产品表面缺陷检测方法、装置、存储介质和电子设备与流程

本申请涉及缺陷检测，尤其涉及一种产品表面缺陷检测方法、装置、存储介质和电子设备。

背景技术：

1、电子设备、汽车零部件、机械制品等产品在出厂前需要进行表面缺陷检测。这些产品的表面缺陷主要包括凹陷、凸起、划痕、气泡、裂纹等缺陷。

2、目前的产品表面缺陷检测大多数都是采用机器视觉结合人工智能来进行检测。传统的产品表面缺陷检测过程中，在采集到产品表面信息之后，会基于该表面信息对缺陷进行初步定位，识别出产品表面中疑似存在缺陷的区域，从该区域中提取出缺陷的形状、尺寸等特征信息，当该特征信息与产品所规定的缺陷所具备的特征相匹配时，才能确定该区域中确实存在缺陷。

3、但受限于产品表面的复杂性和几何变化等因素的影响，传统技术难以精确捕捉产品表面的缺陷特征，导致容易造成缺陷检测结果的误判。因此需要研发一种可靠的产品表面缺陷检测方法，以提高产品表面缺陷检测的准确性和稳定性，从而满足现代制造业对产品质量控制的要求。

技术实现思路

1、本申请的目的在于提供一种产品表面缺陷检测方法、装置、存储介质和电子设备，以解决上述至少一种问题。

2、本申请第一方面，提供了一种产品表面缺陷检测方法，所述方法包括：

3、获取待测产品表面的高度图像；

4、从所述高度图像中识别出各个疑似缺陷的缺陷区域；

5、从每个缺陷区域中选取一个缺陷区域作为待识别区域，根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，使得所述缺陷膨胀区域中不与除所述待识别区域外的其他缺陷区域重叠；

6、从所述缺陷膨胀区域中解析出所述待识别区域对应的基准面信息；

7、基于所述基准面信息计算出所述待识别区域的高度信息；

8、根据所述高度信息确定所述待识别区域是否存在产品表面缺陷。

9、本申请第二方面，提供了一种产品表面缺陷检测装置，所述装置包括：

10、图像获取模块，用于获取待测产品表面的高度图像；

11、缺陷识别模块，用于从所述高度图像中识别出各个疑似缺陷的缺陷区域；

12、缺陷特征计算模块，用于从每个缺陷区域中选取一个缺陷区域作为待识别区域，根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，使得所述缺陷膨胀区域中不与除所述待识别区域外的其他缺陷区域重叠；从所述缺陷膨胀区域中解析出所述待识别区域对应的基准面信息；基于所述基准面信息计算出所述待识别区域的高度信息；

13、缺陷确认模块，用于根据所述高度信息确定所述待识别区域是否存在产品表面缺陷。

14、本申请第三方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有可执行指令，所述可执行指令被处理器执行时使所述处理器执行本申请任一项所述的方法。

15、本申请第四方面，提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；

16、存储器，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器执行本申请任一项所述的方法

17、上述的产品表面缺陷检测方法、装置、存储介质和电子设备，通过进行缺陷区域识别，再根据产品中各个缺陷区域来对待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，以确保缺陷膨胀区域不与其他缺陷区域重叠，从而确保了缺陷膨胀区域不被其他缺陷区域所影响，进而提高了待识别区域的基准面信息和高度信息计算的准确性，从而最终提高了产品的表面缺陷检测的准确性。

技术特征：

1.一种产品表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述基准面信息计算出所述待识别区域的高度信息，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述从所述高度图像中识别出各个疑似缺陷的缺陷区域之后，还包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测产品表面的高度图像，包括：

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，在所述根据所述高度信息确定所述待识别区域是否存在产品表面缺陷之后，还包括：

8.一种产品表面缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有可执行指令，所述可执行指令被处理器执行时使所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述的方法。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：

技术总结
本申请提供一种上述的产品表面缺陷检测方法、装置、存储介质和电子设备。该方法包括：获取待测产品表面的高度图像；从所述高度图像中识别出各个疑似缺陷的缺陷区域；从每个缺陷区域中选取一个缺陷区域作为待识别区域，根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，使得所述缺陷膨胀区域中不与除所述待识别区域外的其他缺陷区域重叠；从所述缺陷膨胀区域中解析出所述待识别区域对应的基准面信息；基于所述基准面信息计算出所述待识别区域的高度信息；根据所述高度信息确定所述待识别区域是否存在产品表面缺陷。本申请可提高产品的表面缺陷检测的准确性。

技术研发人员：韩旭,陈彦龙
受保护的技术使用者：东声（苏州）智能科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16