一种RAM测试覆盖率收集方法、装置和通用接口组件与流程

本发明涉及内存检测，尤其涉及一种ram测试覆盖率收集方法、装置、通用接口组件及计算设备。

背景技术：

1、随机存取存储器(randomaccessmemory，ram)又称随机存储器，是与中央处理器(centralprocessingunit，cpu)直接交换数据的内部存储器。它可以随时读写，而且速度很快，通常作为操作系统或其他正在运行中的程序的临时数据存储媒介。

2、对于cpu访问ram是否存在问题，可以通过cpu对ram的读写测试进行确定，而在测试过程中，可以通过覆盖率收集确定测试的全面性。

3、现有技术中大多数情况是通过波形检查，或者每个测试事件覆盖后进行特定的覆盖率收集，操作繁琐且没有统一、通用的ram测试覆盖率收集方案。

技术实现思路

1、鉴于现有技术的以上问题，本申请提供一种ram测试覆盖率收集方法和装置，能够实现ram测试覆盖率收集的通用性和全面性。

2、为达到上述目的，本申请第一方面提供一种ram测试覆盖率收集方法，包括：

3、根据测试环境中的ram的参数对一通用接口组件进行例化；测试环境包括冲突源和ram；

4、建立冲突源与例化后的通用接口组件的连接；

5、通过例化后的通用接口组件基于连接采集冲突源访问ram时发送的数据；

6、根据采集到的冲突源发送的数据确定测试覆盖率。

7、本实施方式通过引入一个通用接口组件，作为被动模块例化在ram测试的环境中，将获取的冲突源访问ram时发送的数据以打拍方式进行铺开，不需要进行特别的激励，然后进行覆盖率收集。上述通用接口组件针对于不同的ram通过不同参数的方式进行例化和区别。能够适应不同的测试环境中的ram，实现了统一、通用的ram测试覆盖率收集。

8、作为第一方面的一种可能的实现方式，采集冲突源访问ram时发送的数据，包括：

9、根据时钟顺序，按一定采样周期依次采集冲突源访问ram时发送的数据，并依次存储到各寄存器中；

10、根据采集到的冲突源发送的数据确定测试覆盖率，包括：根据各寄存器中存储的冲突源发送的数据进行比较确定测试覆盖率。

11、作为第一方面的一种可能的实现方式，确定测试覆盖率包括：根据采集到的冲突源发送的数据确定是否匹配覆盖测试需求点；

12、根据是否覆盖测试需求点计算测试覆盖率。

13、作为第一方面的一种可能的实现方式，ram的参数包括至少以下之一：数据位宽、地址线长度、冲突源的数量、需要统计的冲突窗的长度、是否需要奇偶时隙。

14、本申请第二方面提供一种ram测试覆盖率收集装置，包括：

15、例化模块，用于根据测试环境中的ram的参数对一通用接口组件进行例化；测试环境包括冲突源和ram；

16、连接模块，用于建立冲突源与例化后的通用接口组件的连接；

17、采集模块，用于通过例化后的通用接口组件基于连接采集冲突源访问ram时发送的数据；

18、测试覆盖率确定模块，用于根据采集到的冲突源发送的数据确定测试覆盖率。

19、作为第二方面的一种可能的实现方式，采集模块具体用于：根据时钟顺序，按一定采样周期依次采集冲突源访问ram时发送的数据，并依次存储到各寄存器中；

20、测试覆盖率确定模块具体用于：根据各寄存器中存储的冲突源发送的数据进行比较确定测试覆盖率。

21、作为第二方面的一种可能的实现方式，确定测试覆盖率包括：

22、根据采集到的冲突源发送的数据确定是否匹配覆盖测试需求点；

23、根据是否覆盖测试需求点计算测试覆盖率。

24、作为第二方面的一种可能的实现方式，ram的参数包括至少以下之一：数据位宽、地址线长度、冲突源的数量、需要统计的冲突窗的长度、是否需要奇偶时隙。

25、本申请第三方面提供了一种ram测试覆盖率收集方法的通用接口组件，通用接口组件可根据测试环境中的ram的参数例化；

26、例化后的通用接口组件包括用于与冲突源建立连接的接口；

27、例化后的通用接口组件还包括多个寄存器，用于根据时钟顺序依次存储冲突源访问ram时发送的数据。

28、本申请第四方面提供一种计算设备，包括：

29、处理器，以及

30、存储器，其上存储有程序指令，所述程序指令当被所述处理器执行时使得所述处理器执行如上所述的ram测试覆盖率收集方法。

31、本发明的这些和其它方面在以下(多个)实施例的描述中会更加简明易懂。

技术特征：

1.一种ram测试覆盖率收集方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集所述冲突源访问所述ram时发送的数据，包括：

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述确定测试覆盖率包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述ram的参数包括至少以下之一：数据位宽、地址线长度、所述冲突源的数量、需要统计的冲突窗的长度、是否需要奇偶时隙。

5.一种ram测试覆盖率收集装置，其特征在于，包括：

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，

7.根据权利要求5或6所述的装置，其特征在于，所述确定测试覆盖率包括：

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述ram的参数包括至少以下之一：数据位宽、地址线长度、所述冲突源的数量、需要统计的冲突窗的长度、是否需要奇偶时隙。

9.一种用于权利要求1至4任一项所述的ram测试覆盖率收集方法的通用接口组件，其特征在于，

10.一种计算设备，其特征在于，包括：

技术总结
本申请涉及内存检测技术领域，具体涉及RAM测试覆盖率收集方法及装置。RAM测试覆盖率收集方法包括：根据测试环境中的RAM的参数对一通用接口组件进行例化；测试环境包括冲突源和RAM；建立冲突源与例化后的通用接口组件的连接；通过例化后的通用接口组件基于连接采集冲突源访问RAM时发送的数据；根据采集到的冲突源发送的数据确定测试覆盖率。上述通用接口组件针对于不同的RAM通过不同参数的方式进行例化和区别，能够适应不同的测试环境中的RAM，实现了统一、通用的RAM测试覆盖率收集。

技术研发人员：王政清
受保护的技术使用者：北京物芯科技有限责任公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/11