芯片调试方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本公开属于芯片调试领域，具体涉及一种芯片调试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、在集成mcu(microcontroller unit，微控制单元)芯片的设计方案中，通常将代码预先固化集成到rom(read-only memory，只读存储器)中，即采用romcode mcu实现芯片的设计。通过上述方式设计的芯片具有价格低、稳定性高的优点。然而，通过该方式设计的芯片，在制造时就将code写进rom中，code无法再次被烧录、更改；并且，在芯片设计阶段的仿真验证中，会存在部分无法被验证的功能。因此，通过上述方式设计的芯片中集成的code功能无法被完整验证，在芯片流片回来验证过程中，大概率会存在一些bug，导致该设计无法满足预期要求，造成人力、物力及时间等资源的浪费。

2、相关技术中，通过efuse实现集成mcu芯片的设计，以解决上述问题。然而，该方式存在以下两种弊端：其一，造成芯片设计面积变大，增加制造成本；其二，由于efuse容量有限、可选项的修改为不可逆过程、灵活性差等原因，在调试过程中会造成大量芯片报废，并且无法查询到bug原因。

技术实现思路

1、本公开提出了一种芯片调试方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有技术无法在设计阶段完整验证芯片功能的问题。

2、第一方面，本公开提供了一种芯片调试方法，适用于基于串口实现的芯片，该方法包括：

3、通过串口接收来自上位机的控制指令参数；

4、在确定控制指令参数有效的情况下，触发芯片内置的调试指令代码对控制指令参数进行解析，得到控制指令参数中包含的外设类型参数，以及该类型的外设对应的外设配置参数；其中，调试指令代码预先固化在芯片的只读存储器内部，用于实现调试功能；

5、访问与外设类型参数对应的外部设备，并根据与该类型的外设对应的外设配置参数，对芯片执行调试操作。

6、第二方面，本公开提供了一种芯片调试装置，适用于基于串口实现的芯片，该装置包括：

7、接收模块，用于通过串口接收来自上位机的控制指令参数；

8、解析模块，用于在确定控制指令参数有效的情况下，触发芯片内置的调试指令代码对控制指令参数进行解析，得到控制指令参数中包含的外设类型参数，以及该类型的外设对应的外设配置参数；其中，调试指令代码预先固化在芯片的只读存储器内部，用于实现调试功能；

9、执行模块，用于访问与外设类型参数对应的外部设备，并根据与该类型的外设对应的外设配置参数，对芯片执行调试操作。

10、第三方面，本公开提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；

11、其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的一个或多个计算机程序，一个或多个计算机程序被上述至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行如上述的芯片调试方法。

12、第四方面，本公开提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序在被处理器执行时实现如上述的芯片调试方法。

13、根据本公开所提供的一种芯片调试方法，首先，通过串口接收来自上位机的控制指令参数；其次，在确定控制指令参数有效的情况下，触发芯片内置的调试指令代码对控制指令参数进行解析，得到控制指令参数中包含的外设类型参数，以及该类型的外设对应的外设配置参数；其中，调试指令代码预先固化在芯片的只读存储器内部，用于实现调试功能；最后，访问与外设类型参数对应的外部设备，并根据与该类型的外设对应的外设配置参数，对芯片执行调试操作。由此可知，该方法通过芯片的串口将芯片与上位机进行连接，从而通过上位机向芯片传输控制指令参数，以触发芯片内置的调试指令代码对芯片进行调试操作；其中，串口用于上位机和芯片之间数据和指令的传输。该方法仅通过传输不同的控制指令参数就可以实现对芯片不同功能的调试，从而规避因代码bug或设计缺陷造成芯片无法正常工作的情况；无需更改芯片硬件结构，对芯片的访问更加灵活且可靠；并且，无需增加集成电路本身的硬件成本，软件实现简单，极大降低了集成romcode类型mcu芯片的调试和生产难度。

14、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种芯片调试方法，其特征在于，适用于基于串口实现的芯片，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述串口接收来自上位机的控制指令参数之后，还包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述启动接收中断处理流程，具体包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片是微控制单元芯片，在通过所述串口接收来自上位机的控制指令参数之前，还包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述触发所述芯片内置的调试指令代码对所述控制指令参数进行解析之后，还包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述串口接收来自上位机的控制指令参数之后，还包括：响应于所述控制指令参数，控制所述芯片从系统运行状态切换至调试状态；

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片调试方法应用于芯片设计阶段，则所述芯片调试方法在预先搭建的仿真环境中实现。

8.一种芯片调试装置，其特征在于，适用于基于串口实现的芯片，所述装置包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序在被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的方法。

技术总结
本公开属于芯片调试领域，具体涉及一种芯片调试方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决无法在设计阶段完整验证芯片功能的问题。该方法包括：通过串口接收来自上位机的控制指令参数；在确定控制指令参数有效的情况下，触发芯片内置的调试指令代码对控制指令参数进行解析，得到控制指令参数中包含的外设类型参数及该类型外设的配置参数；访问与外设类型参数对应的外部设备，并根据外设配置参数对芯片执行调试操作。该方法通过传输不同控制指令参数实现对芯片不同功能的调试，无需更改芯片硬件结构，对芯片的访问更加灵活可靠；无需增加集成电路硬件成本，软件实现简单，降低芯片的调试和生产难度。

技术研发人员：高召,刘伟
受保护的技术使用者：宏晶微电子科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15