检测电路的制作方法

文档序号:31673482发布日期:2022-09-28 01:29阅读:120来源:国知局
检测电路的制作方法

1.本案与检测电路有关,且特别是有关于一种应用于触控面板的检测电路。


背景技术:

2.现行触控面板的检测与电容值的变化有关,当触控面板使用一段时间,触控检测器与面板间的距离(air gap)发生改变,会导致电容值的变化,让系统误以为有检测到手指做触碰的动作,此外,检测信号源若有杂讯(noise)产生,同样会让系统产生误判。


技术实现要素:

3.发明内容旨在提供本揭示内容的简化摘要,以使阅读者对本揭示内容具备基本的理解。此发明内容并非本揭示内容的完整概述,且其用意并非在指出本案实施例的重要/关键元件或界定本案的范围。
4.本案内容的一技术态样是关于一种检测电路。检测电路包含多个第一收发电容及多个第二收发电容。多个第一收发电容用以收发多个第一检测信号,且多个第一检测信号各自独立。多个第二收发电容用以收发多个第二检测信号,且多个第二检测信号各自独立。多个第一收发电容及多个第二收发电容交错排列为阵列。于自容模式,多个第一收发电容用以输出多个第一检测信号且接收多个第一检测信号,且多个第二收发电容用以输出多个第二检测信号且接收多个第二检测信号。于互容模式,多个第一收发电容用以输出多个第一检测信号,且多个第二收发电容用以接收多个第一检测信号。多个第一收发电容在阵列的任一行及任一列上彼此互不相邻,且多个第一收发电容在阵列的任一对角线、任一次对角线及任一超对角线上彼此相邻。多个第二收发电容在阵列的任一行及任一列上彼此互不相邻,且多个第二收发电容在阵列的任一对角线、任一次对角线及任一超对角线上彼此相邻。
5.因此,根据本案的技术内容,本案实施例所示的检测电路得以判别手指与杂讯,以达到触碰功能正常的效果。
6.在参阅下文实施方式后,本案所属技术领域中具有通常知识者当可轻易了解本案的基本精神及其他发明目的,以及本案所采用的技术手段与实施态样。
附图说明
7.为让本案的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附图式的说明如下:
8.图1是依照本案一实施例绘示一种检测电路的示意图。
9.图2是依照本案一实施例绘示一种检测电路的示意图。
10.图3是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图。
11.图4是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图。
12.图5是依照本案一实施例绘示一种检测电路的示意图。
13.图6是依照本案一实施例绘示于各个阶段的接收多个信号的示意图。
14.图7是依照本案一实施例绘示于各个阶段的接收多个信号的示意图。
15.图8是依照本案一实施例绘示一种检测电路的示意图。
16.图9是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图。
17.图10是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图。
18.图11是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图。
19.其中,附图标记:
20.100,100a,100b,100c:检测电路
21.tx:第一收发电容
22.rx:第二收发电容
23.ic:驱动晶片
24.cg:盖玻璃
25.ovss:共电极直流电压
26.vref_tp:参考信号
27.ch1:第一电容(通道)
28.ch2:第三电容(通道)
29.ch3:第三电容(通道)
30.ch4~ch8:通道
31.ch9:第二电容(通道)
32.ch10:第四电容(通道)
33.ch11:第四电容(通道)
34.ch12~ch16:通道
35.s1:第一检测信号(第一自容检测信号)
36.s2:第二检测信号(第二自容检测信号)
37.s3:第三自容检测信号
38.s4:第四自容检测信号
39.s5~s16:自容信号
40.m1:第一检测信号(第一互容检测信号)
41.m2:第二互容检测信号
42.m3~m8:互容信号
43.t1_self:第一自容操作阶段(自容操作阶段)
44.t2_self~tn_self:自容操作阶段
45.t1_mutual:第一互容操作阶段(互容操作阶段)
46.t2_mutual~tn_mutual:互容操作阶段
47.driving1~dringn:操作阶段
具体实施方式
48.为了使本揭示内容的叙述更加详尽与完备,下文针对了本案的实施态样与具体实施例提出了说明性的描述;但这并非实施或运用本案具体实施例的唯一形式。实施方式中
涵盖了多个具体实施例的特征以及用以建构与操作这些具体实施例的方法步骤与其顺序。然而,亦可利用其他具体实施例来达成相同或均等的功能与步骤顺序。
49.除非本说明书另有定义,此处所用的科学与技术词汇的含义与本案所属技术领域中具有通常知识者所理解与惯用的意义相同。此外,在不和上下文冲突的情形下,本说明书所用的单数名词涵盖该名词的复数型;而所用的复数名词时亦涵盖该名词的单数型。
50.另外,关于本文中所使用的“耦接”,可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触,或是相互间接作实体或电性接触,亦可指二或多个元件相互操作或动作。
51.图1是依照本案一实施例绘示一种检测电路的示意图。如图所示,检测电路100包含多个第一收发电容tx及多个第二收发电容rx。于连接关系上,多个第一收发电容tx及多个第二收发电容rx交错排列为一阵列,多个第一收发电容tx在阵列的任一行及任一列上彼此互不相邻,且多个第一收发电容tx在阵列的任一对角线、任一次对角线及任一超对角线上彼此相邻,多个第二收发电容rx在阵列的任一行及任一列上彼此互不相邻,且多个第二收发电容rx在阵列的任一对角线、任一次对角线及任一超对角线上彼此相邻。
52.为判别手指与杂讯,本案提供如图1所示的驱动电路100的相关操作详细说明如下所述。
53.为使驱动电路100的上述操作易于理解,请一并参阅图2至图4,图2是依照本案一实施例绘示一种检测电路的示意图,图3是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图,图4是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图。
54.请一并参阅图1至图4,在一实施例中,多个第一收发电容tx用以收发多个第一检测信号,且多个第一检测信号各自独立。然后,多个第二收发电容rx用以收发多个第二检测信号,且多个第二检测信号各自独立。举例而言,多个第一收发电容tx可以为通道(channel)ch1~ch8(如图2),多个第二收发电容rx可以为通道ch9~ch16(如图2),但本案不以此为限。
55.随后,于自容模式,多个第一收发电容tx用以输出多个第一检测信号且接收多个第一检测信号,多个第二收发电容rx用以输出多个第二检测信号且接收多个第二检测信号。请参阅图3,举例而言,多个第一收发电容tx可以为通道ch1,多个第一检测信号可以为第一检测信号s1,通道ch1用以输出第一检测信号s1且接收第一检测信号s1,多个第二收发电容rx可以为通道ch9,多个第二检测信号可以为第二检测信号s2,通道ch9用以输出第二检测信号s2且接收第二检测信号s2,但本案不以此为限。
56.然后,于互容模式,多个第一收发电容tx用以输出多个第一检测信号,多个第二收发电容rx用以接收多个第一检测信号。请参阅图4,举例而言,多个第一检测信号可以为第一检测信号m1,多个第一收发电容tx可以为通道ch1,多个第二收发电容rx可以为通道ch9,通道ch1用以输出第一检测信号m1,通道ch9用以接收第一检测信号m1,但本案不以此为限。
57.图5是依照本案一实施例绘示一种检测电路的示意图。请一并参阅图1及图5,在一实施例中,多个第一收发电容tx包含第一电容(例如通道ch1),且多个第二收发电容rx包含第二电容(例如通道ch9)。
58.在一实施例中,于阵列的第一列中第一电容(例如通道ch1)耦接于第二电容(例如通道ch9)。
59.请一并参阅图3及图5,在一实施例中,于自容模式,第一电容(例如通道ch1)用以
输出第一自容检测信号s1且接收第一自容检测信号s1,且第二电容(例如通道ch9)用以输出第二自容检测信号s2且接收第二自容检测信号s2。
60.请一并参阅图4及图5,在一实施例中,于互容模式,第一电容(例如通道ch1)用以输出第一互容检测信号m1,第二电容(例如通道ch9)用以接收第一互容检测信号m1。
61.请参阅图5,在一实施例中,多个第一收发电容tx包含第三电容(例如通道ch2),多个第二收发电容rx包含第四电容(例如通道ch10)。
62.在一实施例中,于阵列的第一列中第三电容(例如通道ch2)耦接于第二电容(例如通道ch9)。
63.在一实施例中,于阵列的第一列中第四电容(例如通道ch10)耦接于第三电容(例如通道ch2)。
64.请一并参阅图3及图5,在一实施例中,于自容模式,第三电容(例如通道ch2)用以输出第三自容检测信号s3且接收第三自容检测信号s3,且第四电容(例如通道ch10)用以输出第四自容检测信号s4且接收第四自容检测信号s4。
65.请一并参阅图4及图5,在一实施例中,于互容模式,第三电容(例如通道ch2)用以输出第二互容检测信号m2,第四电容(例如通道ch10)用以接收第二互容检测信号m2。
66.图6是依照本案一实施例绘示于各个阶段的接收多个信号的示意图。请一并参阅图3、图5及图6,在一实施例中,于自容模式的第一自容操作阶段(例如t1_self),第一电容(例如通道ch1)用以输出第一自容检测信号s1且同时接收第一自容检测信号s1。然后,第二电容(例如通道ch9)用以输出第二自容检测信号s2且同时接收第二自容检测信号s2。
67.随后,第三电容(例如通道ch2)用以输出第三自容检测信号s3且同时接收第三自容检测信号s3。再来,第四电容(例如通道ch10)用以输出第四自容检测信号且同时接收第四自容检测信号。举例而言,在第一自容操作阶段(例如t1_self)内可以视为同时,但本案不以此为限。
68.图7是依照本案一实施例绘示于各个阶段的接收多个信号的示意图。请一并参阅图4、图5及图7,在一实施例中,于互容模式的第一互容操作阶段(例如t1_mutual),第一电容(例如通道ch1)用以输出第一互容检测信号m1。然后,第二电容(例如通道ch9)用以同时接收第一互容检测信号m1。
69.随后,第三电容(例如通道ch2)用以同时输出第二互容检测信号m2。再来,第四电容(例如通道ch10)用以同时接收第二互容检测信号m2。举例而言,在第一互容操作阶段(例如t1_mutual)内可以视为同时,但本案不以此为限。
70.图8是依照本案一实施例绘示一种检测电路的示意图。请一并参阅图1及图8,在一实施例中,多个第一收发电容tx包含第三电容(例如通道ch3),多个第二收发电容rx包含第四电容(例如通道ch11)。
71.在一实施例中,于阵列的第一列中第一电容(例如通道ch1)耦接于第二电容(例如通道ch9)。
72.在一实施例中,于阵列的第二列中第四电容(例如通道ch11)耦接于第一电容(例如通道ch1)。
73.在一实施例中,于阵列的第二行中第三电容(例如通道ch3)耦接于第四电容(例如通道ch11),第三电容(例如通道ch3)耦接于第二电容(例如通道ch9)。
74.图9是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图。请一并参阅图8及图9,在一实施例中,于自容模式,第三电容(例如通道ch3)用以输出第三自容检测信号s3且接收第三自容检测信号s3,且第四电容(例如通道ch11)用以输出第四自容检测信号s4且接收第四自容检测信号s4。
75.图10是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图。请一并参阅图8及图10,在一实施例中,于互容模式,第三电容(例如通道ch3)用以输出第二互容检测信号m2,且第四电容(例如通道ch11)用以接收第二互容检测信号m2。
76.请一并参阅图6、图8及图9,在一实施例中,于自容模式的第一自容操作阶段(例如t1_self),第一电容(例如通道ch1)用以输出第一自容检测信号s1且同时接收第一自容检测信号s1,第二电容(例如通道ch9)用以输出第二自容检测信号s2且同时接收第二自容检测信号s2,第三电容(例如通道ch3)用以输出第三自容检测信号s3且同时接收第三自容检测信号s3,且第四电容(例如通道ch11)用以输出第四自容检测信号s4且同时接收第四自容检测信号s4。举例而言,在第一自容操作阶段(例如t1_self)内可以视为同时,但本案不以此为限。
77.请一并参阅图6、图8及图10,在一实施例中,于互容模式的第一互容操作阶段(例如t1_mutual),第一电容(例如通道ch1)用以输出第一互容检测信号m1,第二电容(例如通道ch9)用以同时接收第一互容检测信号m1,第三电容(例如通道ch3)用以同时输出第二互容检测信号m2,第四电容(例如通道ch11)用以同时接收第二互容检测信号m2。举例而言,在第一互容操作阶段(例如t1_mutual)内可以视为同时,但本案不以此为限。
78.请参阅图2及图6,在一实施例中,自容模式包含n个自容操作阶段(例如t1_self至tn_self),且n为大于零的整数。
79.请参阅图2及图7,在一实施例中,互容模式包含n个互容操作阶段(例如t1_mutual至tn_mutual),其中n为大于零的整数。
80.图11是依照本案一实施例绘示一种检测电路操作情境的示意图。如图所示,在一实施例中,检测电路包含检测器,在于触碰时间中,检测器一并接收多个自容检测信号及多个互容检测信号后算点。举例而言,算点可以为检测器一并接收多个自容检测信号及多个互容检测信号后计算触碰信号的坐标(例如xy坐标)位置,但本案不以此为限。
81.请一并参阅图2、图9至图11,在一实施例中,于自容模式及互容模式下,皆有接收到多个自容检测信号(self sensing)及多个互容检测信号(mutual sensing),则可判断触碰信号为手指(finger)触发的信号。
82.在一实施例中,于自容模式及互容模式下,仅接收到多个自容检测信号(self sensing),则可判断触碰信号为杂讯(noise)或面板间的距离(air gap)产生变化,而造成形变触发的信号。举例而言,当判断触碰信号为杂讯(noise)或面板间的距离(air gap)产生变化,而造成形变触发的信号时,可以校正(calibration)或忽略(drop frame)此杂讯或形变触发的信号,此外,杂讯(noise)可以来自共电极直流电压ovss,但本案不以此为限。
83.由上述本案实施方式可知,应用本案具有下列优点。本案实施例所示的检测电路得以判别手指与杂讯,以达到触碰功能正常的效果。
84.虽然上文实施方式中揭露了本案的具体实施例,然其并非用以限定本案。请注意,前揭图式中,元件的形状、尺寸及比例等仅为示意,是供本案所属技术领域具有通常知识者
了解本案的用,非用以限制本案。本案所属技术领域中具有通常知识者,在不悖离本案的原理与精神的情形下,当可对其进行各种更动与修饰,因此本案的保护范围当以附随申请专利范围所界定者为准。
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