一种NFC控制器芯片测试装置及方法与流程

一种nfc控制器芯片测试装置及方法
技术领域
1.本发明涉及测试验证技术领域，尤其涉及nfc控制器芯片各接口的协同测试。


背景技术：

2.nfc(near field communication)控制器芯片一般应用于手机，手环，pad等电子设备上，其应用场景、应用模式多样，应用环境复杂。
3.目前，对nfc控制芯片的测试一般是按照不同接口分别进行测试,例如测试非接触接口时不关注7816接口的表现、即此时忽略对7816接口状态的判断，而有些实际应用的场景需要两个或者多个接口协同工作，这就需要在芯片测试阶段对其相关功能、性能进行详尽测试，以确保实际应用过程中的功能和性能的优异。


技术实现要素：

4.为了解决以上nfc控制器芯片的测试问题，本发明提供了一种nfc控制器芯片(nfcc)测试装置，能够在nfc控制器芯片测试阶段，对各个接口进行协同测试，确保nfc控制器芯片功能正确性，协同处理的正确性，提升芯片的兼容性和易用性。
5.本发明提出了一种nfc控制器芯片(nfcc)测试装置，包括：主控模块、时序控制模块以及nfcc测试模块，其中nfcc测试模块包含非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块，还包括pc端的存储介质。
6.本发明涉及的主控模块为测试装置的控制单元，实现测试装置与pc端存储介质的通信、接收pc端测试指令；完成测试指令下发给非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块、且不限于以上模块的各个测试模块；完成测试时序下发给时序控制模块；并在测试完成以后接收各个测试模块的测试返回信息；最后将测试结果上传给pc端存储介质。
7.本发明涉及的时序控制模块为测试装置的时序控制单元，负责接收主控模块测试时序指令；并根据测试时序指令在指定的测试时间、向指定的测试模块发出测试启动信号。
8.本发明涉及的非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块，为所述测试装置的测试执行单元，接收主控模块的测试指令，等待时序控制模块的测试启动信号开始测试，并将测试返回信息上传给主控模块。
9.本发明涉及的测试装置为在传统的主控模块控制单个nfcc测试模块进行测试的方法上，增加时序控制模块，所述时序控制模块具有精准的计时功能，时序的程控功能，通过并发信号，以及时序控制信号，实现各个测试模块进行测试的时间点精准编程控制功能。
10.本发明涉及的pc端的存储介质用于制定测试流程，测试时序，并将测试指令下发给测试装置的主控模块，测试完成后接收并存储测试结果。
附图说明
11.图1是nfc控制器芯片测试装置组成示意图。
12.图2是nfc控制器芯片测试装置测试方法示意图。
具体实施方式
13.以下将结合附图1和附图2对本发明的实施进行说明。通过详细描述该实施例使本领域的专业人员能够实施该发明。
14.图1是本发明的nfc控制器芯片测试装置组成示意图，包括主控模块、时序控制模块、时序控制模块以及nfcc测试模块，其中nfcc测试模块包含非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块，以及pc端存储介质。
15.发明实施例附图2中，pc端存储介质选取nfcc测试模块中的测试模块组合，制定测试流程，测试时序，并将测试指令下发给测试装置的主控模块。
16.主控模块接收pc端存储介质的测试指令；并将测试指令下发给非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块；同时将测试时序下发给时序控制模块。
17.非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块，接收到主控模块的测试指令，等待时序控制模块的测试启动信号。
18.时序控制模块接收主控模块测试时序指令,根据测试时序指令在指定的测试时间、向指定的测试模块发出测试启动信号。
19.非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块，接收到时序控制模块的测试启动信号后开始测试，并将测试返回信息上传给主控模块。
20.主控模块接收各个模块的测试返回信息；最后将测试结果上传给pc端存储介质。


技术特征：
1.一种nfc控制器芯片测试装置，其特征在于，组成包括：主控模块、时序控制模块以及nfcc测试模块，其中nfcc测试模块包含非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块；所述主控模块与所述时序控制模块相连，用于将测试时序下发给所述时序控制模块；所述主控模块还与所述nfcc测试模块中的非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块分别相连，用于将测试指令分别下发给各个测试模块，以及接收各个测试模块返回的测试结果。2.根据权利要求1所述的一种nfc控制器芯片测试装置，其特征在于，还包括pc端的存储介质，所述pc端的存储介质用于制定测试流程，测试时序，并将测试指令下发给测试装置的主控模块，测试完成后接收并存储测试结果。3.根据权利要求1至2所述的一种nfc控制器芯片测试装置，其特征在于，所述主控模块还与所述pc端的存储介质相连，用于接收测试指令和测试时序，以及将测试结果上传给pc端存储介质。4.根据权利要求1所述的一种nfc控制器芯片测试装置，其特征在于，所述时序控制模块具有精准的计时功能，时序的程控功能，通过并发信号，以及时序控制信号，实现各个测试模块进行测试的时间点精准编程控制功能。5.根据权利要求1所述的一种nfc控制器芯片测试装置，其特征在于，所述nfcc测试模块包含非接reader测试模块、非接card测试模块、7816测试模块、spi测试模块、i2c测试模块、swp测试模块，这些测试模块在传统的测试模块基础上增加同步电路及测试启动电路，用于接收时序控制模块的时序控制信号，并执行所述测试项目。6.一种nfc控制器芯片测试方法，基于权利要求1所述的装置，其特征在于，包括：pc端存储介质选取nfcc测试模块中的测试模块组合，设计测试流程及测试时序，然后将测试模块组合及时序发给主控模块；主控模块给对应的nfcc测试模块发送测试命令，同时还给时序控制模块发送测试时序控制命令；对应的nfcc测试模块接收测试命令后，等待测试时序控制信号；时序控制模块根据测试时序给对应nfcc测试模块发送测试时序控制信号；对应nfcc测试模块收到测试时序控制信号，开始执行测试命令；执行完成得到测试结果返回给主控模块，主控模块把测试结果存储于pc端存储介质，完成一次测试。

技术总结
本发明公开了一种NFC控制器芯片测试装置及方法。该NFC控制器芯片测试装置包括：主控模块，时序控制模块，增加了同步电路及测试启动电路的NFCC测试模块，其中NFCC测试模块包括非接Reader测试模块，非接Card测试模块，7816测试模块，SPI测试模块，I2C测试模块，SWP测试模块，也可以根据应用再加入其它测试模块。该测试装置还包括PC端的存储介质。本发明通过设计整套测试硬件及测试程序，实现对NFC控制器芯片的各个接口的协同测试，包括同步测试，以及按测试方案设计时序的分步测试。本发明涉及到NFC控制器芯片的测试验证领域，应用于NFC控制器芯片的接口功能和性能的测试，确保NFC控制器芯片功能正确性，协同处理的正确性，提升芯片的兼容性和易用性。片的兼容性和易用性。片的兼容性和易用性。


技术研发人员：刘丽丽
受保护的技术使用者：北京中电华大电子设计有限责任公司
技术研发日：2022.08.19
技术公布日：2022/12/19