一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质与流程

1.本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质。


背景技术：

2.芯片测试是确保系统芯片功能正常、性能稳定的重要手段。从芯片开始设计到量产，都需要对芯片进行测试。芯片测试在芯片设计阶段可以帮助验证芯片的基本功能，在量产阶段可以实现芯片出厂前的测试。
3.由于在芯片设计阶段设计方案会经过多次迭代，每一次本版的迭代，都可能产生子系统寄存器基地址的修改，现有技术中通常需要开发人员在每次本版更新后对测试代码中的寄存器地址做相应的修改，不但耗费了测试成本还降低了芯片测试的效率。同时，为了保证芯片测试程序本身的质量，需要在不同的芯片模拟平台对诊断测试代码做回归测试，然而，在芯片软件模拟平台上由于是虚拟环境，所有的硬件资源都是完备的，而在芯片硬件模拟平台上由于硬件资源有限，只能实例化出部分的硬件资源，使得芯片测试软件无法对不同芯片模拟平台进行兼容，现有技术中通常需要开发人员在各自的代码库中处理测试平台的兼容性问题，使得芯片测试的效率降低。因此，如何在芯片测试过程中使得芯片测试软件对不同的芯片模拟平台，以及不同版本的芯片进行兼容，提高芯片测试的效率，是目前亟待解决的问题。


技术实现要素：

4.本发明提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，可以解决芯片测试软件对不同的芯片模拟平台和不同版本的芯片兼容性较低，以及芯片测试效率较低的问题。
5.根据本发明的一方面，提供了一种芯片测试方法，包括：
6.当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；
7.将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；
8.基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。
9.根据本发明的另一方面，提供了一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
10.描述树获取模块，用于当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；
11.描述树处理模块，用于将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；
12.芯片测试模块，用于基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。
13.根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
14.至少一个处理器；以及
15.与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
16.所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的芯片测试方法。
17.根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的芯片测试方法。
18.本发明实施例的技术方案，通过在待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树，并将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树，最终，基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试，解决了现有技术中芯片测试软件兼容较低，以及测试效率较低的问题，可以在芯片测试过程中使得芯片测试软件对不同的芯片模拟平台和不同版本的芯片进行兼容，提高芯片测试的效率。
19.应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
20.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
21.图1是根据本发明实施例一提供的一种芯片测试方法的流程图；
22.图2a是根据本发明实施例二提供的一种芯片测试方法的流程图；
23.图2b是根据本发明实施例二提供的一种芯片测试方法流程的示意图图；
24.图3是根据本发明实施例三提供的一种芯片测试装置的结构示意图；
25.图4是实现本发明实施例的芯片测试方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
26.为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
27.需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆
盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
28.实施例一
29.图1为本发明实施例一提供了一种芯片测试方法的流程图，本实施例可适用于对芯片进行测试的情况，该方法可以由芯片测试装置来执行，该芯片测试装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该芯片测试装置可配置于电子设备中。如图1所示，该方法包括：
30.s110、当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树。
31.其中，目标阶段可以指待测芯片当前所处的测试阶段，可选的，目标阶段可以包括：芯片设计阶段以及芯片测试阶段，芯片设计阶段可以指待测芯片设计后进行的测试阶段，芯片测试阶段可以指待测芯片量产前的测试阶段。
32.软件程序可以指硬件模拟测试平台中用于对待测芯片进行虚拟模拟的程序。标准硬件描述树可以指对待测芯片包含的初始子系统类型、个数及基础寄存器地址进行设定格式统计描述的硬件描述树，通常还可以包括待测芯片的版本信息。子系统类型可以指待测芯片中各子系统的功能类型，示例性的，子系统可以为用于数据存储的内存子系统(memory_subsys)，也可以为用于存储总线标准的高速串行计算机扩展总线标准子系统(peripheral component interconnect express subsys，pcie_subsys)。设定格式可以指满足硬件描述树读写要求的格式，示例性的，可以为json格式。
33.具体的，当待测芯片在硬件模拟平台进行软件程序运行时，则可以根据待测芯片所处的目标阶段获取对应的标准硬件描述树，为后续测试过程提供有效的基础。
34.s120、将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树。
35.其中，解析可以指对标准硬件描述树进行实际调整的操作。运行时硬件描述树可以指对标准硬件描述树进行实际调整后生成的硬件描述树。
36.在一个可选的实施方式中，所述利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树，包括：基于目标阶段下待测芯片的子系统实现状态以及软件程序运行环境，对标准硬件描述树中的各子系统进行实例化，生成包含子系统实例的运行时硬件描述树。其中，子系统实现状态可以表示子系统的功能实现状态，示例性的，可以分为完成功能实现及未完成功能实现。软件程序运行环境可以指硬件模拟测试平台的版本信息，通常可以与待测芯片的版本信息对应。实例化可以指根据待测芯片中子系统实现状态对各子系统进行的实际调整操作。
37.在另一个可选的实施方式中，所述基于目标阶段下待测芯片的子系统实现状态以及软件程序运行环境，对标准硬件描述树中的各子系统进行实例化，生成运行时硬件描述树，包括：根据软件程序运行环境标记待测芯片对应的芯片版本信息；根据目标阶段下待测芯片的子系统实现状态，对标准硬件描述树中未完成功能实现的子系统进行裁剪；将完成功能实现的各子系统的基地址同步至对应的寄存器，作为基础寄存器地址，生成运行时硬件描述树。具体的，根据软件程序运行环境获取对应的芯片版本信息，将未完成功能实现的子系统从标准硬件描述树中剔除，保留完成功能实现的各子系统，并将完成功能实现的各
子系统在标准硬件描述树中的基础寄存器地址替换为各子系统成勋运行时的基地址，得到运行时硬件描述树，为后续测试过程提供有效的基础。
38.s130、基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。
39.其中，可以指对待测芯片中各子系统的功能实现效果进行测试，即测试各子系统的功能实现结果是否匹配预设要求。
40.具体的，在生成运行时硬件描述树的过程中，每个子系统的基础寄存器地址都可以被传递至运行时硬件描述树中各子系统的实例中，由此，当需要对各子系统进行测试时，可以根据待测芯片的版本信息直接在运行时硬件描述树中获取对应的基础寄存器地址，无需人为对各子系统的基地址进行修改。
41.本发明实施例的技术方案，通过在待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树，并将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树，最终，基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试，解决了现有技术中芯片测试软件兼容较低，以及测试效率较低的问题，可以在芯片测试过程中使得芯片测试软件对不同的芯片模拟平台和不同版本的芯片进行兼容，提高芯片测试的效率。
42.实施例二
43.图2a为本发明实施例二提供的一种芯片测试方法的流程图，本实施例以上述实施例为基础进行细化，在本实施例中具体是对基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试的操作进行细化，具体可以包括：在各运行时硬件描述树中获取与待测芯片的芯片版本信息一致的运行时硬件描述树，作为目标硬件描述树；将目标硬件描述树中各子系统实例的基础寄存器地址下发至各子系统测试单元，以根据各基础寄存器地址获取对应的子系统实例，实现待测芯片在目标阶段的测试。如图2a所示，该方法包括：
44.s210、根据待测芯片所处的目标阶段，生成待测芯片对应的寄存器抽象层文件。
45.其中，寄存器抽象层文件(register abstraction layer file，ralf)可以指根据待测芯片所处的目标阶段生成的标准寄存器描述格式，通常ralf可以认为是对待测芯片所处阶段最完整及最准确的描述文件。
46.值得注意的是，不同的目标阶段可以生成不同的ralf。
47.s220、根据寄存器抽象层文件中的各标准寄存器描述信息生成待测芯片对应的标准硬件描述树。
48.其中，标准寄存器描述信息可以指ralf中对寄存器进行描述的信息，示例性的，可以为寄存器的类型、寄存器的数量以及寄存器的基地址。
49.在一个可选的实施方式中，根据寄存器抽象层文件中的各标准寄存器描述信息生成待测芯片对应的标准硬件描述树，包括：解析各寄存器抽象层文件，获取各标准寄存器描述信息；将各标准寄存器描述信息格式转化为设定格式的寄存器描述信息；将各设定格式的寄存器描述信息统一存储，生成标准硬件描述树。具体的，将ralf进行解析，获取ralf中各标准寄存器描述信息，再将各标准寄存器描述信息转化为json格式，并按照子系统的类型将设定格式的寄存器描述信息进行统一存储，即生成标准硬件描述树。
50.s230、当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树。
51.s240、将标准硬件描述树读入软件程序，基于目标阶段下待测芯片的子系统实现状态以及软件程序运行环境，对标准硬件描述树中的各子系统进行实例化，生成包含子系统实例的运行时硬件描述树。
52.s250、在各运行时硬件描述树中获取与待测芯片的芯片版本信息一致的运行时硬件描述树，作为目标硬件描述树。
53.其中，目标硬件描述树可以指与待测芯片的芯片版本信息一致的运行时硬件描述树。
54.s260、将目标硬件描述树中各子系统实例的基础寄存器地址下发至各子系统测试单元，以根据各基础寄存器地址获取对应的子系统实例，实现待测芯片在目标阶段的测试。
55.其中，子系统测试单元可以指对各子系统进行功能测试的单元。
56.具体的，子系统测试单元可以根据目标硬件描述树中各子系统实例的基础寄存器地址，获取各子系统的基地址，由此避免子系统基地址发生变化时需要人为在子系统测试单元中进行修改，以致芯片测试效率及准确率降低的问题。
57.本发明实施例的技术方案，通过待测芯片所处的目标阶段，生成待测芯片对应的寄存器抽象层文件，并根据寄存器抽象层文件中的各标准寄存器描述信息生成待测芯片对应的标准硬件描述树，当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树，并将标准硬件描述树读入软件程序，基于目标阶段下待测芯片的子系统实现状态以及软件程序运行环境，对标准硬件描述树中的各子系统进行实例化，生成包含子系统实例的运行时硬件描述树，当需要对各子系统进行测试时，在各运行时硬件描述树中获取与待测芯片的芯片版本信息一致的运行时硬件描述树，作为目标硬件描述树，最终，将目标硬件描述树中各子系统实例的基础寄存器地址下发至各子系统测试单元，以根据各基础寄存器地址获取对应的子系统实例，实现待测芯片在目标阶段的测试，解决了现有技术中芯片测试软件兼容较低，以及测试效率较低的问题，可以在芯片测试过程中使得芯片测试软件对不同的芯片模拟平台和不同版本的芯片进行兼容，提高芯片测试的效率。
58.图2b是根据本发明实施例二提供的一种芯片测试方法流程的示意图图；具体的，根据待测芯片当前所处的测试阶段，生成待测芯片对应的ralf，其中，同一阶段的ralf中可以包含多个ralf文件，示例性的，可以为soc.ralf文件、mc_subsys.ralf文件以及pcie_subsys.ralf文件；soc.ralf文件可以指顶层文件，具体描述待测芯片初始情况下包括的子系统类型、子系统数量及子系统基地址；mc_subsys.ralf文件可以包括待测芯片初始情况下mc_subsys的数量及基地址；pcie_subsys.ralf文件可以包括测芯片初始情况下pcie_subsys的数量及基地址。之后，对ralf中的多个ralf文件进行解析获取各标准寄存器描述信息；再将各标准寄存器描述信息格式转化为json格式的寄存器描述信息；将各json格式的寄存器描述信息统一存储，生成标准硬件描述树。当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树，将标准硬件描述树读入软件程序，根据软件程序运行环境标记待测芯片对应的芯片版本信息，根据目标阶段下待测芯片的子系统实现状态，对标准硬件描述树中未完成功能实现的子系统进行裁剪(去除未完成功能实现的子系统mc_subsys1及mc_subsys2，图中以虚线表示)；将完成功能实现的各子系统的基地址同
步至对应的寄存器(将mc_subsys0及pcie_subsys0的寄存器基地址替换为mc_subsys0及pcie_subsys0的基地址)，作为基础寄存器地址，生成运行时硬件描述树；最终，在各运行时硬件描述树中获取与待测芯片的芯片版本信息一致的运行时硬件描述树，作为目标硬件描述树，将目标硬件描述树中各子系统实例的基础寄存器地址下发至各子系统测试单元，以根据各基础寄存器地址获取对应的子系统实例，实现待测芯片在目标阶段的测试。
59.实施例三
60.图3为本发明实施例三提供的一种芯片测试装置的结构示意图。如图3所示，该装置包括：描述树获取模块310、描述树处理模块320及芯片测试模块330；
61.其中，描述树获取模块310，用于当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；
62.描述树处理模块320，用于将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；
63.芯片测试模块330，用于基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。
64.本发明实施例的技术方案，通过在待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树，并将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树，最终，基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试，解决了现有技术中芯片测试软件兼容较低，以及测试效率较低的问题，可以在芯片测试过程中使得芯片测试软件对不同的芯片模拟平台和不同版本的芯片进行兼容，提高芯片测试的效率。
65.可选的，芯片测试装置还可以包括描述树生成模块，用于根据待测芯片所处的目标阶段，生成待测芯片对应的寄存器抽象层文件；根据寄存器抽象层文件中的各标准寄存器描述信息生成待测芯片对应的标准硬件描述树。
66.可选的，描述树生成模块具体可以用于：解析各寄存器抽象层文件，获取各标准寄存器描述信息；将各标准寄存器描述信息格式转化为设定格式的寄存器描述信息；将各设定格式的寄存器描述信息统一存储，生成标准硬件描述树。
67.可选的，描述树处理模块320具体可以包括描述树处理子模块，用于基于目标阶段下待测芯片的子系统实现状态以及软件程序运行环境，对标准硬件描述树中的各子系统进行实例化，生成包含子系统实例的运行时硬件描述树。
68.可选的，描述树处理子模块具体可以包括版本信息标记单元、子系统实例化单元及描述树处理单元；
69.其中，版本信息标记单元，用于根据软件程序运行环境标记待测芯片对应的芯片版本信息；
70.子系统实例化单元，用于根据目标阶段下待测芯片的子系统实现状态，对标准硬件描述树中未完成功能实现的子系统进行裁剪；
71.描述树处理单元，用于将完成功能实现的各子系统的基地址同步至对应的寄存器，作为基础寄存器地址，生成运行时硬件描述树。
72.可选的，芯片测试模块330具体可以用于：在各运行时硬件描述树中获取与待测芯片的芯片版本信息一致的运行时硬件描述树，作为目标硬件描述树；将目标硬件描述树中
各子系统实例的基础寄存器地址下发至各子系统测试单元，以根据各基础寄存器地址获取对应的子系统实例，实现待测芯片在目标阶段的测试。
73.可选的，目标阶段包括：芯片设计阶段以及芯片测试阶段。
74.本发明实施例所提供的芯片测试装置可执行本发明任意实施例所提供的芯片测试方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
75.实施例四
76.图4示出了可以用来实施本发明的实施例的电子设备410的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
77.如图4所示，电子设备410包括至少一个处理器420，以及与至少一个处理器420通信连接的存储器，如只读存储器(rom)430、随机访问存储器(ram)440等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器420可以根据存储在只读存储器(rom)430中的计算机程序或者从存储单元490加载到随机访问存储器(ram)440中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在ram 440中，还可存储电子设备410操作所需的各种程序和数据。处理器420、rom 430以及ram440通过总线450彼此相连。输入/输出(i/o)接口460也连接至总线450。
78.电子设备410中的多个部件连接至i/o接口460，包括：输入单元470，例如键盘、鼠标等；输出单元480，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元490，例如磁盘、光盘等；以及通信单元4100，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元4100允许电子设备410通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
79.处理器420可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器420的一些示例包括但不限于中央处理单元(cpu)、图形处理单元(gpu)、各种专用的人工智能(ai)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(dsp)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器420执行上文所描述的各个方法和处理，例如芯片测试方法。
80.该方法包括：
81.当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；
82.将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；
83.基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。
84.在一些实施例中，芯片测试方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元490。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由rom 430和/或通信单元4100而被载入和/或安装到电子设备410上。当计算机程序加载到ram 440并由处理器420执行时，可以执行上文描述的芯片测试方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器420可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被
配置为执行芯片测试方法。
85.本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(fpga)、专用集成电路(asic)、专用标准产品(assp)、芯片上系统的系统(soc)、负载可编程逻辑设备(cpld)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
86.用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
87.在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦除可编程只读存储器(eprom或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(cd-rom)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
88.为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，crt(阴极射线管)或者lcd(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
89.可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(lan)、广域网(wan)、区块链网络和互联网。
90.计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与vps服务中，存在的
管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。
91.应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
92.上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。