一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置及相关介质与流程

文档序号:35537388发布日期:2023-09-23 13:26阅读:18来源:国知局
一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置及相关介质

本发明涉及屏幕检测,特别涉及一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置及相关介质。


背景技术:

1、当前的屏幕检测技术一般采用二维摄像机进行检测,但是二维摄像机只能获取到屏幕的平面图像,也就是说,无法获取屏幕表面的深度信息。因此在检测屏幕表面非常细微的缺陷时,例如像素坏点、颜色偏差等问题,由于采集到的图像是二维图像,因此最终的检测精度会受到很大的限制。此外,现有的二维摄像机检测方法还会受到光线反射、遮挡等因素的影响,这些影响因素同样会使最终的检测结果产生误差。


技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置、计算机设备及存储介质,旨在提高提高对于屏幕检测的精度。

2、第一方面,本发明实施例提供了一种基于三维重建的屏幕检测方法,包括:

3、基于结构光原理,采用投影光源对待检测的屏幕投射光线,得到所述屏幕表面的深度信息;

4、通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型;

5、根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。

6、第二方面,本发明实施例提供了一种基于三维重建的屏幕检测装置,包括:

7、光线投射单元,用于基于结构光原理,采用投影光源对待检测的屏幕投射光线,得到所述屏幕表面的深度信息;

8、三维重建单元,用于通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型;

9、缺陷检测单元,用于根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。

10、第三方面,本发明实施例提供了一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的基于三维重建的屏幕检测方法。

11、第四方面,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的基于三维重建的屏幕检测方法。

12、本发明实施例提供了一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置、计算机设备及存储介质,该方法包括:基于结构光原理,采用投影光源对待检测的屏幕投射光线,得到所述屏幕表面的深度信息;通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型;根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。本发明实施例基于三维机器视觉,采用结构光原理获取屏幕表面的深度信息,并通过三维图像重建技术将深度信息转换成三维模型,从而大大提高了检测的精度和准确性,同时还可以避免遮挡、反光、透射等问题,因此可以更加准确地识别和检测屏幕缺陷。



技术特征:

1.一种基于三维重建的屏幕检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于三维重建的屏幕检测方法,其特征在于,所述基于结构光原理,采用投影光源对待检测的屏幕投射光线,得到所述屏幕表面的深度信息,包括:

3.根据权利要求1所述的基于三维重建的屏幕检测方法,其特征在于,所述基于结构光原理,采用投影光源对待检测的屏幕投射光线,得到所述屏幕表面的深度信息之前,包括:

4.根据权利要求3所述的基于三维重建的屏幕检测方法,其特征在于,所述通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型,包括:

5.根据权利要求1所述的基于三维重建的屏幕检测方法,其特征在于,所述根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测,包括:

6.根据权利要求3所述的基于三维重建的屏幕检测方法,其特征在于,所述通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型之前,包括:

7.根据权利要求2所述的基于三维重建的屏幕检测方法,其特征在于,所述通过摄像机捕获所述屏幕反射或散射的图案,包括:

8.一种基于三维重建的屏幕检测装置,其特征在于,包括:

9.一种计算机设备,其特征在于,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的基于三维重建的屏幕检测方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的基于三维重建的屏幕检测方法。


技术总结
本发明公开了一种基于三维重建的屏幕检测方法、装置及相关介质,该方法包括:基于结构光原理,采用投影光源对待检测的屏幕投射光线,得到所述屏幕表面的深度信息;通过三维图像重建技术将所述深度信息转换为三维点云模型;根据所述三维点云模型对所述屏幕进行缺陷识别与检测。本发明基于三维机器视觉,采用结构光原理获取屏幕表面的深度信息,并通过三维图像重建技术将深度信息转换成三维模型,从而大大提高了检测的精度和准确性,同时还可以避免遮挡、反光、透射等问题,因此可以更加准确地识别和检测屏幕缺陷。

技术研发人员:丁克,丁兢,陆俊君,李翔,马洁,王丰,叶闯,张成,林锦辉,胡财荣,刘芊伟,淳豪,张敏,王凯
受保护的技术使用者:佛山显扬科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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