施例，本技术第五方面提供一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由检测设备的第二处理器执行时，使得检测设备能够执行如第二方面所述的检测方法。
64.本公开实施例具有以下优点，本公开实施例所提供的仿真方法中，使用随机化文件以及设定模型文件对待仿真存储器的行为进行仿真，以实现对待仿真存储器的随机化仿真，可以提高仿真的覆盖率，甚至可以对待仿真存储器进行全阵列的仿真，以充分仿真存储器的行为。另外，由于可实现对待仿真存储器的随机化仿真，因此可基于该仿真方法准确定位故障地址，便于对存储器的检测，提高检测效率。
65.在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。
附图说明
66.并入到说明书中并且构成说明书的一部分的附图示出了本公开的实施例，并且与描述一起被配置为解释本公开实施例的原理。在这些附图中，类似的附图标记被配置为表示类似的要素。下面描述中的附图是本公开的一些实施例，而不是全部实施例。对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，可以根据这些附图获得其他的附图。
67.图1是根据一示例性实施例示出的一种仿真方法的流程图；
68.图2是根据一示例性实施例示出的一种仿真方法的流程图；
69.图3是根据一示例性实施例示出的一种仿真方法的流程图；
70.图4是根据一示例性实施例示出的一种检测方法的流程图；
71.图5是根据一示例性实施例示出的一种检测方法的流程图；
72.图6是根据一示例性实施例示出的一种仿真装置的框图；
73.图7是根据一示例性实施例示出的一种检测装置的框图；
74.图8是根据一示例性实施例示出的一种仿真设备的框图；
75.图9是根据一示例性实施例示出的一种检测设备的框图。
具体实施方式
76.为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中的附图，对公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
77.本公开提供了一种仿真方法。该仿真方法中，使用随机化文件以及设定模型文件对待仿真存储器的行为进行仿真，以实现对待仿真存储器的随机化仿真，可以提高仿真的覆盖率，甚至可以对待仿真存储器进行全阵列的仿真，以充分仿真存储器的行为。另外，由于可实现对待仿真存储器的随机化仿真，因此可基于该仿真方法准确定位故障地址，便于对存储器的检测，提高检测效率。
78.本公开示例性的实施例中提供一种仿真方法。该方法可应用于仿真设备，参考图1所示，该方法可包括：
79.s110、获取设定模型文件，设定模型文件用于表征待仿真存储器的阵列结构，以及待仿真存储器的行为；
80.s120、将设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
81.s130、将中间文件添加至设定仿真器的运行环境下；
82.s140、获取随机化文件；
83.s150、根据随机化文件，产生随机化激励信号；
84.s160、根据随机化激励信号和中间文件，对待仿真存储器的行为进行仿真。
85.在步骤s110中，设定模型文件可以由c语言构建，也可以由其他汇编语言构建，在此不作限定。待仿真存储器可包括动态随机存取存储器(dram)，也可以包括其他类型的存储器，在此不作限定。其中，dram可包括阵列结构(array)和外围电路(peri电路)。
86.设定模型文件可用于表征待仿真存储器的部分阵列结构，以及待仿真存储器的部分行为，其中，部分行为指上述部分阵列结构的行为。设定模型文件也可用于表征待仿真存储器的全部阵列结构，以及待仿真存储器的全部行为，其中，全部行为指上述全部阵列结构的行为。待仿真存储器的行为可包括数据读取和数据写入中的一种行为，也可同时包括数据读取和数据写入，在此不作限定。
87.其中，c语言灵活方便，数据结构丰富，自由度大，可移植性好，代码质量高，程序执行效率高，其不仅可以表征数字逻辑，还可以表征存储器的行为。因此，可以使用c语言构建
的设定模型文件，来表征待仿真存储器的更多的阵列结构，以及待仿真存储器的更多的行为，甚至，可以使用c语言构建的设定模型文件，来表征待仿真存储器的全部阵列结构，以及待仿真存储器的全部行为。
88.在使用c语言构建待仿真存储器的c语言模型文件时，需要充分理解待仿真存储器的阵列结构(array)中子阵列(mat)的含义，并需要找到行地址与阵列结构中正常子阵列(normal mat)的对应关系、行地址与阵列结构中冗余子阵列(redundancy mat)的对应关系、列地址与阵列结构中正常的列选通信号(normal csl)的对应关系以及列地址与阵列结构中冗余的列选通信号(normal csl)的对应关系等等，以确保构建完成的c语言模型文件可表征待仿真存储器的阵列结构，以及待仿真存储器的相应阵列结构的行为。
89.在一些实施例中，待仿真存储器为dram，dram包括阵列结构(array)和外围电路(peri电路)。设定模型文件为，由c语言构建的c语言模型文件。该c语言模型文件可用于表征待仿真存储器的全部阵列结构，以及待仿真存储器的全部行为，以便于对待仿真存储器进行全阵列的仿真，以充分仿真存储器的全部行为，进而确保高效率的仿真。其中，待仿真存储器的全部行为指，待仿真存储器的全部阵列结构的行为。
90.需要说明的是，array包括很多部分(section)，每个section可包括9个子阵列(mat)，分别为8个正常子阵列(normal mat)和1个冗余子阵列(redundancy mat)，且每个section的主字线(main word line)是不同的，main word line经过解码模块可输出子字线(sub word line)，section中不同的mat可对应不同sub word line，其中sub word line对应的是相应mat的行地址。因此在c语言模型文件中，要根据送过来的控制信号，对main word line进行解码，输出sub word line，以产生对应mat的行地址，并且保证不会造成误开其他mat。
91.其中，每个section也可包括其他数量的正常子阵列和其他数量的冗余子阵列，在此不作限定。
92.在步骤s120中，设定仿真器可以包括finesim仿真器，也可以包括其他仿真器，在此不作限定。中间文件可以是二进制文件，也可以是设定仿真器可读取的其他类型的文件，也不作限定。
93.此步骤中，仿真设备获取到设定模型文件后，如果设定仿真器无法直接读取设定模型文件，便可将设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件。
94.在一些实施例中，设定模型文件为c语言模型文件，设定仿真器为finesim仿真器，中间文件为二进制文件。该示例中，仿真设备获取了c语言模型文件后，可将c语言模型文件转换为二进制文件。
95.在步骤s130中，可将中间文件添加至设定仿真器的运行环境下，以使得设定仿真器可通过读取中间文件，来根据设定模型文件进行仿真。
96.在一些实施例中，设定模型文件为c语言模型文件，用于表征待仿真存储器的阵列结构，以及所述待仿真存储器的行为。设定仿真器为finesim仿真器，中间文件为二进制文件。该示例中，可先将c语言模型文件转换为二进制文件，将二进制文件添加至finesim仿真器的运行环境下，以便于finesim仿真器根据c语言模型文件对待仿真存储器的行为进行仿真。
97.在步骤s140中，随机化文件可以根据设定仿真器可识别的汇编语言确定。其中，汇
编语言可以是verilog语言，也可是c语言，还可以是其他语言，在此不作限定。
98.在一些实施例中，设定仿真器为finesim仿真器，随机化文件可根据verilog语言确定，以确保finesim仿真器可根据随机化文件进行仿真。
99.在步骤s150中，仿真设备获取了随机化文件后，便可根据随机化文件，产生随机化激励信号，以便于对待仿真存储器进行随机化的仿真。
100.在步骤s160中，仿真设备得到随机化激励信号，以及将中间文件添加至设定仿真器的运行环境后，便可基于随机化激励信号以及中间文件对应的设定模型文件，对待仿真存储器的行为将进行仿真。
101.在一些实施例中，待仿真存储器为dram。设定模型文件为c语言模型文件，用于表征待仿真存储器的全部阵列结构，以及所述待仿真存储器的全部行为。设定仿真器为finesim仿真器，中间文件为二进制文件。
102.该示例中，仿真设备可先获取设定模型文件和随机化文件。然后，将设定模型文件转换为finesim仿真器可读取的二进制文件，并将得到的二进制文件添加至finesim仿真器的运行环境下。同时，可根据随机化文件产生随机化激励信号。由此，finesim仿真器运行时，便可根据随机化激励信号对待仿真存储器的全部行为进行随机化的仿真，提高仿真的覆盖率。
103.需要说明的是，使用传统的模型文件以及finesim仿真器，对dram仿真时，如果传统的模型文件可表征dram的全部阵列结构，则会造成finesim仿真器运行失败，或者导致仿真时间太长，影响仿真效率。因此，使用传统的模型文件对dram进行仿真时，一般都是选取信号传输时间最短以及信号传输时间最长的section，对其中的mat进行时序仿真。这就导致仿真验证的覆盖率很低，不能充分验证到dram的阵列结构中读取和写入数据的行为，无法对dram中全部阵列结构的行为进行仿真。
104.该示例中，基于c语言自身的优势，c语言模型文件的程序执行效率高，且消耗内存小。因此，可使用c语言模型文件以及随机化文件，实现对dram的随机化仿真，也就是，可以提高对dram仿真的覆盖率。当c语言模型表征dram中的全部阵列结构，可大大的提高仿真验证效率，使得仿真时长也不会太长，也不会导致finesim仿真器崩溃，而且可充分验证到阵列结构中数据流的时序问题。
105.该方法中，使用随机化文件以及设定模型文件对待仿真存储器的行为进行仿真，以实现对待仿真存储器的随机化仿真，可以提高仿真的覆盖率，甚至可以对待仿真存储器进行全阵列的仿真，以充分仿真存储器的行为。另外，由于该仿真方法可实现对待仿真存储器的随机化仿真，因此可基于该仿真方法准确定位故障地址，便于对存储器的检测，提高检测效率。
106.本公开示例性的实施例中提供一种仿真方法。该方法可应用于仿真设备，参考图2所示，该方法中，随机化文件包括随机函数。该方法可包括：
107.s210、获取设定模型文件，设定模型文件用于表征待仿真存储器的阵列结构，以及待仿真存储器的行为；
108.s220、将设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
109.s230、将中间文件添加至设定仿真器的运行环境下；
110.s240、获取随机化文件；
111.s250、根据随机化文件，获取在设定仿真器中预设的随机化种子；
112.s260、将随机化种子输入随机函数，以产生随机化激励信号，随机化激励信号包含待仿真存储器中待仿真阵列的地址信息；
113.s270、根据随机化激励信号和中间文件，对待仿真存储器的行为进行仿真。
114.该方法中的步骤s210至步骤s240，可参考其他实施例中的步骤s110至步骤s140，在此不作赘述。该方法中的步骤s270可参考其他实施例中的步骤s160，在此不作赘述。
115.在步骤s250中，设定仿真器中预设有至少一个随机化种子，一般，设定仿真器中预设多个随机化种子，以更好地实现仿真的随机化。
116.此步骤中，仿真设备获取了随机化文件后，便可根据随机化文件，从设定仿真器中获取随机化文件对应的随机化种子。
117.在步骤s260中，可将步骤s250获取的随机化种子输入随机化文件中的随机函数，随机化种子经过随机函数的处理后，便可产生随机化激励信号。
118.其中，随机化激励信号包含待仿真存储器中待仿真阵列的地址信息。也就是，每个随机化激励信号均包括待仿真存储器中的一个阵列的地址信息，该阵列为该随机化激励信号对应的待仿真阵列。
119.该方法中，设定仿真器中预设有随机化种子。在仿真时，可从设定仿真器中获取与随机化文件对应的随机化种子，然后根据所获取的随机化种子，以及随机化文件中的随机函数，得到随机化激励信号，以对待仿真存储器的行为进行随机化仿真，可以提高仿真的覆盖率，甚至可以对待仿真存储器进行全阵列的仿真。
120.本公开示例性的实施例中提供一种仿真方法。该方法可应用于仿真设备，参考图3所示，该方法可包括：
121.s310、获取设定模型文件，设定模型文件用于表征待仿真存储器的阵列结构，以及待仿真存储器的行为；
122.s320、将设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
123.s330、将中间文件添加至设定仿真器的运行环境下；
124.s340、获取随机化文件；
125.s350、根据随机化文件，产生随机化激励信号；
126.s360、获取信息传输文件，信息传输文件用于表征待仿真存储器的外围电路结构；
127.s370、将随机化激励信号输入信息传输文件，以产生设定模型文件的输入信号；
128.s380、将输入信号输入设定模型文件，以仿真待仿真器的行为。
129.该方法中的步骤s310至步骤s350，可参考其他实施例中的步骤s110至步骤s150，在此不作赘述.
130.在步骤s360中，待仿真存储器包括阵列结构(可记为array)和外围电路结构(可记为peri电路)，其中，阵列结构用于构建设定模型文件，外围电路结构用于构建信息传输文件。示例地，可根据待仿真存储器的外围电路结构来构建信息传输文件，以使得信息传输文件用于表征待仿真存储器的外围电路结构。
131.在步骤s370中，可根据随机化激励信号和信息传输文件，确定设定模型文件的输入信号。示例地，可将随机化激励信号输入信息传输文件，便可产生上述输入信号。输入信号可包括待仿真阵列中各个接口的电压值，以及用于控制待仿真阵列的行为的动作信息
等，当然，输入信号还可包括其他信息，在此作限定。
132.在步骤s380中，由于已经通过将中间文件添加至设定仿真器的运行环境下，使得设定仿真器的运行环境中产生了设定模型文件，因此，可将输入信号输入指设定模型文件，从而仿真待仿真存储器的行为，也就是，仿真随机化激励信号对应的待仿真阵列的行为。
133.其中，设定模型文件可包含阵列结构中各个接口的电压阈值，在仿真时，设定模型文件可根据输入信号中的相应的接口的电压值，以及同一接口的电压阈值，来确定输入信号的逻辑电位，从而实现仿真。
134.其中，输入信号可包括行地址信息和列地址信息，设定模型文件可包括行地址产生器和列地址产生器。行地址产生器用于对设定模型文件的输入信号中的行地址信息进行解码。列地址产生器用于对设定模型文件的输入信号的列地址信息进行解码。
135.在仿真时，将输入信号输入设定模型文件后，设定模型文件的行地址产生器可对输入信号中的行地址信息进行解码，以获取待仿真阵列的行地址，并且，设定模型文件的列地址产生器可对输入信号中的列地址信息进行解码，以获取待仿真阵列的列地址。然后，基于行地址和列地址，便可定位待仿真阵列的位置，从而准确实现对待仿真阵列的行为的仿真。
136.其中，设定模型文件可包括端口声明。端口声明用于表征待仿真存储器的阵列结构的接口，且上述接口用于接收设定模型文件的输入信号。
137.在仿真时，将输入信号输入至设定模型文件后，仿真设备可根据设定模型文件的端口声明，确定用于输入信号对应的接口，然后，将输入信号输入施加至所确定的接口。
138.其中，设定模型文件可包括控制信号。控制信号用于控制行地址产生器和列地址产生器的行为。
139.在仿真时，控制信号可控制行地址产生器，对输入信号中的行地址信息进行解码，并可控制列地址产生器，对输入信号中的列地址信息进行解码。
140.该方法中，通过信息传输文件和随机化激励信号产生输入信号，然后根据输入信号和设定模型文件实现对待仿真存储器的行为的随机化仿真，以提高仿真的覆盖率。
141.本公开示例性的实施例中提供一种检测方法。该方法可应用于检测设备，参考图4所示，该方法可包括：
142.s410、获取待测存储器的故障地址信息和测试结果；
143.s420、根据故障地址信息，确定目标激励信号，目标激励信号包含故障地址信息；
144.s430、获取设定模型文件，设定模型文件用于表征待测存储器的阵列结构，以及待测存储器的行为；
145.s440、将设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
146.s450、将中间文件添加至设定仿真器的运行环境下；
147.s460、根据激励信号，对待测存储器的行为进行仿真，以得到故障地址信息对应的仿真结果；
148.s470、根据测试结果和仿真结果，确定待测存储器的故障类型。
149.该方法中的步骤s430值步骤s450，可参考其他实施例中的步骤s110至步骤s130，在此不做赘述。其中，步骤s430值步骤s450中的待测仿真器相当于步骤s110至步骤s130中的待仿真存储器。
150.在步骤s410中，检测设备可通过测试程序对待测存储器进行测试，以确定待测存储器的故障地址信息和测试结果。待测存储器的类型可参考待仿真存储器的类型，例如，待测存储器可包括动态随机存取存储器(dram)，也可以包括其他类型的存储器，在此不作限定。
151.在步骤s420中，由于已经获取了故障地址信息，便可根据故障地址信息确定激励信号，所确定的激励信号可包含故障地址信息，该激励信号可记为目标激励信号，以便于后续基于目标激励信号对故障地址信息对应位置的阵列进行仿真。
152.其中，可根据故障地址信息确定目标种子，然后将目标种子输入用于确定激励信号的函数中，便可产生目标激励信号。
153.在步骤s460中，检测设备得到目标激励信号，以及将中间文件添加至设定仿真器的运行环境后，便可基于目标激励信号以及中间文件对应的设定模型文件，对待测存储器中故障地址信息对应的阵列的行为进行仿真，以得到故障地址信息对应的仿真结果。
154.在步骤s470中，由于检测设备已经得到了仿真结果和测试结果，因此，便可根据仿真结果和测试结果，确定待测存储器的故障类型。
155.需要说明的是，在对待测存储器进行测试时，一般会测试大量的array空间，当使用传统的模型文件进行仿真时，如果发现测试时故障，受到传统的模型文件的地址限制，无法用传统的模型文件搭配测试得到的故障地址信息，来进行针对性的仿真。
156.该方法中，设定模型文件可以是c语言模型文件，设定模型文件即使用来表征全部阵列结构，以及阵列结构的行为，也能够快速地进行仿真。因此，设定模型文件可以直接搭配故障地址信息，来对故障地址信息对应的阵列进行仿真，得到仿真结果，然后根据测试结果和仿真结果确定故障类型，以提高检测效率。
157.本公开示例性的实施例中提供一种检测方法。该方法可应用于检测设备。参考图5所示，该方法中，测试结果可包括测试波形文件，仿真结果可包括仿真波形文件。该方法可包括：
158.s510、获取待测存储器的故障地址信息和测试结果；
159.s520、根据故障地址信息，确定目标激励信号，目标激励信号包含故障地址信息；
160.s530、获取设定模型文件，设定模型文件用于表征待测存储器的阵列结构，以及待测存储器的行为；
161.s540、将设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
162.s550、将中间文件添加至设定仿真器的运行环境下；
163.s560、根据激励信号，对待测存储器的行为进行仿真，以得到故障地址信息对应的仿真结果；
164.s570、对比测试波形文件和仿真波形文件，输出对比结果文件；
165.s580、基于对比结果文件，确定待测存储器的故障类型。
166.该方法中的步骤s510值步骤s560，可参考其他实施例中的步骤s410至步骤s460，在此不做赘述。
167.在步骤s570中，测试波形文件包括各种信号的电平信息，仿真波形文件也包括各种信号的电平信息，对比每个信号的电平信息，便可确定出错的信号，根据全部出错的信号，便可确定对比结果文件，然后将对比结果文件输出。
168.在步骤s580中，根据对比结果文件，便可得到出错的信号，然后对出错的信号作分析，便可确定故障发生的原因，进而确定故障类型，故障可能存在的原因包括待测存储器故障地址未接收到输入信号，待测存储器故障地址对应的阵列结构遭到破坏。
169.该方法中，可直接基于测试波形文件以仿真波形文件定位故障发生的位置，也就是，可直接确定故障以及故障的位置，从而快速且准确地确定故障类型，提升检测效率。
170.本公开示例性的实施例中提供一种仿真装置，用于实施上述的仿真方法。参考图6所示，该仿真装置可包括第一获取模块101、第一转换模块102、第一添加模块103、产生模块104以及第一仿真模块105，该仿真装置在实施上述仿真方法的过程中，
171.第一获取模块101，被配置为获取设定模型文件，设定模型文件用于表征待仿真存储器的阵列结构，以及待仿真存储器的行为；
172.第一获取模块101还被配置为获取随机化文件；
173.第一转换模块102，被配置为将设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
174.第一添加模块103，被配置为将中间文件添加至设定仿真器的运行环境下；
175.产生模块104，被配置为根据随机化文件，产生随机化激励信号；
176.第一仿真模块105，被配置为根据随机化激励信号和中间文件，对待仿真存储器的行为进行仿真。
177.本公开示例性的实施例中提供一种仿真装置，用于实施上述的仿真方法。该仿真装置中，随机化文件根据设定仿真器可识别的汇编语言确定。
178.本公开示例性的实施例中提供一种仿真装置，用于实施上述的仿真方法。参考图6所示，该仿真装置中，随机化文件包括随机函数，产生模块104，被配置为：
179.根据随机化文件，获取在设定仿真器中预设的随机化种子；
180.将随机化种子输入随机函数，以产生随机化激励信号，随机化激励信号包含待仿真存储器中待仿真阵列的地址信息。
181.本公开示例性的实施例中提供一种仿真装置，用于实施上述的仿真方法。参考图6所示，该仿真装置中，
182.第一获取模块101，被配置为获取信息传输文件，信息传输文件用于表征待仿真存储器的外围电路结构；
183.产生模块104，被配置为将随机化激励信号输入信息传输文件，以产生设定模型文件的输入信号；
184.第一仿真模块105，被配置为将输入信号输入设定模型文件，以仿真待仿真存储器的行为。
185.本公开示例性的实施例中提供一种仿真装置，用于实施上述的仿真方法。该仿真装置中，输入信号包括行地址信息和列地址信息，设定模型文件包括：
186.行地址产生器，行地址产生器用于对设定模型文件的输入信号中的行地址信息进行解码；
187.列地址产生器，列地址产生器用于对设定模型文件的输入信号中的列地址信息进行解码。
188.本公开示例性的实施例中提供一种仿真装置，用于实施上述的仿真方法。该仿真
装置中，设定模型文件包括：
189.端口声明，端口声明用于表征待仿真存储器的阵列结构的接口，且接口用于接收设定模型文件的输入信号；
190.控制信号，控制信号用于控制行地址产生器和列地址产生器的行为。
191.本公开示例性的实施例中提供一种仿真装置，用于实施上述的仿真方法。该仿真装置中，待仿真存储器的行为包括以下中的至少一种行为：数据读取，数据写入。
192.本公开示例性的实施例中提供一种仿真装置，用于实施上述的仿真方法。该仿真装置中，设定仿真器包括finesim仿真器。
193.本公开示例性的实施例中提供一种检测装置，用于实施上述的检测方法。参考图7所示，该检测装置可包括第二获取模块201、确定模块202、第二转换模块203、第二添加模块204和第二仿真模块205。该检测装置在实施上述检测方法的过程中，
194.第二获取模块201，被配置为获取待测存储器的故障地址信息和测试结果；
195.第二获取模块201还被配置为获取设定模型文件，设定模型文件用于表征待测存储器的阵列结构，以及待测存储器的行为；
196.确定模块202，被配置为根据故障地址信息，确定目标激励信号，目标激励信号包含故障地址信息；
197.第二转换模块203，被配置为将设定模型文件转换为设定仿真器可读取的中间文件；
198.第二添加模块204，被配置为将中间文件添加至设定仿真器的运行环境下；
199.第二仿真模块205，被配置为根据目标激励信号和中间文件，对待测存储器的行为进行仿真，以得到故障地址信息对应的仿真结果；
200.确定模块202，还被配置为根据测试结果和仿真结果，确定待测存储器的故障类型。
201.本公开示例性的实施例中提供一种检测装置，用于实施上述的检测方法。参考图7所示，该检测装置中，测试结果包括测试波形文件，仿真结果包括仿真波形文件，确定模块202，被配置为：
202.对比测试波形文件和仿真波形文件，输出对比结果文件；
203.基于对比结果文件，确定待测存储器的故障类型。
204.本公开示例性的实施例中提供一种仿真设备。参考图8所示，仿真设备300可以被提供为终端设备。仿真设备300可包括第一处理器301，第一处理器301的个数可以根据需要设置为一个或者多个。仿真设备300还可包括第一存储器302，被配置为存储可由第一处理器301的执行的指令，例如应用程序。存储器的个数可以根据需要设置一个或者多个。其存储的应用程序可以为一个或者多个。第一处理器301被配置为执行指令，以执行上述仿真方法。
205.本领域技术人员应明白，本公开的实施例可提供为方法、装置(设备)、或计算机程序产品。因此，本公开可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本公开可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质上实施的计算机程序产品的形式。计算机存储介质包括在被配置为存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易
失性和非易失性、可移除和不可移除介质,包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以被配置为存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质等。此外，本领域技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
206.在示例性实施例中，提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，参考图8所示，例如非临时性计算机可读存储介质可包括存储指令的第一存储器302，上述指令可由仿真设备300的第一处理器301执行以完成上述仿真方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是rom、随机存取存储器(ram)、cd-rom、磁带、软盘和光数据存储设备等。
207.本公开示例性的实施例中提供一种检测设备。参考图9所示，检测设备400可以被提供为终端设备。检测设备400可包括第二处理器401，第二处理器401的个数可以根据需要设置为一个或者多个。检测设备400还可包括第二存储器402，被配置为存储可由第二处理器401的执行的指令，例如应用程序。第二存储器402的个数可以根据需要设置一个或者多个。其存储的应用程序可以为一个或者多个。第二处理器401被配置为执行指令，以执行上述检测方法。
208.本领域技术人员应明白，本公开的实施例可提供为方法、装置(设备)、或计算机程序产品。因此，本公开可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本公开可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质上实施的计算机程序产品的形式。计算机存储介质包括在被配置为存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质,包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以被配置为存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质等。此外，本领域技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
209.在示例性实施例中，提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，参考图9所示，例如非临时性计算机可读存储介质可包括存储指令的第二存储器402，上述指令可由检测设备400的第二处理器401执行以完成上述检测方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是rom、随机存取存储器(ram)、cd-rom、磁带、软盘和光数据存储设备等。
210.本说明书中各实施例或实施方式采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分相互参见即可。
211.在本说明书的描述中，参考术语“实施例”、“示例性的实施例”、“一些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”等的描述意指结合实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本公开的至少一个实施方式或示例中。
212.在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。
213.在本公开的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。
214.可以理解的是，本公开所使用的术语“第一”、“第二”等可在本公开中用于描述各种结构，但这些结构不受这些术语的限制。这些术语仅用于将第一个结构与另一个结构区分。
215.在一个或多个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的多个部分没有按比例绘制。此外，可能未示出某些公知的部分。为了简明起见，可以在一幅图中描述经过数个步骤后获得的结构。在下文中描述了本公开的许多特定的细节，例如器件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本公开。但正如本领域技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本公开。
216.最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本公开的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本公开进行了详细的说明，本领域技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本公开各实施例技术方案的范围。