一种存内计算装置的测试方法、装置、存储介质及设备与流程

本技术涉及测试，具体地涉及一种存内计算装置的测试方法、装置、存储介质及设备。

背景技术：

1、基于目前人工智能ai的大算力低功耗的需求，cim(computing-in-memory，存内计算)技术成为主流。cim技术中，运算过程在存储器中完成，这样可以大幅减少数据迁移造成的能耗与时延，进而提高整体计算效率。

2、cim芯片生产后需要检测是否存在异常。在一些技术中，首先需要从晶圆上挑出制造无缺陷的芯片，然后将无缺陷的芯片进行封装。最后，封装好的芯片再次进行测试，以排除封装失效的芯片。无论是晶圆级测试还是封装后的测试，都需要借助ate(automatictest equipment，自动测试设备)或人工测试来完成，导致测试时间长且测试成本较高。

技术实现思路

1、有鉴于此，本技术提供一种存内计算装置的测试方法、装置、存储介质及设备，以利于解决现有技术中测试时间长且成本高的问题。

2、第一方面，本技术实施例提供了一种存内计算装置的测试方法，应用于待测存内计算装置，所述待测存内计算装置包括有多个计算通道，且每个计算通道包括多个乘法器及多级加法器，针对每个待测的计算通道所述方法包括：

3、获取测试数据；所述测试数据包括测试权重数据及测试输入数据；

4、存储所述测试数据中的测试权重数据，基于所述测试输入数据及存储的所述测试权重数据，计算出测试结果；

5、基于所述测试结果及预设比对结果，确定是否存在异常。

6、在第一方面的一种可能的实现方式，所述获取测试数据包括：

7、获取第一测试数据，所述第一测试数据包括第一测试权重数据及测试输入数据，所述测试输入数据包括第一测试输入数据及第二测试输入数据，且所述第一测试输入数据中目标比特位的数值与第二测试输入数据中相同比特位的数值不同；

8、所述存储所述测试数据中的测试权重数据，基于所述测试输入数据及存储的所述测试权重数据，计算出测试结果包括：

9、在所述多个乘法器中确定出第一目标乘法器；

10、存储所述第一测试权重数据；

11、将所述第一测试输入数据及存储的所述第一测试权重数据作为所述第一目标乘法器的两个输入数据，计算出第一测试结果；

12、在所述第一测试结果与所述第一测试结果对应的预设第一比对结果相同时，将所述第二测试数据及存储的所述第一测试权重数据作为所述第一目标乘法器的两个输入数据，计算出第二测试结果；

13、所述基于所述测试结果及预设比对结果，确定是否存在异常包括：

14、在所述第一测试结果与所述第一测试结果对应的预设第一比对结果不同，或在所述第二测试结果与所述第二测试结果对应的预设第二比对结果不同时，确定所述待测存内计算装置存在异常。

15、在第一方面的一种可能的实现方式，还包括：

16、在所述第二测试结果与所述第二测试结果对应的预设第二比对结果相同时，获取第二测试数据；所述第二测试数据包括第二测试权重数据及所述测试输入数据，所述第二测试权重数据中每个比特位的数值与所述第一测试权重数据中相同比特位的数值不同；

17、存储所述第二测试权重数据，将所述第一测试输入数据及存储的所述第二测试权重数据作为所述第一目标乘法器的两个输入数据，计算出第三测试结果；

18、在所述第三测试结果与所述第三测试结果对应的预设第三比对结果相同时，将所述第二测试输入数据及存储的所述第二测试权重数据作为所述第一目标乘法器的两个输入数据，计算出第四测试结果；

19、所述基于所述测试结果及预设比对结果，确定是否存在异常还包括：

20、在所述第三测试结果与所述第三测试结果对应的预设第三比对结果不同，或在所述第四测试结果与所述第四测试结果对应的预设第四比对结果不同时，确定所述待测存内计算装置存在异常。

21、在第一方面的一种可能的实现方式，还包括：

22、在所述第四测试结果与所述第四测试结果对应的预设第四比对结果相同时，则确定所述第一目标乘法器无异常，将所述第一目标乘法器标记为第一乘法器，并检测所述多个乘法器中是否存在第二乘法器；所述第二乘法器是指多个乘法器中除所述第一乘法器之外的乘法器；

23、若存在第二乘法器，则基于所述第二乘法器更新第一目标乘法器，并重新执行步骤获取第一测试数据至步骤在所述第四测试结果与所述第四测试结果对应的预设第四比对结果相同时，则确定所述第一目标乘法器无异常，将所述第一目标乘法器确定为第一乘法器，并检测所述多个乘法器中是否存在第二乘法器，直至检测出所述多个乘法器中不存在第二乘法器。

24、在第一方面的一种可能的实现方式，所述测试输入数据内相邻的两个比特位的数值不同；和/或所述测试权重数据内相邻的两个比特位的数值不同。

25、在第一方面的一种可能的实现方式，所述获取测试数据包括：

26、确定待测目标加法器的待输出测试结果；

27、基于待测目标加法器的待输出测试结果，确定测试数据；

28、所述存储所述测试数据中的测试权重数据，基于所述测试输入数据及存储的所述测试权重数据，计算出测试结果包括：

29、在所述多个乘法器中确定出第二目标乘法器；

30、存储所述测试权重数据；

31、将所述测试输入数据及存储的所述测试权重数据作为所述第二目标乘法器的两个输入数据，计算出第五测试结果；

32、所述基于所述测试结果及预设比对结果，确定是否存在异常包括：

33、在所述第五测试结果及所述第五测试结果对应的预设第五比对结果不同时，确定存在异常。

34、在第一方面的一种可能的实现方式，所述基于待测目标加法器的待输出测试结果，确定测试数据包括：

35、基于待测目标加法器的待输出测试结果，确定出所述目标乘法器的输出结果；

36、基于所述目标乘法器的输出结果，确定所述目标乘法器的输出结果对应的测试权重数据及测试输入数据。

37、在第一方面的一种可能的实现方式，所述待输出测试结果包括第一待输出测试结果及第二待输出测试结果；其中，第一待输出测试结果中目标比特位的数值与第二待输出测试结果中相应比特位的数值不同。

38、在第一方面的一种可能的实现方式，第一待输出测试结果和/或第二待输出测试结果中相邻的比特位的数值不同。

39、在第一方面的一种可能的实现方式，还包括：

40、在所述第五测试结果及所述第五测试结果对应的预设第五比对结果相同时，检测m级加法器中预设待检测的至少一级加法器是否均已测试；m为所述待测存内计算装置中包含的加法器的级数；

41、若存在未测试的至少一级加法器，则在m级的未测试的至少一级加法器中更新所述待测目标加法器，并重新执行步骤确定待测目标加法器的待输出测试结果至步骤检测m级加法器中待检测的至少一级加法器是否均已测试，直至m级加法器中待检测的至少一级加法器均已测试。

42、第二方面，本技术实施例提供了一种存内计算装置，包括：

43、获取单元，用于获取测试数据；所述测试数据包括测试权重数据及测试输入数据；

44、处理单元，用于存储所述测试数据中的测试权重数据，基于所述测试输入数据及存储的所述测试权重数据，计算出测试结果；

45、所述处理单元，还用于基于所述测试结果及预设比对结果，确定是否存在异常。

46、第三方面，本技术实施例提供了一种电子设备，包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器，其中，当该计算机程序指令被所述处理器执行时，触发所述电子设备执行上述第一方面任一项所述的方法。

47、第四方面，本技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行上述第一方面任一项所述的方法。

48、采用本技术实施例所提供的方案，在需要对待测存内计算装置是否异常进行测试时，该待测内存计算装置获取测试数据，并将测试数据中的测试权重数据进行存储；基于测试输入数据及存储的测试权重数据，计算测试结果，并将测试结果与预设比对结果进行比对，确定是否存在异常。这样一来，在本技术中在需要对待测存内计算装置进行是否异常的测试时，可以直接由待测存内计算装置自动进行异常测试，无需借助其他测试设备，且降低了人工参与，降低了测试成本，缩短了测试时间，从而提高了测试效率。