电路分析方法、电路分析装置以及电路分析系统与流程

本公开涉及一种电路分析方法、一种电路分析装置以及一种电路分析系统。

背景技术：

1、x(未知)是可以指半导体电路设计中逻辑0和逻辑1之间的中间状态的值，并且可以指示其中确切的电路状态未知的情况，根据不同的情况，确切的电路状态可以是逻辑0或逻辑1。x可能通过使构成电路的门以非预期的功能操作而不利地影响电路的操作，并且当上拉逻辑和下拉逻辑同时被导通以构建dc路径时，可能导致过度的功耗。另外，由于无法确保控制逻辑之间的时序容限，可能产生并传播非预期值。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种电路分析方法、一种电路分析装置以及一种电路分析系统，其可以高效地分析在半导体电路设计期间产生的x传播的原因。

2、实施例提供了一种电路分析方法，该方法包括由处理器执行在非暂时性存储器中实现的计算机可读程序指令以执行操作，该操作包括：基于电路的网表来构建电路图；在电路图中定义节点；基于作为节点的仿真结果而构建的波形来提取节点的x事件；根据提取的x事件构建x事件节点；通过将x事件节点链接到至少一个其它x事件节点来构建x事件图；遍历x事件图，并且识别源x事件和参与x事件；以及寻找x事件节点的x传播路径，x传播路径包括源x事件和参与x事件。

3、另一实施例提供了一种电路分析装置，其包括：电路图构建模块，其被配置为基于电路的网表来构建电路图；x事件提取模块，其被配置为基于作为在电路图中定义的节点的仿真结果而构建的波形来提取x事件；x事件链接模块，其被配置为根据提取的x事件构建x事件节点，并且将x事件节点链接到至少一个其它x事件节点以构建x事件图；图遍历模块，其被配置为遍历x事件图，并且识别源x事件和参与x事件；以及x路径寻找模块，其被配置为寻找x事件节点的x传播路径，x传播路径包括源x事件和参与x事件。

4、另一实施例提供了一种电路分析系统，其包括：网表数据库，其被配置为存储电路的网表；仿真数据库，其被配置为存储作为在电路中定义的节点的仿真结果而构建的波形；以及电路分析装置。电路分析装置包括：电路图构建模块，其被配置为基于来自网表数据库的网表来构建电路图；x事件提取模块，其被配置为基于来自仿真数据库的波形来提取节点的x事件；x事件链接模块，其被配置为根据提取的x事件构建x事件节点，并且被配置为将x事件节点链接到至少一个其它x事件节点以构建x事件图；图遍历模块，其被配置为遍历x事件图，并且被配置为识别源x事件和参与x事件；以及x路径寻找模块，其被配置为寻找x事件节点的x传播路径，x传播路径包括源x事件和参与x事件。

技术特征：

1.一种电路分析方法，包括：

2.根据权利要求1所述的电路分析方法，其中，构建所述电路图包括：

3.根据权利要求2所述的电路分析方法，其中，构建所述电路图包括：

4.根据权利要求1所述的电路分析方法，其中，提取所述x事件包括：

5.根据权利要求1所述的电路分析方法，其中，构建所述x事件图包括：

6.根据权利要求5所述的电路分析方法，其中，通过其中已经发生所述x事件的所述x事件节点是否存在前x事件来识别所述原因x事件节点。

7.根据权利要求5所述的电路分析方法，其中，所述x事件包括提取的多个x事件，并且其中，针对提取的所有所述多个x事件，执行所述x事件节点和所述原因x事件节点的链接。

8.根据权利要求1所述的电路分析方法，其中，识别所述源x事件和所述参与x事件包括：

9.根据权利要求8所述的电路分析方法，其中，遍历所述x事件图包括：

10.根据权利要求1所述的电路分析方法，还包括：

11.一种电路分析装置，包括：

12.根据权利要求11所述的电路分析装置，其中，所述电路图构建模块被配置为基于具有输入节点和输出节点的逻辑门来构建以门级表示的所述电路图，所述逻辑门基于以晶体管级描述的所述电路的所述网表，所述晶体管级基于连接至所述输入节点和所述输出节点的晶体管。

13.根据权利要求12所述的电路分析装置，其中，所述电路图构建模块被配置为通过推断所述晶体管之间的输入/输出关系并且通过识别包括电块的通道连接块，在所述电路的所述网表中配置所述逻辑门，其中，在所述电块中通道端子彼此电连接。

14.根据权利要求11所述的电路分析装置，其中，所述x事件提取模被配置为从所述波形提取其中所述x事件已经发生的部分。

15.根据权利要求11所述的电路分析装置，其中，所述x事件链接模块被配置为：

16.根据权利要求15所述的电路分析装置，其中，通过其中已经发生所述x事件的所述x事件节点是否存在前x事件来识别所述原因x事件节点。

17.根据权利要求15所述的电路分析装置，其中，所述x事件包括提取的多个x事件，并且其中

18.根据权利要求11所述的电路分析装置，其中，所述图遍历模块被配置为根据深度优先搜索算法遍历所述x事件图。

19.根据权利要求18所述的电路分析装置，其中

20.一种电路分析系统，包括：

技术总结
提供了一种电路分析方法、电路分析装置以及电路分析系统。实施例提供了一种电路分析方法，包括：基于电路的网表构建电路图；定义电路图中的节点；基于作为节点的仿真结果而构建的波形，提取每个节点的X事件；根据提取的X事件构建X事件节点；通过将X事件节点链接到至少一个其它X事件节点来构建X事件图；遍历X事件图，并且识别源X事件和参与X事件；以及寻找X事件节点的X传播路径，X传播路径包括源X事件和参与X事件。

技术研发人员：金光善,徐亨重
受保护的技术使用者：三星电子株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/3/4