基于液晶显示屏的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质与流程

本发明涉及机器视觉，尤其涉及一种基于液晶显示屏的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、在液晶显示屏的生产流程中，缺陷检测是不可缺少的生产环节，在缺陷检测过程中，能够对液晶显示屏的质量进行检测，将不符合产品质量要求的显示屏剔除，因此缺陷检测是用来提高产品质量的重要手段。

2、通常在进行液晶显示屏缺陷检测时，是通过人工的方式检查，人工检查的主观性较大，检测效率与检测精度相对较低，并且随着检测时间增长，同一质检员的检测失误率会大幅增大，不利于质量把控，而继续提高人力资源，则会增大生产成本，作为一种改善方法，目前通常使用的是电学参数检测方法，但是电学参数检测方法无法对显示屏的缺陷进行完整检测。

3、上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

1、本发明的主要目的在于提供一种基于液晶显示屏的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术对显示屏缺陷检测不全面的技术问题。

2、为实现上述目的，本发明提供了一种基于液晶显示屏的缺陷检测方法，所述方法包括以下步骤：

3、在液晶显示屏被置于检测位置并进入检测状态时，获取所述液晶显示屏的拍摄图像；

4、对所述拍摄图像进行滤波处理，得到所述拍摄图像的滤波图像；

5、根据所述滤波图像进行形态校正，得到校正图像；

6、对所述校正图像进行图像配准，得到缺陷区域。

7、根据所述缺陷区域，得到缺陷类型。

8、可选地，所述对所述校正图像进行图像配准，得到缺陷区域，包括：

9、对所述校正图像进行切割，得到所述显示屏显示区域的拍摄图像；

10、根据所述液晶显示屏当前显示的图像确定当前的图像颜色；

11、根据所述图像颜色确定所述显示屏显示区域的拍摄图像中的异常区域；

12、提取所述异常区域中的显示颜色，将所述异常区域中的显示颜色与所述图像颜色匹配，得到颜色匹配结果；

13、在所述颜色匹配为存在差异时，将所述异常区域标记为缺陷区域。

14、可选地，所述提取所述异常区域中的显示颜色，将所述异常区域中的显示颜色与所述图像颜色匹配，得到颜色匹配结果，包括：

15、在所述异常区域中的显示颜色与所述图像颜色为不同颜色时，得到颜色显示存在差异的颜色匹配结果；

16、在所述异常区域中的显示颜色与所述图像颜色为相同颜色时，对所述异常区域中的显示颜色与所述图像颜色的亮度检测；

17、在检测结果为所述异常区域中的显示颜色的亮度与所述图像颜色的亮度不一致时，得到亮度显示存在差异的颜色匹配结果。

18、可选地，所述在所述颜色匹配为存在差异时，将所述异常区域标记为缺陷区域之后，还包括：

19、对所述缺陷区域进行轮廓识别，得到所述缺陷区域的轮廓特征；

20、根据所述轮廓特征确定缺陷区域的形状；

21、对所述缺陷区域的形状进行分类，得到所述液晶显示屏的缺陷类型。

22、可选地，所述对所述拍摄图像进行滤波处理，得到所述拍摄图像的滤波图像，包括：

23、根据所述拍摄图像中的像素得到所述拍摄图像的像素集合；

24、根据所述像素集合与所述像素得到像素邻域集合；

25、对根据所述像素邻域集合计算像素灰度值的灰度中值；

26、根据所述灰度中值得到所述拍摄图像的滤波图像。

27、可选地，所述根据所述滤波图像进行形态校正，得到校正图像，包括：

28、获取所述显示屏的显示图像；

29、构建所述滤波图像对应的空间坐标系；

30、以所述空间坐标系为基准根据所述显示图像的图像尺寸得到所述显示图像的图像坐标；

31、获取所述滤波图像在所述空间坐标系下的空间坐标；

32、根据所述图像坐标与所述空间坐标得到校正位移，根据所述校正位移对所述滤波图像进行校正，得到校正图像。

33、可选地，所述根据所述图像坐标与所述空间坐标得到校正位移，根据所述校正位移对所述滤波图像进行校正，得到校正图像，包括：

34、根据所述图像坐标与所述空间坐标得到图像缩放比；

35、根据所述图像缩放比确定所述滤波图像的像素变化权重；

36、根据所述像素变化权重得到所述校正位移；

37、根据所述校正位移对所述滤波图像进行校正，得到校正图像。

38、此外，为实现上述目的，本发明还提出一种基于液晶显示屏的缺陷检测装置，所述基于液晶显示屏的缺陷检测装置包括：

39、显示屏检测模块，用于在液晶显示屏被置于检测位置并进入检测状态时，获取所述液晶显示屏的拍摄图像；

40、图像滤波模块，用于对所述拍摄图像进行滤波处理，得到所述缺陷区域的滤波图像；

41、图像校正模块，用于根据所述滤波图像进行形态校正，得到校正图像；

42、缺陷定位模块，用于对所述校正图像进行图像配准，得到缺陷区域；

43、缺陷确认模块，用于根据所述缺陷区域，得到缺陷类型。

44、此外，为实现上述目的，本发明还提出一种基于液晶显示屏的缺陷检测设备，所述基于液晶显示屏的缺陷检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的基于液晶显示屏的缺陷检测程序，所述基于液晶显示屏的缺陷检测程序配置为实现如上文所述的基于液晶显示屏的缺陷检测方法的步骤。

45、此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有基于液晶显示屏的缺陷检测程序，所述基于液晶显示屏的缺陷检测程序被处理器执行时实现如上文所述的基于液晶显示屏的缺陷检测方法的步骤。

46、本发明通过在液晶显示屏被置于检测位置并进入检测状态时，获取所述液晶显示屏的拍摄图像，对所述拍摄图像进行滤波处理，得到所述缺陷区域的滤波图像，根据所述滤波图像进行形态校正，得到校正图像，对所述校正图像进行图像配准，得到缺陷区域，根据所述缺陷区域，得到缺陷类型，通过对拍摄到的显示屏的图像，并进行一系列操作，得到校正图像，并根据校正图像得到缺陷区域，通过图像的对比，能够清晰得到显示屏的缺陷类型是亮度导致的显示不均匀，或是白点、黑点、暗线、亮线、错色等显示缺陷。

技术特征：

1.一种基于液晶显示屏的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于液晶显示屏的缺陷检测方法包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述校正图像进行图像配准，得到缺陷区域，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述提取所述异常区域中的显示颜色，将所述异常区域中的显示颜色与所述图像颜色匹配，得到颜色匹配结果，包括：

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域，得到缺陷类型，包括：

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述拍摄图像进行滤波处理，得到所述拍摄图像的滤波图像，包括：

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述滤波图像进行形态校正，得到校正图像，包括：

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述图像坐标与所述空间坐标得到校正位移，根据所述校正位移对所述滤波图像进行校正，得到校正图像，包括：

8.一种基于液晶显示屏的缺陷检测装置，其特征在于，所述基于液晶显示屏的缺陷检测装置包括：

9.一种基于液晶显示屏的缺陷检测设备，其特征在于，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的基于液晶显示屏的缺陷检测程序，所述基于液晶显示屏的缺陷检测程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的基于液晶显示屏的缺陷检测方法的步骤。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有基于液晶显示屏的缺陷检测程序，所述基于液晶显示屏的缺陷检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的基于液晶显示屏的缺陷检测方法的步骤。

技术总结
本发明属于机器视觉技术领域，公开了一种基于液晶显示屏的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。本发明通过在液晶显示屏被置于检测位置并进入检测状态时，获取所述液晶显示屏的拍摄图像，对所述拍摄图像进行滤波处理，得到所述缺陷区域的滤波图像，根据所述滤波图像进行形态校正，得到校正图像，对所述校正图像进行图像配准，得到缺陷区域，根据所述缺陷区域，得到缺陷类型，通过对拍摄到的显示屏的图像，并进行一系列操作，得到校正图像，并根据校正图像得到缺陷区域，通过图像的对比，能够清晰得到显示屏的缺陷类型是亮度导致的显示不均匀，或是白点、黑点、暗线、亮线、错色等显示缺陷。

技术研发人员：孔译博威,孔善定
受保护的技术使用者：深圳市明亚顺科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15