样本检测方法及相关设备与流程

文档序号:33471869发布日期:2023-03-15 08:44阅读:44来源:国知局
样本检测方法及相关设备与流程

1.本技术涉及样本检测技术领域,尤其涉及一种样本检测方法及相关设备。


背景技术:

2.校准曲线存储形式多样,常见的有芯片id卡、射频ic卡。每盒试剂配一个id卡或ic卡,id卡或ic卡为试剂盒独立的组成部分,不方便储存,试剂盒开封后容易弄丢,当存在多批次试剂盒、多种类型的试剂盒时,易发生id卡或ic卡用错的情况。
3.条形码是将多个条状图案和空白按照一定规则排列,用于表达目标信息的图形标识符。因此许多商家会利用条形码来存储信息,但市面上现有试剂卡上的条形码仅存储项目信息,并无校准曲线信息。


技术实现要素:

4.有鉴于此,本技术的目的在于提出一种样本检测方法及相关设备。
5.基于上述目的,本技术提供了一种样本检测方法,包括:识别经预设的参数优化标准优化后生成的条形码,得到第一参数;基于所述第一参数计算得到标准曲线;采集所述条形码对应的试剂卡的荧光强度,基于所述荧光强度和所述标准曲线计算得到所述试剂卡的样本浓度,以完成所述试剂卡的样本检测。
6.在一种可能的实现方式中,所述条形码的优化过程,包括:根据所述预设的参数优化标准对校准曲线参数进行优化,得到第二参数;基于所述第二参数,根据预设的函数关系计算得到所述第一参数;所述预设的函数关系为试剂盒的校准曲线和条形码校准曲线间的函数关系;根据所述第一参数生成对应的条形码。
7.在一种可能的实现方式中,所述根据所述预设的参数优化标准对校准曲线参数进行优化,得到第二参数,包括:根据所述预设的参数优化标准,确定所述校准曲线参数的最优小数位数;基于所述最优小数位数和所述校准曲线参数,得到所述第二参数。
8.在一种可能的实现方式中,所述基于所述第二参数,根据预设的函数关系计算得到所述第一参数,包括:汇总多批次的所述第二参数,得到第二参数均值;基于所述第二参数均值和预设的函数系数,通过所述预设的函数关系计算得到所述第一参数。
9.在一种可能的实现方式中,所述校准曲线参数包括第一校准参数、第二校准参数、第三校准参数、第四校准参数;通过下式表示所述第一校准参数预设的参数优化标准:
通过下式表示所述第二校准参数预设的参数优化标准:通过下式表示所述第三校准参数预设的参数优化标准:通过下式表示所述第四校准参数预设的参数优化标准:其中,i表示小数位数,表示i个小数位数的第一校准参数,表示i个小数位数的第二校准参数,表示i个小数位数的第三校准参数,表示i个小数位数的第四校准参数,表示第一初始参数,表示第二初始参数,表示第三初始参数,表示第四初始参数,y表示荧光强度。
10.在一种可能的实现方式中,通过下式表示所述预设的函数关系:
其中,表示第一校准参数对应的第一参数,表示第二校准参数对应的第一参数,表示第三校准参数对应的第一参数,表示第四校准参数对应的第一参数,表示i个小数位数的第一校准参数,表示i个小数位数的第二校准参数,表示i个小数位数的第三校准参数,表示i个小数位数的第四校准参数,表示多批次试剂盒的第一校准参数对应的第一参数的均值,表示多批次试剂盒的第二校准参数对应的第一参数的均值,表示多批次试剂盒的第三校准参数对应的第一参数的均值,表示多批次试剂盒的第四校准参数对应的第一参数的均值,a表示函数关系中的第一系数,b表示函数关系中的第二系数,c表示函数关系中的第三系数,d表示函数关系中的第四系数,e表示函数关系中的第五系数。
11.在一种可能的实现方式中,通过下式计算所述试剂卡的样本浓度:其中,x表示样本浓度,a表示第一校准曲线参数,b表示第二校准曲线参数,c表示第三校准曲线参数,d表示第四校准曲线参数,y表示荧光强度。
12.基于同一发明构思,本技术实施例还提供了一种样本检测装置,包括:识别模块,被配置为识别经预设的参数优化标准优化后生成的条形码,得到第一参数;计算模块,被配置为基于所述第一参数计算得到标准曲线;光路模块,被配置为采集所述条形码对应的试剂卡的荧光强度,基于所述荧光强度和所述标准曲线计算得到所述试剂卡的样本浓度,以完成所述试剂卡的样本检测。
13.基于同一发明构思,本技术实施例还提供了一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如上述任意一项所述的样本检测方法。
14.基于同一发明构思,本技术实施例还提供了一种非暂态计算机可读存储介质,所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令,所述计算机指令用于使所述计算机执行上述任一所述的样本检测方法。
15.从上面所述可以看出,本技术提供的样本检测方法及相关设备,通过识别经预设的参数优化标准优化后生成的条形码,得到第一参数;基于所述第一参数计算得到标准曲线;采集所述条形码对应的试剂卡的荧光强度,基于所述荧光强度和所述标准曲线计算得
到所述试剂卡的样本浓度,以完成所述试剂卡的样本检测。本技术实施例通过对初始校准曲线参数进行优化,有效降低了校准曲线参数的数据量,进一步有效降低了其对应生成的条形码的宽度,减小条形码的占地面积。此外,将校准曲线存储于条形码中还可以防止弄丢弄错的情况,在本技术实施例中,每个试条对应于一个条形码,在实际检测过程中,检测装置可以直接通过条形码获取对应的校准曲线参数,有效加快了样本的检测速度,增加了样本检测结果的可靠性,更加的方便灵活,此外,还能够有效降低人工操作带来的误差。
附图说明
16.为了更清楚地说明本技术或相关技术中的技术方案,下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
17.图1为本技术实施例的样本检测方法流程图;图2a为本技术实施例的优化前的条形码示意图;图2b为本技术实施例的优化后的条形码示意图;图3为本技术实施例的样本检测装置结构示意图;图4为本技术实施例的电子设备结构示意图。
具体实施方式
18.为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本技术进一步详细说明。
19.需要说明的是,除非另外定义,本技术实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本技术实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
20.如背景技术部分所述,目前校准曲线的存储形式较为多样,但都是将其存储于单独的芯片id卡或射频ic卡等独立于试剂卡的部分,不方便储存,且在试剂盒开封后容易弄丢,另外,当需要对多批次不同类型的试剂盒进行检测时,很容易将上述的芯片id卡或射频ic卡弄乱甚至弄丢。此外,在现有技术中,很多人会利用条形码来存储信息,但市面上现有的试剂卡上的条形码目前仅仅用于存储项目信息,并无校准曲线信息,这也是因为校准曲线的信息较长,若将校准曲线信息置于条形码中,会导致条形码长度过长,无法良好的适应试剂卡的长度,在实际的检测过程中也不便于检测。
21.综合上述考虑,本技术实施例提出一种样本检测方法,识别经预设的参数优化标准优化后生成的条形码,得到第一参数;基于所述第一参数计算得到标准曲线;采集所述条形码对应的试剂卡的荧光强度,基于所述荧光强度和所述标准曲线计算得到所述试剂卡的
样本浓度,以完成所述试剂卡的样本检测。本技术实施例通过对初始校准曲线参数进行优化,有效降低了校准曲线参数的数据量,进一步有效降低了其对应生成的条形码的宽度,减小条形码的占地面积。此外,将校准曲线存储于条形码中还可以防止弄丢弄错的情况,在本技术实施例中,每个试条对应于一个条形码,在实际检测过程中,检测装置可以直接通过条形码获取对应的校准曲线参数,有效加快了样本的检测速度,增加了样本检测结果的可靠性,更加的方便灵活,此外,还能够有效降低人工操作带来的误差。
22.以下,通过具体的实施例来详细说明本技术实施例的技术方案。
23.参考图1,本技术实施例的样本检测方法,包括以下步骤:步骤s101,识别经预设的参数优化标准优化后生成的条形码,得到第一参数;步骤s102,基于所述第一参数计算得到标准曲线;步骤s103,采集所述条形码对应的试剂卡的荧光强度,基于所述荧光强度和所述标准曲线计算得到所述试剂卡的样本浓度,以完成所述试剂卡的样本检测。
24.针对步骤s101,在实际检测时,将不同项目的信息设置参数编写至上位机软件,以不同的条形码作为不同项目的辨别标识,便于不同类别试剂盒的管理。试剂卡加样后插入荧光仪检测区,荧光仪扫描条形码信息,通过光路模块传输至上位机软件。上位机软件接收条形码信息后,识别试剂盒类型、试剂盒的检测控制程序,下达检测命令,光路模块采集荧光强度。同时上位机软件按照既定程序解析条形码中的参数信息,获得校准曲线。
25.上述条形码是经过预设的参数优化标准优化过的。
26.具体的,已知初始校准曲线的样本浓度测定值为对照组,不同精度校准曲线的样本浓度测定值为实验组,实验组与对照组无明显差异,校准曲线精度即为合格。
27.在本实施例中,条形码的具体优化过程为:根据所述预设的参数优化标准对校准曲线参数进行优化,得到第二参数;基于所述第二参数,根据预设的函数关系计算得到所述第一参数;所述预设的函数关系为试剂盒的校准曲线和条形码校准曲线间的函数关系。
28.上述步骤中,所述根据所述预设的参数优化标准对校准曲线参数进行优化,得到第二参数,包括:根据所述预设的参数优化标准,确定所述校准曲线参数的最优小数位数;基于所述最优小数位数和所述校准曲线参数,得到所述第二参数。
29.具体的,在本实施例中,通过下式表示所述第一校准参数预设的参数优化标准:通过下式表示所述第二校准参数预设的参数优化标准:
通过下式表示所述第三校准参数预设的参数优化标准:通过下式表示所述第四校准参数预设的参数优化标准:其中,i表示小数位数,表示i个小数位数的第一校准参数,表示i个小数位数的第二校准参数,表示i个小数位数的第三校准参数,表示i个小数位数的第四校准参数,表示第一初始参数,表示第二初始参数,表示第三初始参数,表示第四初始参数,y表示荧光强度。
30.在上述步骤中,对每个校准曲线参数取不同的小数位数,进一步计算依照该小数位数得到的样本浓度测定值与初始校准曲线的样本浓度测定值之间相差的百分比,满足对应参数的优化标准即可。
31.在本实施例中,校准曲线初始参数小数位数为5位,已知初始校准曲线的样本浓度测定值为对照组,不同精度校准曲线的样本浓度测定值为实验组,如,小数位数取4,小数位数取3,小数位数取2,小数位数取1,小数位数取0,只有当实验组与对照组无明显差异,校准曲线精度才可以为合格,分别确定每个参数的精度。在本实施例中,无明显差异指的是不同小数位数间的测定值与对照组测定值之间的相对偏差需要在-2%至2%之间。每个参数精度优化后,分析优化后参数测定值与初始校准曲线测定值的差异。
32.在本实施例中,针对第一校准参数,当小数位数取4的时候,其测定值与对照组的
测定值之间的相对偏差为0.000%,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取3的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.002%-0.004%之间,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取2的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.041%-0.085%之间,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取1的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.736%-1.543%之间,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取0的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为-12.747%-(-6.540%)之间,不在-2%至2%之间,不满足要求。综上,可见,针对于第一校准参数,当小数位数取4、3、2、1时,均可以满足要求,结合本技术的目的,为了对标准曲线的参数进行优化,以对标准曲线的参数进行简化,进而使得最终得到的条形码长度得到有效的降低,因此,在所有满足条件的小数位数中取最小值,及针对于第一校准参数而言,该校准曲线的第一校准参数的最优小数位数为1。
33.针对第二校准参数,当小数位数取4的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为-0.016%-0.000%之间,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取3的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为-0.174%-(-0.004%)之间,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取2的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为-2.273%-0.051%,存在不在-2%至2%之间的数值,不满足要求,当小数位数取1时,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为-12.373-0.292%,存在不在在-2%至2%之间的数值,不满足要求。结合上述理由,同理,取最小的满足要求的小数位数作为该参数的最优小数位数。针对于第二校准参数而言,该校准曲线的第二校准参数的最优小数位数为3。
34.针对第三校准参数,当小数位数取4的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.000%,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取3的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.000%,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取2的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.002%,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取1时,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.011%,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取0时,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.194%,在-2%至2%之间,满足要求。结合上述理由,同理,取最小的满足要求的小数位数作为该参数的最有小数位数。针对于第三校准参数而言,该校准曲线的第三校准参数的最优小数位数为3。
35.针对第四校准参数,当小数位数取4的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.001-0.071%%,在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取3的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为-0.106-(-0.002%),在-2%至2%之间,满足要求,当小数位数取2的时候,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为0.143%-6.967%,不在-2%至2%之间,不满足要求,当小数位数取1时,其测定值与对照组的测定值之间的相对偏差为-61.670%-(-1.309%),不在-2%至2%之间,不满足要求。结合上述理由,同理,取最小的满足要求的小数位数作为该参数的最优小数位数。针对于第三校准参数而言,该校准曲线的第三校准参数的最优小数位数为3。
36.综上,得到每一校准参数所对应的最优小数位数。
37.基于上述确定的最优小数位数和校准曲线参数,得到第二参数。
38.具体的,在本实施例中,将所述校准曲线参数依据前述步骤中得到的对应的最优小数位数进行四舍五入,得到对应的第二参数。
39.在计算得到第二参数后,根据预设的函数关系计算得到所述第一参数;所述预设
的函数关系为试剂盒的校准曲线和条形码校准曲线间的函数关系。
40.通过下式表示所述预设的函数关系:其中,表示第一校准参数对应的第一参数,表示第二校准参数对应的第一参数,表示第三校准参数对应的第一参数,表示第四校准参数对应的第一参数,表示i个小数位数的第一校准参数,表示i个小数位数的第二校准参数,表示i个小数位数的第三校准参数,表示i个小数位数的第四校准参数,表示多批次试剂盒的第一校准参数对应的第一参数的均值,表示多批次试剂盒的第二校准参数对应的第一参数的均值,表示多批次试剂盒的第三校准参数对应的第一参数的均值,表示多批次试剂盒的第四校准参数对应的第一参数的均值,a表示函数关系中的第一系数,b表示函数关系中的第二系数,c表示函数关系中的第三系数,d表示函数关系中的第四系数,e表示函数关系中的第五系数。
41.其中,通过下式计算所述第一参数的均值:其中,n表示试剂盒批次数。
42.经过上述步骤的优化后,得到最终优化完毕的第一参数,将第一参数转换为条形码。
43.在本步骤中,累积多批次试剂盒校准曲线信息,对参数abcd进行优化,以参数字节数及条形码的长度确认优化方式,建立试剂盒校准曲线与试剂盒条形码校准曲线的函数关系。
44.参考图2a,为本技术实施例的优化前的条形码示意图,参考图2b,为本技术实施例的优化后的条形码示意图。
45.如图2a所示,其为本技术优化前的条形码示意图,图2b为本技术优化后的条形码示意图,从图中可以明显看出,经本技术技术方案优化后的条形码相较于未优化前的条形码,有效缩短了自身的长度,便于放置于试剂卡之上。
46.针对步骤s102,在上述步骤中,在得到优化后的条形码后,在实际的检测过程中,只需扫描对应条形码即可获取存于条形码中的第一参数,在获取得到第一参数后,基于计算第一参数的公式倒推,进而通过上位机软件按照既定程序解析条形码中的参数信息,获得标准曲线。
47.在获得标准曲线之后,采集条形码对应的试剂卡的荧光强度,基于所述荧光强度和所述标准曲线计算得到所述试剂卡的样本浓度,以完成所述试剂卡的样本检测。
48.当浓度计算方程为四参数方程时,通过下式计算所述试剂卡的样本浓度:其中,x表示样本浓度,a表示第一校准曲线参数,b表示第二校准曲线参数,c表示第三校准曲线参数,d表示第四校准曲线参数,y表示荧光强度。
49.当浓度计算方程为二次方程时,通过下式计算所述试剂卡的样本浓度:或通过上述实施例可以看出,本技术的样本检测方法,识别经预设的参数优化标准优化后生成的条形码,得到第一参数;基于所述第一参数计算得到标准曲线;采集所述条形码对应的试剂卡的荧光强度,基于所述荧光强度和所述标准曲线计算得到所述试剂卡的样本浓度,以完成所述试剂卡的样本检测。本技术实施例通过对初始校准曲线参数进行优化,有效降低了校准曲线参数的数据量,进一步有效降低了其对应生成的条形码的宽度,减小条形码的占地面积。此外,将校准曲线存储于条形码中还可以防止弄丢弄错的情况,在本技术实施例中,每个试条对应于一个条形码,在实际检测过程中,检测装置可以直接通过条形码获取对应的校准曲线参数,有效加快了样本的检测速度,增加了样本检测结果的可靠性,更加的方便灵活,此外,还能够有效降低人工操作带来的误差。
50.需要说明的是,本技术实施例的方法可以由单个设备执行,例如一台计算机或服务器等。本实施例的方法也可以应用于分布式场景下,由多台设备相互配合来完成。在这种分布式场景的情况下,这多台设备中的一台设备可以只执行本技术实施例的方法中的某一个或多个步骤,这多台设备相互之间会进行交互以完成所述的方法。
51.需要说明的是,上述对本技术的一些实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下,在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于上述实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外,在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中,多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。
52.基于同一发明构思,与上述任意实施例方法相对应的,本技术还提供了一种样本检测装置。
53.参考图3,所述样本检测装置,包括:识别模块31,被配置为识别经预设的参数优化标准优化后生成的条形码,得到第
一参数;计算模块32,被配置为基于所述第一参数计算得到标准曲线;光路模块33,被配置为采集所述条形码对应的试剂卡的荧光强度,基于所述荧光强度和所述标准曲线计算得到所述试剂卡的样本浓度,以完成所述试剂卡的样本检测。
54.为了描述的方便,描述以上装置时以功能分为各种模块分别描述。当然,在实施本技术时可以把各模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
55.上述实施例的装置用于实现前述任一实施例中相应的样本检测方法,并且具有相应的方法实施例的有益效果,在此不再赘述。
56.基于同一发明构思,与上述任意实施例方法相对应的,本技术还提供了一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现上任意一实施例所述的样本检测方法。
57.图4示出了本实施例所提供的一种更为具体的电子设备硬件结构示意图,该设备可以包括:处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030、通信接口1040和总线 1050。其中处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030和通信接口1040通过总线1050实现彼此之间在设备内部的通信连接。
58.处理器1010可以采用通用的cpu(central processing unit,中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(applicationspecific integrated circuit,asic)、或者一个或多个集成电路等方式实现,用于执行相关程序,以实现本说明书实施例所提供的技术方案。
59.存储器1020可以采用rom(read only memory,只读存储器)、ram(random access memory,随机存取存储器)、静态存储设备,动态存储设备等形式实现。存储器1020可以存储操作系统和其他应用程序,在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时,相关的程序代码保存在存储器1020中,并由处理器1010来调用执行。
60.输入/输出接口1030用于连接输入/输出模块,以实现信息输入及输出。输入输出/ 模块可以作为组件配置在设备中(图中未示出),也可以外接于设备以提供相应功能。其中输入设备可以包括键盘、鼠标、触摸屏、麦克风、各类传感器等,输出设备可以包括显示器、扬声器、振动器、指示灯等。
61.通信接口1040用于连接通信模块(图中未示出),以实现本设备与其他设备的通信交互。其中通信模块可以通过有线方式(例如usb、网线等)实现通信,也可以通过无线方式(例如移动网络、wifi、蓝牙等)实现通信。
62.总线1050包括一通路,在设备的各个组件(例如处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030和通信接口1040)之间传输信息。
63.需要说明的是,尽管上述设备仅示出了处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030、通信接口1040以及总线1050,但是在具体实施过程中,该设备还可以包括实现正常运行所必需的其他组件。此外,本领域的技术人员可以理解的是,上述设备中也可以仅包含实现本说明书实施例方案所必需的组件,而不必包含图中所示的全部组件。
64.上述实施例的电子设备用于实现前述任一实施例中相应的样本检测方法,并且具有相应的方法实施例的有益效果,在此不再赘述。
65.基于同一发明构思,与上述任意实施例方法相对应的,本技术还提供了一种非暂态计算机可读存储介质,所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令,所述计算机指
令用于使所述计算机执行如上任一实施例所述的样本检测方法。
66.本实施例的计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括,但不限于相变内存(pram)、静态随机存取存储器(sram)、动态随机存取存储器(dram)、其他类型的随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(cd-rom)、数字多功能光盘(dvd)或其他光学存储、磁盒式磁带,磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质,可用于存储可以被计算设备访问的信息。
67.上述实施例的存储介质存储的计算机指令用于使所述计算机执行如上任一实施例所述的样本检测方法,并且具有相应的方法实施例的有益效果,在此不再赘述。
68.所属领域的普通技术人员应当理解:以上任何实施例的讨论仅为示例性的,并非旨在暗示本技术的范围(包括权利要求)被限于这些例子;在本技术的思路下,以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合,步骤可以以任意顺序实现,并存在如上所述的本技术实施例的不同方面的许多其它变化,为了简明它们没有在细节中提供。
69.另外,为简化说明和讨论,并且为了不会使本技术实施例难以理解,在所提供的附图中可以示出或可以不示出与集成电路(ic)芯片和其它部件的公知的电源/接地连接。此外,可以以框图的形式示出装置,以便避免使本技术实施例难以理解,并且这也考虑了以下事实,即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本技术实施例的平台的(即,这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。在阐述了具体细节(例如,电路)以描述本技术的示例性实施例的情况下,对本领域技术人员来说显而易见的是,可以在没有这些具体细节的情况下或者这些具体细节有变化的情况下实施本技术实施例。因此,这些描述应被认为是说明性的而不是限制性的。
70.尽管已经结合了本技术的具体实施例对本技术进行了描述,但是根据前面的描述,这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。例如,其它存储器架构(例如,动态ram(dram))可以使用所讨论的实施例。
71.本技术实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此,凡在本技术实施例的精神和原则之内,所做的任何省略、修改、等同替换、改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。
当前第1页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1