芯片测试结果的处理方法和装置与流程

1.本技术属于芯片测试技术领域，尤其涉及芯片测试结果的处理方法和装置。


背景技术：

2.在集成电路(integrated circuit，ic)测试中，芯片测试是重要的环节，高效地完成芯片测试和对测试结果的数据分析，是提升芯片产能的重要手段。目前，提供芯片测试设备的公司可提供和测试设备配套的数据分析软件，这些数据分析软件的数据交换文件一般为stdf文件，测试结果在stdf文件中通过二进制数据存储，stdf文件所记录的数据不能供测试人员在操作系统上直接打开阅读。而且，同一批次测试的芯片的测试数据一般都存成保存在一个stdf文件中，导致存储同一批次芯片的测试结果的stdf文件较大，测试结果文件的大小甚至达到gb级别，导致测试结果的传输极为不便。


技术实现要素：

3.本技术实施例提供了芯片测试结果的处理方法，可以解决对测试结果文件进行读取和数据分析不便的问题。
4.第一方面，本技术实施例提供了一种芯片测试结果的处理方法，方法包括：获取多个测试结果文件，一个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据；在多个测试结果文件中，确定第一测试结果文件，第一测试结果文件对应第一标准，第一标准对应多项测试数据中的第一测试数据；将第一测试结果文件存储到第一文件夹中，第一文件夹对应第一标准。
5.本技术实施例对多个测试结果文件进行分类，然后将分类得到的不同类别的结果文件存储到相应的文件夹中，文件夹和分类标准对应，使得测试人员能够在操作系统上直接对测试结果文件进行读取和数据分析，并便于对测试结果文件进行定位和导出，提高了芯片测试结果的处理效率。
6.在第一方面的另一种可能的实现方式中，方法还包括：在第一测试结果文件中，确定第二测试结果文件，第二测试结果文件对应第二标准，第二标准对应多项测试数据中的第二测试数据；将第二测试结果文件存储到第一文件夹中的第二文件夹中，第二文件夹对应第二标准。在该实现方式中，进一步提高了对测试结果文件的分类和处理的精细度。
7.在第一方面的另一种可能的实现方式中，多项测试数据包括批次号、高温测试数据、中温测试数据、低温测试数据、测试编号、测试管脚、测试通过情况、测试参数上限值、测试参数下限值、失效类型、失效管脚和芯片编号中的一个或多个。在该实现方式中，便于对芯片的多项测试数据进行处理。
8.在第一方面的另一种可能的实现方式中，第一文件夹的名称对应第一标准。在该实现方式中，便于对第一文件夹的名称和第一标准结合，对芯片的测试结果进行分析。
9.在第一方面的另一种可能的实现方式中，方法还包括：读取第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数据；根据第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数
据，确定第一统计结果。在该实现方式中，便于对芯片的测试结果进行统计处理。
10.在第一方面的另一种可能的实现方式中，方法还包括：在多个测试数据中，确定目标测试数据；根据目标测试数据在多个测试结果文件中确定目标测试结果文件；获取目标测试结果文件。在该实现方式中，便于获取测试结果文件，提高了对测试结果文件进行传输的便捷性。
11.在第一方面的另一种可能的实现方式中，测试结果文件的格式为txt、csv、json、log和xml中的一个或多个。在该实现方式中，便于在操作系统上打开和阅读芯片的测试结果。
12.第二方面，本技术实施例提供了一种装置，包括用于执行如第一方面中任一项的方法的单元。
13.第三方面，本技术实施例提供了一种装置，包括存储器、处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如第一方面中任一项的方法。
14.第四方面，本技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中任一项的方法。
15.第五方面，本技术实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在电子设备上运行时，使得电子设备执行上述第一方面中任一项所述的方法。
16.可以理解的是，上述第二方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
17.本技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是：
18.本技术实施例用于对多个测试结果文件处理，每个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据，对多个测试结果文件可以根据预设的分类标准进行分类，将分类得到的不同类别的结果文件存储到相应的文件夹中，文件夹和分类标准对应，使得测试人员能够在操作系统上直接对测试结果文件进行读取和数据分析，并便于对测试结果文件进行定位和导出，提高了芯片测试结果的处理效率。同时，无需购买专门的数据分析软件，降低了生产成本。
附图说明
19.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
20.图1是本技术实施例中的一例芯片测试结果的处理方法的流程示意图；
21.图2是本技术实施例中提供的进一步对测试结果文件分类存储的流程示意图；
22.图3是本技术实施例中的一例第一文件夹和第二文件夹的示意图；
23.图4是本技术实施例中的一例对测试结果进行统计的流程示意图；
24.图5是一例对符合标准的测试结果文件导出的流程示意图；
25.图6是本技术实施例中提供的一种装置的示意图。
具体实施方式
26.以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本技术实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本技术。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本技术的描述。
27.应当理解，当在本技术说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
28.还应当理解，在本技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
29.如在本技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
[0030]
另外，在本技术说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0031]
在本技术说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本技术的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
[0032]
提供芯片测试设备的公司也提供和测试设备配套的数据分析软件，这些数据分析软件的数据交换文件一般为stdf格式的文件。stdf文件中的测试结果通过二进制数据存储，导致stdf文件所记录的数据不能供测试人员直接阅读。
[0033]
而且，同一批次测试的芯片的测试数据一般都存成保存在一个stdf文件中，导致存储同一批次测试的芯片测试数据的stdf文件较大，测试结果文件的大小甚至达到gb级别，导致测试结果的传输极为不便。
[0034]
同时，stdf文件的生成规范复杂，在读取stdf文件的内容时只能通过能够对stdf文件解码的数据分析软件读取，但是这些数据分析软件的价格昂贵，提高了企业的生产成本。
[0035]
有鉴于此，本技术实施例提供了一种芯片测试结果的处理方法，将对芯片的测试结果保存成测试结果文件，一个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据，对多个测试结果文件，根据预设的分类标准进行分类，将分类得到的不同类别的结果文件存储到相应的文件夹中，文件夹和分类标准对应，使得测试人员能够在操作系统上直接对测试结果文件进行读取和数据分析，并便于对测试结果文件进行定位和导出，提高了芯片测试结果的处理效率。同时，无需购买专门的数据分析软件，降低了生产成本。
[0036]
在一些场景中，本技术实施例中的芯片测试结果的处理方法可以应用于芯片生产
厂家在芯片生产完成后的测试中，用于对一个或多个生产批次的芯片的测试结果处理和统计，提高对芯片的测试效率。
[0037]
在另一些场景中，本技术实施例中的芯片测试结果的处理方法可以应用于购买和使用芯片的厂家对芯片进行的质量检测中，能够对不同批次的芯片或者不同型号的芯片进行质量检测，以提高芯片的质量检测效率。
[0038]
本技术实施例中的芯片测试结果的处理方法可以应用于电脑等对芯片测试结果进行集中处理的设备中。下面对本技术实施例中的芯片测试结果的处理方法进行具体说明。
[0039]
具体地，对芯片进行测试的设备可以是ate测试机台，ate测试机台在一般的测试过程生成芯片的测试结果文件，ate测试机台输出的芯片的测试结果文件传输并存储到电脑中，然后可以在电脑中集中对芯片的测试结果数据进行处理。
[0040]
图1是本技术实施例中的一例芯片测试结果的处理方法的流程示意图，如图1所示的，包括s110至s130，下面对s110至s130进行具体说明。
[0041]
s110、获取多个测试结果文件，一个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据。
[0042]
在对芯片进行测试时，可以通过测试机台得到对不同的芯片进行测试得到的多个测试结果文件，其中一个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，即每颗芯片的测试结果单独储存在一个测试结果文件中，使得对于不同的芯片，能够直接根据该芯片的测试结果文件获取该芯片的测试结果，便于将芯片的测试结果导出，提高了对芯片的测试结果的调用的复杂度，提高了对数据的处理效率。
[0043]
应理解的是，对芯片进行测试的项目可以包括连接性测试、温度测试等不同的专门测试项目，本技术实施例对此不作限制。
[0044]
应理解的是，每个测试结果文件包括多项测试数据，多项测试数据可以包括温度、电压和测试通过情况等不同方面的测试数据，本技术实施例对此不做限制。
[0045]
s120、在多个测试结果文件中，确定第一测试结果文件，第一测试结果文件对应第一标准，第一标准对应多项测试数据中的第一测试数据。
[0046]
具体地，可以首先人工设定第一标准，第一标准可以是多项测试数据中的第一测试数据，通过设置第一标准，能够对多个测试结果文件进行分类，以便于后续对多个测试结果文件进行分类存储和处理，也便于对不同类别的测试结果文件进行导出。
[0047]
应理解的是，第一标准可以根据实际需要设定为温度、电压和测试通过情况等不同方面的测试结果，本技术实施例对此不作限制。例如，第一标准可以根据实际需要设置为测试温度为a值。又例如，第一标准可以设定为测试电压为b值。
[0048]
应理解的是，根据第一标准从多个测试结果文件中的挑选出的第一结果文件，数量可以是一个也可以是多个，本技术实施例对此不作限制。
[0049]
s130、将第一测试结果文件存储到第一文件夹中，第一文件夹对应第一标准。
[0050]
具体地，在从多个测试结果文件中挑选出一个或者多个第一结果文件之后，可以将一个或者多个第一结果文件存储到第一文件夹中，实现对一个或者多个第一结果文件的分类存储。
[0051]
具体地，第一文件夹对应硬盘上的文件存储路径，使得测试人员在对第一文件夹
中的第一测试结果文件复制、读取或者导出时，可以直接在操作系统层面上对第一测试结果文件进行操作，无需借助其余的第三方软件完成，提高了对第一测试结果文件操作的便利性。
[0052]
应理解的是，第一文件夹可以是在存储一个或者多个第一结果文件是创建的，也可以是预先创建完成的文件夹，本技术实施例对此不作限制。
[0053]
本技术实施例中的芯片测试结果的处理方法，相比于使用stdf文件，测试人员可以直接对多个测试结果文件根据不同的类别查找和读取，便于对测试结果文件进行定位和导出操作。而且，使用本技术实施例中的芯片测试结果的处理方法，无需购买专门的数据分析软件，降低了生产成本。
[0054]
同时，本技术实施例中的芯片测试结果的处理方法中，每个芯片对应单独的测试结果文件，每个测试结果文件的文件在硬盘上占用的存储空间较小(一般在bit级别或者kb级别)，使得测试人员能够在操作系统上直接对测试结果文件进行读取和数据分析，便于测试人员直接对芯片单独的测试结果文件进行传输，在需要特定芯片的测试结果时，可以直接传输相应的芯片的测试结果文件，所需要传输的文件大小得到有效减小，提高了芯片测试结果的查找和传输效率。
[0055]
在一些实现方式中，为了进一步地提高对芯片的测试结果文件的分类存储的效果，可以在s110至s130的基础上再次对芯片的测试结果文件进行分类存储。图2是本技术实施例中提供的进一步对测试结果文件分类存储的流程示意图，如图2所示的，包括s140至s150，下面对s140至s150进行具体说明。
[0056]
s140、在第一测试结果文件中，确定第二测试结果文件，第二测试结果文件对应第二标准，第二标准对应多项测试数据中的第二测试数据。
[0057]
具体地，可以在s120和s130得到一个或多个第一测试结果文件之后，再次对一个或多个第一测试结果文件进行分类，进而从一个或多个第一测试结果文件中分类得到第二测试结果文件，以便于后续对不同更细分类别的第二测试结果文件进行分类处理。
[0058]
应理解的是，从一个或多个第一测试结果文件进行分类时，得到的第二测试结果文件的数量可以为一个或多个，本技术实施例对此不作限制。
[0059]
具体地，可以根据第二标准对第一测试结果文件分类，第二标准对应多项测试数据中的第二测试数据。
[0060]
应理解的是，第二测试数据也可以为温度、电压和测试通过情况等不同方面的测试数据，本技术实施例对此不做限制。相应地，第二标准可以根据实际需要设置为测试通过情况为通过或者不通过。
[0061]
s150、将第二测试结果文件存储到第一文件夹中的第二文件夹中，第二文件夹对应第二标准。
[0062]
具体地，第二文件夹在第一文件夹的内部，在得到一个或多个第二测试结果文件以后，可以将第二测试结果文件存储到第二文件夹中，进而实现对一个或多个第一测试结果文件的再次分类，提高了对测试结果文件的分类精细度，便于在硬盘上对测试结果文件直接进行定位和操作，提高了对第一测试结果文件和第二测试结果文件的处理的效率。
[0063]
应理解的是，在将第二测试结果文件存储到第一文件夹中的第二文件夹中时，第二文件夹可以是预先创建的，也可以是在存储第二测试结果文件时创建的，本技术实施例
对此不作限制。
[0064]
图3是本技术实施例中的一例第一文件夹和第二文件夹的示意图，如图3所示的，包括基础文件夹300、第一文件夹310、第一文件夹320、第二文件夹311、第二文件夹312、第二文件夹321和第二文件夹322，第二文件夹311、第二文件夹312、第二文件夹321和第二文件夹322中分别包括多个第二测试结果文件，第一文件夹310包括第二文件夹311和第二文件夹312，第一文件夹320包括第二文件夹321和第二文件夹322。其中，第二文件夹311、第二文件夹312、第二文件夹321和第二文件夹322中的第二测试结果文件根据对第一文件夹310和第一文件夹320中的第二测试结果文件进行分类存储后得到。
[0065]
具体地，如图3所示的，当第一标准为批次号时，第一文件夹310可以对应第一批次，第一文件夹320可以对应第二批次。当第二标准对应高温测试数据、中温测试数据时，第二文件夹311和第二文件夹321中存储的第二测试结果文件可以对应高温测试数据，第二文件夹312和第二文件夹322中存储的第二测试结果文件可以对应中温测试数据。
[0066]
在一些实现方式中，可以在s110至s150的基础上，再次重复s140至s150的流程，使得可以进一步对第二测试结果文件进行更为精确的分类和存储，进一步提高对测试结果文件的分类精细度，便于在硬盘上对测试结果文件直接进行定位和操作，提高了对第一测试结果文件和第二测试结果文件的处理的效率。
[0067]
对芯片的测试结果进行数据分析时，现有的数据分析软件无法完全满足当前日益增长的精细化分析需求。因此在一些实现方式中，本技术实施例中的每个测试结果文件中的多项测试数据可以包括更为丰富的内容，以满足芯片测试结果的精细化分析需求。
[0068]
在一些实现方式中，每个测试结果文件中的多项测试数据可以包括：批次号、高温测试数据、中温测试数据、低温测试数据、测试编号、测试管脚、测试通过情况、测试参数上限值、测试参数下限值、失效类型、失效管脚和芯片编号中的一个或多个。
[0069]
应理解的是，根据测试项目的不同，测试参数上限值可以是测试电压上限值或测试电流上限值等，测试参数下限值可以是测试电压下限值或测试电流下限值等，本技术实施例对此不作限制。
[0070]
应理解的是，批次号、高温测试数据、中温测试数据、低温测试数据、测试编号、测试管脚、测试通过情况、测试参数上限值、测试参数下限值、失效类型、失效管脚和芯片编号都可以作为第一标准或者第二标准。例如，可以根据批次号对多个测试结果文件分类，得到第一测试结果文件。又例如，可以根据高温测试数据、中温测试数据或低温测试数据对第一测试结果分类，得到第二测试结果文件。
[0071]
在一些实现方式中，第一文件夹的名称可以对应第一标准，在后续读取和分析第一文件夹中的第一测试结果文件内容时，可以对第一测试结果文件中的测试数据以及第一文件夹的名称综合，得到第一测试结果文件对应的芯片的测试结果，提高了对每个测试结果文件的进行读取和分析的效率。
[0072]
应理解的是，第一文件夹的名称可以和第一标准完全相同，或者第一文件夹的名称的部分字段可以和第一标准相同，使得第一文件夹中的第一标准内容和第一测试结果文件的内容相互配合对芯片的测试结果进行分析。
[0073]
应理解的是，本技术实施例中的第二文件夹的名称也可以对应第二标准，这也在本技术实施例的保护范围之内。
[0074]
在一些实现方式中，为了对多个测试结果文件进行分析，得到多个芯片的测试结果的统计结果。例如，可以对第一文件夹中的第一测试结果文件进行分析。图4是本技术实施例中的一例对测试结果进行统计的流程示意图，如图4所示的，包括s410至s420，下面对s410至s420进行具体说明。
[0075]
s410、读取第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数据。
[0076]
具体地，可以通过python语言结合正则表达式读取和获取数据，进而能够读取第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数据内容。通过遍历读取第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数据，便于后续进行芯片测试结果的数据统计。
[0077]
例如，在第一文件夹的名称表示第一批次时，读取第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数据，即可以得到第一批次对应的芯片的测试结果数据。
[0078]
s420、根据第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数据，确定第一统计结果。
[0079]
在得到文件夹的名称和测试结果文件中的测试数据后，可以使用常用的统计方法得到芯片测试结果的统计结果。具体地，第一文件夹的名称和第一测试结果文件中的测试数据对应第一统计结果。
[0080]
在一些实现方式中，可以使用python下的数据分析库pandas进行数据统计，得到第一统计结果。
[0081]
例如，可以根据芯片的测试结果通过情况分析得到良品率。又例如，在第二标准为测试温度时，可以根据测试温度得到在不同温度下芯片测试的良品率。在例如，第一标准为批次号时，在第二标准为测试温度时，可以根据测试温度得到第一批次中的芯片在高芯片的生产厂家在交付芯片产品时，往往需要交付相应的芯片测试结果。因此，在一些实现方式中，为了便于对芯片产品的测试结果文件进行数据传输，可以根据一定标准将芯片的测试结果文件导出，然后将符合标准的测试结果文件用于数据传输。
[0082]
图5是一例对符合标准的测试结果文件导出的流程示意图，如图5所示的，包括s510至s530，下面对s510至s530进行具体说明。
[0083]
s510、在多个测试数据中，确定目标测试数据。
[0084]
应理解的是，目标测试数据可以根据实际需要进行选择，本技术实施例对目标测试数据的选择不作限制。
[0085]
具体地，目标测试数据可以是批次号、高温测试数据、中温测试数据、低温测试数据、测试编号、测试管脚、测试通过情况、测试参数上限值、测试参数下限值、失效类型、失效管脚和芯片编号中的一个。例如，目标测试数据可以是失效类型。又例如，目标测试数据可以是在电压测试参数上限值或者电压测试参数下限值。再例如，目标测试数据可以在高温测试数据、中温测试数据、低温测试数据(高温125℃、常温25℃、低温-55℃)中进行选择。
[0086]
s520、根据目标测试数据在多个测试结果文件中确定目标测试结果文件。
[0087]
具体地，可以根据python以及正则表达式读取多个测试结果文件，进而便于从多个测试结果文件中筛选确定目标测试结果文件，进而便于后续对目标测试结果文件复制和导出。
[0088]
s530、获取目标测试结果文件。
[0089]
具体地，可以通过复制目标测试结果文件到特定位置，即可以将符合要求的目标
测试结果文件用于数据传输。
[0090]
根据本技术实施例中对符合标准的测试结果文件导出的流程，具有以下有益效果：1.便于对每颗芯片的测试数据进行分析及溯源；2.能够对符合目标测试数据的要求的芯片测试结果文件追溯定位；3.能够对测试结果针对目标测试数据进行针对性的分析。
[0091]
在一些实现方式中，为了便于在操作系统上对测试结果文件打开和读取，测试结果文件的格式为txt、csv、json、log和xml中的一个或多个。
[0092]
示例性地，第1005个芯片的测试结果文件的内容可以如下表所示：
[0093]
表1
[0094][0095]
在表1中，芯片编号为1005，批次号为5，测试管脚为1#，高温测试数据为-474.1013mv，测试参数下限值为-900.0000mv，测试参数上限值为-200.0000mv，高温测试数据-474.1013mv在测试参数下限值-900.0000mv和测试参数上限值-200.0000mv之间，测试通过情况为1(即测试通过)。表1中的数据可以存储在txt、csv、json、log或者xml格式的测试结果文件中。
[0096]
本技术实施例还提供了一种装置，该装置包括执行上述的各个方法实施例中的步骤的单元或者模块。图6是本技术实施例中提供的一种装置的示意图，如图6所示的，装置600包括处理单元610、存储单元620和收发单元630，处理单元610用于处理数据、对芯片的测试结果文件进行处理，存储单元620用于存储芯片的测试结果文件，收发单元630用于传输数据。通过本技术实施例所述的装置，能够提高对芯片的测试结果文件的处理效果。
[0097]
本技术实施例还提供了一种装置，包括处理器和存储器；处理器和存储器耦合，存储器存储有程序指令，存储器存储的程序指令被处理器执行时执行上述的芯片测试结果的处理方法。
[0098]
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
[0099]
本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序代码，该计算机程序包括用于执行上述本技术实施例提供的任意一种基于视觉补偿图像的防晕车方法的指令。该可读介质可以是只读存储器(read-only memory,rom)或随机存取存储器(random access memory,ram)，本技术实施例对此不做限制。
[0100]
本技术实施例还提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括指令，当该指令被执行时，以使得车内计算平台或者车载娱乐信息系统执行对应于上述方法中的对应的操作。
[0101]
本技术的实施例中的方法可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。计算机程序产品包括一个或多个计算机程序或指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序或指令
时，全部或部分地执行本技术的方法的实施例的流程或功能。计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。计算机程序或指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者通过计算机可读存储介质进行传输。计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是集成一个或多个可用介质的服务器等数据存储设备。
[0102]
在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0103]
作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0104]
另外，在本技术各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
[0105]
功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个可读存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的可读存储介质包括：u盘、移动硬盘、rom、ram、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0106]
以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。